标准解读

GB/T 6462-1986 标准规定了金属和氧化物覆盖层横断面厚度的显微镜测量方法。该标准适用于通过显微镜观察并测量金属基体上镀覆或形成的覆盖层，如电镀层、化学转化膜等的厚度。其主要内容包括：

  • 术语定义：明确了与本标准相关的术语及其定义，例如“覆盖层”、“横断面”等，确保在理解和应用过程中对关键概念有一致的认识。
  • 样品制备：详细描述了如何准备待测样品，包括切割、镶嵌（如果需要的话）、抛光以及腐蚀处理等步骤。目的是使覆盖层与基材之间的界面清晰可见，便于后续的显微观测。
  • 显微镜设置：介绍了使用光学显微镜进行测量时所需的仪器配置要求，比如放大倍数的选择、照明方式等，以保证获得清晰准确的图像。
  • 测量过程：说明了从选取合适视野到读取数据的具体操作流程。强调应选择多个代表性区域进行多次测量，并记录下所有相关参数。
  • 结果计算：给出了根据所获得的数据计算平均值及不确定度的方法。此外还提到了如何评估单次测量结果的有效性以及不同位置间差异性的考量。
  • 报告编写：提供了撰写实验报告的基本框架，包括但不限于实验条件、采用的标准、主要发现等内容。

此标准为实验室工作人员提供了一套系统化的方法来精确测定金属表面处理后形成的各种类型覆盖层的厚度，对于质量控制、科学研究等领域具有重要意义。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 6462-2005
  • 1986-06-11 颁布
  • 1987-05-01 实施
©正版授权
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文档简介

UDC669.058:531.717.1中华人民共和国国家标准GB6462-86金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法Metallicandoxide：coatings一MeasurementofcoatingthicknessMicroscopicalmethod1986-06-11发布1987-05-01实施家标准局批准

中华人民共和国国家标准金属和氧化物覆盖层GB6662-86横断面厚度显微镜测量方法Metallicandoxidecoatings-Measurementofcoatingthickness－Microscopicalmethod本标准详细说明了运用金相显微镜对金属镀层、氧化物覆盖层的局部厚度作横断面显微测量的方法本标准还可以测量箱瓷或糖瓷覆盖层的局部厚度及测量薄的厚度，用金相显微镜进行测量，其绝对精度可达到0.8Hm。本方法可作为金属镜层、氧化层厚度测量的仲裁方法。本标准等效采用国际标准ISO1463一1982《金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》生：局部厚度：在试样上指定的部位内，作规定次数的调量。其叹度取平均值、方法概述从待测件上指定的位置切割一块试样，镶嵌后，对横断面进行适当的研磨、抛光和浸蚀。用校正过的标尺测量覆盖层横断面的厚度。！影响测量精度的因素2.1表面粗糙度若覆盖层或覆盖层的基体表面是粗糙的，则与漫盖层横断面接触的一条或两条界面线也是不规则的，以致不能精确测量（见附录A（补充件）中A·4】。2.2横断面的斜度横断面必须蚕直于待测覆盖层，著有偏茶，则测得的厚度将大于真实厚度。如垂直度偏差10.则测量值比真实厚度大1.5"。2.3覆基层变形嵌试样和制备横断面的过程中，过高的温度和儿力将使软的或低培点的覆盖层产生变形，在制备脆性材料横断面时，过度的打磨也同样会产生变形2.4覆盖层边缘倒角制备试样时，不正确的镶嵌、研磨、抛光和浸蚀都会引起覆盖层横断面的边缘倒角.或者不平整，采用显微镜测量则得不到真实厚度，因此在镶嵌之前，试样常要附加镀层，这样可使边缘倒角减至最小（见A.1）。2.5附加镀层在制备横断面时为了保护覆盖层的边缘，以避免测量误茶，常应在试样上附加镀层。附加镀层前、应注意不要损坏待测量的镀层并避免因除油、酸洗或形成合金而使镀层减薄。2.6漫蚀适当的漫蚀能在两种金属的界面线上产生暗细而清晰的界面线：过度的没蚀会使界面

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