标准解读
《GB/T 8014.1-2005 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第1部分:测量原则》与《GB/T 8014-1987 铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜厚度的定义和有关测量厚度的规定》相比,在内容上有以下变更:
首先,《GB/T 8014.1-2005》将标准标题进行了细化,明确指出该部分主要涉及的是“测量原则”,这表明新版标准更加专注于具体的操作指导和技术细节。
其次,在结构上,《GB/T 8014.1-2005》作为系列标准的一部分,采用了模块化的方式进行组织。这意味着对于铝及铝合金阳极氧化膜厚度测量的不同方面(如不同测量方法)可以分别在不同的子标准中详细阐述,从而使得整个标准体系更为清晰、易于理解和执行。
此外,《GB/T 8014.1-2005》还增加了对测量过程中可能遇到的问题及其解决办法的讨论,比如如何处理样品表面状态对结果的影响等,为实际操作提供了更多实用性的建议。同时,新版本也更新了一些术语定义,并引入了国际上通用的技术规范,以确保我国相关测试方法与国际接轨。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2005-07-04 颁布
- 2005-12-01 实施




文档简介
ICS25.220.40H25中华人民共和国国」家标准GB/T8014.1-2005代代替GB/T8014—1987铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则Anodizingofaluminiumanditsalloys-Themeasuringmethodofthicknessofanodicoxidecoatings-Part1:Themeasuringprinciple(ISO2064:1996,Metallicandotherinorganiccoatings-Definitionsandconventionsconcerningthemeasurementofthickness,MOD)2005-07-04发布2005-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局爱布中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国国家标准铝及铝合金阳极氧化氯化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则GB/T8014.1-2005中中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045电话:63787337、637874472005年11月第一版2005年11月电子版制作书号:155066·1-26658版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533
GB/T8014.1-2005GB/T8014《铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法》分为如下3个部分:(B/T8014.1—2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则GB/T8014.2—2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第2部分:质量损大法铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法-GB/T8014.3-2005第3部分:分光束显微镜法本部分为GB/T8014的第1部分,本部分修改采用ISO2064:1996《金属镀层和其他无机涂层——定义和有关测量厚度的规定》(英文版).并根据ISO2064:1996重新起草。为方便比较,在资料性附录中列出了本部分章条和对应的国际标准章条的对照一览表。本部分与ISO2064:1996的主要差异在于本部分对厚度测量方法的类别及方法概述、执行标准和适用范围作出了说明,该差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页面空白处本部分代替GB/T8014—1987《铝及铝合金阳极氧化阳极氧化膜厚度的定义和有关测量厚度的规定》本部分与GB/T8014—1987相比.主要变化如下:第二章的术语和定义全部按照国际标准ISO2064:1996重新翻译;重重量法改为“质量损失法”,重量改为“质量”.重量损失改为“质量损失”第2.7节平均厚度的定义之后增加“注",对于大批量小零件的平均厚度作出说明:对厚度测量方法的类别及方法概述执行标准和适用范用作出了说明本部分的附录A为资料性附录,本部分由中国有色金属工业协会提出本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口本部分负责起草单位:北京有色金属研究总院。本部分参加起草单位:广东坚美铝型材厂有限公司、深圳华加日铝业有限公司本部分主要起草人:朱祖芳、李永丰、戴悦星、谭群燕、熊进平、章吉林。本部分由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本部分所代替历次版本标准发布情况为:GB/T8014-1987。
GB/T8014.1-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则范围本部分规定了铝及铝合金阳极氧化膜厚度测量的一般原则本部分适用于铸造或变形铝及铝合金生成的所有阳极氧化膜。范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件.其随后所有的修改单(不包括勒误的内容)或修改版均不适用于本部分,但鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件.其最新版本适用于本部分。GB/T4957—1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法(ISO2360—1982.NEQ)GB/T6462—1986金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法(ISO1463—1982.NEQ)术语、定义下列术语、定义适用于本部分31有效表面significantsurface覆有氧化膜或待覆氧化膜的物件表面。其氧化膜对物件的适用性和(或)外观起重要作用.须满足所有规定要求32测量面积measuringarea在有效表面上作单一测量的面积对于下列具体测量方法,测量面积"分别定义如下)质量损失法,指氧化膜被除去的面积:b)阳极溶解法,指由密封环围绕封闭的电解池面积C)显微镜法.指规定放大倍数下的视野:无损检验法.指探头或影响读数的面积。3.3考察面积referencearea规定作若
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