WJ SPC统计制程管制 20020521

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統計製程管制P.C.Shen

5/21/2002SPC

統計製程管制一、概說:製程上沒有兩件產品是完全相同的.

產品變異:1.產品內變異;2.產品間變異;3.時間之間的變異.

變異的來源:1.機器設備:工具模損、電壓不穩定、機器設備的震動;2.物料:物料的品質特性、長度、容量、振壓強度………3.環境:照明、溫度、濕度、噪音……….等;4.作業員:情緒及生理狀態.

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統計製程管制品質報告差異:來自品質檢驗活動

1.檢驗設備錯誤;2.品質標準應用不恰當;3.品質測量儀器所產生的錯誤;4.量具缺乏適時的校正;5.檢驗人員的疏忽.品質變異在品質管理上可歸納為2种:

1.機遇變異(隨機變異):係指品質變異來自隨機原因,隨機原因使產品品質發生變異不易識別→該製程可視為管制狀態下;2.非機遇變異:係指品質發生變異的原因為特殊性或局部性而異→可矯正的→表示該製程非管制狀態下.SPC

統計製程管制表一變異名稱變異原因出現次數影響結論機遇變異機遇原因甚多全體性在管制狀態下非機遇變異非機遇原因甚少局部性在非管制狀態下,值得鑑定並矯正之.二、統計製程管制實施步驟:

1.選取產品品質特性:產品的品質特性繁多,一張管制圖只能管制一項品質特性,故一般僅選取3~5种關鍵性的品質特性繪製管制圖進行製程管制;

2.設定製程:製程工程師設定,運用腦力激蕩法來設定;

3.選取品質特性:選取品質特性的量測能力,(1)量測儀器本身的變異;(2)確定標準量測程序;

4.繪製管制圖:管制圖的設計由工程師負責,然後應用在製造現場,根據抽樣而得到數據進行管制的判定製程是否在管制狀態下;

5.製程能力分析:由管制圖得到製程標準差,再將六倍標準差與產品品質規格相互比較.

6.製程問題:發掘與改善,積極找尋非機遇原因並即刻進行矯正,去除品質變異的非機遇原因,使製程處在管制狀態下;

7.採取矯正措施:

8.製程作業標準化:在製程作業標準化時,應將製程品質改善的內容制成規定條文、圖示、標準,通過DCC正式發布作為爾后作業的根據.SPC

統計製程管制

SPC利用統計抽樣所得到的樣本為數據,並製程進行監控.並在製程中品質變異處於非管制狀態時,設法進一步採取調整製程的行動,以矯正製程中影響產品品質之機遇變異,其最終目的在使製程中產品變異在管制狀態下.三、製程能力分析製程能力:著重在產品品質的能力;生產能力:著重在產生數量的能力;製程能力分析:對制程能力的研究,以進行製程產生變異性相對於產品規格之分析及促進製程產出變異的穩定性,.(經由數據的蒐集及分析).產品特性分析:只能擁有產品數據而無法直接觀測製程.僅可對產品特性進行分析,對於製程是否在管制狀態下則毫無所悉..自然公差:製程中產品品質變異在六個標準差範圍內.(由現行製程蒐集的數據統計而來.)規格公差:係指規格上限或規格下限(UCL-LCL)

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統計製程管制

設計造成三种狀況1.6<(UCL-LCL);2.6=(UCL-LCL);3.6>(UCL-LCL);解決此問題的三种途徑:1.檢討放寬規格的可行性,必要時須對零件進行可靠性測試以確保產品在放寬規格後仍能發揮應有的機能).2.進行100%檢驗,將不良品去除留下良品以符合規格要求(較富經濟性、快速的,但不是長期可行的方式);3.設法改變產品的離中趨勢,使之分配成尖狹型的分配,即標準差變小,使製程的產出都能符合規格的要求.

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統計製程管制四、製程能力指標(1)Ca:集中趨勢準確度(2)Cp:離中趨勢(變異程度)精確度(3)Cpk

Ca值:在衡量製程平均值X與規格中心值(μ)之一致性.|Ca|愈大:一致性愈低;|Ca|愈小:一致性愈高;

T=UCL-LCL

Ca值即為製程平均值與規格中心值的差距.

Cp值:在衡量製程滿足產品品質標準(規格公差)之程度.

Cp值愈大:品質變異愈小,精密度愈高,制程能力愈佳;

Cp值愈小:品質變異愈大,精密度愈低,制程能力愈差.

Cp=T/6=(UCL-LCL)/6(雙邊規格)

T:反應對產品品質的要求;:反應制程產出品質的水準,(離中趨勢)單邊規格:Cp=|LCL-μ|/3或|UCL-μ|/3Ca

=

X

–

μ

T/2SPC

統計製程管制

Cpk值:是將Ca與Cp合並評估,同時可衡量制程產出的集中程度與變異程度.

Cpk=(1-|Ca|)*Cp(雙邊規格)若Ca=0,則Cpk=Cp,意味取制程不良較多的一邊.或Cpk=Min[Cpk(U),Cpk(L)]

Cpk(U)=|UCL-μ|

/3

Cpk(L)=|μ-LCL|

/

3五、以管制圖進行製程能力分析.1.當製程在管制狀態時,計算X–RChart之參數;

X,R,n查表或計算得^或

2.計算Ca值、Cp值及Cpk值;3.計算產品之不合格率,查表.

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統計製程管制測驗一、簡答:1.

何謂統計製程管制?2.

何謂製程能力分析?3.

管制圖可分那兩大類?4.

產品品質的變異有那幾种來源?5.

請對下列名詞定義:Ca,Cp,Cpk.6.

假若產品設計工程師對製程變異考慮不週,所建立的產品規格可能導致那三种情況?

二、計算1.

假設絕緣膠片Mylar厚為0.2mm,規格下限為0.15mm,上限為0.25mm,標準差為0.02mm,製程平均為0.22mm,請算Ca,Cp值.並進行Ca,Cp值的等級判定.Ca=(0.22–0.2)/(0.1/2)=0.02/0.05=2/5=0.4Cp=0.1/6*0.02=0.1/0.12=5/6=0.8332.

某墊圈規格5.50.5mm,隨機