标准解读

《GB/T 40066-2021 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法》是一项国家标准,专门针对利用原子力显微镜(AFM)来测定氧化石墨烯层材料厚度的方法进行了详细规定。该标准适用于单层或多层氧化石墨烯薄膜样品,在平面基底上沉积后其厚度的精确测量。

标准首先明确了术语和定义部分,包括对氧化石墨烯、原子力显微镜等相关概念给出了准确描述。接着,在原理章节中介绍了使用原子力显微镜进行厚度测量的基本原理:通过探针与样品表面之间的相互作用力来获得表面形貌信息,并据此计算出样品的高度差或厚度值。

对于实验准备阶段,《GB/T 40066-2021》提出了具体要求,如选择合适的基片材料以确保良好的对比度;清洁处理待测样品表面,避免污染或损坏;以及如何正确安装样品于原子力显微镜平台上等。此外,还强调了环境条件控制的重要性,比如温度、湿度等因素可能影响到最终结果准确性。

在操作步骤方面,标准详细列出了从仪器校准开始直至数据采集结束整个过程中的每一步骤,并提供了相应参数设置建议。特别是关于扫描模式的选择、成像速度的调整等方面给出了指导性意见。同时,也说明了如何根据所得到的图像信息来分析并确定氧化石墨烯层的确切厚度。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2021-05-21 颁布
  • 2021-12-01 实施
©正版授权
GB/T 40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法_第1页
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文档简介

ICS17180

A40.

中华人民共和国国家标准

GB/T40066—2021

纳米技术氧化石墨烯厚度测量

原子力显微镜法

Nanotechnologies—Thicknessmeasurementofgrapheneoxide—

AtomicForceMicroscoAFM

py()

2021-05-21发布2021-12-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T40066—2021

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

原理与计算方法

4…………………………1

试剂及材料

5………………3

仪器设备

6…………………3

样品制备

7…………………3

测量步骤

8…………………3

结果计算

9…………………3

氧化石墨烯厚度测量的应用

10……………5

不确定度

11…………………5

测试报告

12…………………6

附录资料性附录方法一实例

A()………………………7

附录资料性附录方法二实例

B()………………………12

附录资料性附录氧化石墨烯厚度测量的应用

C()……………………16

附录资料性附录方法一测试报告式样

D()……………17

附录资料性附录方法二测试报告式样

E()……………18

参考文献

……………………19

GB/T40066—2021

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准由中国科学院提出

本标准由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会归口

(SAC/TC279/SC1)。

本标准起草单位江南石墨烯研究院中国计量科学研究院常州国成新材料科技有限公司哈尔滨

:、、、

万鑫石墨谷科技有限公司清华大学常州市标准计量技术情报研究所泰州巨纳新能源有限公司冶金

、、、、

工业信息标准研究院合肥国轩高科动力能源有限公司江苏省特种设备安全监督检验研究院国家石

、、[

墨烯产品质量监督检验中心江苏

()]。

本标准主要起草人董国材任玲玲张小敏卜天佳梁枫袁国辉侯慧宁姚雅萱王立莉

:、、、、、、、、、

杨宇华梁铮喻晓筠颜国平王勤生杨勇强李晓俊杨续来

、、、、、、、。

GB/T40066—2021

引言

氧化石墨烯是一种性能优异的新型碳材料由于其具有较高的比表面积和表面丰富的官能团在

。,

工程材料能源环境等领域都具有较高的应用价值简单准确的测量氧化石墨烯的厚度具有重要的意

、。

义目前常见的厚度表征方法中原子力显微镜的分辨率可达到原子级水平通过测量氧化石墨烯与基

。,,

底之间的高度差来直接确定氧化石墨烯的厚度本标准利用原子力显微镜扫描技术通过两种数据分

。,

析方法对氧化石墨烯厚度进行测量建立原子力显微镜测量氧化石墨烯厚度一致性测量方法该方法

,,。

可以有效避免污染噪音等因素对厚度测量的影响具有实用性

、,。

GB/T40066—2021

纳米技术氧化石墨烯厚度测量

原子力显微镜法

1范围

本标准规定了原子力显微镜法测量氧化石墨烯厚度的样品制备测量步骤及结果计算等

(AFM)、。

本标准适用于片径尺寸不小于的氧化石墨烯厚度的测量其他二维材料厚度的测

300nm。AFM

量可参照使用

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

利用晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

GB/T27760Si(111)

纳米科技术语第部分石墨烯及相关二维材料

GB/T30544.1313:

扫描探针显微镜校准规范

JJF1351

3术语和定义

和界定的术语和定义适用于本文件为了便于使用以下

GB/T27760、GB/T30544.13JJF1351。,

重复列出了中的某些术语和定义

GB/T30544.13。

31

.

氧化石墨烯grapheneoxideGO

;

对石墨进行氧化及剥离后所得到的化学改性石墨烯其基平面已被强氧化改性

,。

注氧化石墨烯是具有高氧含量的单层材料通常由碳氧原子比与合成方法有关一般约为表征

:,(,2.0)。

定义

[GB/T30544.13—2018,3.1.2.13]

4原理与计算方法

41原理

.

将氧化石墨烯样品平铺在基底上利用表征氧化石墨烯与基底的表面形貌

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