GB/T 35006-2018半导体集成电路电平转换器测试方法

ICS31200

L56.

中华人民共和国国家标准

GB/T35006—2018

半导体集成电路

电平转换器测试方法

Semiconductorintegratedcircuits—

Measuringmethodoflevelconverter

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国

国家标准

半导体集成电路

电平转换器测试方法

GB/T35006—2018

*

中国标准出版社出版发行

北京市朝阳区和平里西街甲号

2(100029)

北京市西城区三里河北街号

16(100045)

网址

:

服务热线

:400-168-0010

年月第一版

20181

*

书号

:155066·1-58844

版权专有侵权必究

GB/T35006—2018

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

总则

4………………………2

测试环境要求

4.1………………………2

测试注意事项

4.2………………………2

功能测试

5…………………2

目的

5.1…………………2

测试原理图

5.2…………………………2

测试程序

5.3……………3

测试条件

5.4……………3

静态参数测试

6……………3

输入钳位电压V

6.1(IK)…………………3

输入高电平电压V

6.2(IH)………………4

输入低电平电压V

6.3(IL)………………5

输出高电平电压V

6.4(OH)……………5

输出低电平电压V

6.5(OL)………………5

输入高电平电流I

6.6(IH)………………5

输入低电平电流I

6.7(IL)………………5

输出高电平电流I

6.8(OH)………………5

输出低电平电流I

6.9(OL)………………6

输出高阻态时高电平电流I

6.10(OZH)…………………7

输出高阻态时低电平电流I

6.11(OZL)…………………8

静态电流I

6.12(CCQ)……………………9

电流偏移量I

6.13(ΔCCQ)………………9

输出对地短路电流I

6.14(OSL)………………………10

输出对电源短路电流I

6.15(OSH)……………………11

开启电阻R

6.16(ON)…………………12

通道间开启偏移电阻R

6.17(ΔON)……………………13

动态参数测试

7……………14

电源电流I

7.1(CC)……………………14

最高工作频率f

7.2(MAX)………………14

最低工作频率f

7.3(MIN)………………15

输入电容C和输出电容C

7.4(I)(O)…………………16

输出由低电平到高电平传输延迟时间t

7.5(PLH)……………………16

输出由高电平到低电平传输延迟时间t

7.6(PHL)……………………17

Ⅰ

GB/T35006—2018

输出由高阻态到高电平传输延迟时间t

7.7(PZH)……………………18

输出由高阻态到低电平传输延迟时间t

7.8(PZL)……………………18

输出由高电平到高阻态传输延迟时间t

7.9(PHZ)……………………19

输出由低电平到高阻态传输延迟时间t

7.10(PLZ)……………………20

输出由低电平到高电平转换时间t

7.11(TLH)………21

输出由高电平到低电平转换时间t

7.12(THL)………22

眼图高度e

7.13(H)……………………23

眼图宽度e

7.14(W)……………………24

确定性抖动Dj

7.15()…………………25

随机抖动Rj

7.16()……………………25

总抖动J

7.17(t)………………………26

Ⅱ

GB/T35006—2018

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会归口

(SAC/TC78/SC2)。

本标准起草单位深圳市国微电子有限公司中国电子科技集团公司第五十八研究所工业和信息

:、、

化部电子第五研究所成都振芯科技股份有限公司

、。

本标准主要起草人宦承永邬海忠陆坚魏军王小强罗彬

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T35006—2018

半导体集成电路

电平转换器测试方法

1范围

本标准规定了半导体集成电路电平转换器以下称为器件功能静态参数和动态参数的测试方法

()、。

本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能静态参数和动态参数的测试

、。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

半导体器件集成电路第部分数字集成电路

GB/T17574—19982:

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

被测器件deviceundertestDUT