标准解读
GB/T 30705-2014《微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则》是一项国家标准,旨在为使用波谱法进行电子探针显微分析时提供一套规范化的实验参数设定指导。该标准适用于采用波谱仪(WDS, Wavelength Dispersive Spectrometry)作为检测手段,在材料科学、地质学等领域内对样品成分进行定量或定性分析的过程。
根据此标准,首先明确了术语和定义部分,确保行业内对于关键概念的理解一致。接着详细描述了实验前准备工作的重要性,包括但不限于选择合适的样品制备方法以保证表面平整度符合要求;确定最佳工作条件如加速电压、束流强度等,这些因素直接影响到信号采集的质量与准确性;以及如何校准仪器设备来提高数据可靠性。
在实际操作过程中,该标准还特别强调了几点注意事项:一是要合理设置扫描区域大小及步长,这不仅关系到图像分辨率,也影响着后续数据分析的精确度;二是需定期检查探测器状态并调整其位置,确保每次测量都能获得最优化的结果;三是针对不同类型样本可能存在的特殊性质采取相应措施,比如对于导电性差的非金属材料,则应该考虑使用镀膜技术改善表面特性。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2014-06-09 颁布
- 2014-12-01 实施




文档简介
ICS7104050
G04..
中华人民共和国国家标准
GB/T30705—2014
微束分析电子探针显微分析
波谱法实验参数测定导则
Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—
Guidelinesforthedeterminationofexperimentalparametersfor
wavelengthdispersivespectroscopy
(ISO14594:2009,MOD)
2014-06-09发布2014-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T30705—2014
目次
前言
…………………………Ⅰ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
缩略语
4……………………2
实验参数
5…………………2
概要
5.1…………………2
入射电子束参数
5.2……………………2
波谱仪参数
5.3…………………………3
试样参数
5.4……………4
测量步骤
6…………………4
概要
6.1…………………4
束流
6.2…………………4
谱峰测量参数
6.3………………………5
试样参数
6.4……………7
实验报告
7…………………7
附录资料性附录分析面积的估算方法
A()……………9
附录资料性附录分析深度的估算方法
B()……………11
附录资料性附录射线分析体积的蒙特卡罗模拟估算方法
C()X(MC)……………12
参考文献
……………………15
GB/T30705—2014
前言
本标准按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本标准使用重新起草法修改采用微束分析电子探针显微分析波谱法实验参
ISO14594:2009《
数测定导则英文版
》()。
本标准与微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则英文版
ISO14594:2009《》()
的主要技术差异
:
用代替
———GB/T27025:2008ISOGuide25:1990;
将第章中的项修改为的
———7ISOGuide25:199013.2GB/T27025—20085.10。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口
(SAC/TC38)。
本标准起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所
:。
本标准主要起草人曾毅李香庭吴伟
:、、。
Ⅰ
GB/T30705—2014
微束分析电子探针显微分析
波谱法实验参数测定导则
1范围
本标准规定了进行电子探针分析时的入射电子束波谱仪和试样的实验参数测定的一般原则并规
、,
定了束流束流密度死时间波长分辨率背底分析面积分析深度和分析体积的测定过程
、、、、、、。
本标准适用于垂直入射电子束对抛光试样的分析对于其他实验条件这些实验参数只能作为
,,
参考
。
本标准不适用于能谱法
。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
检测和校准实验室能力的通用要求
GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件
。
31
.
分析面积analysisarea
能检测到全部信号或者规定百分数信号的试样表面的二维区域
。
32
.
分析深度analysisdepth
从试样表面到作用体积底部的垂直距离经过该距离能检测到全部信号或者规定百分数的信号
,
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