标准解读

GB/T 29556-2013《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定》是一项国家标准,旨在为使用俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)技术进行表面化学分析时提供关于如何测量这些仪器的关键性能参数的方法。该标准详细描述了用于评估AES和XPS设备横向分辨率、分析区域大小以及分析器可探测样本区域的具体步骤和技术要求。

对于横向分辨率的测定,标准中定义了通过测量已知尺寸特征(如线条或点)在不同位置上的信号强度变化来确定最小可分辨距离的方法。这涉及到对实验条件的选择,包括入射能量、探测角度等,并且强调了需要考虑的因素,比如束斑形状对结果的影响。

分析面积是指能够获得有效数据的样品表面的实际大小。根据本标准,可以通过改变探针尺寸或者扫描范围来直接测量这一参数;同时,也介绍了基于理论计算结合实验验证的方式来估算最大分析面积的方法。

至于分析器可以检测到的样品面积,则指的是当整个系统处于最佳工作状态时,分析器能够覆盖并收集信息的最大物理区域。这部分内容指导用户如何通过调整光学元件的位置与设置来优化这一数值,并给出了推荐的操作流程以确保准确性。

此外,该文件还提供了关于如何准备测试样品、选择适当的参考材料以及处理数据等方面的指南,帮助提高测量结果的一致性和可靠性。通过遵循这些规定的方法,研究者可以获得更加准确可靠的表面化学成分分布信息,这对于材料科学、纳米技术等多个领域具有重要意义。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2013-07-19 颁布
  • 2014-03-01 实施
©正版授权
GB/T 29556-2013表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定_第1页
GB/T 29556-2013表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定_第2页
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文档简介

ICS7104040

G04..

中华人民共和国国家标准

GB/T29556—2013/ISO/TR193192003

:

表面化学分析俄歇电子能谱和X射线

光电子能谱横向分辨率分析面积和

分析器所能检测到的样品面积的测定

Surfacechemicalanalysis—AugerelectronspectroscopyandX-ray

hotoelectronsectrosco—Determinationoflateralresolution

pppy,

analsisareaandsamleareaviewedbtheanalser

y,pyy

(ISO/TR19319:2003,IDT)

2013-07-19发布2014-03-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T29556—2013/ISO/TR193192003

:

前言

本标准依据和给出的规则起草

GB/T1.1—2009GB/T20000.2—2009。

本标准使用翻译法等同采用表面化学分析俄歇电子能谱和射线光电子

ISO/TR19319:2003《X

能谱横向分辨率分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

、》。

本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC38)。

本标准负责起草单位厦门爱劳德光电有限公司清华大学化学系中国科学院化学所

:、、。

本标准起草人王水菊岑丹霞姚文清李展平刘芬

:、、、、。

GB/T29556—2013/ISO/TR193192003

:

引言

本标准适用于以下四个方面

:

提供测定俄歇电子能谱和射线光电子能谱横向分辨率的指导这里测量的是与样品表面上

a)X,

的位置相关联的俄歇电子或射线光电子的峰强度

X。

提供在俄歇电子能谱和射线光电子能谱的应用中测定分析面积的指导

b)X。

提供在俄歇电子能谱和射线光电子能谱的应用中测定分析器所能检测到的样品面积的

c)X

指导

为制定测量俄歇电子能谱和射线光电子能谱的横向分辨率分析面积和分析器所能检测到

d)X、

的样品面积的新国际标准和国家标准提供基础

GB/T29556—2013/ISO/TR193192003

:

表面化学分析俄歇电子能谱和X射线

光电子能谱横向分辨率分析面积和

分析器所能检测到的样品面积的测定

1范围

本标准规定了俄歇电子能谱和射线光电子能谱横向分辨率分析面积和分析器所能检测到的样

X、

品面积的测量方法

本标准适用于俄歇电子能谱和射线光电子能谱横向分辨率分析面积和分析器的检测

X、。

2术语和定义

[1]界定的术语和定义适用于本文件为便于使用下面给出了[1]中分析面

ISO18115。,ISO18115“

积适用于样品和横向分辨率的定义

<>”“”。

21

.

分析面积analysisarea

适用于样品在样品平整表面内检测到全部分析信号或该信号特定百分数的该平整表面的二维

<>

区域

22

.

横向分辨率lateralresolution

在样品平整表面内或在与成像光学轴成直角的平面内能可信地分别确定组成改变时所测试的

,

距离

注1应说明平面的选取

:。

注2实际中横向分辨率可以理解为

:,:

从样品上非常小的发射点的强度分布的半高宽或

a)(FWHM);

穿越含有与要分辨性质相关的明显台阶函数信号的样品部分进行线扫描时强度为和两点间的

b),12%88%

距离对高斯型强度分布而言这两个值是相同的对其他分布而言选择其他参数可能更合适对台阶

,,。,。

函数在线扫描中常使用强度为和的两点间或强度为和的两点间的距离后一对是

,20%80%16%84%。

高斯分辨函数的σ宽度

2。

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