LGEHZ-C-1144A V0.2 复合加速寿命试验规则

LG电子（惠州）有限公司标准运营表标准名产品复合加速寿命试验规则

标准编号LGEHZ-C-1109A管理部门名品质保证部制订/改正/废弃权总经理制订日2008年07月08日记案部门名DQA确认周期1年////////////////////-回览-记案部门区分成案审查承认职位StaffPart.长室长姓名郝群芳卢台宁都会胜管理部门区分担当确认承认职位StaffPart.长室长姓名郝群芳卢台宁都会胜目录MTBF算出方法6页数内容顺序8温度条件所对就MTBF算出公式51试验顺序(试验条件,方法,判定基准)44用语定义34目的24适用范围13改正履历书2目录1标准运营表12附表及关联格式912附表812附则710改正履历书

版本状态修改次数改正内容及所在页码改正日依赖部门修改人承认01标准新规制定2008.07.08DQA陈杰卢台宁2年间确认:无改正2009.01.09DQA郝群芳卢台宁LGEHZ(审)A4004(021003)CST类SPEAKERCARAUDIO,MINICOMPO,HI-FI类DUMMYEARPHONEAHHA类1.适用范围此规则适用于LGEHZ及外驻公司开发,生产,出货产品的寿命试验.2.目的目的在于产品出货后消费者使用产品时，在一定时间内连续动作，导致产品的机体性能不良,

为此做好事前试验，确保产品的信赖性。

1).转动部分的信赖性确认

2).功能的长时间工作变化

3).温度上升确认3.用语定义寿命试验(LIFETEST):产品使用上经过一定时间后，会因磨损发生不良，为此随时间变化而所做的关联试验。初期寿命试验(ELT):即EARLYLIFETEST,出货后初期(3-6个月)信赖性保证而进行的短时间

(MTBF基准值:398Hrs以上)的寿命试验。短期寿命试验(STLT):即SHORTTERMLIFETEST,为了在产品保证期间(2年以上)内,保证/验证产品的信赖性,在开发期间实施的短期(MTBF基准值:3188Hrs)的寿命试验.

长期寿命试验(LTLT):即LONGTERMLIFETEST,为了确保产品的信赖性，验证产品的有效使用寿命，在开发期间实施的中长期(MTBF基准值:11158Hrs,MTBF目标值：

30000Hrs)的寿命试验。4.试验顺序

4.1试料条件:器具构造及回路性能上良好的完成品

4.2试验条件

1)温度及湿度:40℃±3℃,

45%±5%R.H2)使用电源:AC额定电压+15%UP（UL及韩国：60Hz,欧州/其它50Hz）

DC额定电压

3)负载:

定格负载适用条件额定输出输出位置条件1MainSET5W/CH以下VRMAX6W/CH~10W/CH1kHzSINEWAVE,0dB,额定功率

1/3位置11W/CH以上1kHzSINEWAVE,0dB,UNCLIP1/8位置条件2SpeakerSystemModel额定1kHzSINEWAVE,0dB,UNCLIP位置

(内销全MODEL)VOLUME及各种

BOOST机能

ALLMAX,EQ:ROCK(出力全MODEL)

EVENT

区分DVPVPQ详细试料数AHHA/CST类10台15组23台15台HIFI/MINICOMPO类/其它10台15组15台10组SPEAKER类10组15组10组10组试验时间(STLT/LTLT)AHHA/CST类STLT245(10天)163(7天)168(7天)163(7天)LTLT840(35天)560(24天)168(7天)560(24天)HIFI/MINICOMPO类/其它STLT123(5天)82(3天)168(7天)123(5天)LTLT419(18天)280(12天)168(7天)419(18天)SPEAKER类(SET出力条件)STLT123(5天)82(3天)168(7天)123(5天)LTLT419(18天)280(12天)168(7天)419(18天)4)试验时间及试料数备注1)试验时间算出依据;跟据韩国电力公司1993年调查统计结果.(年使用时间)

1.

收音机磁带-359~1594时间

(X=742时间)

2.전축(电蓄)-340.8~796.2时间

(X=517.7时间)5)出力条件①上记条件VOLUME满足后,各SOURCEPLAY动作确认.②UBB,DSP,HI-TONE,SURR.

各种

BOOSTER:ON,EQ:ROCK,BASS/TREBLE:CENTER位置设定.

(BASS,TREBLE机能除外各种BOOSTER机能VOLUMETYPE은MAX位置)③SPEAKERSYSTEM【表2】的条件下2状态48Hrs实施,48Hrs以后条件1适用.(但中南美向96Hrs实施.)【表2】【表1】6)信赖性目标①

MTBF(MEANTIMEBETWEENFAILURE):平均故障发生时间7年为目标.(修理后可以在使用制品适用.)②MTBF算出故障内容处理.

纯碎信赖性故障判定项目包含同一故障两台以上试料发生,开发阶段1台出现故障.NO.分类试验方法1CD/CST1)试验用DISC应使用良好的一般MUSICDISC.2)动作状态按REPEATALL进行连续动作.3)因DISC发生问题时,用标准DISC(PHILIPS5A)来确认.4)VR的位置按1KHz,odB,1/3位置来调整,调整后再PLAY.

注：CD-CST带SPEAKER连同SPEAKER的耐入力试验一起进行，VR调至MAX。5)单卡(ONEDECK)情况下,REC状态(NOPLAY)下连续动作.6)双卡(DOUBLEDECK)AUTORVS的情况.a)ADECK:NOTAPE(PLAY状态)b)BDECK:TAPEIN(CDREC状态)7)双卡(DOUBLEDECK)NONAUTORVS的情况.A,BDECK同时NOTAPE状态下动作8)确认时必须在TAPEIN状态下进行2一般CST(包括H/FDECK)

1)单卡:NOTAPE(REC状态)下连续动作.2)双卡:AUTORVS的情况下.a)ADECK:NOTAPE(PLAY状态)b)BDECK:TAPEIN(REC状态)3)双卡:NONAUTORVSA,BDECK在无TAPE下连续动作3M/C

1)试验用DISC应使用良好的一般MUSICDISC(CD/DVD使用影碟试验)2)动作状态REPEATALL设置进行连续动作.3)因DISC发生问题时,用标准DISC(PHILIPS4A)来确认.4)VR的位置按1KHz,odB,UNCLIP1/8位置设置后,用良好的一般

MUSICDISC动作.5)DECK部分以1-5).6).7)项为基准.4

AMP

1)利用外部端子(LINEIN或AUX)施加1KHz正弦波试验

2)利用别的AUTORVSDECK与标准TAPE(一般MUSICTAPE)

进行连续动作.3)各种调整KNOB的位置在ON状态实施.5

PLAYER

DISCPlay状态下REPEATALL设置进行连续动作.7)试验试料设置方法【表3】①

寿命试验用DISC应良好的一般MUSICDISC适用.

→寿命试验中DISC的TROUBLE发生时标准DISC(PHILIPS444A)确认.②DECK类

MECHADECK并且

NONAUTOREVERSEDECK的情况,试验NOTAPE(WITHOUTTAPE)状态实施,

确认必须TAPEIN状态CHECK.③中南美向制品,各机能MAX,SPEAKER连接状态96Hrs实施.④SPEAKERPOWERTEST中MAINSET信赖性问题发生时,MAINSET检讨改善.

⑤BUYEROEMMODEL的情况

BYUER要求SPEC及试验方法进行.8)判定基准阶段判定基准DV基准MTBF7年保证期间内无信赖性不良发生.判定1)MTBF2年保证期间,1件或1件以上信赖性不良发生时:

不合格处理,EVENTPV进行不可以.2)MTBF2年保证期间以上进行无信赖性不良发生情况;

预备合格处理,EVENTPV进行可/否合议决定.备注1)预备合格后

MTBF7年保证间继续试验制品信赖性确保.

→信赖性不良发生时;现EVEVT紧急检讨改善品适用.PV基准MTBF2年保证期间内无信赖性不良发生.预备判定1)MTBF2年保证期间1件或1件以上信赖性不良发生时;

不合格处理,PQ进行不可以.2)DV试验试料LTLT(MTBF7保证期间)中无信赖性不良发生,

MTBF2年保证期间以上,无信赖性不良发生,预备合格处理,EVENTPQ进行可/否合议决定承认.判定最终判定:

DV:MTBF7年保证期内继续试验无信赖性不良发生的情况;

合格处理

PV:MTBF7年保证期间信赖度(R(t))90%满足时,

合格处理.(品质SYSTEMLGCM的RAS利用计算)PQ基准MTBF2年保证期间内无信赖性不良发生..判定PV:MTBF7年保证期间试验结果无信赖性不良发生.PQ:MTBF2年保证期间试验结果无信赖性不良发生,最终合格判定.预备判定1)寿命试验时间

MTBF2年保证时间以上无信赖性不良发生,预备合格处理,

次期Event可/否合议决定承认.2)预备合格承认后继续加速寿命试验实施到目标MTBF(7年)为止.

确保信赖性.表4判定基准,回路性能/机构外观没有异常时,CHECKLIST的项目遵守,检查发生异常时不合格处理※DV,PV阶段预备判定后信赖性问题点发生时,现进行EVENT急时实施改善方案,

改善方案改善完了后在进行试验.(1)主要

CHECK项目

:【附表

1】CHECKLIST参照.【表4】5.1)常温(25℃)基准

MTBF算出:MTBF=T/Ef=(t×n)/EfT:总试料试验时间

[T=试验时间(t)×试验数(n)]Ef:推定不良常数(90%C/L基准)

포아송

분포표(表6)에의해신뢰수준(ConfidenceLevel)에따른산출.5.2)高温(40℃)基准

MTBF算出:MTBF=T/Ef×AF={(t×n)/Ef}×AF

T:常温(25℃)基准保证时间

n:试验试料数

AF:加速系数(Arrhemmius온도가속Model용)=e(-E/K)(1/T1-1/T2)E:ActivationEnergy(0.6)=ln{T50(T1)/T50(0.6)}/10/K{(1/T1)-(1/T2)}K:BOLTZMANCONSTANT{8.617×(1/10n)}n=-5T:试验温度

(K)T2:基准温试验(K)=273.16＋25(273.16은绝对温度值.)5.温度条件所对的MTBF算出公式5.3)加速系数(AF)计算结果:温度上升温度加速系数35℃10℃UP2.1340℃15℃UP3.0645℃20℃UP4.3450℃25℃UP6.4060℃35℃UP11.6070℃45℃UP21.60【表5】5.4)

포아송분포도(推定不良系数)【表6】※Audio

事业部

Audio制品目标信赖度是

90%.5.5)

试验数别试验日数图表【表7】6.MTBF算出方法:

MTBF=【[(试料数×试验时间)÷推定不良常数(90%)]×加速系数】÷年使用时间※例如:AHHACSTMODEL10台

40℃温度状态

240Hrs试验后无不良发生,问此MODEL的MTBF?

MTBF=【[(试料数×试验时间)÷推定不良常数(90%)]×加速系数】÷年使用时间

=【[(10×240)÷2.3031]×3.06】÷1594

=

2.00년

→年使用时间:韩国电力公司1993统计基准.(备注1)【表7】6.1MTBF算出结果:7.附则本规则于2008年07月08日正式实施8.附表附表1：CheckList

附表2：HomeAudioSpeaker寿命试验判定基准9.关联格式LGEHZ(品)A4003(060110)寿命试验附表:1寿命试验规格:CHECKLISTNO.内容

结果(共同部分)

1有无热爆的现象？

2有无FUSE熔断现象？

3有无异常发振？

4

P/T有无热老化的现象？

5有无输出降低？

6

CABINET有无因过热变色现象？

7外观问题上有无给实用带来影响？

(DECK部)

1录音是否良好.

2有无JAM现象？

3有无AUTOSTOP?

4

TORQUE有无降低?

5有无WOW/FLUTTER不良?

6有无SPEED不良?