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文档简介

X射线光电子能谱(XPS)XPS是一种基于光电效应的电子能谱,也叫做化学分析电子能谱(ESCA)。XPS数据处理系统

能量分析器

探测器X射线源AlK或MgK

光电子样品

基本构造爱因斯坦光电定律:Ek=h-Eb-基本原理元素的定性分析。

根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。元素半定量分析。

根据光电子谱线强度(光电子峰的面积)反应原子的含量或相对浓度。固体表面分析。

包括表面的化学组成或元素组成,原子价态,表面能态分布,测定表面

电子的电子云分布和能级结构等。化合物的结构。

对内层电子结合能的化学位移精确测量,提供化学键和电荷分布的信息。分子生物学中的应用。

利用XPS鉴定维生素B12中的少量的Co。用途固体样品用量小,不需要进行样品前处理,避免了引入

或丢失元素所造成的错误分析表面灵敏度高,一般信息深度10nm分析速度快,可多元素同时测定给出原子序数3-92的元素信息,以获得元素成分分析给出元素化学态信息,进而分析出元素的化学态或官能团样品不受导体、半导体、绝缘体的限制等是非破坏性分析方法。结合离子溅射,可作深度剖析

优点及特点能谱图生成text:选择要进行拟合的数据点,copy至txt文本中,即ABC三列数据(其中B列为空的,只包含两列数据)分峰拟合导入数据:xpspeak41分峰软件,

DataImport(ASCII)分峰拟合扣背景:Backgrond,Boundary的默认值,Type一般选择Shirley类型分峰拟合加峰:AddPeak,PeakType、Position、FWHM、%Lorentzian-Gaussian分峰拟合拟合:OptimiseAll数据输出:Data中的Export(spetrum),存为

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