标准解读

《GB/T 23901.1-2009 无损检测 射线照相底片像质 第1部分:线型像质计 像质指数的测定》是一项国家标准,其主要目的是为了规范射线照相检测中使用的线型像质计以及通过这种工具来评估和确定射线照相图像的质量。该标准适用于各种工业领域内利用X射线或γ射线进行材料内部缺陷检测时对所得图像清晰度的要求。

根据此标准定义,线型像质计是一种用于评价射线照相底片上细节分辨率能力的工具,它由一系列宽度不同但长度固定的金属丝组成。这些金属丝按照特定规则排列,并且每根丝都有明确标识,便于识别其尺寸规格。在实际应用过程中,将线型像质计放置于待检测物体附近(通常是表面),然后与物体一起接受射线照射。经过处理后的射线照片不仅显示了被检物内部结构信息,同时也包含了线型像质计的影像。通过观察并记录下能够清晰分辨出来的最细金属丝编号,就可以计算出相应的像质指数,进而反映整个射线成像系统的性能水平。

标准详细规定了如何使用线型像质计、如何从射线照片上读取数据以及如何基于这些数据来计算像质指数的方法。此外,还明确了不同类型线型像质计的选择原则及其适用范围,确保了测试结果的一致性和可比性。对于从事无损检测工作的专业人员而言,正确理解和运用这一标准是保证检测质量、提高工作效率的重要基础之一。


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  • 2009-05-26 颁布
  • 2009-12-01 实施
©正版授权
GB/T 23901.1-2009无损检测射线照相底片像质第1部分:线型像质计像质指数的测定_第1页
GB/T 23901.1-2009无损检测射线照相底片像质第1部分:线型像质计像质指数的测定_第2页
GB/T 23901.1-2009无损检测射线照相底片像质第1部分:线型像质计像质指数的测定_第3页
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文档简介

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中华人民共和国国家标准

犌犅/犜23901.1—2009/犐犛犗192321:2004

无损检测射线照相底片像质

第1部分:线型像质计

像质指数的测定

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(ISO192321:2004,IDT)

20090526发布20091201实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国

国家标准

无损检测射线照相底片像质

第1部分:线型像质计

像质指数的测定

GB/T23901.1—2009/ISO192321:2004

中国标准出版社出版发行

北京复兴门外三里河北街16号

邮政编码:100045

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电话:6852394668517548

中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷

各地新华书店经销

开本880×12301/16印张0.5字数9千字

2009年8月第一版2009年8月第一次印刷

书号:155066·138427

如有印装差错由本社发行中心调换

版权专有侵权必究

举报电话:(010)68533533

犌犅/犜23901.1—2009/犐犛犗192321:2004

前言

GB/T23901《无损检测射线照相底片像质》分为五个部分:

———第1部分:线型像质计像质指数的测定;

———第2部分:阶梯孔型像质计像质指数的测定;

———第3部分:黑色金属像质分类;

———第4部分:像质指数和像质表的实验评价;

———第5部分:双线型像质计图像不清晰度的测定。

本部分为GB/T23901的第1部分。

本部分等同采用ISO192321:2004《无损检测射线照相底片像质第1部分:线型像质计像

质指数的测定》(英文版)。

本部分等同翻译ISO192321:2004。

为便于使用,本部分做了下列编辑性修改:

———用小数点“.”代替作为小数点的逗号“,”;

———删除国际标准的前言和引言;

———用GB/T1.1—2000规定的引导语代替国际标准中的引导语。

本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。

本部分起草单位:上海电气核电设备有限公司、上海锅炉厂有限公司、上海材料研究所、上海市工程

材料应用评价重点实验室、上海苏州美柯达探伤器材有限公司、浙江省缙云像质计厂。

本部分主要起草人:许遵言、金宇飞、宓中玉、李莉、赵成、柳章龙。

犌犅/犜23901.1—2009/犐犛犗192321:2004

无损检测射线照相底片像质

第1部分:线型像质计

像质指数的测定

1范围

GB/T23901的本部分规定了用于确定射线照相质量的器材和方法,其他器材见GB/T23901.2和

GB/T23901.5。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T23901的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文

件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成

协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本

部分。

GB/T19802无损检测工业射线照相观片灯最低要求(GB/T19802—2005,ISO5580:1985,

IDT)

GB/T23901.2无损检测射线照相底片像质第2部分:阶梯孔型像质计像质指数的测定

(GB/T23901.2—2009,ISO192322:2004,IDT)

GB/T23901.4无损检测射线照相底片像质第4部分:像质指数和像质表的实验评价

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