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实验五子力显微一、实验目的二、实验原理基本原理现为排斥力，这种排斥力随着间距的缩短而急剧变大。AFM正是利用与间距之间的这些关系，通过检测原子间的作用力而获得样品表面的微观形貌。由于AFM利用原子力工作而不原子力显微镜的基本结构之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信探

1臂构成，在最尖端处有一个原子级的针尖，如图2所示 图2原子力显微镜中的悬臂探针扫描3原子力显微镜的探针工扫描器的部分是压电陶瓷管，根据所加的电压，它可以在X、Y、Z三个方向上3原子力显微镜的探针工原子力显微镜的探针工作原理3所示，激光束聚焦在微悬臂背面，并反射到光AFM的工作模过改变加在扫描器Z方向上的电压，使扫描器做适当移动来保持这个偏移的恒定，计算机探针的选择：原则上所有的微悬臂探针都可以使用于AFM的接触模式。由于接触模式三、实验装头，SPM底座、扫描器、探针架和探针、控制机箱、计算机控制系统。四、实验步打开控制机箱电源，进入SPMConsole五、实验结样品表面二维图像 样品表面三维图像六、思考题以接触模式一般不适用于物大分子、低弹性模量样品以及容易移动和变形的样模式针尖刮擦会损坏样式AFM斑等表面磁结构的信息，这就是MFM.bMFM的示意图和磁力探测原理图。图la中可见一根细小的悬臂上有一个磁化强度为M的铁磁性材料表面上存在着M.n产生的杂散磁场H，H作用于磁针尖局域磁矩m上的磁力为构的信息。同样，如保持f不变，探测位相的改变量也行，但方程应改为七、参考文3、《扫描力显微术》科学6、C.Mateetal.Atomicforcemicro

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