ICP发射光谱中元素谱线干扰校正

Vista强大谱线干扰校正技术FACT快速曲线拟合功能ICP发射光谱中元素谱线干扰情况

BeNaMgKCaScVTiCrMnFeCoNiCuZnGaGeAsSeBrAlSiClBCNHRbSrYNbZrMoRuTcRhPdAgCdInSnSbTeIBiPbTlHgAuPtIrOsReWTaHfLaBaCsCePrNdSmEuGdTbDyHoErTmYbLuThUHeOFNeArKrXePoAtRnFrRaAcPmPaNpPuAmCmBkCfEsFmMdNoLrLiFrPSDangerelementsOK,notmanyinterferencesGoodguys,fewlinesNonICPorradioactiveelementsAm解决办法1、选择替换谱线2、IEC元素校正系数法3、FACT快速曲线拟合法灵活的谱线选择

IEC元素间干扰校正Mo396.151nm对Al(396.152nm)的干扰影响

缺陷：待测谱线和干扰谱线在不同等离子体条件的强度不一样-校正系数需要在一致的实验条件下，否则误差大只对直接重叠的干扰效果较好-部分重叠的干扰无效-大多数情况下都是部分重叠的谱线干扰

样品编号加入Al标准,mg/LAl含量，mg/L(理论值)Al含量，mg/L（实测值）回收率，%样品100.54660.5466----样品20.51.04660.998790.42样品31.01.54661.5912104.46Vista强大的软件功能

FACT－谱图解析软件

FastAutomatedCurve-fittingTechnique快速自动匹配曲线拟合技术使用一系列的高斯曲线对分析元素的谱线和干扰元素的谱线进行精确模拟该模拟可以精确地校正极小（1/10感光元）的波长漂移干扰校正不影响分析速度,FAST!FACT－谱图解析软件的设计原理使用FACT软件的解析结果ResolvedspectrausingFACTFACT谱线解析技术克服谱线干扰的实例背景：高纯稀土中杂质的分析是最有挑战性的样品：稀土Nd样品中其它稀土元素含量的测定；本例中以Pr的测定来说明ＦＡＣＴ的效果；Nd中Pr的测定：不使用ＦＡＣＴ技术所得到的谱图１(410.072nm)Nd中Pr的测定：不使用ＦＡＣＴ技术所得到的谱图２（406.281nm)Nd中Pr的测定：不使用ＦＡＣＴ技术所得到的谱图说明Pr406.281nm,Pr410.072nm两条谱线都存在严重谱线、基体干扰；所得测试结果如下：

Pr410.072 Pr406.281空白0.000000 0.000000加标１+50.0000 +50.0000样品１（基体）176.845 2.89815样品２179.303 5.26084样品３205.506 33.0242两条谱线所得出的测试结果相差很大；Nd中Pr的测定：使用ＦＡＣＴ技术所得到的谱图１示例绿色：实际谱图红色：干扰物谱图黄色：校正后谱图Nd中Pr的测定：使用ＦＡＣＴ技术所得到的谱图２示例绿色：实际谱图红色：干扰物谱图黄色：校正后谱图Nd中Pr的测定：使用ＦＡＣＴ技术所得到的谱图说明１．上述两图：绿色谱图为样品谱图（含基体和被测元素）；红色谱线为分离出来的干扰；黄色谱图为被分离出来的被测元素；２．应用ＦＡＣＴ测试结果：Pr410.072 Pr406.281空白0.000000 0.000000加标１+50.0000 +50.0000样品１(基体)-0.385313 -0.290113样品２2.99899 3.12556样品３26.6872 25.6553两条谱线测试结果十分接近；回收率分别为90%和98%,结果令人满意FACT环保应用实例测定As（样品中含Cd），数据说明：第一列：As采用193.696线测定（无任何干扰），20p