标准解读
《GB/T 19921-2018 硅抛光片表面颗粒测试方法》相比于《GB/T 19921-2005 硅抛光片表面颗粒测试方法》，主要在以下几个方面进行了更新与调整：
-
技术内容的完善与细化：2018版标准对硅抛光片表面颗粒的定义、分类及测试条件进行了更加详细和明确的规定，提高了测试方法的准确性和可操作性。这包括了对颗粒尺寸、形状、分布等测量参数的描述更为精确。
-
测试设备与技术的进步：鉴于光学检测技术和显微镜技术的发展，2018版标准引入了更先进的检测设备和技术要求，以适应高精度硅片表面颗粒检测的需求，比如使用自动颗粒计数系统来提高检测效率和准确性。
-
采样与统计方法的优化：新标准对样品的选取方法、测试区域的布局以及数据统计分析方法进行了优化，确保测试结果能够更加客观反映硅片表面的实际状态，减少测试过程中的随机误差和系统误差。
-
质量控制与评估标准的提升：2018版标准针对硅片表面颗粒的质量控制指标进行了修订，提出了更为严格的合格判定标准，有助于提升半导体材料的质量水平，满足高端电子器件制造的高标准要求。
-
环境与操作规范的加强：考虑到环境因素对测试结果的影响，新版标准对测试环境（如洁净度、温湿度控制）和操作人员的培训要求做了明确规定，以减少外界干扰，确保测试结果的稳定性和重复性。
-
国际标准的接轨：2018版标准在制定过程中参考了国际上相关领域的最新研究成果和标准，增强了其国际兼容性和通用性，便于国内外企业进行技术交流和产品贸易。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2018-12-28 颁布
- 2019-07-01 实施
文档简介
ICS77040
H21.
中华人民共和国国家标准
GB/T19921—2018
代替
GB/T19921—2005
硅抛光片表面颗粒测试方法
Testmethodforparticlesonpolishedsiliconwafersurfaces
2018-12-28发布2019-07-01实施
国家市场监督管理总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T19921—2018
目次
前言
…………………………Ⅲ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
方法提要
4…………………4
干扰因素
5…………………5
设备
6………………………7
测试环境
7…………………7
参考样片
8…………………8
校准
9………………………8
测试步骤
10…………………9
精密度
11……………………9
试验报告
12…………………9
附录规范性附录针对线宽技术用硅片的扫描表面检查系统的要求指南
A()130nm~11nm…11
附录规范性附录测定扫描表面检查系统XY坐标不确定性的方法
B()……………18
附录规范性附录采用覆盖法确定扫描表面检查系统俘获率和虚假计数率的测试方法
C()………20
Ⅰ
GB/T19921—2018
前言
本标准按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本标准代替硅抛光片表面颗粒测试方法与相比除编
GB/T19921—2005《》,GB/T19921—2005,
辑性修改外主要技术变化如下
:
修改了适用范围见第章年版第章
———(1,20051)。
规范性引用文件中删除了和增加了
———ASTMF1620-1996、ASTMF1621-1996SEMIM1-0302,
GB/T6624、GB/T12964、GB/T12965、GB/T14264、GB/T25915.1、GB/T29506、SEMI
及见第章年版第章
M35、SEMIM52、SEMIM53SEMIM58(2,20052)。
术语和定义中删除了分布图亮点缺陷漏报的计数微粗糙度重复性再现性划痕增加了
———、、、、、、,
晶体原生凹坑虚假计数率累计虚假计数率变化率水平静态方法动态方法匹配公差标
、、、、、、、
准机械接口系统的定义并根据修改了部分已有术语的定义见第章年
,GB/T14264(3,2005
版第章
3)。
方法提要中增加了关于局部光散射体延伸光散射体及晶体原生凹坑雾的测试原理见
———、、(4.1、
4.3、4.4、4.5)。
根据测试方法使用情况增加了影响测试结果的干扰因素见
———,(5.2、5.4、5.10、5.12、5.13、5.14、
5.16、5.19、5.20、5.21、5.23)。
修改了测试设备明确分为晶片夹持装载系统激光扫描及信号收集系统数据分析处理传
———,、、、、
输系统操作系统和机械系统见第章年版第章
、(6,20056)。
增加了测试环境将原标准方法概述中对环境的描述列为第章条款见第章年版
———“”,7(7,2005
第章
4)。
参考样片中增加了关于凹坑和划伤参考样片的内容见
———“”“”(8.10、8.11)。
将除上述沉积聚苯乙烯乳胶球的参考样片外有条件的用户可选择对扫描表面检查系统的定
———“,
位准确性能力进行测定的参考样片详见中第章参考样片修改为应选
。ASTMF121-968”“
择具有有效证书的样片作为参考样片参考样片应符合中的规定见年
,SEMIM53”(8.1,2005
版
7.9)。
细化了使用参考样片校准扫描表面检查系统的程序增加了中通过重复校准来确认
———(9.2),9.3
系统的稳定性的要求增加了中的在静态或动态方法条件下测试确定扫描表面检查系
;9.4“,
统的XY坐标不确定性的要求增加了对扫描表面检查系统的虚假计数进行评估获得
”;9.5“,
测试系统的俘获率乳胶球尺寸的标准偏差虚假计数率和累计虚假计数率的要求在中
、、”;9.6
进行设备校准前后测试结果的比对增加了有条件的可进行多台扫描表面检查系统的比对
,“,
并进行匹配公差计算增加了推荐使用中的凹坑或划伤尺寸的参考样片来规
”;9.7“8.10、8.11
范晶片表面的凹坑及划伤也可将相关的标准模型保存在扫描表面检查系统的软件中的内
。”
容见第章年版第章
(9,20058)。
根据试验结果修改了精密度的内容第章年版第章
———(11,200511)。
增加了规范性附录规范性附录规范性附录见附录附录附录
———A、B、C(A、B、C)。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会与全国半导体设备和材料标准
(SAC/TC203)
化技术委员会材料分技术委员会共同提出并归口
(SAC/TC203/SC2)。
Ⅲ
GB/T19921—2018
本标准起草单位有研半导体材料有限公司上海合晶硅材料有限公司浙江金瑞泓科技股份有限
:、、
公司南京国盛电子有限公司有色金属技术经济研究院天津市环欧半导体材料技术有限公司
、、、。
本标准主要起草人孙燕刘卓冯泉林徐新华张海英骆红刘义杨素心张雪囡
:、、、、、、、、。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为
:
———GB/T19921—2005。
Ⅳ
GB/T19921—2018
硅抛光片表面颗粒测试方法
1范围
本标准规定了应用扫描表面检查系统对抛光片外延片等镜面晶片表面的局部光散射体进行测试
、,
对局部光散射体与延伸光散射体散射光与反射光进行区分识别和测试的方法针对
、、。130nm~11nm
线宽工艺用硅片本标准提供了扫描表面检查系统的设置
,。
本标准适用于使用扫描表面检查系统对硅抛光片和外延片的表面局部光散射体进行检测计数及
、
分类也适用于对硅抛光片和外延片表面的划伤晶体原生凹坑进行检测计数及分类对硅抛光片和外
,、、,
延片表面的桔皮波纹雾以及外延片的棱锥乳突等缺陷进行观测和识别本标准同样适用于锗抛光
、、、。
片化合物抛光片等镜面晶片表面局部光散射体的测试
、。
注本标准中将硅锗砷化镓材料的抛光片和外延片及其他材料的镜面抛光片外延片等统称为晶片
:、、、。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
硅抛光片表面质量目测检验方法
GB/T6624
硅单晶抛光片
GB/T12964
硅单晶切割片和研磨片
GB/T12965
硅外延片
GB/T14139
半导体材料术语
GB/T14264
洁净室及相关受控环境第部分空气洁净度等级
GB/T25915.11:
硅单晶抛光片
GB/T29506300mm
自动检测硅片表面特征的发展规范指南
SEMIM35(Guidefordevelopingspecificationsfor
siliconwafersurfacefeaturesdetectedbyautomatedinspection)
关于线宽工艺用硅片的扫描表面检查系统指南
SEMIM52130nm~11nm
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