标准解读
《GB/T 16649.2-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分:触点的尺寸和位置》相比于《GB/T 16649.2-1996 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分:触点的尺寸和位置》,主要在以下方面进行了调整和更新:
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技术内容的修订:2006版标准对触点的尺寸、位置以及相关电气特性的要求进行了重新定义和细化,以适应技术进步和市场发展的新需求。这些修订确保了集成电路卡与读写设备之间的兼容性和互换性得到进一步提升。
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标准结构优化:标准文档的结构可能根据实际使用反馈和国际标准的接轨要求进行了优化,使得信息的呈现更加清晰,便于使用者查阅和执行。
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引用标准更新:随着相关基础标准和技术规范的更新,2006版标准可能引用了最新版本的其他国家标准或国际标准,确保了标准内容的现代性和准确性。
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图示和说明改进:为了更直观地表达触点尺寸和位置的要求,新版标准可能改进了图表质量,增加了必要的示例或者详细说明,帮助制造商准确理解并实施标准规定。
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测试方法和要求明确化:对于触点的电气测试、机械耐久性试验等方面,2006版标准可能提供了更为具体和严格的测试条件及评判准则,以保证集成电路卡的质量控制水平。
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国际化兼容性增强:考虑到全球贸易和技术交流的需求,2006版标准在制定时可能更加注重与国际标准ISO/IEC的相关部分保持一致或协调,便于国内外产品的相互认可和流通。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2006-03-14 颁布
- 2006-07-01 实施
文档简介
ICS35.240.15L64中华人民共和国国家标准GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2:1999代替GB/T16649.2-1996识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置Identificationcards-Integratedcircuit(s)cardswithcontacts-Part2:Dimensionsandlocationofthecontacts(ISO/IEC7816-2:1999,IDT)2006-03-14发布2006-07-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局爱布中国国家标准化管理委员会
GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2:1999三次前言范围2规范性引用文件3触点的尺寸4触点的数量和位置5触点的分配附录A(资料性附录)相关其他技术的触点分配附录B(资料性附录)可能的导电区的位置·
GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2:1999GB/T16649《识别卡带触点的集成电路卡》拟分为十二个部分:第1部分:物理特性:第2部分:触点的尺寸和位置;第3部分:电信号和传输协议:第4部分:行业间交换用命令:第5部分:应用标识符的国家编号体系和注册规程:第6部分:行业间数据元;第7部分:用于结构化卡查询语言(SCQL)的行业间命令:第8部分:与安全相关的行业间命令;第9部分:附加的行业间命令和安全属性:第10部分:同步卡的电信号和复位应答:第11部分:集成电路卡上通过生物方法的身份验证:第12部分:带触点集成电路卡的USB接口。本部分为GB/T16649的第2部分。本部分等同采用国际标准ISO/IEC7816-2:1999《识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置》英文版)。本部分代替GB/T16649.2-1996《识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置》。本部分与GB/T16649.2—1996相比主要变化如下:“)增加了“未使用的触点区域不应导电.并且应与其他触点区域电隔离,以避免插入接口设备时可能发生的短路问题”这一规定:副去了1996版中的附录A“触点的位置b)测量方法”.在新版标准中,触点位置的测试方法见GB/T17554.3:C)增加了附录B"可能的导电区的位置"。GB/T16649是描述识别卡的参数和交换中识别卡使用的系列国家标准之一。下面列出了这些国家标准的预计结构及其对应的国际标准以及所代替的国家标准:)(B/T14916(识别卡物理特性》(ISO/IEC7810:2003.代替GB/T14916—1994)。b)GB/T15120《识别卡记录技术》,分为:-第1部分:山印(ISO/IEC7811-1:1985);第2部分:磁条(ISO/IEC7811-2:1985):第3部分:ID-1型卡上凸印字符的位置(ISO/IEC7811-3:1985);-第4部分:只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置(ISO/IEC7811-4:1985)-第5部分:读写磁道的第3磁道的位置(ISO/IEC7811-5:1985)。c)GB/T15694《识别卡发卡者标识》,分为:一第1部分:编号体系(ISO/IEC7812-1:1993);-第2部分:申请和注册规程(ISO/IEC7812-2:2000)。d)GB/T17552《识别卡金融交易卡》。GB/T17554《识别卡测试方法》分为:-第1部分:一般特性测试(ISO/IEC10373-1:1998.代替GB/T17554—1998)
GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2:1999-第2部分:带磁条的卡(ISO/IEC10373-2:1998);-第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备(ISO/IEC10373-3:2001)-第5部分:光存储卡(ISO/IEC10373-5:1998):第第6部分:接近式卡(ISO/IEC10373-6:2001);-第7部分:邻近式卡(ISO/IEC10373-7:2001))GB/T17551《识别卡光存储卡一般特性》。g)GB/T17550《识别卡光存储卡线性记录方法》.分为:-第1部分:物理特性(ISO/IEC11694-1:1994);-第2部分:可访间光区域的尺寸和位置(ISO/IEC11694-2:1995):-第3部分:光属性和特性(ISO/IEC11694-3:1995)-第4部分:逻辑数据结构(ISO/IEC11694-4:1996)本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所归口本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所。本部分主要起草人:金倩、冯敬、蔡怀忠、耿力.
GB/T16649.2-2006/ISO/IEC7816-2:1999识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置1范围GB/T16649的本部分规定了ID-1型集成电路卡上每-一个触点的尺寸、位置和分配GB/T16649的本部分应与GB/T16649.1结合使用2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T16649的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勒误的内容)或修订版均不适用于本部分.然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本适用于本部分。GB/T14916-2006识别卡物理特性(ISO/IEC7810:2003.IDT)GB/T16649.1—2006识别卡:带触点的集成电路卡第1部分:物理特性(ISO/IEC7816-1:1998.MOD)GB/T17554.1—2006识别卡测试方法第1部分:通用特性测试(ISO/IEC10373-1:1998,MOD)GB/T17554.3-2006识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备(ISO/IEC10373-3:2001.MOD)3触点的尺寸包含各个触点传导区的表面和形状不在GB/T16649的本部分中定义每个触点都应有一个不小于图1中规定尺寸的最小矩形表面区域。除了要求每个触点和
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