标准解读
《GB/T 15972.21-2008 光纤试验方法规范 第21部分:尺寸参数的测量方法和试验程序——涂覆层几何参数》相比于其替代的部分《GB/T 15972.2-1998》,主要在以下几个方面进行了更新与调整:
-
范围扩展:新标准详细规定了光纤涂覆层几何参数的测量方法和试验程序,覆盖了更广泛的尺寸参数,提供了更具体和详细的指导,以适应光纤技术的发展和测量需求的变化。
-
测量技术更新:鉴于光学测量技术和设备的进步,GB/T 15972.21-2008引入了新的测量技术和方法,提高了测量精度和效率。这包括但不限于高分辨率显微镜、激光扫描等先进技术的应用,以及对测量环境和条件的更严格要求。
-
定义和术语规范:新标准对涉及涂覆层几何参数的相关定义和术语进行了修订和完善,确保了术语的准确性和国际一致性,便于国内外行业交流和技术对接。
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试验程序细化:为确保测量结果的可重复性和可靠性,该标准对试验准备、样品制备、测量步骤、数据处理等各环节均给予了更详尽的操作说明和要求,增加了实际操作的可行性。
-
质量控制和校准要求:强调了测量仪器的校准和验证流程,以及质量控制措施的重要性,确保测量结果的准确性。新增或强化了关于仪器性能验证、定期校准的具体指南。
-
适用性说明:明确了标准适用于不同类型光纤涂覆层(如不同材料、结构)的测量,同时也可能根据最新的光纤产品和技术特性,调整了不适用情况或特别说明。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2008-03-31 颁布
- 2008-11-01 实施
文档简介
犐犆犛33.180.10
犕33
中华人民共和国国家标准
犌犅/犜15972.21—2008
部分代替GB/T15972.2—1998
光纤试验方法规范
第21部分:尺寸参数的测量方法和
试验程序———涂覆层几何参数
犛狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀狊犳狅狉狅狆狋犻犮犪犾犳犻犫狉犲狋犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—
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犆狅犪狋犻狀犵犵犲狅犿犲狋狉狔
(IEC60793121:2001,Opticalfibres—Part121:Measurementmethods
andtestprocedures—Coatinggeometry,MOD)
20080331发布20081101实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
书
犌犅/犜15972.21—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
1范围!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2规范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3术语和定义!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4测量方法概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
5装置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
6试样和试样制备!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
7程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
8计算!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
9结果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
附录A(规范性附录)方法A———侧视光分布法的特定要求!!!!!!!!!!!!!!!!3
附录B(规范性附录)方法B———机械法的特定要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
书
犌犅/犜15972.21—2008
前言
GB/T15972《光纤试验方法规范》由若干部分组成,其预期结构及对应的国际标准和将代替的国家
标准为:
———第10部分~第19部分:测量方法和试验程序总则(对应IEC60793110至IEC60793119;
代替GB/T15972.1—1998);
———第20部分~第29部分:尺寸参数的测量方法和试验程序(对应IEC60793120至IEC60793
129;代替GB/T15972.2—1998);
———第30部分~第39部分:机械性能的测量方法和试验程序(对应IEC60793130至IEC60793
139;代替GB/T15972.3—1998);
———第40部分~第49部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序(对应IEC60793140至
IEC60793149;代替GB/T15972.4—1998);
———第50部分~第59部分:环境性能的测量方法和试验程序(对应IEC60793150至IEC60793
159;代替GB/T15972.5—1998)。
其中GB/T15972.2×由以下部分组成:
———第20部分:尺寸参数的测量方法和试验程序———光纤几何参数;
———第21部分:尺寸参数的测量方法和试验程序———涂覆层几何参数;
———第22部分:尺寸参数的测量方法和试验程序———长度。
本部分为GB/T15972的第21部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC60793121:
2001《光纤第121部分:测量方法和试验程序———涂覆层几何参数》。
本部分与IEC60793121:2001主要差异如下:
———按照我国标准的编排格式和表述要求,对一些内容安排做了调整,删除了IEC版本的第5章,
将其内容和第1章某些内容放在本部分第4章;将第10章和第11章合并作为本部分第9章;
———纠正了某些不恰当的叙述。
本部分代替GB/T15972.2—1998《光纤总规范第2部分:尺寸参数试验方法》第7章、第8章。
本部分与GB/T15972.2—1998第7章、第8章相比主要变化如下:
———原正文中的两种试验方法详细描述分别用附录A和附录B的形式给出(1998年版的第7章、
第8章;本版的附录A、附录B);
———规定了方法A为基准试验方法(见本版的第4章);
———规定了方法B也适用于A3类、A4类多模光纤(见本版的表1)。
本部分的附录A、附录B为规范性附录。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由中国通信标准化协会归口。
本部分起草单位:武汉邮电科学研究院。
本部分主要起草人:程淑玲、陈永诗、刘泽恒、吴金良。
本部分为第一次修订,它与GB/T15972.2×其他部分一起代替GB/T15972.2—1998。
Ⅰ
犌犅/犜15972.21—2008
光纤试验方法规范
第21部分:尺寸参数的测量方法和
试验程序———涂覆层几何参数
1范围
GB/T15972的本部分规定了测量光纤预涂覆层几何参数的试验方法,确立了测量的统一试验程
序和技术要求。
本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T15972的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文
件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成
协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本
部分。
GB/T15972.10—2008光纤试验方法规范第10部分:测量方法和试验程序———总则
(IEC6097311:2002,Opticalfibres—Part11:Measurementmethodsandtestproced
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