实验1 集成门电路功能测试_第1页
实验1 集成门电路功能测试_第2页
实验1 集成门电路功能测试_第3页
实验1 集成门电路功能测试_第4页
实验1 集成门电路功能测试_第5页
已阅读5页，还剩15页未读， 继续免费阅读

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

实验1集成门电路功能测试一、实验目的1．掌握逻辑值与电压值的关系。2．掌握常用逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。3．熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能及使用方法。二、实验内容基本门电路的逻辑功能测试;观测输入输出端的逻辑值，测量出输出端对应的电压值。逻辑门的转换:利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路。门电路的基本应用:测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。三、实验原理1.门电路的基本概念门电路：实现各种逻辑关系的电路

正逻辑系统：高电位用1表示，低电位用0表示负逻辑系统：高电位用0表示，低电位用1表示。TTL集成门:输出高电平约3.6V，低电平约0.3VCMOS集成门:阈值电压为电源电压的一半，即VCC/2。2.逻辑门电路模块输入全为

1设

VA=VB=3.6VVB1升高，足以使T2、T5导通，Vo=0.3V,Y=0。VC2=VCE2+VBE5=0.3+0.7=1V，使T3导通，T4截止。与非门的逻辑功能：全1出0，有0出1。输入不全为

1VY=5–Vbe3–Vbe4–VR2T2、T5截止，T3、

T4导通，=5–0.7–0.7=3.6V

设:

VA=0.3VVB=3.6V，则

VB1=0.3+0.7=1VT4

与T3并联，T1

与T2串联；

当AB都是高电平时,T1

与T2同时导通，T4与T3同时截止；输出Y为低电平。

当AB中有一个是低电平时，T1

与

T2中有一个截止，T4

与T3中有一个导通，输出Y为高电平。3.集成逻辑电路封装

4.逻辑值的测试：5.数字电路实验箱图解：116位0-1电平输出显示;②40脚带自紧活动芯片座;③双列直插式芯片插座;④16位0-1信号开关;⑤电阻、电容、整流二极管;⑥脉冲信号源;⑦直流信号源;⑧与计算机通信的串口（9针）⑨PLCC芯片座（44脚;⑩3个不同阻值的电位器;⑪蜂鸣器74LS00与非门组成非门，

2输入与门,

2输入或门电路测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器5.门电路的转换及应用6.实验线路图四、实验内容1、验证74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门)、74LS86(异或门)的功能将被测芯片插入实验区的空插座,连接好测试线路,拨动开关,改变输入信号,观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正TTL电路的逻辑功能,记录实验数据。2、利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。

3、测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数S是输入A、B（二进制数）的“异或”，而进位数C是A、B的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和二个“与非”门组成，如图1.9a.3所示。⑴在实验箱上用“异或”门(74LS86)和“与非”门连接图1.9a.3所示逻辑电路

人人文库> 全部分类> 教育资料 > 辅导培训

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论