标准解读
《GB/T 11297.10-2015 热释电材料居里温度Tc的测试方法》与前一版《GB/T 11297.10-1989》相比,主要在以下几个方面进行了调整和更新:
-
技术内容的更新:新版标准融入了近年来热释电材料测试技术的最新进展,对居里温度测试的理论基础、实验设备、测试步骤及数据处理方法均进行了修订和完善,以提高测试的准确性和可重复性。
-
测试方法的优化:详细规定了更精确的测量技术和数据分析方法,包括对样品预处理的要求、测试环境的控制以及如何通过曲线拟合等手段更准确地确定居里温度点,减少了人为因素和实验条件变化对结果的影响。
-
仪器设备要求:明确了更为现代化的测试仪器和技术要求,反映了科技进步对测试精度的提升,例如引入了高灵敏度的温度控制系统和先进的信号采集分析设备,确保测试过程的高效与精确。
-
标准适用范围扩展:新标准可能扩大了适用的热释电材料种类,不仅涵盖了传统材料,还考虑到了新型或特殊性能热释电材料的测试需求,增强了标准的通用性和实用性。
-
术语定义和符号规范:对相关专业术语和符号进行了重新定义和标准化,确保了术语使用的准确性和国际兼容性,便于国内外行业交流与合作。
-
质量控制和数据处理:加强了测试过程中质量控制的要求,提供了更详尽的数据处理流程和统计分析方法,有助于提升测试结果的可靠性和科学性。
-
标准结构与表述:按照现代标准化原则,重新组织了标准的结构和内容,使得标准条理更加清晰,便于使用者理解和执行。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2015-12-31 颁布
- 2016-07-01 实施
文档简介
ICS31020
L90.
中华人民共和国国家标准
GB/T1129710—2015
代替.
GB/T11297.10—1989
热释电材料居里温度Tc的测试方法
Testmethodforcurietemperatureofpyroelectricmaterials
2015-12-31发布2016-07-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T1129710—2015
.
前言
本部分按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替热释电材料居里温度T的测试方法本部分与
GB/T11297.10—1989《c》。
相比主要技术变化如下
GB/T11297.10—1989,:
修改了材料的适用范围见第章
———(1);
修改了电容测量仪器及测量最大允许误差见第章年版
———(6,19893.2.1);
修改了测温仪器见第章年版
———(6,19893.2.2);
修改了数据记录方式用每隔不大于记录代替原标准中的逐点记录见第章
———,“0.1℃”“”(7,
年版
19893.4);
删除了C-T曲线自动描绘法和传输电路测试方法见年版附录和附录
———(1989AB)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任
。。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出
。
本部分由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口
。
本部分起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所
:。
本部分主要起草人曹菲姚春华董显林王根水王永龄
:、、、、。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为
:
———GB/T11297.10—1989。
Ⅰ
GB/T1129710—2015
.
热释电材料居里温度Tc的测试方法
1范围
本部分规定了热释电陶瓷晶体和有机材料的居里温度T的测量方法
、(c)。
本部分适用于测量钛酸铅锆钛酸铅钛酸锶钡钽钪酸铅等热释电陶瓷材料和铌镁酸铅钽酸锂
、、、、、
三甘氨酸硫酸盐族等热释电晶体材料的居里温度T也适用于测量其他类似陶瓷晶体及有机热释
(c),、
电材料的居里温度
。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
红外探测材料中半导体光电材料和热释电材料常用名词术语
SJ/T11067
3术语和定义
界定的术语和定义适用于本文件
SJ/T11067。
4测量原理
在居里温度处热释电材料的一些物理性能发生反常的变化其中之一是介电常数出现峰值因
,,。
此测定介电常数峰值对应的温度即可确定材料的居里温度T本部分是用精密仪表在频
,,(c)。LCR,
率一定的情况下测出热释电材料试样的电容量C随温度T升高而变化的C-T曲线曲线峰值对应
,()(),
的温度就是材料的居里温度测试原理如图所示对于某些材料随着温度的变化出现多个介电常
。1。,,
数峰值比较各个峰值对应的温度高低其最高温度为材料的居里温度
,,。
5样品
测试用样品应符合下列要求
:
面积为22厚度为的方形或圆形试样
a)10mm~50mm,0.1mm~1.0mm;
试样应经细磨或抛光表面应平整清洁对某些具有解理性的材料若解理面平整可不进行
b),、,,,
任何加工处理
;
试样的两个表面应覆盖金属全电极如银电极
c),;
若试样是热释电晶体试样应垂直于热释电晶体轴切割
d),。
6设备和仪器
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