可测性设计工程实践培训

可测性设计(DFT)工程实践培训课程背景测试是产品从研发走向生产的必经阶段，也是决定产品质量的重要环节,如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多电子通信企业所追求的目标。建立可测试性设计是开发软硬件系统的关键，尤其是那些对工作可靠性要求高的系统，若没有可测试性设计，在产品正式使用之前就很难发现设计缺陷，而且工作中出现的故障也很难检测和诊断。采用可测试性设计可以增加系统的可测试性，提高产品质量，并减少产品投放市场的时间及测试费用培训收益本课程介绍了业界先进的可测性设计的方法和实践经验，结合业界知名公司的成功实践经验和案例，采用模板演示讲解和案例讨论的方式，具体讲述了可测性设计的方法和具体实践经验、操作技巧以及IT工具，着重于提高学员的产品测试实践技能，注重课程的实操性，能有效地借鉴和快速地应用到实际工作中去。学完本课程后，学员可获得：深刻理解可测性设计(DFT)的基本思想和基本原理熟悉可测性设计(DFT)的基本业务流程全面掌握可测性设计(DFT)的设计方法有效构建可测性设计(DFT)的体系平台【主办单位】中国电子标准协会培训中心【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司【培训对象】研发总监、系统工程师、研发经理、测试经理、制造技术经理、新产品导入(NPI)经理及骨干工程师等课程大纲一、 可测性设计(。网)概述1、产品生命周期V模型2、电子信息产品测试所面临的问题3、什么是可测性设计(DFT)4、 思考：如何深刻理解可测性设计(DFT)5、可测性的物理特征表述6、可测性的测度形式讨论：以下各功能模块的可测性测度是怎样的？7、可测性设计(DFT)的效益分析8、可测性设计(DFT)基本要素9、IPD模式下的DFT体系结构10、可测性设计(DFT)基本过程11、可测性设计(DFT)中常用术语及缩略语二、 可测性设计(1)网)需求1、整机研发测试的可测tt(DFT)需求来源2、整机研发测试的可测性(DFT)需求3、单板软件研发测试的可测tt(DFT)需求来源4、单板软件研发测试的可测性(DFT)需求5、 单板硬件研发测试的可测tt(DFT)需求来源6、单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求7、单板生产测试的可测性(DFT)需求来源8、单板生产测试的抽象模型思考：单板生产测试的目的是什么？9、单板生产测试路线10、单板生产工艺测试基本原理11、单板生产功能测试基本原理12、单板生产测试的可测性(DFT)需求讨论：本公司各产品适合的生产测试方案和路线是怎样的？13、JTAG在生产测试中的应用14、JTAG在生产测试中的可测性设计(DFT)需求15、单板维修可测性设计(DFT)需求思考：本公司生产维修有哪些诊断手段？三、可测性设计(DFT)基本方法1、 输入输出通道设计——测试控制物理通道2、 输入输出通道设计一一外部测试命令集3、 输入输出通道设计——测试控制管理4、 输入输出通道设计——测试信息存储与输出5、 输入输出通道设计一一外部仪器输入输出接口6、 内置数据源设计——业务数据源自动生成7、 内置数据源设计一一差错数据源自动生成8、 内置数据源设计一一容限/极限数据源自动生成9、 内置数据源设计一一故障数据源自动生成10、 能控性设计——测试数据源的设置与启动11、 能观性设计一一系统配置状态监控12、 能观性设计一一系统业务状态监控13、 能观性设计一一单板运行状态监控14、 能观性设计一一系统资源状态监控15、 能观性设计一一系统其它状态监控16、BIST设计——通道分层环回17、 BIST设计——故障诊断18、 BIST设计——初始化自检案例解读四、 单板可测性设计(DFT)必须考虑的要素1、机械结构设计2、自检和自环设计3、工装夹具设计4、测试点设计5、芯片控制引脚设计6、边界扫描测试设计7、EPLD/CPLD/FPGA设计8、如何设计以减少测试点五、 可测性设计(DFT)工程实施1、 可测性设计(DFT)工程实施步骤2、 可测性设计(DFT)工程实施障碍3、 交流与探讨：如何构建可测性设计(DFT)体系和货架技术讲师资历程老师资深顾问，资深讲师,研发工程技术产线总监«APECG测试工程首席专家«中国电子协会ATE测试分会会员.♦主讲品牌课程«硬件测试管理«DFT可测试性设计«硬件开发管理♦工作经验:华为公司从事通讯产品可测试设计的研究及开发工作，曾参与大型程控交换机、光通信产品、会议电视系统项目的可测试及可制造性工程实施，历任华为中央硬件研发平台部开发经理，兆天网络中试部经理。♦工作专