SC统计过程控制原理培训课件

统计过程控制原理

（SPC原理）影响质量的两个方面设计出来的质量对产品的性能、参数等的界定（QFD、VE等）产品零部件及工艺过程对产品的影响（公差分析、DOE、田口方法等）产品可能的失效（FMEA、FTA等）生产出来的质量生产出来的质量影响生产出来的质量的两个种波动正常波动和异常波动对生产过程进行控制的方法SPC——统计过程控制SPC是一种借助数理统计方法的过程控制工具原始数据的采集统计分析的方法控制图是SPC中最重要的工具工序能力指数（Cpk）是衡量工序满足工程技术规范能力的方法数据的分类计量型数据尺寸、温度、湿度、频率、压力、电流……数据大多是连续的、带有量纲的计数型数据个数、比例等：如合格率、缺陷数等往往是没有量纲的例子：蒸馏水中细菌的含量是计数型胶水的固含量是计量型生产中的计量型数据例子——生产中采集到的某产品的f0生产中的计量型数据例子——f0的分布（以直方图表示）生产中的计量型数据从图中我们可以看到什么？分布的中心大约是300分布的形状接近正态分布分布的宽度大约从255~355正态分布如果数据足够多，分组足够多，可以看到以上直方图显示的分布近似成一连续的曲线将直方图近似成连续的曲线的目的是为了方便地使用数学模型进行处理分布分布图中横坐标的意义代表分布的区域分布图中纵坐标的意义代表在某区域内出现的次数在归一化后成为在某数值区域出现的概率正态分分布常见的的数据据分布布正态分分布正态分分布曲曲线特征：：左右对对称连续的的生产中中常见见的计计量型型数据据大都都可近近似为为正态态分布布在一个个样本本空间间抽样样，无无论该该样本本空间间如何何分布布，只只要抽抽样样样本数数足够够大时时，样样本的的平均均为正正态分分布正态分分布正态分分布的的数学学表达达式正态分分布从样本本中估估计均均值从样本本中估估计均均方差差正态分分布的的应用用———Ppk和和Cpk正态分分布的的应用用———Ppk和和CpkPpk和Cpk的物物理意意义正态分分布的的应用用———Ppk和和Cpk从Cpk和和Cpk可可以估估计超超出工工程规规范的的概率率正态分分布的的应用用———Ppk和和CpkPpk和Cpk的区区别短期/长期期正常情情况下下Ppk>Cpk在QS-9000中中规定定正态分分布的的应用用———Ppk和和Cpk对超出出工程程规范范的概概率的的估计计超出下下限超出上上限实际应应用中中直接接查正正态分分布表表问题在知道道的的情情况下下如何何估计计超出出工程程规范范？正态分分布的的应用用———正态分分布的的应用用———正态分分布的的应用用———初始研研究对数据据的要要求试算控控制线线确定控控制线线典型的的计量量型控控制图图正态分分布的的应用用———正态分分布的的特性性对称，，中值值、众众数、、均值值相等等在一个个样本本空间间抽样样，无无论该该样本本空间间如何何分布布，只只要抽抽样样样本数数足够够大时时，样样本的的平均均为正正态分分布3σ控控制制小概率率事件件第一类类和第第二类类错误误选择αα、ββ，，质量量成本本正态分分布的的应用用———其它它常用用的计计量型型控制制图计数型型数据据（1）不合格格数与与不合合格率率例子：：一批产产品的的不合合格率率为p，现现抽取取n个个产品品，求求正好好抽到到m个个不合合格的的概率率，以以及抽抽到不不多于于m个个不合合格品品的概概率。。答案：：二项分分布二项分分布二项分分布特点：：只有两两种状状态，，两种种状态态出现现概率率的和和为1。应用：：主要要用于于计数数型的的抽样样合格/不合合格通过/不通通过以二项项分布布为基基础的的控制制图p图用于对对不合合格率率进行行控制制控制线线np图图用于对对不合合格数数进行行控制制控制线线二项分分布的的其他他应用用计数型型抽验验方案案决定计计数型型抽取取样本本的数数目分析特特定计计数型型抽验验方案案的风风险案例为什么么我公公司QA对对成品品抽验验时对对f0的抽抽样数数目和和纯音音的抽抽样数数目不不一样样？计数型型数据据（2）单位数数量产产品上上的缺缺陷数数符合合泊松松分布布泊松分分布的的概率率泊松分分布的的均值值和方方差泊松分分布的的均值值和方方差均均为λλ当样本本空间间足够够大，，而np足足够小小时，，二项项分布布趋近近于泊泊松分分布泊松分分布例子假设每每1000只盆盆架中中平均均存在在13个喷喷涂不不良的的斑点点，现现在生生产过过程中中抽取取100只只盆架架，问问发现现不多多于1个斑斑点的的概率率答案：：以泊松松分布布为基基础的的控制制图C图控制线线（为为缺缺陷数数）U图（（U为为总缺缺陷数数，n为抽抽样的的单位位数））控制线线U图和和C图图的关关系类类似p图和和np图读解控控制图图生产过过程的的四种种状态态

统计稳态是否技术稳态是ⅠⅡ否ⅢⅣ控制图图的判判断准准则判定控控制图图的原原则控制图图上的的点不不超出出控制制线控制图图上的的点的的排列列分布布无缺缺陷控制图图的判判断准准则控制图图上的的点不不超过过控制制线控制图图的控控制线线是设设置在在分布布的3SIGMA处处，超超过控控制线线的概概率为为0.27%（（即αα=0.27%）至少有有25点不不超出出控制制线才才能认认为过过程处处于受受控状状态连续35点点中仅仅有1点超超出控控制线线，或或连续续100点点中最最多有有2点点超出出控制制线也也可认认为处处于受受控状状态控制图图的判判断准准则控制图图上的的点排排列分分布的的缺陷陷类型型链：连连续在在CL同侧侧的点点偏离：：较多多的点点出现现在控控制线线一侧侧倾向：：连续续若干干点上上升或或下降降周期：：点的的上升升或下下降出出现明明显的的时间间间隔隔接近：：点接接近控控制中中心线线活上上下控控制线线的情情况控制图图的判判断准准则链：出出现7点链链时看看作异异常在稳态态的情情况下下，出出现7点链链的概概率为为0.7%，即即此准准则的的α=1.5%点出现现在CL上上侧的的概率率为：：控制图图的判判断准准则偏离：：出现现以下下偏离离为异异常（（αα=1%））连续11点点中有有10点出出现在在CL同侧侧连续14点点中有有10点出出现在在CL同侧侧连续17点点中有有14点出出现在在CL同侧侧连续20点点中有有16点出出现在在CL同侧侧控制图图的判判断准准则倾向：：连续续7点点上升升或下下降，，判定定为异异常α=0.39%控制图图的判判断准准则周期：：周期无无明确确的判判定标标准，，可以以用出出现的的概率率进行行判断断控制图图的判判断准准则接近点集中中在中中心1/3区域域（连连续15点点集中中在中中心1/3区域域）控制图图的判判断准准则接近连续3点中中有2点接接近控控制上上下线线（αα=1.5%））连续7点中中有3点接接近控控制上上下线线连续10点点中有有4点点接近近控制制上下下线控制图图的判判断准准则判定准准则有点超超出控控制线线，为为异常常连续7个点点上升升或下下降，，为异异常连续7个点点在CL同同侧，，为异异常正常状状态下下大约约有2/3的点点集中中在控控制中中心线线附近近1/3区区域从控制制图判判断生生产过过程的的状态态例子中，X图的的点超超出控控制线线，R图没没有超超出控控制线线。说明，，在不不同的的时间间，分分布的的中心心在漂漂移，，但在在同一一时间间，工工序是是稳定定的。。存在没没有得得到控控制的的因素素，随随时间间不同同而不不同正常，，但Cpk小于于1.33说明生生产过过程处处于统统计稳稳态，，但未未达到到技术术稳态态机器设设备未未达到到要求求从控制制图判判断生生产过过程的的状态态R图超超出控控制线线，X图正正常点集中中