TYPEC数据线规格书

-.z.TYPEC数据线规格书V1.0关键词：TYPEC、数据线摘要：本文介绍了数据线的规格，性能及测试标准。缩略语：范围标准适用于TYPEATOC数据线需求规格书，未尽规格描述以TYPEC协会标准V1.1为准。编写依据序号No.文件编号DocNo.文件名称DocTitle1G1217电连接器试验方法2MIL-STD-202GTestmethodstandardelectronicandelectricalponentparts3GB/T3048电线电缆电性能试验方法4GB4098射频电缆试验方法5EIA-364-101AttenuationTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems6EIA-364-106StandingWaveRatio(SWR)TestProcedureforElectricalConnectors7EIA-364-108Impedance,ReflectionCoefficient,ReturnLoss,andVSWRMeasuredintheTimeandFrequencyDomainTestProcedureforElectricalConnectors,CableAssembliesorInterconnectionSystems8GB5441.2工作电容试验-电桥法9EIA-364-103PropagationDelayTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems10IEC68-2-1根本环境试验规程试验A：寒冷11GB/T2423.1电工电子产品根本环境试验规程试验A：低温试验方法12IEC68-2-2根本环境试验规程试验A：干热13GB/T2423.2电工电子产品根本环境试验规程试验B：高温试验方法14IEC68-2-10电工电子产品环境试验第2局部：试验方法试验J和导则：长霉0020的15GB/T2423.16电工电子产品环境试验第2局部：试验方法试验J和导则：长霉16ASTMG21StandardPracticeforDeterminingResistanceofSyntheticPolymericMaterialstoFungi17IEC61587-1Mechanicalstructuresforelectronicequipment―TestsforIEC60917andIEC60297―Part1Climaticmechanicaltestsandsafetyaspectsforcabinetsrackssubracksandchassis18GR487GenericRequirementsforElectronicEquipmentCabinets19IEC68-2-30根本环境试验规程试验Db及导则：交变湿热〔12＋12h循环〕20GB/T2423.4电工电子产品根本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法21IEC68-2-52电工电子产品环境试验第2局部：试验试验Kb：盐雾，交变〔氯化钠溶液〕22GB/T2423.18电工电子产品环境试验第2局部：试验试验Kb：盐雾，交变〔氯化钠溶液〕23IEC529Degreesofprotectionprovidedbyenclosure(IPcode)24GB4208外壳防护等级〔IP代码〕25EIA-364-38BCablepull-outtestprocedureforelectricalconnectors26EIA-364-41CCablefle*ingtestprocedureforelectricalconnectors27IEC60950Safetyofinformationtechnologyequipment28EN60950Safetyofinformationtechnologyequipment29UL60950Safetyofinformationtechnologyequipment30GB4943信息技术设备的平安31IEC60332Testsonelectriccabiesunderfireconditions32GB/T18380电缆在火焰条件下的燃烧试验33UL1581Referencestandardforelecticalwires,cables,andfle*iblecords34GR1217Genericrequirementsforseparableelectricalconnectorsusedintelemunicationshardware35GR950GenericRequirementsforOpticalNetworkUnit(ONU)Closures36USBType-CCableandConnectorSpecificationV1.1数据线正常工作和存储条件数据线应能在以下条件下正常工作：3.1.1工作环境温度：-20℃～+55℃；〔仅作单体验证目的，与整机匹配时以整机试验环境为准〕；3.1.2相对湿度：5%～95%；3.1.3大气压力：86kPa～106kPa;3.1.4数据线的存储温度：-40℃～+85℃；数据线主要参数数据线连线规格详细尺寸以及工艺要求以3D图档为准1、 typeC金属插头，要求必须是整体拉伸成型，不能是折弯成型，不承受接缝；2、金属插头局部，要求做不锈钢原色，外表喷砂处理:50u〞~150u〞MATTNICKELPLATINGOVERALL3、保证至少3A通流能力整条线缆产品详细规格〔BOM清单,包括端子图纸2D&可拆解版本的3D〕要有确认才能认可(认证时必须提供以上文件)。线材主体信息：外观5V/3AAplugTOCplug,cover式，白色半雾面,素材细咬花处理，MT11006主体构造工程规格说明长度16mm不含金属插头局部颜色白色半雾面材质Overmold&Cable&Housing&其他辅料NON-PVC无卤满足ROSH,且无如下有害物质添加:溴系阻燃剂BrominatedFlameRetardants氯系阻燃剂ChlorinatedFlameRetardants聚氯乙烯PolyvinylChloride(PVC)邻苯二甲酸酯Phthalates三氧化锑AntimonyTrio*ide铍及其化合物Beryllium(Be)anditspounds接口USBμBreceptacletoTYPECplug满足5V3A其他应符合5.2节测试标准VoltageRating:30VAC/DC导体材质规格如下：材质：镀锡铜SignalNameWireGauge(AWG)VBUS/GND端到端阻抗不大于80mΩ绝缘材质NON-PVC，须满足5.2章节测试性能要求关键尺寸USB2.0Bplug参考协会标准TYPECplug红圈标示尺寸为重点尺寸，其余尺寸依据协会标准要求各组件BOMLIST原材料信息需明确到具体牌号应满足TYPEC2.0规格镀层厚度测试区域规定关于镀层测试区域和方法：TYPEC/A：TYPEC/A产生接触的关键区域为PIN针头部触点，因此镀层工艺为考虑本钱一般只覆盖PIN针触点位置，其他区域为flashAu,所以镀层的量测范围定义在PIN针触点弧顶的最高处镀层厚度为在触点弧顶最高点0.5mm的范围内进展测量，同一触点在0.5mm范围内测量三次取平均值0.5mm0.5mm镀层厚度为在触点弧顶最高点0.5mm的范围内进展测量，同一触点在0.5mm范围内测量三次取平均值0.5mm0.5mm线序Table3-20USBType-CtoUSB2.0AMWiringUSBType-CPlugUSB2.0AMPinSignalNamePinSignalNameA1,B1,A12,B12GND4GNDA4,B4,A9,B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12D−ShellShieldShellShieldNotes:1.PinA5(CC)oftheUSBType-CplugshallbeconnectedtoVBUSthrougharesistorRp.SeeSection4.5.3.2.2andTable4-13forthefunctionaldescriptionandvalueofRp.2.ContactsB6andB7shouldnotbepresentintheUSBType-Cplug.3.AllVBUSpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.BypasscapacitorsarenotrequiredfortheVBUSpinsatthiscable.4.AllGroundreturnpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.5.AllUSBType-Cplugpinsthatarenotlistedinthistableshallbeopen(notconnected).Table4-13DFPCCTermination(Rp)RequirementsDFPAdvertisementCurrentSourceto1.7–5.5VResistorpull-upto4.75–5.5VResistorpull-upto3.3V±5%DefaultUSBPower80μA±20%56kΩ±20%(Note1)36kΩ±20%1.5A5V180μA±8%22kΩ±5%12kΩ±5%3.0A5V330μA±8%10kΩ±5%4.7kΩ±5%Notes:1.ForRpwhenimplementedintheUSBType-CplugonaUSBType-CtoUSB3.1Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Micro-BReceptacleAdapterAssemblyoraUSBType-CcaptivecableconnectedtoaUSBhost,avalueof56kΩ±5%shallbeused,inordertoprovidetolerancetoIRdroponVBUSandGNDinthecableassembly.技术要求线材外观要求线材外观要求如下：外观金属插头/pin脚检查参照样品和PDM图纸检验，线缆两端插头的构造外型〔型号〕要求与样品一致；插头不允许氧化/生锈、残缺、变形；用干布〔无尘布〕能擦除的脏污，允许；用干布〔无尘布〕不能擦除的脏污，不允许；【注：金属插头脏污不良超出1%〔不良数/样本数〕时，提交不合格电子流确认】插头上不允许有油渍；5、划痕L≤2mm,W≤0.1mm,用手触摸无深度感，允收一条；6、USBA公插头内不允许有溢胶的现象；7、USBA公插头内的连接器PIN脚不允许氧化/生锈、翘高、变形、PIN脚内陷/断裂不良；8、金属插头〔USBA公以及TYPEC公〕与注塑局部匹配正常，不允许歪斜，夹角90o±2.5o标签检查1、参照样品和PDM图纸检验，标签上的印刷图案和字体要求一致；2、标签不允许破损、漏贴；注塑部位1、注塑部位〔USBA公外膜、DC插头外膜、磁环外膜〕不允许缺胶、破损；2、合模线(毛边)H≤0.2mm；3、水口位〔毛边〕在不刺手的前提下，H≤1mm，可接收；4、压痕L≤5mm，W≤0.2mm，USBA公外膜每面允收一条，DC外膜允收一条；5、点状压痕D≤1.5mm，USBA公外膜每面允收一条，DC外膜允收一条；线材外观线材不允许有破损、漏铜；线材上不允许有脏污；点状压痕D≤2.5mm，DS≥25mm，允收6个；线状压痕L≤5mm，W≤1mm，DS≥25mm，允收3条；扎带下的压痕允许；5、有感刮伤：L≤5mm,W≤1mm，DS≥25mm，允收2条；无感刮伤：L≤30mm,W≤1mm，DS≥30mm，允收3条；未尽事宜参考"终端数据线检验通用操作指导书"线材性能要求TestconditionTemperature：15℃to35℃Airpressure：86to106kPaRelativehumidity：25%to85%NOTestdescriptionTestprocedurePerformanceRelatedstandard1插拔耐久测试数据线插头无破损，配件插头尺寸在规格内，接触良好，电气性能正常。测试前，测试后插拔力应满足要求，样品外观构造、功能及电气性能应正常，允许端子接触点外表有正常磨损，但不允许有物理损坏测试速度为12.5mm/分钟以插入力和拔出力测试标准为依据，测试TYPEC端子插拔次数10000次〔正反方向各5000次，每2500次换一个方向〕做完25次插拔之后，插拔力变化不能超过33%A公插拔1500次测试完毕后端子外观无异常、插拔力需要满足要求EIA364-092插入力EIA364-131.插拔力测试仪器2.测试速度为12.5mm/分钟3.单位为N插拔耐久测试前后：TypeC:插入力5～20N；USBAM:35N(MA*)EIA364-133拔出力EIA364-131.插拔力测试仪器2.测试速度为12.5mm/分钟3.单位为N插拔耐久测试前后：TypeC:拔出力8～20NUSBAM:10N(Min)EIA364-134滚筒测试跌落高度1米，跌落次数150次，每50检查一次，跌落速度参考值10-12次/分次〔以跌落在滚筒铁板中心位置为准〕测试后，样品外观、机械构造应正常，功能和电气性能正应常的5端子强度测试1.F1/F2(+/-Y)=50N，做到75N观察损坏情况

F3,F4(+/-*)=50N

F5(+Z)=100N

F1和F2方向的测试均采用新样品测试，F3-F5方向视情况进展互用施力点为接口到SR处15mm〔从外壳平面量起15mm；如SR缺乏15mm，以SR的末端为施力位置，如SR末端刚性缺乏以施加力，则以刚性位置的末端为施力位置〕测试速度：5mm/min上下左右4个方向力量要求大于5.0Kg，插入方向要求大于10Kg，连接器不允许有失效，接口允许有可恢复的变形，数据线电气性能正常；构造无松脱，无断裂6壳体抗拉脱器件选型标准:公头铁壳上挂重10kgf，持续时间1分钟进料检验标准:公头铁壳上挂重6kgf，持续时间1分钟两端壳体都需要测试抗拉脱力，测试后两端壳体不应有脱落现象7端子强度耐久测试测试力：F1=F2=2kgf

测试次数：2000次/方向；施力点为接口到SR处15mm〔从靠近金属头尾部量起15mm。如SR缺乏15mm，以SR的末端为施力位置，如SR末端刚性缺乏以施加力，则以刚性位置的末端为施力位置〕；测试速度：10-15次/min数据线外观构造、功能及电气性能应正常，端子不应有损坏或严重变形8端子镀层膜厚膜厚测试仪。TypeC端/uB母座。最少样品数量：每个端子3pcsTypeC/BplugPlatinggoldAu不小于30µ″,PlatingNi不小于80µ″9成品电阻测试1、CTOA测试2、屏蔽层测试壳对壳3、寿命前后均要满足阻抗要求4、满足协会标准1.1要求25℃时实验室测试标准：Vbus:0.135Ω最大GND：0.135Ω最大线材规格1M,电源22AWG10温升测试TYPECVbus/GND通电5A(4对pin)，USBAM单VBUS/GND通电3ATYPEC/USBAM非电源pin脚通流0.25A；利用shield//GND回流，通流不低于3A25℃时测试温度稳定30分钟后测试针对plug单体和cable组件整体的两项测试均需满足任意点温升不允许超过30度USBType-CCableandConnectorSpecification11接触阻抗LLCR是從REC焊接點的尾部到Plug焊點,包括Plug端和Rec所有內部的端子和PaddleCards*使用四線測試法*測試電壓20mV最大,電流100mA.VBUS/GND初始接触阻抗30mΩ,其他pin初始接触阻抗40mΩMa*最大,所有Pin环境測試后LCCR最大增量為10mΩ连接器13耐压测试两两pin之间打〔含外壳〕认证测试：100VAC/60s/0.5mA产线测试：100VAC/0.1s/0.5mA14绝缘电阻两两pin之间打〔含外壳〕认证测试：300VDC60s100MΩ产线测试：300VDC/0.1s/10MΩ15高温存储转接头：〔70±2〕℃,24H完成后返回常温停留24小时以上,进展测试连接器：〔105±2〕℃,120H完成后返回常温停留24小时以上,进展测试部品外观无损坏;线缆电气性能正常16低温存储〔-40±2〕℃,120H完成后返回常温停留24小时以上,进展测试样品外观无损坏;线缆电气性能正常17温度冲击采用两箱法，低温-40℃，高温70℃，上下温各停留不少于20分钟，最大转换时间为20秒，10个循环。测试后，样品外观、机械构造应正常，功能和电气性能应正常18盐雾测试5%NaCl,35℃,连续喷雾48小时〔针对pin针，uB铁壳局部应可承受至少24H连续喷雾〕，喷雾时接口需斜向下放置，确保盐雾能进入，但同时不能在接口中形成积水。然后移出进展2小时晾干。试验后，样品外观应无明显锈蚀、变色、及镀层剥落等现象。VBUS/GND初始接触阻抗30mΩ,其他pin初始接触阻抗40mΩMa*最大,所有Pin环境測試后LCCR最大增量為10mΩ(仅针对连接器)EIA36419高温高湿试验温度〔70±2〕℃，湿度(85±3)%RH，进展168小时样品外观无损坏;主要考察胶料和线料20交变湿热25～55℃，相对湿度〔95±3〕％，168小时测试后，样品外观、机械构造应正常，功能和电气性能应正常主要考察端子21混合气体腐蚀测试测试时间：7天,产品状态：5天非配插，5天配插，温湿度：70%RH，30℃,气体种类：Cl2：10+/-3ppb,NO2:200+/-50ppb,H2S:10+/-5ppb,SO2:100+/-20ppb试验后，样品外观应无明显腐蚀、变色、及镀层剥落等现象，功能应正常。VBUS/GND初始接触阻抗30mΩ,其他pin初始接触阻抗40mΩMa*最大,所有Pin环境測試后LCCR最大增量為10mΩ(仅针对连接器)连接器22耐化学溶剂测试将家用化学物品〔1.护手霜；2.防晒乳液；3.口红；4.化装粉底；5.驱虫冻胶；6.食用油，所用化学用品型号或配方为我司终端现有用品〕涂在线缆、SR、壳体上。放置72小时后用水清洗掉家用化学品再放置两个小时后检查2.将以下溶剂〔1.汽油；2.酒精；3.人工汗液；4.5%食盐水，所用化学用品型号或配方为我司终端现有用品〕涂在线缆、SR、壳体上。放置72小时〔汽油放置24小时〕后用水清洗掉溶剂再放置两个小时后检查线缆、SR、壳体不会有明显腐蚀、开裂23耐UV辐射测试耐UV辐照进展1个循环为24小时的测试，具体为在干热40℃下，太阳辐射强度为1120W/㎡，保持20小时，再关闭太阳辐射源4小时，试验持续循环96小时24EMC参考终端产品USB数据线充电线可靠性测试标准V1.2EMCclassA标准CE/FCC25DifferentialImpedanceThistestensuresthattheD+/D−linesofthecableassemblyhavetheproperimpedance.Fortheentirecableassembly.75ohmsminand105ohmsma*.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10826PropagationDelayThepurposeofthetestistoverifytheend-to-endpropagationoftheD+/D−linesofthecableassembly.20nsma*.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10327Intra-pairSkewThistestensuresthatthesignalonboththeD+andD−linesofcableassemblyarriveatthereceiveratthesametime.100psma*.400psrisetime(20%-80%).EIA364–