设计方案报告

1、欢迎下载内容仅供参考型号名称拟制：审核：批准：中国电子科技集团公司第二十四研究年月日（型号名称3号黑体产品设计方案论证报告线路设计（5 号 黑体）引言（5）瞬时中频频率（IIFM）测量组件是频率探测系统的关键部件之一，该组件完成对前端混频后的中频信号的频率的测量，直接决定了频率探测系统理论上的测频速度，精度和测量噪声指标。（5）（含用途和使用范围。示例如下。格式要求，5 号宋体，1.25 倍行距）。（5号 黑体）（示例如下。格式要求，5 号宋体，1.25 倍行距）考察瞬时中频测频（IIFM）较、积分式测频电路由于受线性度较差，响应较慢，受温度漂移、噪声干扰等外部影响较难消除等固 有问题的困扰，

2、已经被逐渐淘汰，同时，随着高速数字技术的发展，多种基于现代数字系统的频率测 量方法速度已经大大提高，远超过了模拟方式提供的响应速度，而且线性度高，温漂、噪声干扰小， 已成为当今IIFMIIFMJournal of Electronic 2002 年报道的使用 IIFM 技术的 IFM 接收机，中频 DC30MHz，分辨率 1KHz，测频时间约 100nSMicrowave Division2007218GHz400nS2002252425MHz1us0.1Hz200650950MHz400nS0.3MHz。（5号 黑体）70MHz4MHz ，10.2M1MHz2KHz，1KHz200nSoC8

3、5oC样品解剖情况（5 ）（号宋体，1.25 倍行距a）样品电路原理图、基本工作原理及关键元器件的主要参数指标； b）样品主要技术指标（规范值，实测数据； c）芯片照片、面积、版图极限尺寸（最小线宽、最小间距）及封装特点； d）样品电路工艺设计、线路设计、版图设计特点及其分析。（5 号 黑体） a）功能框图：电路功能框图如下图所示。工作原理综述：在一段时间t s(tA/DNst采样点数，有N stAD，其中tAD为 A/D 的单次转换时间。由数字鉴相的相关理论可以证明以下关系（2005年4期：1d1f ggdtt1 gDTsout1 gD sout(Hz)其中， f 是输入模拟频率信号相对于数

4、控振荡器频率的频偏，K 为相位斜率，由数字鉴相器输出的数字相位位数决定，有K ， 是计算出的相位差，是由延时前后的相位相2N减得出，有 。f为数字下变频后信号的频率。这样一来整个频率测量问题nnDsout就完全化为本质上的数学运算过程，可以由任何具有初等运算功能的器件实现。3电路实现以上算法可以采用ANALOG 的高速A/D 转换器AD9226Harris公司的数字下变频器HSP50214B完成数字变频输出两路正交信号S ，S后面的数字鉴相与iQALTERACPLDEPM71285DDS出。电路原理实现如下图：设计余量与以往同类产品设计比较是否满足设计要求等；线路仿真所选用的模型库，调用的模型

5、，仿 真结果以及实际投片情况预计；版图设计构想、布局及其草图； d）版图设计规则（含最小线宽、最小间距）及各类元器件设计规则； e）的 元 器 件 通 用 性 分 析 ， 以 及 供 货 渠 道 情 况 ； f）产品的外壳选择、拟采取的后步加工途径、封装和结构要求（含产品功率要求渠道情况；g）当产品含有计算机软件时，对软件工程设计开发的方案； h）产品所需配制的保障资源，如测试仪表、测试盒、测试夹具等（必要时）i）类似产品的情况说明，与本产品的差异，以及本产品设计的预期分析及风险分析； j）市场需求分析。可靠性设计（5 号 黑体）（ 号宋体，1.25 倍行距）分析产品实际使用的可靠性环境要求现

6、的失效模式，确定必须解决的主要失效模式及其解决途径；针对上述主要失效模式，准备在产品设计（含电路、版图、工艺设计及后工序封装设计）取了哪些可靠性设计措施；要件提出详细的质量控制与保证措施；级时，所采取的措施。（5）（号 宋 体 ，1.25 倍 行 距 ） a）对任务书中提出的改进计划是否能实施进行评估（需要时； b）对技术难点和薄弱环节的攻关措施实施情况及结论； c）对采用的新技术、新器方案设计评价结论）（格式要求，5 号宋体，1.25 倍行距）工艺设计（5）（号 宋 体 ，1.25 倍 行 距 ） a）（必要时，现有资源条件（设备，技术成熟成熟，以及对新技术新工艺所需要的资源开展的工作； b）关键件、重要件提出详细的质量控制与保证措施；根据经验或同类产品的可靠性水平、产品基本结构及使用环境，分析产品在寿命周期内可能出现的应工艺原因引起的失效模式，确定必须解决的主要失效模式及其解决途径； e）针对上述主要失效模式，在产品工艺设计（数）中采取了哪些可靠性设计措施； f）附件（5号 黑体）（号 宋 体 ，1.25 倍 行