ASTMA745A745M85奥氏体锻钢件超声检测方法(中译扫描本)

1、ASTMASTM无損检測标准奥氏体锻钢件超声检测方法745/A745M-861适用范围1.1本方法概述了以克射波或轩対波或两昔对奥氏体眩钢件作接竝式球沖反射趙声检刚的标准和检劃工艺。1.2本方法适用于在咨询建议.箜约.订货，或规范中规定要按实施方法ASTMA745对奥氏体锻钢件作超声检灣的场合。无磁性护环嚴件的超芦检團宴用推荐实施方法.而不暑本实施方法.K3用英制和公制表示的数值郡是标准值正文中公制（SI）单位值放在括号中。两种制式所表达的数值不完全相等，因此每种制式都只能单1*便用。两种制式混用可能适成不符合本标准要求的结果。14本实童方法和适用材料規范均以英制和公制两种单位制表达.然而，除

2、定单指定应用督字母即采用公制（S1）单位）的标准外.数据资料应以英制表示1.5农莽*可能涉及到有总書挂的材料糅作和段备.但仪妹攻的宗旨不在于论述与使用有关的安全问题。使用仪标朮才在使用肃有十任制订祕虫的有关安仝仿护和佟址的实施方次.蔓項定有关应用范田的管理条阿。I參考文件l.ASTM标准A531汽轮发电机铜护环趙卅检测实施方法E317不采用电子测量仪番评价脉冲回波式超声检冏系统性能的方法E428超再检测用钢参考试块的制作与检鸿方法2类国无扭检测学会文件SNTTCUA无摇检測人员資格鉴定和证弟颁发推荐实施方法1订货责料S.1当咨询或购货订草規定应用本实施方法时，用户应提供以下资料*LL1检熬质承

3、等级（见12章”1-1.2对本标准的附加耍求.S.I.S补充要求的适用性（见补充要求一章人.2如有規定，制造厂应提交检测工艺给用户批准。该检测工艺至少应包括（但不受此限制一张时间图和一份说明简图用以表示超声检测的扫衣表面.打査方向.切槽位置和大小（如果便用人复萱范围（如果应用等，在说明中应列出仪器校验.检測计划及其所处的制适阶A745/A74IMA745/A74IM4设备4.1本検詔应用电子的脉冲反射式仪备。该仅器系统至少应具有工作频*从0.5MHz5.0MHA视频显示或射频显示的能力.4.2趙声仪器应在至少75%的示波屏高度范围内（从打描基线到示波屏顶部）提供线性显示（倍号高度的5%以内人这

4、5%的线性是指示波屏的緬度显示。仪器的线性应按推荐实施方法E3J7校正.4.8仪器带有的增益控制器（在越个使用范国内苗度为其标称衰碱率的士10%）,用于雷僦超过仪签线性显示范国的信号。4.4探头4.1石英换能益或其他压电换能器的探头郁可使用二4.4.2最大标冰有效面积为1%平方英寸（970mm）f边长为英寸（13mm）（最小值）到I英欠30mm最大值）矩形或直径为巧英寸（20mm）W形换能器可甲于直射治束扫査。4.4.3斜射波换旌務的抹称有效而积为、IF方奥寸325650mmn=轩射波检樽用探头在被楡材料中的波束角哎应为3070。4.4.4苴他探头.包括痣宰不在8章所列范用的採头.在评价抉陷題

5、示和帚确定位时也顷采用.4.5疇台制应便用艮有建好润榆性的适F嘱合剤作为换能器与检灣左面的購合之用段准和检测宙晋使用相同的隅合制4.6参考试块4.6.1所有趙点标准参考试块都肪得合推荐实链方法E428的股庶南由于本嫌准涉.及的材铝的特殊性.干强求绝对符令推荐实施方法E428c4.6.2參考试块的屈粒度（遹过对参考试块作ffl对透声性的灣最确定）电当与被测锻件的品粒度峯本相近但必龟认识到由于大型奥氏体锻件在整个体积上的晶粒度和组织结构的不同.苴透审性明2变化所有参考试块的透声性应与被團霞件的平均透声性基本一致。在作第I】章所述的缺陷评定时可采用比上述试块晶粒更粗或更细的补充试块。4.6.3作为一

6、种替代方法.如果可行.可在毀件上某些代表性区域钻一些适当尺寸的孔或切槽用于校准和检整，只要下道工序能去徐它们即可。如果这些孔或切槽在下道工序中不能去徐.这些钻孔或切槽的位置必枣由用户批准.5检測人员要或5.1依据本标准作超声检越的人员碰当桩据推荐实翁方法SNT.TC-1A.附录C超声检测作資格鉴罡.小位认为胜任按本标准执行超声检灣的人员的资塔鉴定记录应可供备査。8锻件状玄6.1锻件应在热处理看再作超声怜静.6.2锻件的检灣表面应无异物.如疏松的黄化皮.油嫌.聊物爭二A745/A745MA745/A745M6.3扫査面的表面粗糙友不得超过250做英寸（6nm）f除非在订单或合同中另有建定。6.4

7、置件应加工成简单的形状，如矩形平行面或同心SI环，以获得全体积的复澄。6.5在某些情况下如模瓯件.要100%体积复盖是不实际的。这种锻件应作最大可能范围的检査表明检验范围的检稱工艺应提交用户批准（見3.2条人7检測方法7.1超声检测应在最件作热处理之后并已加工成适于趙声检刚的形状时进行，但灰在钻孔、开键梢车台阶挖槽或加工成最后外形之前。7.2为了确保锻件全体积的复盖。扫査时探头轨透间至少应有15%的复盖量。7.3扫査連度不得趙过6英寸/秒（150mm/s）e7.4为对锻件作尽可能帛大范围的检测锻件的每一个扫査区域至少在二个相互垂克的方向上进行扫杏。7.5检雋饼形舉件时如有町能，就至少应从个平面

8、上和圆周面上作径向直射声束扫査。所谓讲形锻件只長就执行本标准而言.其实咼把直径超高度的画柱形锻件统称为饼形锻件.它幻只是在检测阶段.通过缩敢锻打成“煎饼”形时才称为讲形锻件的.它幻可能是带有中心孔倒模的台阶.或其他形状的零部件D7.6为了作最大范围的险鸿，应使用直射声束从整个外麦面（囱面或岡周面）对园拄形部件、环形或空心锻件进行扫査.还应对锻件作抽向扫査。当岡柱形敢件的长度与亶径比（细长率別过6H（或轴向长度超过24英寸（600mm）时.从两个端面作范围尽可能大的辑向扫査.如果由于衰减因素无法在铀向穿透时則应用倡射声束代替轴向的直射声束作轴向扫査。当环形或空心竄件的外径与内径的比小于2而且壁厚

9、小于8英寸（200mm）,用斜射声束在外径或内径（或两者袤面上作全跨距或半跨距的扫衣见103.2和L0.1.3条），以达到100%全体积的复盖或达到由用户批准的检鸿工艺所规定的复畫虽耍求（見3.2条九8检测频率8.1超声检测都应在最髙可用频率（如8.1.X8.1.2或8.1.3条中規定的下进行，在该续率下可获得对锻件厚度的充分穿透並能分辨所应用的参考标准陷。在超声橙测按告中应包括使用的检测頻率。按下述导则在实际检樽时确定检测频率.B.L1标称检测频率为2.25MH由于衰祓因素使用该頻率一般会受到限制。8.1.2.11MHz的检测频率是可以接受的，这是一般所采用的频宰.8.1.3由于衰减，必要时

10、0.5MHz的检测频率也是可用的。当用这一低頻时要通知用户知道。8J.4在某些情况下，甚至0.5MHz也无法获得充分穿透时，在用户与制适厂同童的情况下，可以使用祥代的无損检测方搓（如射线人以磯保锻件的完善性。9直射声東检測9.1校正方法9.1.1对直射声束检测的枝正是在平嫌孔上进行的。平底孔的尺寸由实用的质量等级确定(見12章人9.1.2以检测材料探度距离确定较正方法.9.1.2.1被检厚度小于或等于6英寸150mm)时可用单试块法或距离波幅曲线校正法。单试块法用能代表锻件厚度的参考标准建立检團灵敏度。对于中零泾度至15英寸(40mm)的锻件在试块上钻一些平底孔.使之垂直于表面.对于孕度范围为

11、1.56英寸(40T50mm)的中等邸度的锻件.平底孔的绘小深度为0.75英寸(20mm).最大探度不超过被检嚴件厚度。在观察到铁陷回波的深度位置上对缺陷SI示作出评价.如眾必要可使用补充参考标准孔距离-波幅曲线枝正法用参考标准建立检灣灵敏度所用的參考试块厚度应能代衰晟大的披检厚度.溟差在士1英寸(25mm)内。9.1.2.2检甜厚度在624英寸(150mm600mm)之内的洽件用距离波幅曲线校正法。倘若检鸿从两对面进行，校正到检测厚度即可。9.1.2.3对于H度超过24英寸(600mm)的駁件.以下述检稍方法之一进行.)至少在一个表面上进行底波法检测按QL-5见12.1条或用户批准的检测方法

12、(见3.2条)进行。b)壁厚小于8英寸(200mm)的中空圆柱形醱件.用斜射声束扫脊代替在竭面上作直射声束扫杳。这种扫査的校正在切槽上进行.即在现成的用于周向扫査校正的轴向切槽上进行也可在为轴向料射声東扫査而加工的横向切槽上进行。9.2校正方法在锻件的无缺陷显示的区域UI合适的检稱频車词节仪器增益，便底波綢度达到仪器垂亶线性上限.无论是单试块或多试块校正方法.都把将仪器測节到匕述灵敏度显示状杰作为校正的基本参考灵敏度如果在该灵级度状杏下.深度距离最远的校正试块上的平底孔反射波高度(从扫描线到波蜂)达不到05英寸(13mmk刚进一步灣髙仪器增益.使之达到0.5英寸(13mm)o为完成距离幅度曲线

13、，庄该灵敏度状态下雋定确定该灵敏度状喬下曲线形状的其余各点的波高。然右把曲线圭在示波屏上或绘成曲线表。至少要用三块深度不同的试块，深度分别为3英寸(75mm),%几和为被检材料厚度人但任何两块试块之阿的间陽距离不能大于1兴英寸(40mm).如果雯对其指示回波离始豚冲距离小于3英寸75mm)的缺陷进行评价.那么就应用一块其声程为】X英寸(40mm)的附如试块进行.这是一个固定的参考基准任何深度上的缺陷回波都应以它的最大回波幅度同该參考基准相比较来进行评价。如杲没有趨过鲨收界限线的缺陷出现.便可按整收处理。在大垫锻件检测时.距离-波辐曲线的一裁分会趙过仪器的垂直线性范围如果在该区域出现缺陷显示可通

14、过使用校正的增益控制器或通过重新校准.将仪器词节到它的初始标准灵敏度状杰下.将用于评价的这一特定区域的相应部分。注.当椰庄平面姜考试块上的校正用于检测曲页锻存时.应当做曲面补堂.曲面校正方法应由制造厂与用0高定.您包在80英寸上时.可不必便电曲面修疋系敦.10倒财声束检測A745/A745MA745/A745MAT45/A74SM10.1按7.6条规定环形和中空Bi形最件应当用斜射声束，在锻件的外岡面上，从两个岡周方向上进行检测，校正方法如下10.1.1用切槽作校正标准.切槽最大表面长度为1.25英寸（30mm）,长度方向与声传播方向垂XT,切槽深度依据质fit等级（見12章）确定.可用矩形切

15、槽，也可用v形切槽矩形切槽的宽度不大于其两借的深度V形切槽夹角为60-（小值75（ft大值片它们在锻件上的位置以相互不产生干扰为原则.10.1.2将探头置于每个切槽产生金大响应液幅的位置上确定内外壑上切槽的响应波幅。调英超声仪器的灵级度使最大声程上切椿的响应波幅（扫描线至波峰不小于0.5英寸（13mrn）F将内外壁切梢上产生的晌应波福的峰值点用直线连接起来.这就是基本參考灵收度线，该较正方法叫做全跨距校正。10.E3当同时用内外嚏上切槽校正从内外壁的切槁上不能得到0.5英寸（13mm）的波幅响应时.可分别从外囲表面（外径麦面）上和内81表而上校正，谓整仪器灵救度，使对面切槽的浚幅响应至少为0.

16、5英寸（13mm）.这种校正方法叫做半跨距枝正.当有規定时.可以用轴向斜射声束代替从瑞面上作宜射声束的校验。注.关的BS柱怵或带小內孔的柱依懺件走以从虫塾表面作検直.通常内径小于18英寸（450mm）.咸住度大千豹英（900mm）,就不朱内離扫査.11材料评价11.1检團粗晶奥氏休材料时往往会显示出成片的噪声尤其在以高灵敏度检雋时。为此仔细推敲记录或拒收的见示画波究竟由統陷产生的还是由晶粒结构产生的就显得很重要.为了更精确地估计绘小块陷尺寸.希望备几套不同晶粒度的校正试块，以便使缺陷区城的衰祓与有关试块基本一致鉴于在一个具体的大型臭氏体厳件上各处的衰减总会有很大的不同舆此.允许以选用其克情况同

17、激件上存在缺陷的区域的衰减大体一致的那些试块进行比较的方法.对拒收SL示回波进行评价同时也允许在锻件的有代表性的区域钻一些参考孔（但要得到用户的批准用以校正和评价显示回波不仅内部袋陷会造成底波幅度下降，粗晶或不均匀的组织结构，構合的变化不平行的反射表面等也会产生同样结果因此在作出由于缺陷造成底波幅度下降的结论之前，必須考虑上述诸因索的形响12验牧质等级12.1用户可以指定下述质录符级之一作为对验收质童的要求。12J.1直射声束12.1.1.1当材料中产生的缺陷显示最大波縮等于或超过了基本参考灵敏度100%或缺陷代盘处的距离液幅曲线时.应作拒收处理。a）质量等级QL-PU8号平底孔8/64英寸（

18、3mm）：的波幅响应为恨据的距离波幅曲线.b）质豐等级QL-2-以号平底孔16/64英寸（6mm）的波幅响应为根据的距离波福曲线c）质量等级QL-3-U24号平底孔24/64英寸（10mm）的波幅响应为根据的距离波幅曲线。d）质址尊级QL4以32号平底孔匸32/64英寸!3mm）：的波幅响应为根据的距离波幅曲线.e质蜃等级Q5-以底面反射法检测.要保证在出现缺陷显示时无底波完全消失的情况。底波幅度小于廣屏鬲度5%时认为底波完全清失。12.1.1.2采用的贡金等级必梅圈被检材料的邸度，用户的要求.以及毀件的形式和尺寸而不同。大型的饼形锻件.环形蝦件或实心锻件以及复杂舉件可能出畏的异常情况和有关实用质*等级的选用等应该由制造厂和用户双方商定。作为总的指导原则.下面列出的检測厚度和所对应的可达到的质蜀等级作为一般性倍息提供出来。a）Q卜一般适用于厚度小于或等于3英寸（75mm）的锻件。b）QL-2一般适用于厚度小于或等于8英寸（200mm的舉件。cQL-3般适用于厚度小于或等于12英寸（300mm的敌件。d）QL7般适用于耳度小于或等于24英寸（600mm）的散件。c）QL-5-般适用于卑度超过24英t（600mm）的瑕件。H.1.2斜射声束当材料中产生的統陷显示其福度寻于或超过了岐陷位遗上的基本