电子设备可靠性试验

1、电子设备可靠性试验电子设备可靠性试验摘要可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故 障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的，可靠性统计试验可以分为可靠性验 证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试 验，通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是 否符合其规定的可靠性要求的试验，一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验 证试验。为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有 如下几方面：1.在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评

2、价产品可靠性达到预定指标 的情况； 2.生产阶段为监控生产过程提供信息； 3.对定型产品进行可靠 性鉴定或验收； 4.暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关 的失效模式和失效机理； 5.为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案， 为用户选用产品提供依据。关键词:可靠性、试验、reliability engineering设备、故障、问题重述、电子设备可靠性1.可靠性的基本概念随着电子技术的发展，对电子设备产品也提出了更高的要求。由于设备技术性 能和结构要求等方面的提高，可靠性问题愈显突出。如果没有可靠性保证，高性能 指标是没有任何意义的，现代用户买产品就是买可靠性，对生产厂家来

3、说，可靠 性就是信誉，就是市场，就是经济效益。从整机来讲，可靠性贯穿于设计、生产、 管理中。从部件、元器件的角度来讲，电子元器件的可靠性水平决定了整机的可靠 性程度。可靠性属于质量的范畴，是产品质量的时间函数。从基本概念上讲，可靠 性指标与质量的性能指标所强调的内容是不同的，可靠性的基本概念与时间有关(如 表1所示)，这些基本概念的具体化，就是产品故障或寿命特征的数学模型化。只有 通过可靠性试验才能确定产品故障或寿命特征符合哪一种数学分布，才可以决定产 品的可靠性指标，进而推算产品的可靠程度。在可靠性工程中，最常见的寿命分布 函数有指数分布、威布尔分布、对数正态分布和正态分布。 1可童性的基本

4、VI套璃目数学舞达式基志敬去可II度的)产品在期定条忡下和幌定时间内完成规定功初的厩蕙失效分布函微F.)F(f) = P(T0 （有故障发生时）：当r=0（试验过程中未发生故障）:式中，人为电子设备失效率点估计值；仙为电子设备MTBF的点估计值；T为电子 设备试验时间总和；r为故障次数。利用点估计的方法可以大致估算出电子设备MTBF。这是些经验公式，可以为验 证设计可靠性进行可靠性试验，以实现快捷处理试验数据。附录可靠性 reliablity设备在规定条件和规定时间内，完成规定功能的能力可靠度 reliability设备在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的概率。可靠性设计reliability design为满足设备可靠性要求而进行的设计。可靠性试验reliability test为获得设备可靠性信息所进行的试验故障 failure， fault设备不能完成规定的功能的事件或状态，包括：设备在规定的条件下，不能完成其规定的功能：设备在规定的条件下，一个或几个基本性能参数不符合规定的技术指标要求设备在规定的应力范围内工作时，由于零部件的损坏、元器件的特性变坏、 损坏等不正常状态而导致设备不能完成其规定的功能：设备操作人员一次协助超过了规定的时间。参考文献赵怀科.电子专用设备的可靠性试验J.电子工业专