SPC教程ppt课件

1、spcSPC(Statistical Process Control)统计制程控制.目录1 SPC概念2 SPC的产生3 SPC的作用4 SPC常用术语解释5 继续改良及统计过程控制概述6 控制图的类型及應用7 SPC与相關人員之權責.SPC之概念 SPC是三個英文單詞的縮寫(Statistical Process Control), 即統計制程控制(台灣稱法), 也叫統計過程控制(大陸稱法), 簡單地說, 就是利用統計學的原理, 對制造企業在制程中的品質進行控制, 以達到盡能够第一次就把品質做好.SPC的产生(Statistical Process Control) 工业革命以后， 随着消费

2、力的进一步开展，大规模消费的构成，如何控制大批量产质量量成为一个突出问题，单纯依托事后检验的质量控制方法已不能顺该当时经济开展的要求，必需改良质量管理方式。于是，英、美等国开场着手研讨用统计方法替代事后检验的质量控制方法。 1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于消费过程当中，并发表了著名的“控制图法，对过程变量进展控制，为统计质量管理奠定了实际和方法根底。.SPC的作用1、确保制程继续稳定、可预测。2、提高产质量量、消费才干、降低本钱。3、为制程分析提供根据。4、区分变差的特殊缘由和普通缘由，作为采取部分措 施或对系统采取措施的指南。.SPC常用术语解释名称解释平均值 （X）

3、一组测量值的均值极差（Range）一个子组、样本或总体中最大与最小值之差标准差(Standard Deviation)过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值（例如：子组均值）的分布宽度的量度，用希腊字母或字母s（用于样本标准差）表示。分布宽度（Spread）一个分布中从最小值到最大值之间的间距中位数 x将一组测量值从小到大排列后，中间的值即为中位数。如果数据的个数为偶数，一般将中间两个数的平均值作为中位数。 单值（Individual）一个单个的单位产品或一个特性的一次测量，通常用符号 X 表示。.名称解释中心线（Central Line）控制图上的一条线，代表所给数据平均值。过程均值（Pro

4、cess Average）一个特定过程特性的测量值分布的位置即为过程均值，通常用 X 来表示。链（Run）控制图上一系列连续上升或下降，或在中心线之上或之下的点。它是分析是否存在造成变差的特殊原因的依据。变差（Variation）过程的单个输出之间不可避免的差别；变差的原因可分为两类：普通原因和特殊原因。特殊原因（Special Cause）一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差根源。有时被称为可查明原因，它存在的信号是：存在超过控制限的点或存在在控制限之内的链或其它非随机性的图形。.名称解释普通原因（Common Cause）造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单值；在控制图分析中

5、，它表现为随机过程变差的一部分。过程能力(Process Capability)是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格界限的距离，用Z来表示。移动极差（Moving Range)两个或多个连续样本值中最大值和最小值之差。.继续改良及统计过程控制概述变差的普通缘由和特殊缘由 普通缘由：是指过程在受控的形状下，出现的具有稳定的且可重 复的分布过程的变差的缘由。普通缘由表现为一个稳 系统的偶尔缘由。只需过程变差的普通缘由存在且不 改动时，过程的输出才可以预测。 特殊缘由：通常也叫可查明缘由是指呵斥不是一直作用于过 程的变差的缘由，即当它们出现时将呵斥整个 过程的分布改动。只用特殊缘由被查出且采取

6、措 施,否那么它们将继续不可预测的影响过程的输出。. 每件产品的尺寸与别的都不同 范围 范围 范围 范围但它们构成一个模型，假设稳定，可以描画为一个分布 范围 范围 范围分布可以经过以下要素来加以区分 位置 分布宽度 外形 或这些要素的组合.假设仅存在变差的普通缘由， 目的值线随着时间的推移，过程的输出构成一个稳定的分布并可预测。 预测 时间 范围 目的值线假设存在变差的特殊缘由，随着时间的推 预测移，过程的输出不稳定。 时间 范围.部分措施和对系统采取措施 部分措施通常用来消除变差的特殊缘由通常由与过程直接相关的人员实施通常可纠正大约15%的过程问题对系统采取措施通常用来消除变差的普通缘由几

7、乎总是要求管理措施，以便纠正大约可纠正85%的过程问题.过程控制 受控 消除了特殊缘由 时间 范围 不受控 存在特殊缘由. 过程才干 受控且有才干符合规范 普通缘由呵斥的变差已减少 规范下限 规范上限 时间 范围 受控但没有才干符合规范 普通缘由呵斥的变差太大. 过程改良循环1、分析过程 2、维护过程 本过程应做什么？ 监控过程性能 会出现什么错误？ 查找变差的特殊缘由并 本过程正在做什么？ 采取措施。 到达统计控制形状？ 确定才干 方案 实施 方案 实施 措施 研讨 措施 研讨 方案 实施 3、改良过程 措施 研讨 改良过程从而更好地了解 普通缘由变差 减少普通缘由变差. 控制图类型计量型数

8、据X-R 均值和极差图计数型数据P chart 不良率管制图 X-均值和标准差图nP chart 不良数管制图X -R 中位值极差图 C chart 缺点数管制图 X-MR 单值移动极差图 U chart 单位缺点数管制图 .计量型数据控制图 与过程有关的控制图 计量单位：mm, kg等 过程 人员 方法 资料 环境 设备 1 2 3 4 5 6结果举例控制图举例螺丝的外径（mm）从基准面到孔的距离（mm）电阻（）锡炉温度（C）工程更改处理时间（h） X图 R图.接上页丈量方法必需保证一直产生准确和精细的结果不精细 精细准确不准确.均值和极差图X-R 1、搜集数据 以样本容量恒定的子组方式报告

9、，子组通常包括2-5件延续的产品，并周性期的抽取子组。 注：应制定一个搜集数据的方案，将其作为搜集、记录及描图的根据。1-1 选择子组大小，频率和数据 1-1-1 子组大小：普通为5件延续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程 流等。注：数据仅代表单一刀具、冲头、模具等 消费出来的零件，即一个单一的消费流。 1-1-2 子组频率：在适当的时间内搜集足够的数据，这样子组才干 反映潜在的变化，这些变化缘由能够是换班/操作人 员改换/资料批次不同等缘由引起。对正在消费的产 品进展监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一 次等。 .接上页1-1-3 子组数：子组越多，变差越有时机出现。普通为25组，初次使

10、 用控制图选用35 组数据，以便调整。 1-2 建立控制图及记录原始数据 见以下图 .1-3、计算每个子组的均值X和极差R 对每个子组计算： X=X1+X2+Xn/ n R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 为子组内的每个丈量值。n 表示子组 的样本容量1-4、选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的丈量值。 4-2 刻度选择 ：.接上页 对于X 图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值X的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差R的2倍。 注：一个有用的建议是将 R 图的刻度值设置为

11、X 图刻度值的2倍。 例如：平均值图上1个刻度代表0.01英寸，那么在极差图上 1个刻度代表0.02英寸1-5、将均值和极差画到控制图上 5-1 X 图和 R 图上的点描好后及时用直线联接，阅读各点能否 合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图能否正确。 5-2 确保所画的X 和R点在纵向是对应的。 注：对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研讨字样。.计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。 2-1 计算平均极差R及过程均值X R=R1+R2+Rk/ kK表示子组数量 X =X1+X2+Xk/ k 2-2 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通

12、缘由时子组的均 值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决议的。 计算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R .接上页 注：式中A2,D3,D4为常系数，决议于子组样本容量。其系数值 见下表 ：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31 注： 对于样本容量小于7的情况，LCLR能够技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限，这意味着

13、对于一个样本数为6的子组，6个“同样的丈量结果是能够成立的。 .2-3 在控制图上作出均值和极差控制限的控制线 平均极差和过程均值用画成实线。 各控制限画成虚线。 对各条线标上记号UCLR ，LCLR ，UCLX ，LCLX 注：在初始研讨阶段，应注明实验控制限。过程控制分析 分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。 即其中之一或两者均不受控进而采取适当的措施。 注1：R 图和 X 图应分别分析，但可进展比较，了解影响过程 的特殊缘由。 注2：由于子组极差或子组均值的才干都取决于零件间的变差， 因此，首先应分析R图。. 均值和规范差图X-s图 普通来讲，当出现以下一种或多种情况

14、时用S图替代R图： a 数据由计算机按设定时序记录和/或描图的，因s的计算程序 容易集成化。 b 运用的子组样本容量较大，更有效的变差量度是适宜的 c 由于容量大，计算比较方便时。 1-1 数据的搜集根本同X-R图 1-1-1 假设原始数据量大，常将他们记录于单独的数据表，计算 出 X 和 s 1-1-2 计算每一子组的规范差 s = (XiX ) n 1. 式中：Xi，X；N 分别代表单值、均值和样本容量。 注：s 图的刻度尺寸应与相应的X图的一样。1-2 计算控制限 1-2-1 均值的上下限 USLX = X+ A3S LSLX =X -A3S 1-2-2 计算规范差的控制限 LSLS =

15、 B4S LSLS = B3S 注：式中S 为各子组样本规范差的均值 ，B3、B4、A3为随样本容 量变化的常数。见下表：. 注：在样本容量低于6时，没有规范差的下控制限。1-3 过程控制的分析同X-R 1-4 过程才干的分析同X-R 估计过程规范差： = S / C4= S / C4n2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3 *0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98 .式中：S 是样本规范差的均值规范差受控时的，C4为随样本容量变化的常数。见下表： 当需求计算过程才干时；将 带入X-R图 4-2的公式即可。 1-5 过程才干评价同 X-R 图的 4-3n2345678910C40.7980.8860.9210