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文档简介

1、 6sigma黑带改善黑带改善 降低高内阻不良率项目降低高内阻不良率项目部部 门:门:项目黑带:项目黑带:开始时间:开始时间:2008.3.18完成时间:完成时间:2008.8.30方案规划、协调过程相关事宜,进度跟踪和控制,主导数据收集和原因分析,协调改善方案协调公司资源对本项目予以人员、物质等支持和指导负责方案培训、指导,客户和专业信息收集、分析指导负责滚槽B班人员改善项目措施执行和控制负责滚槽A班人员改善项目措施执行和控制负责项目改善方案、措施的跟进,实验验证负责设备的管理和维护,原因分析和改进项目 dataDefineMeasureAnalyzeImproveControl3.18-4

2、.30完成现状分完成现状分析和目标定析和目标定义,完成项义,完成项目财务收益目财务收益估算估算4.30-5.30完成主要完成主要X的的MSA,并找,并找到主要的到主要的X项项目目5.30-6.30确认主要确认主要X6.30-7.30寻找对策控寻找对策控制制X,使,使X得得到有效控制到有效控制7.30-8.30有效改善对策有效改善对策的标准化,进的标准化,进一步控制一步控制XDefine 阶段选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析D阶段的思路项目选择的理由明确客户需求确定关键CTQY的分布规律预算财务收益MSAY的现状水平Y的目标制订现状分析VOC/VOB调查高内阻不良品

3、的解剖小组讨论关键CTQ确定确定关键CTQ的计算公式图表展示Y现状对Y的现状进行统计确定Y和各小y的目标按目标进行收益评估VOC声音:发给客声音:发给客户高内阻电芯数量户高内阻电芯数量增多且不稳定增多且不稳定0 00 01 11 10 00 00 02 21 10 00 01 10 00 03 30 00 00 00 00 06 61 12 23 31 1 2 23 31 1 6 62 26 6024681 01 21 41 61 8K 22 K 2 3 K 2 4 K 26 K 2 7 K 28 K 29K 3 0L 01L 0 3L 04L 05L 0 6L 07L 10L 1 1L 12

4、L 1 4L 1 5L 25L 2 6L 28L 31A 0 1 A 02 A 03A 0 4 A 26 A 2 8High IR Cell quantity in each batch out shipment to SMPPCSBatch选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析07年高内阻Y的不良率分布汇总汇总07年年10-12月份高内阻电芯占生产电芯不良率为月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:13800PPM;而占工序检测;而占工序检测次品数不良率为次品数不良率为: 24610PPM;右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两;右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比

5、率的两个批次。个批次。批次批次高内阻最高高内阻最高不良批次不良批次 不良率不良率10月月4VM7 H258.18%11月月4VM7J132.32%4VM7K082.49%12月月4VM8K272.05%4VM8K292.01%选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析08年高内阻Y的公布:对比07年无明显下降趋势汇总汇总1-4月份高内阻电芯占生产电芯不良率为月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:10200PPM;而占工序检测次品;而占工序检测次品数不良率为数不良率为: 15830PPM;右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两个;右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两

6、个批次。批次。批次批次高内阻不良高内阻不良率率1月月4VM7L012.04%4VM7 L101.69%2月月4VM7L272.23%4VM7L282.22%3月月4VM8B162.38%4VM8B192.11%4月月4VM8C202.96%4VM8C212.58%选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析1.提高极耳焊接 合格率。2. 提高卷绕焊接 合格率。1.降低高内阻比 率,高内阻不良 品不流出厂。 2. 降低品质失败 成本。高内阻出货为零内部顾客VOP制程制程QC内部顾客VOB公司领导公司领导外部顾客VOC客户客户VOC&VOB&VOP汇总汇总1、提高

7、制程能力,减少高内阻电芯比率2、降低品质失败成本选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析NGOKOKOKOKNG领取高内阻电池放电测量电池内阻值解剖顶盖测量帽盖内阻值判定高内阻原因:帽盖内阻NG测量正极耳与钢壳内阻值检查正极耳状态解剖查看负极点焊情况解剖钢壳测量极组内阻值NG判定高内阻原因:极组内阻NG判定高内阻原因:负极耳虚焊1.判定高内阻原因:正极耳抽出NG2.电芯内部不明断路NG高内阻电池原因分析解剖流程图图二:测帽盖内阻图三:测卷芯内阻图四:负极耳虚焊图五:负极耳弯折未焊接图六:负极耳弯折,半个焊点图一:用管钳

8、解剖选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析解剖寻找Y的CTQ解剖507pcs高内阻电芯,进行原因分析,不良原因结果如下:选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析负极耳虚焊负极耳弯折正极耳抽出类别0.8%4.9%94.3%高高内内阻阻电电池池不不良良项项目目饼饼图图O高内阻I Y:负极耳虚焊选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定滚槽负极点焊f (X)目前Y的CTQ选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定部件间再现性重复量具 R&R100500百百 分分 比比% 贡献0.500.250.00样样 本本 极极 差差_

9、R=0.2667UCL=0.6865LCL=0姜彩虹张娜娜赵时枚565248样样 本本 均均 值值_X =54.01UCL=54.29LCL=53.74姜彩虹张娜娜赵时枚10987654321605550编编号号赵时枚张娜娜姜彩虹605550测测量量人人员员10 9 8 7 6 5 4 3 2 1565248编编号号平平 均均姜彩虹张娜娜赵时枚测量人员量具名称:内阻测试仪研究日期: 2008-5-9报表人:周承亮公差: 其他: 变变异异分分量量R R 控控制制图图(按按 测测量量人人员员)X Xb ba ar r 控控制制图图(按按 测测量量人人员员)值值 H H 编编号号值值 H H 测测量

10、量人人员员 测测量量人人员员 乘乘 编编号号 交交互互作作用用O OC CV V1 1内内阻阻测测试试柜柜M MS SA A分分析析量具量具 R&R 方差分量来源 方差分量 贡献率合计量具 R&R 0.02055 0.33 重复性 0.02055 0.33 再现性 0.00000 0.00 测量人员 0.00000 0.00部件间 6.26445 99.67合计变异 6.28500 100.00 研究变异 %研究变来源 标准差(SD) (6 * SD) 异 (%SV)合计量具 R&R 0.14335 0.8601 5.72 重复性 0.14335 0.8601 5.72

11、 再现性 0.00000 0.0000 0.00 测量人员 0.00000 0.0000 0.00部件间 2.50289 15.0173 99.84合计变异 2.50699 15.0419 100.00由无人员误差,测量系统非常好。由无人员误差,测量系统非常好。MSA测量系统:%研究变异30%,测量系统合格选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析y1:负极耳虚焊94.28%Y的类别所占工序不良率所占产出率PPM9617PPM按08年1月至4月份止产出的高内阻不良品数,不良率合计是10200PPM计算得出数量478254百分比94.34.90.8累积 %94.399.210

12、0.0不良项目其他负极耳弯折负极耳虚焊5004003002001000100806040200数数量量百百分分比比高高内内阻阻不不良良项项目目y y的的分分布布柏柏拉拉图图按二八法则提取对高内阻影响最大的y,结合y的现状能力,分析得出:高内阻不良是:Y负极耳虚焊,数量占各项目Y的94.28%选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析数量3589653百分比70.618.910.5累积 %70.689.5100.0机器号1#3#2#5004003002001000100806040200数数量量百百分分比比负负极极耳耳虚虚焊焊机机器器分分布布柏柏拉拉图图负极耳虚焊分布机台负极

13、耳虚焊分布机台左图是从解剖电芯的数据,左图是从解剖电芯的数据,分析负极耳虚焊所分析负极耳虚焊所产出的设备分布规律产出的设备分布规律柏拉图,从图中可得出:柏拉图,从图中可得出:2#滚槽机负极耳虚焊数量滚槽机负极耳虚焊数量占三台机器所产出的占三台机器所产出的70.6%,为三台机器中最,为三台机器中最高。高。故:后续改善可着重分析故:后续改善可着重分析2#滚槽机点焊工序。滚槽机点焊工序。故:项目目标是将高内阻不良率降低至故:项目目标是将高内阻不良率降低至3100PPM以下。以下。选题理由VOCCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定综合综合Y的分布规律和的分布规律和历史数据,历史数据,得出:主要改善

14、方向得出:主要改善方向是对滚槽机负极耳是对滚槽机负极耳点焊工序进行改善,点焊工序进行改善,从而降低高内阻电芯从而降低高内阻电芯的产出。的产出。目标如左图目标如左图选题理由VOPCTQMSAY现状能力Y分布规律目标设定财务分析财务分析:财务分析:高内阻电芯的不良率,高内阻电芯的不良率,由由10200PPM减少到减少到3100PPM,统计统计08年高内阻降档数据分析,年高内阻降档数据分析,1、降为、降为B品品的数量为的数量为8.82%,成本损失成本损失6元人民币;元人民币;2、降为、降为C品品的数量为的数量为91.18%,成本损失为成本损失为10元人民币。元人民币。注:损失价格从财务部门获得注:损

15、失价格从财务部门获得。故按月故按月200万电芯计算得出,万电芯计算得出,每年节约成本约人民币每年节约成本约人民币: 1,643,882元元 Measure 阶段影响CTQ的主要原因主要XDOEFMEA影响CTQ的主要原因主要XFMEADOE员工技能不熟练隔膜堵孔焊接异常未检查确认焊针钢壳镀层脱落焊焊接接不不良良人设备材料环境方法焊接压力过大或过小焊接时间过小焊接电流过小预压时间过短焊接后延时过小钢壳表面污迹钢壳表面镀层不均匀极耳压痕深浅差异极耳表面污迹焊针表面油污焊针尺寸不合理焊针表面氧化、杂质焊针材质、针头变形焊针偏心隔膜堵孔未定量更换焊针未定时巡检焊针更换频次不合理巡检频次不合理焊针维护不

16、规范工作台面不清洁交叉污染焊接不良原因鱼骨图影响CTQ的主要原因主要XFMEADOE影响CTQ的主要原因主要XFMEADOE滚槽负极耳点焊因果矩阵图滚槽负极耳点焊因果矩阵图:根据流程图的项目,用因果矩图分析,Y有两个项目: 1、焊接强度;2、焊接外观。结果:1、红色区域是对负极耳点焊有重要重要影响的项目;2、黄色区域是对负极耳点焊次重要次重要影响的项目;3、蓝色区域是对负极耳点焊次要次要影响的项目。影响CTQ的主要原因主要XFMEADOEFMEA:制作FMEA,将对负极耳焊接有轻微影响的日常项目管控起来,将其影响减至最低。后续做优化焊接参数DOE实验。影响CTQ的主要原因主要XFMEADOE根

17、据大家的专业知识和专业技能经验,找到根据大家的专业知识和专业技能经验,找到9 9个影响点焊强度的因子:个影响点焊强度的因子:升压时间升压时间-R1;焊接时间;焊接时间-W1;焊接压;焊接压-P;显示;显示/焊接电流焊接电流-Heat1;冷却时间冷却时间-CO;下降后延时;焊完后延时;预压时间;下降后延时;焊完后延时;预压时间-SQ1;保压时间;保压时间-HO。据以往工艺参数实验数据,可判定预压时间(据以往工艺参数实验数据,可判定预压时间(SQ1)和保压时间()和保压时间(HO),对焊接强度),对焊接强度无影响,固本次无影响,固本次DOE实验将此两项目参数根据以往结论固定,分别设定为实验将此两项

18、目参数根据以往结论固定,分别设定为50*10ms和和0ms。此次点焊此次点焊DOE实验设计定为:实验设计定为:7因子,两水平,加因子,两水平,加7个中心点,得出机器个中心点,得出机器A、B侧实验侧实验次数分别为次数分别为39次,先在滚槽次,先在滚槽1#机上进行机上进行(后续完成再分别做(后续完成再分别做2#滚槽机和滚槽机和3#滚槽机)滚槽机)。实验目的:筛选出实验目的:筛选出7个主因子中的主要影响因子,查看其交互作用,再得出因子个主因子中的主要影响因子,查看其交互作用,再得出因子X与与焊接强度焊接强度Y之间的函式,得出发展方向,再进行下一步优化和固定因子水平,得出之间的函式,得出发展方向,再进

19、行下一步优化和固定因子水平,得出最佳焊接参数,提升制程点焊一致性。最佳焊接参数,提升制程点焊一致性。附:焊接打磨统一由机电科专业人员进行,以保障焊针的实效性。附:焊接打磨统一由机电科专业人员进行,以保障焊针的实效性。 后续优化焊针针头标准。后续优化焊针针头标准。下页附下页附DOE实验设计具体参数设置表实验设计具体参数设置表DOE具体参数设置表(具体参数设置表(1#滚槽机)滚槽机)影响CTQ的主要原因主要XFMEADOE实实验验结结果果:焊焊接接强强度度YDOE因子实验结果(因子实验结果(1#滚槽机)滚槽机)影响CTQ的主要原因主要XFMEADOEDGEAAFABADBDAGACAEABDFCB3.02.52.01.51.00.50.0项项标标准准化化效效应应2.074AR1(ms)BW1(ms)CP(psi)DCO(ms)EHeat1(A)F下降后延时(s)G焊完后延时(s)因子名称标标准准化化效效应应的的 P Pa ar re et to o 图图(响应为 Y,Alpha = .05)因子显著性分因子显著性分析矩阵图析矩阵图:根据DOE因子分析,影响焊接强度Y的是两个显著主因子,如下: 1、焊接时间;2、焊接压力。结论:除上述两个主因子对焊接强度Y的影响

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