实验十七移位寄存器的逻辑功能测试

1、实验十七、移位寄存器74164的逻辑功能测 试一、 实验目的1、 掌握中规模8位移位寄存器逻辑功能。2、 认识74LS164及其引脚封装。二、 实验预习要求1、 复习有关寄存器的内容。2、 查阅74LS164及逻辑电路，熟悉其逻辑功能及引脚排列。三、 实验设备1、+5V直流电源 2、单次脉冲源 3、逻辑电平开关4、DM74LS164四、实验原理1、移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中锁存的代码能够在移位脉冲的作用下一次左移和右移。既能左移又能右移称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号可实现双向移位要求。根据移位寄存器取存信息的方式不同分为：串入串出、串入并出、并入串出、

2、并入并出四种形式。本实验选用的8位移位寄存器，型号可为74LS164，其逻辑符号及引脚排列如图所示。其中A、B为串行输入端；CLR为异步清零端；QHQA为输入端；CLK为移位脉冲输入端；74164是一种串行输入、并行输出的器件，时钟高电平有效，没有时钟使能端，该器件用低电平复位图1 74LS164的逻辑符号及引脚功能表其中QAO、QBO、QHO为在暂稳态输入条件建立之前QA、QB和QH相应的电平；QAN、QGN为在最近的时钟上升沿转换前QA或QG的电平，表示移一位。移位寄存器应用很广，可构成移位寄存器型计数器；属虚脉冲发生器；串行累加器；可用作数据转换，即把串行数据转换位并行数据，或把并行数据

3、转换位串行数据等。五、 实验内容1、 测试74LS164的逻辑功能 按图所示接线，A、B、CLK分别接至逻辑电平显示输入端。QAQH分别接至逻辑电平显示输出端。14脚接+5V电源、7脚接地。（1） 清除：令CLR=0,其它输入均为任意态，这时寄存器输出QAQH应均为0。清除后，置CLR=1。（2） 置数：令CLR=1，送入任意2位二进制数，加CLK脉冲，CLK由01、CLK由10两种情况下寄存器输入状态的变化，观察寄存器输出状态变化是否发生在CLK脉冲的上升沿。附：实验报告一、 实验步骤1、 按图1的引脚功能表接好电路。2、 按如下步骤测试功能：（1）异步清零功能：当=0时，这时Q3Q2Q1Q

4、0=0000，双向移位寄存器清零。其它输入信号都不起作用，与CP无关，故称为异步清零。 （2）保持功能：当=1，且CP=0或M1 =M2=0时，双向移位寄存器保持状态不变。（3） 同步并行送数功能：当=1，M1 =M2=1时，在CP上升沿操作下，并行输入数据d3 d2 d1 d0送入寄存器。（4）右移串行送数功能：当=1，M1 =0、M2=1时，在CP上升沿操作下，可依次把加在端的数据从时钟触发器 行送入寄存器中。（5）左移串行送数功能：当=1，M1 =1、M2=0时，在CP上升沿操作下，可依次把加在DSL端的数据从时钟触发器串行送入寄存器中。二、实验结果根据实验可得到如下状态图：CrS2S1

5、CPSr SlD0D1D2D3Q0Q1Q2Q3清零0×××××××××0000保持1100×××××××Q0Q1Q2Q3送数111××D0D1D2D3D0D1D2D3右移110011×××0××××××××01Q0Q0Q1Q1Q2Q2左移11110001××××××××××Q1Q1Q2Q2Q3Q301三、实验注意事项1、按图接好电路；2、接电源时注意电源和地之间不要短接；3、注意各个控