JB4730.1.2理解应用

1、1、 理解：（理解：（1）适用对象包括承压设备的制造、安装、）适用对象包括承压设备的制造、安装、在用（在用（2）检测的金属材料包括；）检测的金属材料包括； 碳素钢、低合金钢、碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金（镍合金（3）A级级AB级级B级系指检测技术分级，不是底级系指检测技术分级，不是底片质量分级。片质量分级。2 、应用：（、应用：（1）对不同的金属材料透照的厚度不同例如）对不同的金属材料透照的厚度不同例如碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、镍及镍合金碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、镍及镍合金透照厚

2、度透照厚度2400mm（5.1.1）铝及铝合金透照厚度）铝及铝合金透照厚度280mm（5.2.1）钛合金）钛合金250mm（5.3.1）（）（2）不适）不适用范围；锻件、管材、棒材。用范围；锻件、管材、棒材。T型焊缝、角焊缝、堆焊型焊缝、角焊缝、堆焊层一般也不宜采用。（使用原则层一般也不宜采用。（使用原则4.2.2）3 、注意：如承压设备的支承件或结构件也采用该标准时、注意：如承压设备的支承件或结构件也采用该标准时应在检测报告中注明应在检测报告中注明参照参照同时应有委托方的确认。同时应有委托方的确认。 下列文件中的条款，通过下列文件中的条款，通过JB/T 4730的本部的本部分的引用而成为本部

3、分的条款。凡是注日期分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。HB 76842000 射线照相用线型像质计射线照相用线型像质计JB 4730.12005 承压设备无损检测承压设备无损检测 第第1部部分：通用要求分：通用要

4、求JB/T 79021999 线型像质计线型像质计 JB/T 79031999 工业射线照相底片观片灯工业射线照相底片观片灯（共计（共计10个个)1、理解：（、理解：（1）JB/T4730直接引用了文件中的某些条款直接引用了文件中的某些条款（2）在工作中要执行这些标准中的有关规定。例如）在工作中要执行这些标准中的有关规定。例如3.3.1观片灯的主要性能应符合观片灯的主要性能应符合JB/T 79031999的有关的有关规定。规定。2、应用：（、应用：（1）除）除JB/T4730外，以上外，以上10个标准也是我们个标准也是我们编制检测通用工艺和管理规定的主要依据。（编制检测通用工艺和管理规定的主要

5、依据。（2）如果）如果这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。3、注意：（、注意：（1）凡从事射线检测的单位或部门应有这）凡从事射线检测的单位或部门应有这10个标准的原件（个标准的原件（2）当某些条款与）当某些条款与JB/T4730不相符时，不相符时，以以JB/T4730规定的内容为准。（规定的内容为准。（GB标准除外）例如附标准除外）例如附录录F专用像质计的标识。专用像质计的标识。3.1.1 从事射线检测人员上岗前应进行辐射从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。安全知识的培训，并取得放射工作人员证。3

6、.1.2 射线检测人员未经矫正或经矫正的近射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为（小数记录值为1.0）, 测试方法应符合测试方法应符合GB 11533的规定。从事评片的人员应每年检查的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。一次视力。 1、理解：取、理解：取放射工作人员证放射工作人员证的对象的对象2、应用：（、应用：（1）对已取得国家质检总局或要取得国）对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有测人员均应有放射工作人员证放射工作人员证

7、（2）对其他单）对其他单位（制造、安装和检验）现场操作人员应有位（制造、安装和检验）现场操作人员应有放放射工作人员证射工作人员证3、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。1、理解：（、理解：（1）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。（2）检测的技术级别与胶片的类别有关。）检测的技术级别与胶片的类别有关。2、应用：选择的原则（、应用：选择的原则（1）A级和级和AB级检测技术不得低级检测技术不得低于于T3类、类、B

8、级检测技术不得低于级检测技术不得低于T2类（类（2）采用）采用射线允射线允许采用许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。类胶片，但灵敏度应满足要求。3、注意：（、注意：（1）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行射线照相时应采用高类别的胶片。射线照相时应采用高类别的胶片。（2 2）对可焊性差的材料或）对可焊性差的材料或R Rmm540MPa高强钢，高强钢， 射线照射线照相时应选择相时应选择T2T2类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。 3.3.1 观片灯的主要性能应符合观片灯的主要性能应符合JB/T 7903的的 有关规定。有关规定。3.3.2 观片灯的最大

9、亮度应能满足评片的要求。观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。1、理解：（、理解：（1）观片灯的主要性能指标除了亮度以）观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括外还包括: :亮度的均匀性、外壳温度、亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘噪声、绝缘程度等（程度等（2 2）观片灯亮度和照度的关系，即）观片灯亮度和照度的关系，即140000lx140000lx45000cd/m45000cd/m2 22、应用：当底片评定范围内的黑度、应用：当底片评定范围内的黑度2.5时，观片灯时，观片灯的亮度不应低于的亮度不应低于9400 cd/mcd/m2 2、当底片评定范围内当底片评定范围内的黑度的黑度2.5D4时观片

10、灯的亮度不应低于时观片灯的亮度不应低于100000 cd/mcd/m2 23、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/mcd/m2 2表示。表示。3.4.1 黑度计可测的最大黑度应不小于黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过测量值的误差应不超过0.05。3.4.2 黑度计至少每黑度计至少每6个月校验一次。校验方个月校验一次。校验方法可参照附录法可参照附录B（资料性附录）的规定进行。（资料性附录）的规定进行。1、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于4 （4.11.2）2、应用：黑度计属于自

11、校验仪器，不是强制校验设备，、应用：黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。3、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，并通过计量部门的鉴定并通过计量部门的鉴定(2年）新购置的标准黑度片只要年）新购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。在有效期内也允许。射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表屏。增感屏

12、的选用应符合表1的规定的规定 1、理解：（、理解：（1）X射线照相，能量在射线照相，能量在500KV以下增感屏以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线能量有关（能量有关（2）如采用）如采用Se-75或或Ir-192，增感屏的厚度，增感屏的厚度与技术级别有关。（与技术级别有关。（3）如采用）如采用Co60或高能或高能X射线射线（4MeV以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级别有关。术级别有关。2、应用：（、应用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同（2）

13、如采用）如采用Se-75和和Ir-192射线照相，射线照相，AB级或级或B级检级检测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。3、注意：、注意： AB级或级或B级检测技术使用前屏级检测技术使用前屏0.03mm真空真空包装胶片时，另有规定。（仅限于包装胶片时，另有规定。（仅限于射线射线）3.6.1 底片影像质量采用线型像质计测定。底片影像质量采用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合线型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的规定，的规定，JB/T 7902中未包含的丝径、线号中未包含的丝径、线号等内容，应符合等内容，应符合HB 7684的有关规定。

14、的有关规定。3.6.2 像质计的材料、材料代号和不同材料像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表的像质计适用的工件材料范围应符合表2的的规定。规定。3.7.1 在射线检测之前，对接焊接接头的表面应在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。表面作适当修整。3.7.2 除非另有规定，射线检测应在焊后进行。有除非另有规定，射线检测应在焊后进行。有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成延迟裂纹倾向的材料，至少应

15、在焊接完成24h后后进行射线检测。进行射线检测。1、理解：（、理解：（1）焊缝的外观检查一般由焊工检查员）焊缝的外观检查一般由焊工检查员进行。（进行。（2）除非另有规定系指设计图纸的规定、）除非另有规定系指设计图纸的规定、制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。（制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。（3）有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。2、应用：（、应用：（1）射线检测工艺卡中应明确检测时机）射线检测工艺卡中应明确检测时机（2）当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底）当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底片评定原始记录中注明。片评定原始记录中注明。3

16、、注意：所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。、注意：所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。1、理解：（、理解：（1）承压类设备的制造、安装、在用的检测技）承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于术级别一般不应低于AB级（级（2）承压设备在用检测特殊）承压设备在用检测特殊情况下可以采用情况下可以采用A级检测技术（级检测技术（3）检测方技术负责人）检测方技术负责人系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或分管技术的领导（或分管技术的领导（4）有

17、效措施一般包括：高类别胶）有效措施一般包括：高类别胶片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。制散乱射线等措施。2、应用：（、应用：（1）技术负责人要确认是否确实存在）技术负责人要确认是否确实存在“结构、结构、环境、射线设备等方面的限制环境、射线设备等方面的限制”（2）技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签）技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签字。字。3、注意：底片灵敏度必须达到相应技术级别的规定。对、注意：底片灵敏度必须达到相应技术级别的规定。对在用设备如采用在用设备如采用A级检测技术应补充其他检测方法进行

18、级检测技术应补充其他检测方法进行检测。返修焊缝应采用检测。返修焊缝应采用AB级或达到级或达到AB级灵敏度级灵敏度3.9.1 放射卫生防护应符合放射卫生防护应符合GB 18871、GB 16357和和GB 18465的有关规定。的有关规定。3.9.2 现场进行射线检测时，应按现场进行射线检测时，应按GB16357的规的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工定划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。3.9.3 现场进行现场进行射线检测时，应按射线检测时，应按GB18465的规的规定划定控制区和监督区、设置警告

19、标志，检测作定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。1、理解：（、理解：（1）现场进行射线检测或进行）现场进行射线检测或进行射线检测射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。（时对辐射防护提出了不同的要求。（2）在两个标准）在两个标准都提出了辐射照射量的新名词都提出了辐射照射量的新名词比释动能比释动能和和空空气比释动能率气比释动能率，比释动能是指不带电粒子与物质，比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所

20、有带相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。电粒子的初始动能的总和。2、应用：（、应用：（1）空气比释动能率用仪器可以测出（）空气比释动能率用仪器可以测出（2）控制区、管理区、监督区范围的确定均根据空气比控制区、管理区、监督区范围的确定均根据空气比释动能率量值进行划分的。释动能率量值进行划分的。3、注意：尽管两个标准的某些条款内容相同或相近，、注意：尽管两个标准的某些条款内容相同或相近，但在使用中不能相互代替。但在使用中不能相互代替。1、理解：（、理解：（1）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（最便捷的透照方法。

21、（2）对）对在单壁透照不能实施时在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式才允许采用双壁透照方式要有正确的理解，不能实要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最佳的透照方式。（言，不是指最佳的透照方式。（3）一次透照长度与检）一次透照长度与检测技术级别有关。测技术级别有关。2、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。应选用单壁透照方式。（在用设备）（在用设备）3、注意：其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的、注意：其他方式透照环向对接接

22、头时，有不能实施的部位即阴影区。部位即阴影区。小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：像：T（壁厚）（壁厚）8mm； g（焊缝宽度）（焊缝宽度）Do /4椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。垂直透照方式重叠成像。4.1.5 小径管环向对接接头的透照次数小径管环向对接接头的透照

23、次数 小径管环向对接焊接接头小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像时，当采用倾斜透照椭圆成像时，当T/ Do0.12时时,相相隔隔90透照透照2次。当次。当T/ Do0.12时时,相隔相隔120或或60透照透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔隔120或或60透照透照3次。次。 由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效检测，此时应采

24、取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。范围内黑度和灵敏度满足要求。1、理解：（、理解：（1）双壁双影椭圆成像的实施原则，即）双壁双影椭圆成像的实施原则，即T（壁（壁厚）厚）8mm、 g（焊缝宽度）（焊缝宽度）Do /4（605mm）（2）椭圆成像有困难一般是指焦距不满足要求。（）椭圆成像有困难一般是指焦距不满足要求。（3）小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级别无关（别无关（4）规定小径管的透照次数的主要目的是控制）规定小径管的透照次数的主要目的是控制透照厚

25、度比（透照厚度比（5）结构：一般系指排管或盘管）结构：一般系指排管或盘管2、应用：（、应用：（1）为控制影像的开口宽度应采用偏心距法）为控制影像的开口宽度应采用偏心距法（2）扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶）扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板3、注意：当、注意：当Do 20mm、T 8mm 、g Do /4重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照4.2.1 X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量。

26、图用较高管电压时，应保证适当的曝光量。图1规规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高射线管电压。射线管电压。 对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图要求的前提下，允许采用超过图1规定的射线规定的射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过量不应超过50kV；对钛及钛合金材料，管电压；对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过增量不应超过40kV；对铝及铝合金材料，管电；对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过压增量不应超过30kV。1、理解：（

27、、理解：（1）不同材料、不同透照厚度允许采用）不同材料、不同透照厚度允许采用的最高射线管电压与检测技术级别无关（的最高射线管电压与检测技术级别无关（2）控）控制射线管电压的目的是保证底片的对比度，避制射线管电压的目的是保证底片的对比度，避免影响小缺陷的检出率。（免影响小缺陷的检出率。（3）截面厚度变化大）截面厚度变化大（以（以AB级级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较薄部位的黑度大于，而较薄部位的黑度大于4 .0）2、应用：（、应用：（1）在能穿透工件的前提下，应尽量选）在能穿透工件的前提下，应尽量选择较低的择较低的KV值（值（2）对截面厚度变化大的承

28、压设）对截面厚度变化大的承压设备，适当提高管电压、利用中心指示器使射线束备，适当提高管电压、利用中心指示器使射线束中心对准较厚部位、采用双胶片技术、补偿技术中心对准较厚部位、采用双胶片技术、补偿技术3、注意：选择能量时必须考虑穿透厚度。、注意：选择能量时必须考虑穿透厚度。42.2射线源和高能射线源和高能射线适用的透射线适用的透照厚度范围应符合表照厚度范围应符合表4的规定。的规定。 采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到敏度达到4.11.3要求的前提下，允许要求的前提下，允许射线最射线最小透照厚度取表小透照厚度取表4下限值的二分之一。下限值的二分之一

29、。 采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，要求的前提下，经合同各方同意，经合同各方同意，A 级级 ,AB级技术的级技术的Ir-192源的最小透照厚度可降至源的最小透照厚度可降至10mm， Se-75源源的最小透照厚度可降至的最小透照厚度可降至5mm。1、理解：（、理解：（1）鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可）鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出（能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出（2）其他透照方式包括：双壁双影、双壁单影、内透法其他透照方

30、式包括：双壁双影、双壁单影、内透法FR、FR（3）经合同各方同意的主要目的是）经合同各方同意的主要目的是 对对放宽放宽最小透照厚度最小透照厚度要慎重要慎重（4）其他透照方式）其他透照方式放宽最小透照厚度放宽最小透照厚度与技术级别有与技术级别有关（仅限于关（仅限于A级级AB级）级）2、应用：（、应用：（1）采用）采用Ir-192源中心透照时最小透照厚度可源中心透照时最小透照厚度可为为10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小照方式当透照厚度小

31、20mm时，应经合同各方同意。如时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能时，即使合同各方同意也不能实施。实施。（2）采用）采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小其他透照方式当透照厚度小10mm时，应经合同时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合时，即使合同各方同意也不能实施。（同各方同

32、意也不能实施。（3）有效补偿措施包括：）有效补偿措施包括：高类别的胶片、适当提高底片黑度、提高增感屏高类别的胶片、适当提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射线的屏蔽。的厚度、散射线的屏蔽。3、注意：（、注意：（1）最小透照厚度以公称厚度计算。）最小透照厚度以公称厚度计算。（2）合同各方同意：一般指在施工方案上或工艺）合同各方同意：一般指在施工方案上或工艺文件上有甲方签字认可，并存档。文件上有甲方签字认可，并存档。4.3.1 所选用的射线源至工件表面的距离所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下式的应满足下式的要求：要求： A 级射线检测技术：级射线检测技术： f 7.5db 2/3 AB级射线检

33、测技术：级射线检测技术： f 10db 2/3 B 级射线检测技术：级射线检测技术： f 15db 2/3图图2是是A级和级和B级射线检测技术确定级射线检测技术确定f的诺模图，图的诺模图，图3是是AB级射线检测技术确定级射线检测技术确定f的诺模图。的诺模图。 有效焦点尺寸有效焦点尺寸d 按按附录附录E（规范性附录）的规定计算。（规范性附录）的规定计算。4.3.2 采用源在内中心透照方式周向曝光时，采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合只要得到的底片质量符合4.11.2和和4.11.3的的要求，要求，f值可以减小，但减小值不应超过规值可以减小，但减小值不应超过规定值的定值的50

34、%。4.3.3 采用源在内单壁透照方式时，只要得采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合到的底片质量符合4.11.2和和4.11.3的要求，的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。1、理解：（、理解：（1）确定射线源至工件表面的最小距离与检）确定射线源至工件表面的最小距离与检测技术级别有关。（测技术级别有关。（2）鼓励和提倡采用内透法特别）鼓励和提倡采用内透法特别是中心内透法。是中心内透法。体现了采用单壁透照的原则。减少透体现了采用单壁透照的原则。减少透照厚度，有利与检验缺陷；减少照射角，有利裂纹检照厚度，有利与检验缺陷；减少照射角，有

35、利裂纹检出。出。2、应用：（、应用：（1）由诺模图中可直接得出射线源至工件表）由诺模图中可直接得出射线源至工件表面最小距离（面最小距离（2）工件表面至胶片的距离应根据透照）工件表面至胶片的距离应根据透照方式确定，同时应考虑焊缝余高和垫板（双壁单影、方式确定，同时应考虑焊缝余高和垫板（双壁单影、单壁单影）的厚度单壁单影）的厚度3、注意：由诺模图中给出的数据是射线源至工件表面、注意：由诺模图中给出的数据是射线源至工件表面的最小距离。的最小距离。4.4.1 射线照相，当焦距为射线照相，当焦距为700mm时，曝时，曝光量的推荐值为：光量的推荐值为：A级和级和AB级射线检测技级射线检测技术不小于术不小于

36、15mAmin；B级射线检测技术不级射线检测技术不小于小于20mAmin。当焦距改变时可按平方反。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。比定律对曝光量的推荐值进行换算。4.4.2 采用采用射线源透照时射线源透照时, 总的曝光时间应总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的不少于输送源往返所需时间的10倍。倍。1、理解：（、理解：（1）曝光量的大小与焦距有关）曝光量的大小与焦距有关（2）曝光量的选择与检测技术级别有关）曝光量的选择与检测技术级别有关（3）采用）采用射线源透照时，在某一时段焦距是在不断变射线源透照时，在某一时段焦距是在不断变化，为保证底片质量，从而确定了总的曝光时间化

37、，为保证底片质量，从而确定了总的曝光时间2、应用：以、应用：以AB级为例：当焦距级为例：当焦距700mm时，曝光量应大时，曝光量应大于或等于于或等于15mAmin、当焦距大于、当焦距大于700mm时，曝光量时，曝光量应大于应大于15mAmin、当焦距小于、当焦距小于700mm时，曝光量可时，曝光量可小于或等于小于或等于15mAmin、焦距改变时按平方反比定律、焦距改变时按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。对曝光量的推荐值进行换算。3、注意：对小口径薄壁管采用、注意：对小口径薄壁管采用射线源透照时，强度不射线源透照时，强度不宜太大宜太大4.5.1 对每台在用射线设备均应做出经常检测对每台在用

38、射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。数。4.5.2 制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。4.5.3 对使用中的曝光曲线，每年至少应校验对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。1、理解：（、理解：（1）曝

39、光曲线是针对）曝光曲线是针对X射线机射线机（2）每台）每台X射线机必须有曝光曲线且不能混用射线机必须有曝光曲线且不能混用（3）射线设备重要部件是指）射线设备重要部件是指X射线管和高压包射线管和高压包2、应用：（、应用：（1）曝光曲线横坐标上的厚度应是穿透厚度）曝光曲线横坐标上的厚度应是穿透厚度（2）当实际拍片的条件与制作曝光曲线的条件不一致）当实际拍片的条件与制作曝光曲线的条件不一致时，必须对曝光曲线作相应的修正。时，必须对曝光曲线作相应的修正。3、注意：曝光曲线的校验日期（至少每年一次）、注意：曝光曲线的校验日期（至少每年一次）4.6.1 应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当应采用金

40、属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当 措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。4.6.2 对初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的对初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的 条件、环境发生改变时条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。应进行背散射防护检查。 检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字铅字标记，一般标记，一般B铅字的高度为铅字的高度为13mm、厚度为、厚度为1.6mm,按检按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背

41、景黑度的度低于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防字影像，则说明背散射防护不够护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字字影像，则说明背散射防护符合要求。影像，则说明背散射防护符合要求。1、理解：（、理解：（1）金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等）金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等是屏蔽和控制散射线的主要器件是屏蔽和控制散射线的主要器件（2）屏蔽和控制散射线与检测技术级别无关）屏蔽和控制散射线与检测技术级别无关（3）背散射检查的前提条件（初次制定的检测工艺

42、或）背散射检查的前提条件（初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变）当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变）2、应用：对不是初次制定的检测工艺或在使用中检测、应用：对不是初次制定的检测工艺或在使用中检测工艺的条件、环境未发生变化时，不用每次都进行背工艺的条件、环境未发生变化时，不用每次都进行背散射检查散射检查3、注意：在薄工件或不用增感屏时，有时会出现黑度、注意：在薄工件或不用增感屏时，有时会出现黑度高于周围背景黑度的高于周围背景黑度的“B”字影像字影像4.7.1 像质计一般应放置在工件源侧表面焊像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的接接头的一端（在被检

43、区长度的1/4左右位左右位置）置）,金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。a) 单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。置在源侧，也可放置在胶片侧。b) 单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。置在胶片侧。c

44、) 单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质指置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质指数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。d) 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字放置铅字“F”作为标记，作为标记， F标记的影像应与像

45、质计标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。4.7.3 原则上每张底片上都应有像质计的影像。当原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求量允许减少但应符合以下要求: a) 环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置至少在圆周上等间隔地放置3个像质计个像质计;b) 球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，至少在北

46、极区、赤道区、南极区附近的焊缝时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置极的极板拼缝上各放置1个像质计个像质计; c) 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。计。4.7.4 小径管可选用通用线型像质计或附录小径管可选用通用线型像质计或附录F（规（规范性附录）规定的专用（等径金属丝）像质计，范性附录）规定的专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置。金属丝应横跨焊

47、缝放置。4.7.5 如底片黑度均匀部位（一般是邻近焊缝的如底片黑度均匀部位（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。专用像质计至少应能识别两根金属丝。识别的。专用像质计至少应能识别两根金属丝。注意：（注意：（1）双壁双影最大透照厚度上限；）双壁双影最大透照厚度上限；A级为级为54mm、AB为为54mm、B级为级为56mm（表（表6）（2）小径管使用专用像质计时要看到）小径管使用专用像质计时要看到2根根4.8.4 标记一般应放置在距焊缝边缘至少标记一般应放置在距焊缝

48、边缘至少5mm以外的部位，搭接标记放置的部位还以外的部位，搭接标记放置的部位还应符合附录应符合附录G（规范性附录）的规定。所有（规范性附录）的规定。所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。定范围内的影像。1、理解：（、理解：（1）未对返修标记）未对返修标记,扩大检测比例的扩大检测扩大检测比例的扩大检测标记作出统一规定。（标记作出统一规定。（2）搭接标记可以用）搭接标记可以用“”表示表示也可以用其他符号表示（如也可以用其他符号表示（如1 1、2 2、或、或A A、B B、C C）（）（3 3）（3 3）根据射线源、工件、胶片的相互位置按附录）根

49、据射线源、工件、胶片的相互位置按附录G G规规定放置搭接标记。定放置搭接标记。2、应用：（、应用：（1）应在工艺文件中对返修标记、扩大检测）应在工艺文件中对返修标记、扩大检测标记以及搭接标记的符号作出明确规定。（标记以及搭接标记的符号作出明确规定。（2）小径管）小径管双壁双影或垂直透照不用搭接标记。双壁双影或垂直透照不用搭接标记。（3）除中心）除中心100透照或连续多张一次曝光外，否则每透照或连续多张一次曝光外，否则每张底片上均应有中心标记。（张底片上均应有中心标记。（20mm以下小径管除外）以下小径管除外）3、注意：不是、注意：不是100透照的焊接接头也要放置搭接标记。透照的焊接接头也要放置

50、搭接标记。（有效区段标记）（有效区段标记） 4.9.1 可采用自动冲洗或手工冲洗方式处理可采用自动冲洗或手工冲洗方式处理,推荐采用自动冲洗方式处理。推荐采用自动冲洗方式处理。 4.9.2 胶片处理一般应按胶片使用说明书的胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。规定进行。1、理解：（、理解：（1）手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘）手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘洗（洗（2）推荐采用自动冲洗方式处理的目的是尽量）推荐采用自动冲洗方式处理的目的是尽量防止采用增加或减少显影时间来控制底片的黑度。防止采用增加或减少显影时间来控制底片的黑度。2、应用：在工艺文件中要明确胶片处理的方式和处、应用：在工艺文件中

51、要明确胶片处理的方式和处理的条件。理的条件。3、注意：采用自动洗片机时要经常清洗防止产生划、注意：采用自动洗片机时要经常清洗防止产生划伤。伤。1、理解：增加、理解：增加评片暗适应过程规定的目的是光强的评片暗适应过程规定的目的是光强的突然变化会使人的视觉灵敏度下降从而造成评片突然变化会使人的视觉灵敏度下降从而造成评片时的漏检时的漏检2、应用：（、应用：（1）评片室不能全黑，一般要等于或略）评片室不能全黑，一般要等于或略低于透过底片光的亮度。（低于透过底片光的亮度。（2）观片灯的亮度必须）观片灯的亮度必须可以调节（可以调节（3）观片灯应有足够的照明区一般是）观片灯应有足够的照明区一般是30080m

52、m（4）要用照度计测定透过底片后，）要用照度计测定透过底片后，可见光的强度是否达到标准的要求。可见光的强度是否达到标准的要求。3、注意：对低合金高强钢要特别注意热影响区的观、注意：对低合金高强钢要特别注意热影响区的观察。察。（2）小径管只有在黑度大于）小径管只有在黑度大于1.5以上的区域是有效以上的区域是有效评定范围（评定范围（X射线、射线、AB级）级）（3）当底片评定范围内的黑度大于）当底片评定范围内的黑度大于4时需有计量检时需有计量检定报告证明底片评定范围内的亮度能够满定报告证明底片评定范围内的亮度能够满4.10.3的要求时，才允许进行评定。的要求时，才允许进行评定。 单壁透照、像质计置于

53、源侧时应符合表单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表合表6的规定；双壁单影或双壁双影透照、像的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表质计置于胶片侧时应符合表7的规定。的规定。4.11.4底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。1、理解：底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别、理解：底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别有关，而且还与透照方式、公称厚度、透照厚度有关，而且还与透照方式、公称厚度、透照

54、厚度有关。有关。2、应用：（、应用：（1）除单壁透照像质计放在胶片侧外，）除单壁透照像质计放在胶片侧外，其他形式的底片像质计灵敏度均可从表中查出（其他形式的底片像质计灵敏度均可从表中查出（2）底片评定范围以外的伪缺陷不属于底片质量不合底片评定范围以外的伪缺陷不属于底片质量不合格的依据。格的依据。3、注意：（、注意：（1）当对接接头两边的公称厚度不等时）当对接接头两边的公称厚度不等时以较薄为准。（以较薄为准。（2）底片的像质计灵敏度不能按穿）底片的像质计灵敏度不能按穿透厚度计算。透厚度计算。1、理解：（、理解：（1）必须是对接接头（）必须是对接接头（2）适用范围和）适用范围和厚度（碳素钢、低合金

55、钢、奥氏体不锈钢、镍及厚度（碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜和铜合金。厚度镍基合金、铜和铜合金。厚度2 mm400mm、 2 mm80mm。2、应用：凡不在本标准规定的范围之内，均不能按、应用：凡不在本标准规定的范围之内，均不能按本标准进行质量分级。本标准进行质量分级。3、注意：厚度是指母材的公称厚度。、注意：厚度是指母材的公称厚度。5.1.2 缺陷类型缺陷类型对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。类。5.1.3 质量分级依据质量分级依据根据对接接头中存在的缺陷性质

56、、数量和密根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为集程度，其质量等级可划分为、级。级。5.1.4.1 级对接焊接接头内不允许存在裂纹、级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。未熔合、未焊透和条形缺陷。5.1.4.2 级和级和级对接焊接接头内不允许存在级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。裂纹、未熔合和未焊透。5.1.4.3 对接焊接接头中缺陷超过对接焊接接头中缺陷超过级者为级者为级。级。5.1.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时，以当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。质量最差的级别作为对接焊接接头的

57、质量级别。5.1.5.1 圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见表行的矩形，其尺寸见表8。圆形缺陷评定区应。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。选在缺陷最严重的区域。5.1.5.2 在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区内的缺陷按表将评定区内的缺陷按表9的规定换算为点数，的规定换算为点数，按表按表10的规定评定对接焊接接头的质量级别。的规定评定对接焊接接头的质量级别

58、。 1、理解：（、理解：（1）特种设备对接接头内的缺陷分为）特种设备对接接头内的缺陷分为5种即种即裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷。（裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷。（2）以对接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度进行以对接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度进行质量分级与技术级别无关。质量分级与技术级别无关。2、应用：（、应用：（1）圆形缺陷评定区的尺寸要根据公称厚度）圆形缺陷评定区的尺寸要根据公称厚度确定。（确定。（2）在确定圆形缺陷严重部位的数量时，评）在确定圆形缺陷严重部位的数量时，评定区应与焊缝平行。（定区应与焊缝平行。（3）圆形缺陷的长径大于）圆形缺陷的长径大于T

59、/2时时应注明其尺寸应注明其尺寸3、注意：必须与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷才、注意：必须与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷才能划入评定区内能划入评定区内5.1.5.3 由于材质或结构等原因由于材质或结构等原因,进行返修可能会产进行返修可能会产生不利后果的对接焊接接头，各级别的圆形缺陷生不利后果的对接焊接接头，各级别的圆形缺陷点数可放宽点数可放宽1点点2点。点。5.1.5.4 对致密性要求高的对接焊接接头，制造方对致密性要求高的对接焊接接头，制造方底片评定人员应考虑将圆形缺陷的黑度作为评级底片评定人员应考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据。通常将黑度大的圆形缺陷定义为深孔缺的依据。通常将黑度大的

60、圆形缺陷定义为深孔缺陷陷,当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量级当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量级别应评为别应评为级。级。5.1.5.5 当缺陷的尺寸小于表当缺陷的尺寸小于表11的规定时，分的规定时，分级评定时不计该缺陷的点数。质量等级为级评定时不计该缺陷的点数。质量等级为级的对接焊接接头和母材公称厚度级的对接焊接接头和母材公称厚度T 5mm的的级对接焊接接头，不计点数的缺级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。过时对接焊接接头质量等级应降低一级。 1、理解：（、理解：（1）圆形缺陷放宽的原则（