射线三级理论考试工艺题的解答技巧

1、三级理论考试工艺题的解答技巧 级资格人员开卷笔试（B2 ）中的工艺题，是评估考生的无损检测 专业知识及其在特种设备中的应用能力的创新方式。在进行工艺题设计时，选择具体的特种设备部件或焊接接头，设定相关条件 （如设备与器材、个别工艺参数） ，答题就变成完成一项具体工艺方案的制订。通过工艺题考试可以考察答题者对JB/T 4730.2-2005 标准条文的理解和把标准条文具体应用于检测方案，以及优选检测工艺参数的能力，非常接近实际。不少报考者把级 无损检测 人员资格考核笔试中的工艺题、综合题视为畏途。 近十年来， 笔者有机会参加了多次全国特种设备无损检测人员资格考核工作。从考核中体会到， 结合专业理

2、论知识正确理解标准制定的思路，对于成功的应试是非常有帮助的。下面就RT级资格考试中工艺题的出题思路与解答技巧谈一些体会，与大家共同探讨。 至于综合题将另文阐述。工艺题中主要涉及的工艺参数有：工件的检测比例与验收等级；透照方式（射线源-工件 -胶片-定位标志的布置） ；几何参数（包括：透照厚度、透照焦距、透照次数、一次透照长度、搭接长度等）；曝光参数（包括：射线源种类或探伤机型号、胶片型号与增感屏规格、射线能量（管电压 kV ）、曝光量与曝光时间） ；底片质量指标（包括：像质计型号与像质计灵敏度值、底片黑度）；胶片暗室处理参数 （包括： 显影 /定影液配方与温度、 显影 / 定影时间等）；散射线

3、的屏蔽处理、安全防护措施等。这些参数和措施并非割裂或各自独立的，而是互相影响、互相关联的有机的整体。在进行工艺题解答时， 要仔细审题， 充分理解题目的要求，充分利用题目所给出的条件与参数。进行 射线检测 工艺设计时， 应以控制影响射线照相灵敏度的因素（即影响对比度、 不清晰度、颗粒度的因素）为主线，针对受检工件的结构特点（包括规格、材质、形状等）与客观条件（题目给出的检测设备与器材、环境条件、对检测的特殊要求等），分析可能产生的危害性缺陷，综合考虑、选择适当的透照方式（工件、设备、器材对缺陷检出率的影响）、几何参数、曝光参数及散射线屏蔽、安全防护等技术措施。下面，举例说明射线检测工艺题、综合题

4、的设计与解答思路：一、检测比例与验收等级：根据特种设备的种类， 分别按压力容器安全技术监察规程、蒸汽锅炉安全技术监察规程 、压力管道安全技术监察规程等安全技术规范及GB 150钢制压力容器 、 GB/T 20801压力管道规范工业管道、SH/T 3501石油化工有毒、 可燃介质管道工程施工及验收规范等标准的规定，确定检测比例（检测长度）、验收等级。二、射线检测工艺参数：JB/T 4730.2-2005 标准对射线源（能量） 、胶片、增感屏的使用，透照布置、焦距、曝光量、像质计与标记的摆放要求、散射线屏蔽、 底片质量等要求均进行了相应的规定，这些规定综合考虑了检测灵敏度（对比度、不清晰度、颗粒度

5、）的影响因素。在制造或安装过程中对承压设备进行射线检测，一般应按JB/T 4730.2-2005标准 AB 级射线检测技术的要求考虑相应的检测工艺参数。1、透照方式选择：在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，以获得较高的主因对比度。还应考虑危险性缺陷可能出现的部位与透照几何不清晰度的关系；也应考虑透照便于操作及检测工作效率。对小径管环缝，采用双壁双影透照方式，并应根据其规格、焊缝宽度等条件，按JB/T4730.2-2005第 4.1.4 条规定选择椭圆成像（T 8mm且g Do/4 ）或者垂直透照重叠成像（ T8mm 或者 g Do/4 ，或者法兰口等椭圆成像有困难的部位）。 若为在役的压力管

6、道、锅炉管子等工件因检测时不可拆卸， 不能实现单壁透照， 可采用环向焊接接头源在外双壁单影透照方式。 对制造过程中的压力容器， 因透照小车或平台配置有滚动胎具便于容器在卧位时的转动，或配置有移动式 X 射线机，一般可以采用源在外单壁透照的方式，操作方便、工作效率高， 若配置有周向曝光 X 射线机或适当的 射线源， 对环缝可采用中心曝光的方式。对球形容器可将射源置于球形容器中心进行全景曝光。对在用压力容器检验中的射线检测，则应从提高对危害性缺陷的检出效果来考虑透照方式的选择。2、透照厚度：根据透照方式确定相应的透照厚度。3、探伤机型号选择： 应综合考虑工件的结构尺寸、 透照方式、 透照厚度， 按

7、 JB/T 4730.2-2005 第 4.2 条规定，选用适当的探伤机或射线源。4、 胶片与增感屏选择：按JB/T4730.2-2005第 3.2 条和表 1 的规定，对于X 射线透照，可选用天津型胶片和前、后屏厚度均为 0.03mm 的铅箔增感屏。若采用 射线透照，且 工件材质具有裂纹倾向，按 JB/T 4730.1-2005第条和 JB/T 4730.2-2005第 3.5 条的规定，选用 T2 类胶片（ Agfa-D4 型胶片）和前、后屏厚度均为 0.1mm 的铅箔增感屏。 （常见胶片类别的划分： T1 类：Koda R、SR；Agfa-D2 、D3 ；Fuji lX-25 。 T2

8、类：Koda M 、T；Agfa-C4、 D4 、 D5； Fuji 50、 80；天津 V；上海 GX-A5 。 T3 类： Koda A 、 B； Agfa-C7、 D7 、 D8 ；Fuji 100；天津；上海 GX-A7 。）5、 像质计型号与像质计灵敏度值确定：按透照方式、 像质计放置位置， 由 JB/T 4730.2-2005表 5 7，查出应识别的像质计丝号，选用相应的型号，如丝号为10 16 的应选用 Fe-型像质计或专用像质计。像质计的材料应按照JB/T 4730.2-2005 表 2 选用，对原子序数大的工件，当无法得到相应材料制作的像质计时，可用原子序数小的材料制作的像质

9、计代替使用，按原子序数排列： Cu Ni Fe Ti Al) 。6、透照焦距：首先应满足标准对最短焦距（Fmin ）的限制（按公式 fmin 10d · b2/3计算或由 JB/T 4730.2-2005图 3 查得射线源焦点至工件表面距离fmin ，Fmin=fmin+b ，单壁透照或双壁单影透照时， b=T+ 余高；双壁双影透照时，b=Do+ 余高）。还应考虑匀强透照场范围的大小（单向 X 射线机）、一次透照长度、曝光时间等因素（工作效率）。对筒体纵缝、环缝进行单壁外透法透照、小径管环缝双壁双影透照时，焦距一般可选用700mm；环缝偏心内透的焦距应尽量接近环缝的半径，f 可比 f

10、min 减小 20%；环缝中心透照时， f 可比 fmin减小 50%；当采用双壁单影法透照管子环缝时，为获得最大的一次透照长度，应将射线源焦点尽可能接近管外壁。 当曝光曲线中的焦距值符合要求时，可直接应用， 以简化曝光量的换算。或按题目给定值选用。7、透照次数和一次透照长度：按照射线检测技术等级、透照方式、工件直径（Do ）、 厚度（T ）、透照焦距（ F）来确定。对小径管按JB/T 4730.2-2005 第 4.1.5 条规定；对管道环焊缝，由 JB/T 4730.2-2005 曲线图（ D3、 D4 ）查得相应的透照次数（N ）（对 Do 400mm，查曲线图 D3 、D4 ）；对压力

11、容器等大直径工件的环焊缝，按K=1.1 及与焦距 F（ F=f+b ）、一次透照长度 L3 的相互关系计算确定相应的透照次数（ N ）。则环向对接焊接接头一次透照长度为= DO/N。对于容器筒体（管道）纵缝，按K=1.03及与 F、 L3 的相互关系计算确定 N 与L3。8、 射线源种类或射线能量（管电压kV）选择：应按JB/T 4730.2-2005 图 1、表 4、第 4.4.2条的规定确定 X 射线能量的上限（或射线源、高能射线适用的厚度） 。从 X 射线曝光曲线中选用 kV 值时，应 适中并兼顾曝光量的要求。中心曝光时，在保证像质计灵敏度要求的前提下，允许 射线源最小透照厚度为表4 下

12、限值的 1/2 ；其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度要求的前提下、经合同各方同意，Ir-192 源的最小透照厚度可为10mm，Se-75源的最小透照厚度可为5mm，未经合同各方同意，不能降低最小透照厚度值。9、曝光量（曝光时间）确定： F=700mm 时，曝光量不小于15mA· min 。由所选用射线机的曝光曲线图查得相应透照厚度、基准焦距、射线能量（kV）所对应的基准曝光量（曝光时间），并根据平方反比定律，利用曝光因子（或）按实际使用焦距换算成相应的曝光时间。10、定位（搭接）标记的摆放：应按照JB/T 4730.2-2005 附录 G 的规定。11、 散射线的屏蔽：当暗盒背后近距离内如有金属或非金属材料物体,例如钢平台、木头桌面、水泥地面时，应用背防护铅板加以屏蔽；可利用铅罩和光阑减小照射场范围 ,从而在一定程度上减少散射线；对厚度差较大的工件透照时,可采用厚度补偿措施减少散射线；对厚度差较大的工件透照时 ,可在射线窗口处加黄铜、 铅或钢制 作的滤板， 吸收 X 射线束中波长较长的软射线，使透过射线波长均匀化，提高有效能量,减少边蚀散射；当被透照的工件小于胶片时，应对露出工件外的胶片用屏蔽物进行遮蔽，减少边蚀散射；对重要的焊缝，可修整、打磨焊缝余高，缩小工件厚度差，减小散射比，获得更佳的照