RT考试闭卷试题

1、RT考试闭卷试题一、判断题1当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。X2. X射线的强度不仅取决于 X射线机的管电流而且还取决于X射线机的管电压。O3光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。O4在X射线工业探伤中，使胶片感光的主要连续谱，标识谱X射线不起什么作用。O5单一波长电磁波组成的射线称为“单色射线，又称为“单能辐射。O6. 射线照相法适宜各种熔化焊接方法的对接接头和钢板、钢管的检测。X7. X光管的有效焦点总是小于实际焦点。O8用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶 片特性曲线。X9周向X射线机产生的X射线束向270°方向辐射。X10. 所

2、谓管电流就是流过 X射线管灯丝的电流。O11胶片的特性指标只与胶片有关，与增感屏和冲洗条件 无关。X12. 像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。O13. 用增大射源到胶片距离的方法可降低射线照相的固有 不清晰度。X14. 散射线只影响主因比照度，不影像胶片比照度。O15. 透照有余高的焊缝时，应保证焊缝部位和母材部位得到相同像质计灵敏度的黑度指范围。O16. 颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均与的视觉印象。O17. 欲提高球罐内壁外表的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好O18. 无论采用哪一种透照方式，一次透照长度都随着焦距的增大而增大。X19.

3、就小缺陷检出灵敏度来比拟丫射线与x射线，两者差距不大。X20. 由于“互易定律失效，采用荧光增感时，根据曝光因子公式选择透照参数可能会产生较大误差。O21. 采用源在外单壁透照方式， 如K值不变，那么焦距越大， 一次透照长度l3就越大。O22. 对厚度差较大的工件，散射比随射线能量的增大而增大。O23. 背散射线的存在，会影响底片的比照度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在X。资料个人收集整理，勿做商业用途24. 对曝光缺乏的底片，可采用增加显影时间或提高显影 温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。仅供参考学习X资料个人收集整理，勿做商业用途25. 水洗是胶

4、片手工处理过程中重要步骤，水洗不充分的底片长期保存后会发生变色现象。O26. 当x或丫射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件 本身仍残留极低的辐射。X27. 小剂量或低剂量率辐射不会发生随即性损害效应。O二、选择题1. 原子的主要组成局部是DA. 质子、电子、光子B.质子、重子、电子C.光子、电子、X射线D.质子、中子、电子2. 原子核外电子能级量高的是AA. 外壳层 B中间壳层 C.内壳层D.以上均不是3. 光子能量的数学表达式是C2A. E=h/vB.E=入 /heC.E=hvD.E=hv4. 康普顿散射的特征是CA. 产生光电子B.产生俄蝎电子C.产生反冲电子D.产生正负电子对5. X射

5、线的穿透能力取决于BA. 毫安 B.千伏值C.曝光时间D.焦点尺寸6. 以下关于射线照相特点的表达，哪些是错误的BA. 判定缺陷性质、数量、尺寸比拟准确B. 检测灵敏度受材料晶粒度的影响较大C. 本钱较高，检测速度不快D. 射线对人体有伤害7. 探伤所用的放射性同位素都是 BA. 天然同位素B.人造同位素C.稳定同位素D.以上三者都是8 胶片特性曲线上，过两个特定黑度点的直线的直线率 叫做CA. 胶片宽谷度B.梯度C.平均梯度D.感光度9. X胶片乳剂中与射线作用产生光化学作用的成分是AA. AgBr B.AgO 2C.AgSD.AgBr 210. 铅箔增感屏的主要优点是AA. 可加速胶片感光

6、同时吸收局部散射线B. 可提高照相清晰度C. 可减小照相颗粒度D. 以上都是11. 金属丝型像质计具有的标志有：DA. 像质计标准编号B.线材代号C.最粗线与最细线的编号D.以上都是12. 平板焊缝照相时，下面四种关于像质计摆放的表达，唯一正确的摆放位置是DA. 近胶片一侧的工件外表，并应靠近胶片端头；B. 近射源一侧工件外表，金属丝垂直焊缝，并位于工件中部；C. 近胶片一侧的工件外表，并应处在有效照相范围一端的 焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外；个人收集整理D. 近射源一侧有效透照范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外。13. 射线透照的几何不清晰度CA. 与工件厚度成正比，与焦点尺

7、寸成反比B. 与工件厚度成反比，与焦点尺寸成反比C. 与焦点尺寸成正比，与焦距成反比D. 与焦点尺寸成反比，与焦距成正比14. 使用铜增感屏比铅箔增感屏能：AA.得到更小的固有不清晰度B.增大固有不清晰度C.提高照相比照度D.降低照相比照度15. 射线照相底片上所能发现的最小缺陷尺寸与透照厚度 的百分比成为：BA.绝对灵敏度B.相对灵敏度 C.比照度D.清晰度16射线照相中，提高底片反差有利于小缺陷的检出，但 同时产生：DA.厚度宽容度减小 B.曝光时间延长C.底片上有效评定区缩小 D.以上都对17. 射线透照工艺条件的选择包括：DA.射线源和能量的选择B.焦距的选择C.曝光量的选择D.以上都

8、是18. X射线能量的选择应考虑：DA. 在保证穿透力的前提下，选择较低能量B. 适宜的透照厚度宽容度C. 适合的曝光量D. 以上都是19. 双壁双影直透法一般多用于：CA. ©w 100mm的管子环焊缝的透照B. © > 100mm的管子环焊缝的透照C. T 壁厚8mm或g 焊缝宽度Do/4的管子环缝 的透照D. 以上都可以20. 曝光因子表达式表达了： BA. 射线能量、胶片类型和暗室处理之间的关系；B. 射线强度、曝光时间和焦距之间的关系；C. 射线源种类、增感屏种类和曝光时间的关系；D. 射线强度、增感屏种类和曝光时间的关系。21. 对于厚度差较大的工件进行透

9、照时，为了得到黑度和层次比拟均匀的底片，一般做法是BA.提高管电流B.提高管电压C.增加曝光时间D.缩短焦距22. 以下有关曝光曲线使用的表达，正确的选项是：CA. 只要X射线机的规格相同，其曝光曲线都是通用的B. 曝光曲线一定后，实际使用中可对暗室冲洗温度作修改C. 曝光曲线一般使用于透照厚度均匀的平板工作D. 以上都是23. 编制焊缝透照专用工艺卡必须明确的是：DA.工件情况B.透照条件参数仅供参考学习C.考前须知和辅助措施D.以上都是24. 铅箔增感屏上的深度划伤会在射线底片上产生黑线， 这是因为：BA. 铅箔划伤部位厚度减薄，对射线吸收减少，从而使该处射线时增多。B. 划伤使铅箔外表增

10、大，因而发射电子的面积增大，增感作用加强。C. 深度划伤与胶片之间的间隙增大，散射线增加。D. 以上都对。25. 射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经处理的底片上出现B的亮图像，那么认为D资料个人收集整理，勿做商业用途A. 这一张底片比照度高，质量好B. 这一张底片清晰度高，灵敏度高C. 这一张底片受正向散射影响严重，像质不符合要求D. 这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求26. 胶片处理的标准条件和操作要点是：DA. 显影温度20± 2oC，时间46min，预先水浸，显影过 程中适当搅动B. 定影温度1624oC，时间515min，定影过程

11、中充分 搅动C. 枯燥温度w 40oC，去除外表水滴后枯燥D. 以上都是27. 一旦发生放射性事故，首先必须采取的正确步骤是 DA. 报告卫生防护部门B. 测定现场辐射强度C. 制定事故处理方案D. 通知所有人员离开现场28.lr192 丫射线通过水泥墙后，照射率衰减到200Mr/h，为使照射率衰减到 10 mR/h以下，至少还应覆盖多厚的铅 板？设半价层厚度为 0.12cm D资料个人收集整理，勿做 商业用途A.10 . 4mm三、简答题1、X射线和丫射线具有哪些性质？答：X射线和丫射线具有以下性质：1在真空中以光速直线传播；2本身不带电，不受电场和磁场的影响；3具有某些光学特性；反射漫反

12、射、折射折射系数近似 1,折射的方向改变不明显、 干预和衍射。4不可见、能够穿透可见光不能穿透的物 质；5在穿透物质过程中，会与物质发生复杂的物理和化学作用，例如：电离作用、荧光作用、热作用以及光学 作用；6具有辐射生物效应，能够杀伤生物细胞，破坏 生物组织。资料个人收集整理，勿做商业用途2、 什么叫射线的线质？连续X射线的线质怎样表示？答：线质是对射线参透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较硬，穿透力较弱的射线称其线质较软。对单色射线，线质可用光子能量或波长定量表示；对 连续X射线，因其能量和波长是连续分布的，一般可用 半价层、吸收系数或有效能量来定量表示。资料个人收集整理，勿做商业用

13、途3、简述影响X射线管使用寿命的因素？答：影响X射线管使用寿命的因素包括：灯丝老化、发 射电子能力下降；阳极靶烧坏， X射线转换效率降低；真 空度下降，使X射线管不能正常工作。 资料个人收集整理，勿 做商业用途为延长X射线管使用寿命，应做到：1在送高压前提前通电预热灯丝，使其活化；2 使用负荷一般控制在最高管电压的90%以内；3使用过程中要保证阳极不过热，冷却系统应正 常有效，要按规定保证工作间歇时间；4严格按照说明书要求训机；5X射线机应轻搬轻放，防止受震。4、简述X射线机维护、保养的考前须知。答：1X射线机应摆放在通风枯燥处，切忌潮湿、高温、腐蚀等环境，以免降低绝缘性能；2运输时要采取防震

14、措施， 防止因剧烈震动而造成 接头松动、高压包移位、X射线管破损等；3保持清洁，防止尘土、污物造成短路和接触不良；4 保持电缆头接触良好，如因使用时间过长， 磨损 松动，接触不良，那么应及时更换；5 经常检查机头是否漏油窗口处有气泡、漏气压力表示值低于 0.34Mpa ，应注意及时予以补充，确保 绝缘性能满足要求资料个人收集整理，勿做商业用途5、什么是射线照相灵敏度 ？绝对灵敏度和相对灵敏度的概 念又是什么？答:射线照相灵敏度是评价射线照相影像质量的最重要的 指标，从定量方面来说，是指在射线底片上可以观察到的 最小缺陷尺寸或最小细节尺寸；从定性方面来说，是指发现和识别细小影像的难易程度。资料个

15、人收集整理，勿做商业用途绝对灵敏度是指在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸。相对灵敏度是指该最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比。6、什么叫最小可见比照度？影响最小可见比照度的因素有哪些？答：在射线底片上能够识别某一尺寸缺陷的最小黑度差称 为最小可见比照度， 又称识别界限比照度。 当射线底片对 比度 D大于识别界限比照度 Dmin时，缺陷就能识别， 反之那么不能识别。最小可见比照度厶Dmin与影像大小的黑 度分布、底片颗粒度、黑度观片条件以及认为差异等因素 有关。资料个人收集整理，勿做商业用途7、从提高探伤质量的角度比拟各种透照方式的优劣？仅供参考学习答：从提高像质计灵敏度，

16、减少透照厚度比K和横向裂纹检出角0以及保证一次透照长度 L3等方面评价，几种 透照方式比拟如下： 单壁透照优于双壁透照； 双壁单影优 于双壁双影；焊缝单壁透照时，源在内中心法优于源在内 偏心法，源在内偏心法优于源在外。资料个人收集整理，勿做商业用途8、常用控制散射线的方法有哪些？答：1使用铅箔增感屏，吸收局部前散射线和背散射线；2暗盒后衬铅板，进一步减少背散射；3使用铅罩和铅光阑， 限制照射范围，减少散射源；4采用铅遮板或钡泥屏蔽试件边缘，减少“边蚀效应；5用流质吸收剂或金属粉末对形状不规那么及厚度差 较大的试件进行厚度补偿，以减少较薄局部散射线对厚度 局部的影响；资料个人收集整理，勿做商业用

17、途6 采用滤板除去射线中线质较软的局部，减少“边蚀效应；7减少或除去焊缝余高，降低焊缝部位散射比。9、影响显影的因素有哪些？答：影响显影的因素很多，除配方外，显影时间、温度、 搅动情况和显影液老化的程度对显影都有影响。1显影时间：对于手工处理，大多规定为4min6min。显影时间进一步延长，虽然黑度和反差会增加，但 影像颗粒和灰雾也将增大。而显影时间过短，将导致黑度 和反差缺乏。 资料个人收集整理，勿做商业用途2显影温度：手工处理的显影配方推荐的显影温度在18C20C。温度高时显影速度快，影像反差大，同 时灰雾度也增大，颗粒变粗，此时药膜松软，容易划伤或 脱落；温度低时显影速度慢，影像反差降低

18、。资料个人收集整理，勿做商业用途3 搅动情况：在显影过程中进行搅动， 可以使乳剂 膜外表不断与新鲜药液接触并发生作用， 这样不仅使显影 速度加快，而且保证了显影作用均匀； 此外也提高底片反 差。如果胶片在显影液中静止不动， 会使反响产生溴化物 无法扩散，造成显影不均匀的条纹。 资料个人收集整理，勿做 商业用途4显影液老化程度：显影液的活性取决于显影剂的种类和浓度以及显影液的 PH值。显影液在使用过程中， 显影剂浓度逐渐减少，显影剂氧化物逐渐增加，PH值逐渐降低，溶液中卤化物离子逐渐增加， 讲导致显影作用减 弱，活性降低，显影速度变慢，底片反差减小，灰雾增大。 资料个人收集整理，勿做商业用途10

19、、表达射线防护的三大方法的原理。答：射线防护的三大方法是时间防护、距离防护和屏蔽防护。其原理如下：时间防护的原理是：在辐射场内的人员所受辐射的累计剂量与时间成正比， 因此，在辐射率不变情况下， 缩短Ug13 (3 2)600 -(3 2)=0.0252(mm)辐射时间便可减少所接受的剂量，从而到达防护目的。资料个人收集整理，勿做商业用途距离防护的原理是： 在辐射强度一定的情况下，剂量率或照射量与离源的距离的平方成反比，增大距离便可减少剂量率或罩身量，从而到达防护目的。资料个人收集整理，勿做商业用途屏蔽防护的原理是： 射线穿透物质时强度会减弱， 在 人与射源之间设置足够的屏蔽物， 便可降低辐照水

20、平， 达 到防护目的。 资料个人收集整理，勿做商业用途四、计算题1、Co60的衰变常数为0.131/年，求它的半衰期。解：由题可知： 卩=0.131/年根据公式：T2=0.639/ 卩=0.639/0.131 年=5.3 年答：Co60的半衰期为5.3年。2、 某窄束单能射线穿过20mm的钢后，强度减弱到 原来的20%，求该射线在钢中的线衰减系数。解：由式1=1T 1/10=0.20，T=2cm，那么有八2 =0.2卩=-ln0.2/2=0.80 (cm-1)答：该射线在钢中的线衰减系数为0.80cm-13、胶片平均梯度 G为3.5，照相时曝光10毫安分， 底片黑度为1.6,现欲使底片黑度到达

21、 2.5，问曝光量应增 加到多少？资料个人收集整理，勿做商业用途解：答：曝光量增加到18毫安分。4、对某平板工件进行透照拍片时，测得有缺陷部位的照射率比无缺陷部位的照射率高30%，假设在底片黑度范围内胶片的丫值为3,求有缺陷部位与无缺陷部位的黑度 差？资料个人收集整理，勿做商业用途解：答：有缺陷部位与无缺陷部位的黑度差D=0.34。5、 采用双壁双影法透照$ 76 X 3的管子对接焊接接头，X射线机焦点尺寸为 3mm，透照焦距为600mm，求 胶片侧焊缝和射源焊缝的照相几何不清晰度Ug1和Ug2。资料个人收集整理，勿做商业用途解：管子外径 D=76mm，焦点df=3mm，壁厚t=3mm, 焦距

22、 F=600mm。又：焊缝余高 t取2mm，根部余高取 0mm那么胶片侧焊缝的照相几何不清晰度Ug1：_df L2 _df (t：t)L1 F -(t *t)射源侧焊缝的照相几何不清晰度U g2：门df L2 df (D0+2A)3(76+22)U g20.4615(mm)L1F (D。+2 t) 600 ( 76 +2 汉2)答：胶片侧焊缝的照相几何不清晰度Ug1为0.025mm，射源侧焊缝的照相几何不清晰度Ug2为0.46mm。6、 透照板厚为40mm的双面焊对接接头，焦距600mm，X射线机焦点尺寸 2X 2mm，照相几何不清晰度Ug为多少？如透照管电压为300KV，又固有不清晰度 U1

23、与管电压千夫值 KV的关系式为U1 =，试计算固有不清晰度 Ui值，并计算出总的不清晰度U值为多少？资料个人收集整理，勿做商业用途解：df L2(40+4)(1) U g20.158(mm)F -L2600 _(40+4)0 790 79(2) U1 =0.0013KV .=0.0013 300 .=0.0013 90.50.118(mm)U = u2 U2=M0.1582 0.1182 =0.20mm答：Ug =0.158mm， Ui=0.118mm， U=0.20mm。7、透照无加强高的焊接接头时，气孔局部的透射线比无 气孔局部的透射线总强度(包括了散射线强度)增大了50%，假设底片黑度范

24、围内的胶片 G值为3.5，求气孔和无 气孔部位的射线照相比照度。 资料个人收集整理，勿做商业用途 解：答：有气孔部位与无气孔部位的射线照相比照度为0.616。8、 某一 X射线机透照某一试件，原透照管电压180KV，管电流为5mA，曝光时间为3min，焦距为600mm，现透 照时管电压不变，而将焦距变为1000mm，如欲使保持黑度不变，问如何选择电流和时间？资料个人收集整理，勿做商业用途解： h=5mA,t1=4min,F 1=600mm,F2=1000mm答：第二次透照的曝光量为41.7mAmin ;可选择管电流5mA,曝光时间8.3min。9、用某Se-75丫射线源透照规格 $ 54 X 5的管环焊缝接头，焦距为600mm时曝光时间为 3min，得到的底片黑 度恰好满足要求；90天后仍用该丫射线源透照相同规格 的管焊缝，问焦距为750mm时的曝光时间为多少？资料个人收集整理，勿做商业用途解： t1=3min,F1=600mm,F2=750mm。Se-75 丫 射线源 的半衰期取120天，贝U 90天以后，源放射强度之比为：资料个人收集整理，勿做商业用途答：750mm时的曝光时间为 7.9min。10、 用双壁单影法透照外径4