第三章_溅射薄膜制备技术

1、本章重点本章重点溅射的定义及原理溅射的定义及原理溅射的特性及机理溅射的特性及机理溅射与蒸发的比较溅射与蒸发的比较1. 溅射技术性问题溅射技术性问题第一节、基本概念第一节、基本概念1、溅射镀膜的定义：溅射镀膜的定义：高能离子在电场作高能离子在电场作用下高速轰击阴极用下高速轰击阴极（靶），经过能量（靶），经过能量交换与转移，靶材交换与转移，靶材粒子飞离出来，粒子飞离出来， 淀积在基板上形成淀积在基板上形成薄膜。薄膜。溅溅射射离子轰击固体表曲所引起的各种效应离子轰击固体表曲所引起的各种效应镀膜镀膜SIMS分析分析刻蚀，清洗刻蚀，清洗占靶产物的占靶产物的85-90等离子体等离子体2、什么是等离子体、什

2、么是等离子体当温度增高到使原子（分子）间的热运动动能与当温度增高到使原子（分子）间的热运动动能与电离能相当的时候，变成（部分）电离气体，系电离能相当的时候，变成（部分）电离气体，系统的基本组元变成了离子和电子（可以包含大量统的基本组元变成了离子和电子（可以包含大量的原子和分子）。电磁力开始作用，这就是等离的原子和分子）。电磁力开始作用，这就是等离子体状态。子体状态。也被称作物质的第四态，可看作部分电离的气体也被称作物质的第四态，可看作部分电离的气体等离子体的基本粒子元是正负荷电的粒子（离等离子体的基本粒子元是正负荷电的粒子（离子），而不是其结合体，异类带电粒子之间是子），而不是其结合体，异类带

3、电粒子之间是相互相互“自由自由”和独立的。等离子体粒子之间的和独立的。等离子体粒子之间的相互作用力是电磁力相互作用力是电磁力等离子空间等离子空间第二节、溅射的基本原理第二节、溅射的基本原理1、溅射时入射粒子的来源：气体放电、溅射时入射粒子的来源：气体放电 所谓气体放电是指电流通过气体的现所谓气体放电是指电流通过气体的现象，气体放电将产生等离子体。一般是利象，气体放电将产生等离子体。一般是利用辉光放电，根据所加电场的不同，又分用辉光放电，根据所加电场的不同，又分为直流辉光放电、射频辉光放电，而其他为直流辉光放电、射频辉光放电，而其他如三极溅射、磁控溅射时的辉光放电都是如三极溅射、磁控溅射时的辉光

4、放电都是在此基础上的改进。在此基础上的改进。2、为什么用氩等惰性气体？3、辉光放电过程、辉光放电过程定义：是指在低气压（定义：是指在低气压（110Pa）的稀薄气体中，在的稀薄气体中，在两个电极间加上电压时产生的一种气体放电现象。两个电极间加上电压时产生的一种气体放电现象。l1） 为什么会产生辉光放电为什么会产生辉光放电l 空气中有游离的离子，在电场加速获得能量后，空气中有游离的离子，在电场加速获得能量后，与气体分子碰撞并使其电离，产生更多的离子，使与气体分子碰撞并使其电离，产生更多的离子，使更多的分子电离。之所以需要低气压，使因为在较更多的分子电离。之所以需要低气压，使因为在较高的气压下，平均

5、自由程短，不能获得足够的能量高的气压下，平均自由程短，不能获得足够的能量使离子被加速。使离子被加速。2）辉光放电的）辉光放电的IV特性特性直流辉光放电的伏安特性曲线直流辉光放电的伏安特性曲线被激导电及被激导电及非自持暗放电非自持暗放电自持暗放电自持暗放电AB段：电压增加，而电流密度增加很小，说明电段：电压增加，而电流密度增加很小，说明电压不够。压不够。BC段：电压不变，电流密度增加很快。说明电离段：电压不变，电流密度增加很快。说明电离已经产生，但电源的阻抗很大。已经产生，但电源的阻抗很大。C点：击穿电压点：击穿电压VB CD段：段：“雪崩区雪崩区”、离子轰击靶、释放出二次电、离子轰击靶、释放出

6、二次电子，二次电子与中性分子碰撞，产生更多离子，这子，二次电子与中性分子碰撞，产生更多离子，这些离子再轰击阴极，又产生新的二次电子。达到一些离子再轰击阴极，又产生新的二次电子。达到一定的电子、离子浓度后，气体起辉，两极间电流剧定的电子、离子浓度后，气体起辉，两极间电流剧增，电压剧减。电阻呈负阻特征。增，电压剧减。电阻呈负阻特征。 DE段：电流与电压无关，增大功率时，电压不变，段：电流与电压无关，增大功率时，电压不变，电流增加。放电能自动调节轰击阴极的面积，起初电流增加。放电能自动调节轰击阴极的面积，起初集中在阴极边缘或表面不规则处，随功率密度的增集中在阴极边缘或表面不规则处，随功率密度的增加，

7、阴极面的电流密度达到近乎于均匀。加，阴极面的电流密度达到近乎于均匀。 EF段：增大功率，呈正电阻特性。段：增大功率，呈正电阻特性。 溅射一般工作在此区。溅射一般工作在此区。PjFEVE、F：常数，与电极材料、常数，与电极材料、尺寸和气体种类有关。尺寸和气体种类有关。F点以后：弧光放电。特点是两极间电阻很小。点以后：弧光放电。特点是两极间电阻很小。 在气体成分和电极材料一定时，击穿电压只与气在气体成分和电极材料一定时，击穿电压只与气压及电极距离的乘积相关。压及电极距离的乘积相关。3）巴刑（）巴刑（paschen）定律定律 pd太小太小二次电子在碰撞阳极前不能进行二次电子在碰撞阳极前不能进行足够数

8、量的电离碰撞。足够数量的电离碰撞。 pd太大太大气体中产生的离子，由于非弹性气体中产生的离子，由于非弹性碰撞被慢化、减速，到达阴极时无足够能量来碰撞被慢化、减速，到达阴极时无足够能量来产生二次电子产生二次电子 大多数辉光放电，大多数辉光放电，pd乘积在最小电压值右乘积在最小电压值右侧侧p有一定值，有一定值，n较多；较多；d有一定值，溅射有一定值，溅射效率较高，特别是成膜区可以扩大。效率较高，特别是成膜区可以扩大。起辉电压存在最小值：起辉电压存在最小值：4）等离子体鞘层）等离子体鞘层对于对于1 1PaPa左右的辉光放电：左右的辉光放电： 原子、电子、离子总密度：原子、电子、离子总密度：3 3 1

9、0 101414个个/ /cmcm3 3； 其中其中1010-4 -4的比例为电子和离子。的比例为电子和离子。产生的是产生的是冷等离子体冷等离子体：电子和原子及离子温度不等：电子和原子及离子温度不等 T Te e23000K23000K，T Ti i=300-500K=300-500K。 离子质量大，其运动速度远低于电子：离子质量大，其运动速度远低于电子： 平均速度：平均速度：V Vi i500m/s500m/s V Ve e9.5 9.5 10105 5m/sm/s 电子优先到达固体表面！电子优先到达固体表面！结果：任何与等离子体接触的表面自动处于一结果：任何与等离子体接触的表面自动处于一个

10、负电位，并在其表面处伴随有正电荷的积累。个负电位，并在其表面处伴随有正电荷的积累。形成等离子体鞘层。形成等离子体鞘层。21)3 . 2ln(eepmmekTV鞘层电压：鞘层电压：典型值：典型值：-10V，并变化不大。并变化不大。在薄膜制备中的意义：离子受到加速，轰击基片，在薄膜制备中的意义：离子受到加速，轰击基片， 电子受到减速，需大的能量方能到达基片。电子受到减速，需大的能量方能到达基片。鞘层厚度鞘层厚度b：与电子密度及温度有关，典型值与电子密度及温度有关，典型值100微米。微米。直流辉光放电直流辉光放电的电位分布和的电位分布和等离子体鞘层等离子体鞘层5）辉光放电的空间分布）辉光放电的空间分

11、布阿斯顿暗区：阴极发射的二次电子能量小阿斯顿暗区：阴极发射的二次电子能量小 （1ev），不足以电离中性分子。不足以电离中性分子。阴极辉光区：电子获得足够能量，碰撞气体分子使其阴极辉光区：电子获得足够能量，碰撞气体分子使其 激发，退激发而发光。激发，退激发而发光。 少数电子和正离子复合发光。少数电子和正离子复合发光。克鲁克斯暗区：电子能量太大，不易与正离子复合发光。克鲁克斯暗区：电子能量太大，不易与正离子复合发光。 电离产生低速电子。电离产生低速电子。负辉光区：大量电离区，产生大量的正离子，正离子与负辉光区：大量电离区，产生大量的正离子，正离子与 电子复合发光。该区是正的空间电荷区，电子复合发光

12、。该区是正的空间电荷区， 也是主要的压降区。也是主要的压降区。法拉第暗区：少数电子穿过负辉光区，电子动能小。法拉第暗区：少数电子穿过负辉光区，电子动能小。正光柱区：正光柱区： 上述少数电子加速，产生电离。上述少数电子加速，产生电离。负辉光区以后：等离子体密度低，几乎无电压降，类似负辉光区以后：等离子体密度低，几乎无电压降，类似 一良导体。一良导体。两电极间电压降主要在阴极与负辉光区之间。因此，两电极间电压降主要在阴极与负辉光区之间。因此，当极间电压不变而长度改变时，阴极到负辉光区的距当极间电压不变而长度改变时，阴极到负辉光区的距离不变，而是正光柱区变化。离不变，而是正光柱区变化。产生的正离子冲

13、击阴极产生溅射产生的正离子冲击阴极产生溅射阴极鞘层阴极鞘层阳极鞘层阳极鞘层阴极阴极阳极阳极电位电位0Vp6)辉光放电的主要形式（用于溅射）辉光放电的主要形式（用于溅射）直流辉直流辉光放电光放电射频辉射频辉光放电光放电第三节、溅射特性第三节、溅射特性1. 溅射率（产额）溅射率（产额）入射离子数出射原子数S1.1 与入射离子能量的关系与入射离子能量的关系存在溅射阈值，存在溅射阈值，通常金属通常金属10-30ev。 （2Kev时，时，opt 解释：解释： Ar1.5 与靶材的晶体结构有关与靶材的晶体结构有关单晶靶溅射显现出各向异性，而多晶靶是各向同性单晶靶溅射显现出各向异性，而多晶靶是各向同性现象：

14、对应于低指数晶面的溅现象：对应于低指数晶面的溅射率低，而高指数晶面的溅射射率低，而高指数晶面的溅射率略高于多晶靶材。率略高于多晶靶材。解释：沟道效应，即原子排列解释：沟道效应，即原子排列密度最大的方向上溅射率越大。密度最大的方向上溅射率越大。1.6 与靶材温度的关系与靶材温度的关系现象：主要与靶材物质的升华能相关的某温度值有关。现象：主要与靶材物质的升华能相关的某温度值有关。 在低于此温度时，溅射率几乎不变；而高于此在低于此温度时，溅射率几乎不变；而高于此 温度，溅射率急剧增加。温度，溅射率急剧增加。解释：溅射与热蒸发解释：溅射与热蒸发 二者的复合作二者的复合作 用。用。2. 溅射原子的角度分

15、布溅射原子的角度分布2.1 与入射离子能量的关系与入射离子能量的关系现象：入射离子能现象：入射离子能量越高，角分布越量越高，角分布越趋向于余弦分布，趋向于余弦分布，但在低能状态下但在低能状态下（几千（几千ev）并非如并非如此。此。欠余弦分布欠余弦分布。蒸发原子的角分蒸发原子的角分布为余弦分布。布为余弦分布。2.2 与入射离子的角度的关系与入射离子的角度的关系轻离子入射，与入射角轻离子入射，与入射角的关系很大。的关系很大。重离子入射，基本为重离子入射，基本为余弦分布，与入射角余弦分布，与入射角无关。无关。第四节、溅射机理第四节、溅射机理1. 热蒸发理论热蒸发理论认为溅射是一个能量传递过程，靶表面

16、被碰撞处产生认为溅射是一个能量传递过程，靶表面被碰撞处产生局域高温，发生熔化而蒸发。局域高温，发生熔化而蒸发。该理论可解释的现象：该理论可解释的现象：a)溅射率与靶材蒸发热的关系；溅射率与靶材蒸发热的关系；b)溅射率与入射离子能量的关系；溅射率与入射离子能量的关系；c)溅射原子的余弦分布律。溅射原子的余弦分布律。该理论不能解释的现象：该理论不能解释的现象：溅射原子的角分布并不象热蒸发原子那样符合余弦溅射原子的角分布并不象热蒸发原子那样符合余弦规律，从单晶靶溅射出的原子趋向于集中在晶体原子规律，从单晶靶溅射出的原子趋向于集中在晶体原子密排方向；密排方向；溅射产额不仅取决于轰击离子能量，同时也取决

17、于溅射产额不仅取决于轰击离子能量，同时也取决于其质量与靶原子质量之比；其质量与靶原子质量之比；溅射产额取决于轰击离子的入射角，当入射角不同溅射产额取决于轰击离子的入射角，当入射角不同时，溅射原子的角分布也不相同；时，溅射原子的角分布也不相同；离子能量很高时，溅射产额会减少；离子能量很高时，溅射产额会减少；溅射原子的能量比热蒸发原子的能量高溅射原子的能量比热蒸发原子的能量高100倍。倍。电子质量小，即使用高能电子轰击靶材，也不会产电子质量小，即使用高能电子轰击靶材，也不会产生溅射。生溅射。2. 级联碰撞理论级联碰撞理论溅射是一个动量传递过程，而不是能量传递过程。溅射是一个动量传递过程，而不是能量

18、传递过程。入射离子与靶原子发生二体弹性碰撞，入射离子与靶原子发生二体弹性碰撞，一部分能量传递给靶原子。一部分能量传递给靶原子。当后者获得的能量超过势垒高度后（金属当后者获得的能量超过势垒高度后（金属5-10ev），），原子原子 离位原子，并进一步和附近的原子碰撞，产离位原子，并进一步和附近的原子碰撞，产生碰撞级联。生碰撞级联。当碰撞到达样品表面时，当碰撞到达样品表面时，若表面原子获得的动能超若表面原子获得的动能超过表面结合能（金属过表面结合能（金属1-6ev），靶原子从表面逸出。靶原子从表面逸出。二体弹性碰撞二体弹性碰撞动量守恒：动量守恒：22111cosvmumvm能量守恒：能量守恒：222

19、212121121)sin(2121vmvumvmcos212112vmmmv22212112cos)(4mmmmEE能量转移函数能量转移函数 m2m10uv2v1sin m1m2 v1碰撞前碰撞前碰撞后碰撞后当当m1=m2， =0时，时， 1，为最大值，完全能量转移为最大值，完全能量转移当当m1 m2时，重离子入射轻靶，时，重离子入射轻靶，124mm此时，此时，122112221242121mmvmvmEEv2 = 2v112122vmmv v2v1溅射率的表达式溅射率的表达式前提：线形级联碰撞理论；非晶靶模型；二体碰撞近似；前提：线形级联碰撞理论；非晶靶模型；二体碰撞近似； 原子作用势为原

20、子作用势为Thomas-Fermi势势 平均表面势垒；垂直入射平均表面势垒；垂直入射012)()/(042. 0UESmmSn1969年，年，Sigmund给出，当离子能量给出，当离子能量1keV：表面势垒，表面势垒，一般取升华能一般取升华能121213. 015. 0)/(mmmm碰撞阻止能碰撞阻止能02112/322/312112)()/(56. 3UESmmmZZZZmmSn若考虑原子的相互作用：若考虑原子的相互作用：第五节、溅射的特点第五节、溅射的特点l任何物质均可以溅射任何物质均可以溅射 尤其是高熔点、低蒸气压元素和化合物尤其是高熔点、低蒸气压元素和化合物 不论是块状、粒状的物质都可

21、以作为靶材不论是块状、粒状的物质都可以作为靶材l溅射膜与基板之间的附着性好溅射膜与基板之间的附着性好 溅射原子的能量溅射原子的能量10ev，蒸发蒸发0.1ev 表面迁移强，溅射清洗作用，伪扩散层表面迁移强，溅射清洗作用，伪扩散层l溅射镀膜膜密度高，溅射镀膜膜密度高，针孔少，针孔少，且膜层的纯度较高且膜层的纯度较高 溅射镀膜中，不存在坩埚污染现象溅射镀膜中，不存在坩埚污染现象l膜厚可控性和重复性好膜厚可控性和重复性好二、缺点（二、缺点（针对二极溅射）针对二极溅射）溅射设备复杂、需要高压装置；溅射设备复杂、需要高压装置；溅射淀积的成膜速度低，溅射淀积的成膜速度低， 真空蒸镀：真空蒸镀：0.15m/

22、min， 溅射：溅射：0.010.5m/min。基板温升较高和易受杂质气体影响等。基板温升较高和易受杂质气体影响等。 第六节、蒸发与溅射的比较第六节、蒸发与溅射的比较1、淀积粒子的过程、淀积粒子的过程蒸发：热交换过程，气化过程，蒸发粒子能量蒸发：热交换过程，气化过程，蒸发粒子能量低、附着力低；低、附着力低；溅射：动量交换过程，能量交换率高，溅射粒溅射：动量交换过程，能量交换率高，溅射粒子能量高，附着力好。子能量高，附着力好。2、淀积粒子的角分布、淀积粒子的角分布蒸发：余弦分布，膜厚分布不均；蒸发：余弦分布，膜厚分布不均；溅射：轴平面对称性分布，状态与入射粒子动溅射：轴平面对称性分布，状态与入射

23、粒子动能有关。能有关。3、逸出粒子性质、逸出粒子性质蒸发：不带电，极少热电子发射；蒸发：不带电，极少热电子发射；溅射：离子种类多，性质各异，中性原子、正溅射：离子种类多，性质各异，中性原子、正负离子、高能电子、光子、低能原子或离子团、负离子、高能电子、光子、低能原子或离子团、气体分子、解吸附原子分子、入射离子。气体分子、解吸附原子分子、入射离子。4、合金的蒸发、溅射不同、合金的蒸发、溅射不同（1）粒子的产生过程）粒子的产生过程蒸发：要出现分馏，膜成分偏离源组分，各元素的蒸蒸发：要出现分馏，膜成分偏离源组分，各元素的蒸发速率相差较大，膜成分随蒸发时间而变发速率相差较大，膜成分随蒸发时间而变溅射：

24、膜成分与靶材接近，各元素间溅射速率差异小溅射：膜成分与靶材接近，各元素间溅射速率差异小（2）迁移过程）迁移过程蒸发：真空度蒸发：真空度10-510-6Torr， 源源基距，淀积粒基距，淀积粒子几乎不发生碰撞，直线淀积，薄膜不均匀；子几乎不发生碰撞，直线淀积，薄膜不均匀；溅射：溅射：真空度真空度10-210-4Torr， 源源基距，基距，（3）成膜过程）成膜过程溅射原子动能蒸发原子动能，有净化和粗化表溅射原子动能蒸发原子动能，有净化和粗化表面作用，促进吸附粒子迁移与核生长；面作用，促进吸附粒子迁移与核生长；溅射离子入射可渗透到几个原子层厚度，产生缺溅射离子入射可渗透到几个原子层厚度，产生缺陷，使

25、基板晶体结构畸变；陷，使基板晶体结构畸变；a. 溅射入射离子可使成核小岛瞬间充电，有利于小溅射入射离子可使成核小岛瞬间充电，有利于小岛聚集，晶核密度大，晶粒尺寸小。岛聚集，晶核密度大，晶粒尺寸小。第七节、溅射类型第七节、溅射类型靶为阴极，基片为阳极，由辉光放电产生等离子体靶为阴极，基片为阳极，由辉光放电产生等离子体工作气压：工作气压：1 11010PaPa缺点：缺点：溅射参数不易独立控制，工艺重复性差；溅射参数不易独立控制，工艺重复性差；2. 2. 真空度低，真空度低，1-10Pa，方能维持放电。方能维持放电。3. 3. 残留气体对膜层的污染较严重。残留气体对膜层的污染较严重。4. 4. 淀积

26、速率低，小于淀积速率低，小于10nm/min；5. 5. 基板的温升高，辐照损伤大；基板的温升高，辐照损伤大；6. 6. 靶材必须是良导体（直流）。靶材必须是良导体（直流）。二、偏压溅射二、偏压溅射二极溅射中：基片与阳极同电位二极溅射中：基片与阳极同电位偏压溅射：偏压溅射：基片与阳极分离，基片与阳极分离，在基片上加偏压。在基片上加偏压。若加负偏压（基片电位低于阳极电位）若加负偏压（基片电位低于阳极电位） 可以提高薄膜的纯度和附着力。可以提高薄膜的纯度和附着力。 除掉吸附气体；除掉吸附气体；离子轰击基片离子轰击基片 除掉附着力差的淀积原子；除掉附着力差的淀积原子； 清洗作用。清洗作用。2. 2.

27、 偏压可改变薄膜的结构偏压可改变薄膜的结构 a a 偏压在（偏压在（-100-100+10+10V V） 四方结构，电阻率高；四方结构，电阻率高； b b 偏压偏压-100-100V V， 体心立方体心立方结构，电阻率低。结构，电阻率低。偏压的作用偏压的作用3. 3. 偏压可改变薄膜中杂质离子的浓度偏压可改变薄膜中杂质离子的浓度在负偏压大于在负偏压大于2020v v以上时，以上时，电阻率迅速上升，电阻率迅速上升，O O2 2已从钽已从钽膜中溅射出来。膜中溅射出来。当负偏压较高时，电阻率逐当负偏压较高时，电阻率逐渐上升，渐上升，ArAr渗入薄膜。渗入薄膜。二极溅射二极溅射：放电靠离子轰击阴极发射

28、二次电子来维持，：放电靠离子轰击阴极发射二次电子来维持，此需较高的工作气压。此需较高的工作气压。三极溅射三极溅射：由热阴极发射电子来维持放电，：由热阴极发射电子来维持放电， 同时使靶电位低于等离子体电位，同时使靶电位低于等离子体电位， 阳极和基板支架分离，阴极和靶分离。阳极和基板支架分离，阴极和靶分离。四极溅射四极溅射：在三极溅射的基础上增加辅助阳极，：在三极溅射的基础上增加辅助阳极， 作用是使放电更加稳定。作用是使放电更加稳定。阳极阳极线线圈圈靶靶基片基片热阴极热阴极等离子等离子三、四极溅射示意图三、四极溅射示意图稳定化电极稳定化电极 溅射条件：靶电位溅射条件：靶电位 等离子体电位等离子体电

29、位 正离子轰击靶，正离子轰击靶，9999以上注入，以上注入， 使靶电位升高使靶电位升高三、射频溅射三、射频溅射48第一周期第一周期The disparity in electron & ion mobilitThe disparity in electron & ion mobility y positively cha positively chargedrged, , electrode electrode draws moredraws more e e- - current butcurrent but no charge transfer through capacitor no c

30、harge transfer through capacitor self-biasself-bias volta voltage (negative) at target electrode (capacitively coupled ge (negative) at target electrode (capacitively coupled electrode)electrode)在正半周在正半周( (靶电位靶电位为正为正) )，绝缘体的，绝缘体的极化作用，靶表极化作用，靶表面吸引电子，电面吸引电子，电位很快降低至等位很快降低至等离子体电位；离子体电位；B. B. 在负半周在负半周( (

31、靶电位为负靶电位为负) )，吸引正离子，但由于正，吸引正离子，但由于正离子移动速度慢，所以靶电位上升慢。离子移动速度慢，所以靶电位上升慢。最终结果使得靶相对于等离子体而言处于负电位最终结果使得靶相对于等离子体而言处于负电位射频溅射时等离子鞘层和靶电位的变化曲线射频溅射时等离子鞘层和靶电位的变化曲线结果：在等离子鞘层与靶之间形成结果：在等离子鞘层与靶之间形成Vd的直流偏压，的直流偏压，造成正离子对靶的持续溅射造成正离子对靶的持续溅射3. 3. 射频溅射的空间电位分布射频溅射的空间电位分布为什么在正半周不对基片进行溅射？为什么在正半周不对基片进行溅射？4)(STTPSPAAVV阴极鞘层阴极鞘层阳极

32、鞘层阳极鞘层阴极阴极阳极阳极电位电位0VpC1C2VP-TVP-S基片基片靶靶阳极与等阳极与等离子形成离子形成的偏压小的偏压小6. 6. 射频溅射的特点射频溅射的特点优点：优点：A) A) 可淀积导体、半导体、绝缘体在内的所有材料；可淀积导体、半导体、绝缘体在内的所有材料；B) B) 击穿电压及维持放电电压均很低；工作气压低击穿电压及维持放电电压均很低；工作气压低电子作振荡运动，增加了碰撞几率，便于吸收能电子作振荡运动，增加了碰撞几率，便于吸收能量，不需要二次电子来维持放电。量，不需要二次电子来维持放电。缺点：缺点：靶上发射的二次电子对基片的辐照损伤没有消除。靶上发射的二次电子对基片的辐照损伤

33、没有消除。四、磁控溅射四、磁控溅射1. 1. 原理原理EE靶面，靶面，BB靶面靶面溅射产生二次电子和原子，对于溅射产生二次电子和原子，对于e e1 1电子电子近似认为：二次电子在阴极暗区只受磁场作用；近似认为：二次电子在阴极暗区只受磁场作用； 在负辉光区只受磁场作用在负辉光区只受磁场作用在电磁场的作用下，二次电子作上下的振荡在电磁场的作用下，二次电子作上下的振荡 横向的漂移横向的漂移运动运动若电磁场是闭合的，则二次电子的运动轨迹为若电磁场是闭合的，则二次电子的运动轨迹为一条圆滚线一条圆滚线。 二次电子与气体分子碰撞以后，损失能量，其运动二次电子与气体分子碰撞以后，损失能量，其运动轨迹会稍微偏离

34、阴极而靠近阳极（阴阳极间距的轨迹会稍微偏离阴极而靠近阳极（阴阳极间距的1/1001/100左右），这样必须经多次碰撞后二次电子才能到达阳极左右），这样必须经多次碰撞后二次电子才能到达阳极（基片）。（基片）。一方面增加了碰撞电离的几率，另一方面对一方面增加了碰撞电离的几率，另一方面对基片的损伤小基片的损伤小。 e e2 2电子可直接到达阳极，电子可直接到达阳极，但其比例很少。但其比例很少。 气体电离后的正离子轰气体电离后的正离子轰击靶，击靶，打出新的打出新的e e1 1电子电子，重复上述过程。重复上述过程。1）高沉积速率，比二极溅射高）高沉积速率，比二极溅射高100倍；倍； 离化率从离化率从0.

35、3-0.5 5-6。 2）基片温升低，只及）基片温升低，只及RF入射能量的入射能量的1/10。可对塑料。可对塑料 基片、光刻胶等进行溅射。基片、光刻胶等进行溅射。3）基片的辐照损伤低。）基片的辐照损伤低。4）工作气压可下降）工作气压可下降2个数量级，个数量级， 10Pa 0.5Pa5）靶的平均电流密度高靶的平均电流密度高缺点：缺点：1）靶的不均匀刻蚀；）靶的不均匀刻蚀； 2）强磁性材料困难）强磁性材料困难。2. 特点特点3.3.磁控溅射靶的类型磁控溅射靶的类型适合大面积适合大面积靶材利用率高，靶材利用率高，膜厚分布均匀膜厚分布均匀五、对向靶溅射五、对向靶溅射两靶对向放置，两靶对向放置， B B

36、 靶面，靶面， 阳极与靶垂直阳极与靶垂直在阴极暗区，在阴极暗区，EBEB，电子只受电场力作用。电子只受电场力作用。电子在离开阴极暗区电子在离开阴极暗区后，具有后，具有X X方向的速度方向的速度分量，受洛仑兹力偏转分量，受洛仑兹力偏转作回旋运动。作回旋运动。但但Y Y方向速度很大，作方向速度很大，作振荡运动。振荡运动。综合来看，作螺旋线综合来看，作螺旋线运动。运动。 电子被束缚在两个靶之间，增加了碰撞电子被束缚在两个靶之间，增加了碰撞电离的几率，所以具有磁控溅射同样的优点：电离的几率，所以具有磁控溅射同样的优点：1. 1. 高速高速2. 2. 低温低温3. 3. 低损伤低损伤突出的优点：可溅射磁性材料。突出的优点：可溅射磁性材料。六、反应溅射六、反应溅射1.1.定义定义 在溅射镀膜时，引入某些活性反应气体，来获得在溅射镀膜时，引入某些活性反应气体，来获得不同与靶材的新物质薄膜的方法。不同与靶材的新物质薄膜的方法。 是除射频溅射外，另一种制备介质薄膜的方法。是除射频溅射外，另一种制备介质薄膜的方法。反应反应气体气体O2N2NH3O2+N2C2H2CH4CSi4HFCF4产物产物氧化氧化物物氮化氮化物物氮氧氮氧化物化物碳化碳化物物硅化硅化物物氟化氟化物物2.2.反应溅射