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  • 2021-12-31 颁布
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GB∕T 26641-2021 无损检测 磁记忆检测 总体要求_第1页
GB∕T 26641-2021 无损检测 磁记忆检测 总体要求_第2页
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文档简介

ICS19.100CCSJ04

中华人民共和国国家标准

GB/T26641—2021/ISO24497-1:2020

代替GB/T26641—2011

无损检测磁记忆检测总体要求

Non-destructivetesting——Magneticmemorytesting——Generalrequirements

(ISO24497-1:2020»Non-destructivetesting—Magneticmemorytesting

Part1:Vocalbularyandgeneralrequirements,IDT)

2021-12-31发布

2022-07-01实施

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GB/T26641—2021/ISO24497-1:2020

目次

tuW n

i翻 i

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4总体要求 3

5检测对象 3

6检测设备 4

7检测准备 5

8翻 5

9检测报告 6

10安全要求及人员资质 7

附录A(资料性)表面磁场分布标识方法的示例 8

参考t献 10

I

GB/T26641—2021/ISO24497-1:2020

本文件按照GB/T1.1—2020((标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

本文件代替GB/T26641—2011((无损检测磁记忆检测总则》。与GB/T26641—2011相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下:

a) 修改了范围(见第1章,2011年版的第1章);

b) 修改和增加了规范性引用文件(见第2章.2011年版的第2章);

c) 修改和增加了术语(见第3章.2011年版的第3章);

d) 修改了方法概要(见第4章.2011年版的第5章);

e) 修改了检测对象的描述(见第5章.2011年版的第7章);

f) 修改了检测设备的要求(见第6章.2011年版的第8章);

g) 修改了检测准备的描述(见第7章.2011年版的第7章);

h) 修改了评价参数和流程,将原有的法向分量或切向分量扩展为三维分量(见8.1,2011年版的第10章);

i) 增加了梯度中间值、梯度系数阈值获取方法及取值准则(见8.2,8.3);

j) 修改了检测记录与报告(见第9章.2011年版的第11章);

k) 修改了人员资格要求(见第10章.2011年版的第4章)。

本文件等同采用ISO24497-1:2020«无损检测磁记忆检测第1部分:术语和总则》。本文件做了下列最小限度的编辑性改动:

一为与现有标准协调,将标准名称改为《无损检测磁记忆检测总体要求》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。

本文件起草单位:中国特种设备检测研究院、爱德森(厦门)电子有限公司、安徽华夏高科技开发有限责任公司、清华大学、中国空气动力研究与发展中心、嘉兴市特种设备检验检测院、成都信息工程大学、北京工业大学、中冶建筑研究总院有限公司、山东科捷工程检测有限公司、洛阳LYC轴承有限公司。

本文件主要起草人:胡斌、王宝轩、沈永娜、沈功田、林俊明、李路明、李寰、魏东、潘金平、胡云、张亦良、高广兴、张君娇、张迪、梁玉梅、陈翠丽。

本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为:

一2011年首次发布为GB/T26641—2011.本次为第一次修订。

GB/T26641—2021/ISO24497-1:2020

无损检测磁记忆检测总体要求

1范围

本文件规定了金属磁记忆(MMM)技术的无损检测(NDT)的术语和定义,以及应用该方法的总体技术要求。

本文件规定的无损检测技术有以下目的:

一确定铁磁物体磁力学状态的非均质性,检测缺陷引起的应力集中程度和金属微观结构不均匀性边界;

一确定具有表面磁场畸变的位置,以便进一步进行微观结构分析和/或无损检测和评价;一被检对象的早期损伤诊断,评价其结构寿命;

一通过磁性异质性对新的和已使用的检验对象进行快速分类,以进行进一步的检测;一磁记忆与其他无损检测方法或技术(超声波检测、X射线检测等)相结合可快速检测出最有可能是缺陷的位置,从而提高无损检测效率;

一用于各类焊接接头的质量控制及其实施(包括摩擦焊和点焊)。具体应用见ISO24497-2。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

ISO9712无损检测人员资格鉴定与认证(Non-destructivetesting—Qualificationandcertificationofpersonnel)

注:GB/T9445—2015无损检测人员资格鉴定与认证(ISO9712:2012,IDT)

ISO/TS18173无损检测通用术语和定义(Non-destructivetesting—Generaltermsanddefini-tions)

注:GB/T20737—2006无损检测通用术语和定义(ISO/TS18173:2005,IDT)

ISO24497-2无损检测磁记忆第2部分:焊接接头检测(Non-destructivetesting一Metalmagneticmemory一Part2:Inspectionofweldedjoints)

3术语和定义

ISO/TS18173界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

ISO和IEC维护的标准化工作中使用的术语数据库网址如下:

ISO在线浏览平台:/obp;

IEC电工百科:/o

3.1

金属磁记忆metalmagneticmemory;MMM

铁磁性物体经历磁场变化和磁-机械效应累积作用后的磁状态。

注:对于给定的磁场(例如地磁场),在其制造过程或运行过程中形成的铁磁物体,由于影响磁畴分布[35]的各种环境

因素,改变了其剩余磁化强度(例如:温度、机械载荷「6「lu]「171或材料的微观结构变化)。

3.2

表面磁场magneticstrayfield;SF

离开或进人零件表面且非有意磁化该零件的磁场。

注1:铁磁材料在其自身体积和周围空间中产生磁场。材料本身的磁化分布所产生的场称为表面磁场或其内的退磁场。退磁场和表面磁场是几何相关的,当磁化强度不均匀或具有与外部或内部表面法向的分量时,表面磁场就会出现:|6]。表面磁场的高局部变化,类似于磁通泄漏,可以表明材料性能的不均匀性。

注2:文献中使用的其他术语是,例如自发漏磁场、残余磁场、表面磁场、漏磁场、磁场密度或表面场。当用于无损检测时,表面磁场是被动磁场测M的推荐术语,而漏磁定义了在检测之前或检测期间由于外部磁化放大的磁通量。

3.3

金属磁记忆检测metalmagneticmemorytesting;MMMtesting

通过测量和分析被检对象[IOs]表面磁场[3.2]分布且无需主动磁化的无损检测技术。

注:磁场敏感探头用于测M表面磁场分布。

3.4

表面磁场矢量strayfieldvector

WSF./

采用被动磁场传感法测定的被检对象表面磁场在i方向(i=J:,y,.s)上的分量。

3.5

表面磁场指示strayfieldindication;SFI

由高机械应力/应变梯度引起的SF(表面磁场)的偏离。

注1:在具有局部磁导率变化的位置也形成SFI,这可能是由缺陷集中(例如引起的裂纹、点烛)、金属组织中强异质的边界、杂质、突然的几何变化[2,]:25][57:cw,].内部和外部表面["]、与被检查物体的分离、不可逆变形(位错密度高)和化学成分的变化(例如,沉积或浸出)等引起的。

注2:表面磁场指示不一定是缺陷的指示,需要解释以确定其相关性表面磁场指示取代应力集中区[只在机械应力集中的地方使用SCZ(例如尖角、裂纹尖端)],见附录A。

3.6

表面磁场梯度strayfieldgradient

KSF

同一探头位置上,表面磁场随探头位置变化和/或时间变化的变化率。

注:表面磁场梯度,K'sv„,根据公式(2)和/或公式(3)计算。

3.7

表面磁场平均梯度medianstrayfieldgradient

K

-*■Ymed

根据公式(4)计算的测量线和/或测量线之间SF的平均斜率。

注1:它与被检对象的形状各向异性及其磁极化有关。如果被检对象初始工作状态的磁化状态未知,则平均梯度表征被检对象磁状态的估计值。特别是SF法向分M常显示为正负值之间的特征曲线。

注2:周期(A?、时间相关)测M和/或被检对象丁作条件之间中位梯度的变化,例如,在役状态和无丁作载荷可能与磁-机械效应有关。

3.8

磁指数magneticindex

m'

用来评价SFI的SFI局部梯度与SFI平均梯度的比值,计算方法见公式(6)。

3.9

扫查线间距distancebetweenneighbouringscanninglines

探头中心点之间的距离和/或两条相邻测量线之间的距离。

注:此距离影响表面磁场梯度(3.6),Ksf.,。

3.10

采样间距discretesamplingdistanceinthescanningline

△•Z

表面磁场大小或分量的两个相邻测量点之间的距离。

注:此采样距离影响表面磁场梯度(3.6),ZUF.,。

3.11

表面磁场图magneticstrayfielddiagram

显示表面磁场分布和/或表面磁场梯度(3.6)和/或表面磁场平均梯度(3.7)与扫查路径的关系。

3.12

提离lift-off

被检对象表面与磁探头传感区域/体积中心之间的距离。

注:小的提离对SFI评价的可靠性至关重要。

4总体要求

4.1磁记忆技术是基于测量和分析铁磁物体表面磁场分布的技术。磁化强度可反映铁磁性金属构件(包括焊接接头)的微观结构、制造工艺及工作载荷。检测时应使用被检对象在制造过程中和服役周期内由环境磁场形成的残余磁场所产生的表面磁场。

4.2磁记忆检测技术能够检测出表面磁场指示,并对船舶、管道、设备(例如:蒸汽锅炉、汽轮机、热交换器、钢轨)和结构件的焊接接头采取其他无损检测方法提供建议。焊接接头的检测应按ISO24497-2实施。

注:被检对象的表面磁场指示是由制造技术(熔合、锻造、轧制、车削、冲压成形、热处理等)形成。4.3特定条件下,特别是当存在铁磁相时(例如,亚稳态奥氏体钢、氧化皮、涂层),磁记忆检测技术可用于非磁性被检对象的检测。

注:如果亚稳态奥氏体钢的组织对7-a相变敏感,则能对其进行检测。对表面磁场的评价仅限于铁磁相。4.4在进行磁记忆检测时,温度应在操作者(无损检测人员)正常和安全的工作范围内。

5检测对象

5.1被检测的设备和结构宜在在役状态(载荷作用下)和维护状态(工作载荷去除后)进行磁记忆检测。如有可能,宜获取被检对象的初始磁状态。

5.2被检对象的表面不需要处理。宜去除绝缘覆盖层减少探头的提离距离,以提高检测的可靠性和避免绝缘层导致的表面磁场指示。在特殊情况下,在检测时可允许非磁性绝缘。应对所有允许的绝缘层进行实验验证,验证结果应附在检测报告里。

5.3应用MMM检测的限制因素包括以下内容:

被检对象的消磁和磁化;

被检对象附近、受检区域附近的外部(电磁)磁场;

——温度变化可影响检测结果(例如,居里温度);

一探头到被检对象表面距离(提离)及其在测量过程中的变化。

5.4在处理检测结果时宜考虑被检对象剧烈的温度变化导致的热剩磁的变化。

5.5影响被检对象的表面磁场指示包括以下因素:

一被检对象的形状和几何结构(被检对象的几何变化和边缘)是表面磁场的来源,表面几何结构是强局部表面磁和退磁场的来源:24::25Z46Z60:;

一高机械应力集中梯度;

一非均质塑性变形的边界;

——微观结构的变化;

一外部磁场,例如:(焊接)被检对象的电流流动,靠近被检区域的强磁场和非均质磁场;

被检对象上和被检区域附近的铁磁性异物;

一历史磁场引起的局部“人工”磁化;

一具有不同磁性的第二相;

一温度变化。

上述所有因素都可影响表面磁场指示的评价,因此在表面磁场指示评价中宜考虑到这些因素。6检测设备

6.1应采用足够高灵敏度的磁探头测量被检对象的近表面区域的表面磁场,可使用磁强计或者梯度计配置的磁敏探头(例如:磁通门探头)。

6.2检测仪器应具有检测参数显示、数据数字采集和存储、探头的位置编码运动。外部计算机接口应允许外部数据存储、检索和结果显示。仪器宜与外部评价软件同时提供。

6.3探头的类型和尺寸由具体的检测需求决定。检测仪器宜至少有两个测量通道,一个用于被检对象的表面磁场测量,另一个用于补偿外部磁场的影响Heo探头类型和设置(例如:梯度仪/磁强计)应在检测报告中记录。

6.4探头应由扫查器控制,位置编码器应给出扫查过程中的实际探头位置。对于难以使用扫查器的被检对象,探头应实时获取数据。

6.5以下因素影响表面磁场测量:

探头从被检对象表面提离;

沿被检对象表面扫查时的探头采样率;

—探头灵敏度;

一探头尺寸;

一与被检对象有关的探头敏感方向;

探头相对于外部场源的方向(例如:地球的磁场)。

6.6磁记忆检测仪器应满足以下最低要求:

—探头的磁场测量值的相对误差应小于±5%;

—探头灵敏度范围宜为1nT/7(Hz)~100mT/7(Hz);

——长度测量的相对误差应小于±5%;

——探头的测量范围不应小于±1000A/m,分辨率至少为1A/m;

一采样距离(两个相邻测量点之间的距离)应根据探头尺寸和检测程序确定;

注:采样大小影响SF梯度和SFI检测和评价(见7.2)。

探头和系统的电子噪声水平应小于士5A/m;

一应在一20°C~+60°C的温度范围内工作。

11

7检测准备

7.1检测准备程序应包括以下基本步骤:

一分析被检对象的技术文件,编制检测进度图表(检测计划、被检对象日志文件的准备);—探头和设备的选择;

准备书面检测程序;

——根据书面操作指南设置和校准仪器与探头;

被检对象分为单独的检查区域和检查单兀,并在被检对象日志文件中标注。7.2被检对象的技术文件分析包括以下内容:

——有关钢等级和选定检查区域的尺寸和位置的信息;

——分析被检对象的操作模式和可能出现故障(损坏)的原因;

——被检对象的表面条件(例如:氧化皮、抛光、腐蚀、油漆);

——被检对象的几何形状、焊接接头的设计和位置。

8检测

8.1通常检验对象的磁化强度未知。应沿被检对象表面进行连续或离散扫查来测量表面磁场的三个笛卡尔分量。探头应与扫查方向一致,否则,应将其记录在检测报告中。

在检测过程中,不应改变与外部磁场有关的被检对象的位置。被检对象的表面应规划有密集的测量线网格。应确定并记录被检测物体表面上极大HSF,,变化的位置。

杂散磁场的测量结果的模IIHsfII(单位为A/m)根据公式(1)计算:

IIhsf\\=^/hIf,:+H‘F,y+m (1)

式中:

Hsp,^和HSF.y——两个相互垂直的切向分量;

Hsf,. ——杂散磁场沿被检对象表面的法线分量。

如果表面磁场的某一切向分量与外部磁场(例如,地球的磁场)难以区分,或者在整个测量线上接近于零,则难以检测出与该方向正交的二维不连续性(例如,裂纹)。

注:被检对象在地球磁场中的旋转可为零切向表面磁场值提供补偿。

如果被检对象的主导表面磁场方向不平行于测量线,则应沿该方向进行重复测量。否则,更改基准后,后续评价应在测量线以及沿(内部)场的主方向之间计算。定期测量表面磁场旋转方向可指示磁机械效应。

如果运行中的被检对象是磁路的一部分(与其他铁磁物体接触),且已移除以进行检测,应考虑被检对象中的附加退磁场。如果将被检对象从其操作位置移开,则应确定并记录操作位置和检测位置的磁场。

8.2表面磁场指示的定性评价用梯度K^„(单位为A/m2)。梯度值表示表面磁场hsfP][1«「1s>2>4T46]*j(j=x,y,z)方向的变化量,用公式(2)计算。

或根据公式(3)分别计算每个磁场分量

式中:

AHSFi, 两个相邻扫查点之间的Hsp,,•场之差;

匕d ——这些相邻点之间的距离[在扫查线中或在相邻线之间(△€/=△>)];

i 磁场分量,计算梯度的磁场分量Hsf,,(f ,;y,z);

j ——空间方向,计算梯度空间方向,Cj^x,y,z)o

应在被检对象的Cr,3O平面的两个方向上计算所有测得的磁场分量Cz,y,z)的梯度。

如有可能,应将KG~)SF。值与先前(时间,d的测量结果K(OSF,,进行比较。

8.3法线和/或切线分量的高值K&,即为表面磁场指示。对于在被检对象上发现的所有表面磁场指示,均应计算该区间的所有法向和切向分量的中值K^d.sF,,。对于Kjsf,.和单位为A/m2)(见公式4),均宜避免边缘效应和几何形状变化。

KJmed,i=median(K^f>;) (4)

8.4如果相交点与至少一个切线杂散磁场分量的较高幅度相关,则法向表面磁场分量与测量线的中值斜率的交点为杂散磁场指示。

8.5表面磁场指示根据公式(5)计算:

KJSFti>KJmed,i (5)

8.6确定了Kmed,SF“后,并对所有值按照公式(6)计算磁指数:

1 K^d,;

在每个方向(z ,y,z)上分别计算表面磁场j(j ,J/)分量的m{和K“,,+数值。如果磁指数m\

超过预先定义的阈值,则可做出被检测物体材料状态的推论。

注:梯度和阈值是任意数字,梯度和磁指数根据不同的仪器设置不同的数值。将一种仪器上的设置转换为另一种类型的设置是不合理的。即使同一个制造商的同一款仪器,当检测到相同的表面磁场指示或不连续性时,梯度和阈值也会发生变化。因此,过分强调梯度和阈值的数值是不合理的(依据ASTM1316-16bm)o被检对象的磁指数阈值可通过对相同的材料、形状和生产工艺的工件采用其他无损检测或者破坏性试验确定缺陷或操作极限是获得。否则=且每个都是表面磁场指示。

8.7为对被检测物体进行验证评价,宜将检测数据可视化,如可能,图像应附在检测报告中。8.8当被检对象仍在使用吋,应对有表面磁场指示的每个区域进行其他无损检测。按此可对最具代表性的区域进行进一步的分析。

9检测报告

9.1应在检测报告中明确说明和记录检测系统与探头的工作原理、处理、校准、工作范围和限制条件及探头的类型、尺寸和设置。检测报告应记录检测结果,报告至少应包含以下数据:

——检测机构名称、发现表面磁场指示的被检对象部位的名称;

一含位置信息的较高HSF值及表面磁场梯度KSF的极值,作为表面磁场指示及其评价结果; 目视检测结果;

——阈值777lim#l时,确定阈值mllm的程序及其值;

——使用其他无损检测方法对表面磁场指示位置进行附加检测结果(如果有);

——被检对象从初始使用开始的无故障运行时间(如果已知);

一检测参数:探头设置、探头相对于被检对象表面和测量方向的夹角、探头速度、探头提离、相邻测量点之间的距离等;

外部磁场的方向,与测量线有关(例如:地磁场);

一磁记忆检测所用设备的信息(品牌和序列号、探头类型和尺寸、灵敏度、磁强计/梯度计等);

被检对象的最终验收要求;

一检测的地点、条件、检测日期、检测人员的姓名和签名。

9.2应在报告中附上表面磁场图(和/或映射图)和被检对象的日志文件,说明检测区域和检测到的表面磁场指示。

9.3应根据获得的检测结果分析被检对象的状态。

9.4检测报告应至少保存到下一次被检对象检测。

10安全要求及人员资质

10.1执行磁记忆检测的人员应遵守工业环境安全要求。

10.2在开始检测程序之前,所有相关人员应通过适当的安全指导和培训,其内容应记录在案。

10.3检测期间,应穿戴适合特定工业环境条件的个人防护装备。

10.4高空作业时,应使用合适的脚手架、吊架和绳索。脚手架、梯子和吊架应符合安全标准的要求。

10.5只有接受过磁记忆技术培训的人员才能进行检测。负责培训检测人员的人员应具有电磁(涡流)检测m级等级(符合ISO9712规定)资格。

附录A

(资料性)

表面磁场分布标识方法的示例

用于制造离心泵轴的直径为22mm钢棒的磁记忆检测结果,见图A.l「5Sl。

钢棒检测过程中扫查装置的示意图,见图A.la)。

表面磁场的法向分量(1)及其表面磁场梯度模量K&.:=|dHSF.:/cLH(2)沿棒的I轴的分布,见图A.lb)。区域(3)中的表面磁场指示,显示了正常部位的系列变化和较高梯度模量值的特征。

钢棒横截面的显微照片,见图A.lc)。与相邻材料相比,线型结构的硬度值(内嵌)增加表明存在与图A.lb)(3)区域中表面磁场指示一致的冶金缺陷,在ISO24497系列标准中也被称为应力集中区(SCZ)。

a)棒检测过程中扫查装置的示意图

图A.1直径为22mm钢棒的磁记忆检测装置和结果

c)与图A.1b)区域(3)中SFI-致的棒横截面显微照片

标引序号说明:

1——表面磁场法向分MHsf.;(.r)(\A/m,左垂直刻度)沿j轴的分布(底部水平刻度X,mm):

2——梯度值Id=IdHsh,;/d.r|(X10:iA/m2)右垂直比例尺)沿轴的分布(底部水平比例尺X,mm):

3——图中表面磁场法向分量WSF.;(^)及其梯度值= ,与SFI有关;

458,468,462——冶金缺陷区域的维氏硬度(HV2)值;

428,425,423——邻近冶金缺陷的材料区域的维氏硬度(HV2)值。

图A.1直径为22mm棒的磁记忆检测装置和结果(续)

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