上海光源光束线和试验站配置一览表(20211109154150)

1、SSRF首批光束线和实验站配置一览表软X射线谱学显微光束线/实验站BL08U1 A光源类型和参数椭圆极化波荡器EPU100,周期长度100mm, 4.2 米。样品处同 步辐射光 特性能量范围250 - 2000 eV能量分辨3000410eV 15001840eV样品处光通量> 108 (phs/s) 410 eV> 107 (phs/s) 1840 eV样品处光斑尺寸<150nm实验站实验站设备主体STXM显微镜一台快速正比计数管、光电二极管 湿样品槽二个供湿样品用 工作站一台分析软件：NEXAFS分析软件、元素成分分析软 件、三维图像分析。光学显微镜实验方法透射软X射线近

2、边吸收谱分析NEXAFS谱、 光谱显微分析一空间、能量三维x,y,E扫描 形态三维显微成像一空间三维x,y冲扫描。X射线成像及生物医学应用光束线/实验站BL13W1光源类型和参数多极 Wiggler ,1.944T/16poles/14cm。样品处同 步辐射光 特性能量范围10-60keV能量分辨< 5X10-3样品处光通量921X10 phs/s/mm 20keV样品处光斑尺寸45mm(H 5mm(V) 30m20keV实验站实验站设备精密隔振平台、高分辨X射线CCD、多维样品 台、精密导轨、电离室、快门、斩波器等。实验方法同轴相衬成像IL-PCI 显微 CT MCT 衍射增强DEI

3、等XAFS光束线/实验站BL14W1光源类型和参数多极 Wiggler 38极1.2 T,周期长度80mm。样品处同 步辐射光 特性能量范围4 22.5 keV能量分辨-42X10 Si(111)晶体 10keV样品处光通量12>2X0 phs/s (100mA)10keV样品处光斑尺寸2< 0.5 X.5 mm (H XV)实验站实验站设备32元Ge固体探测器、Oxford闭气路谱学电离 室、Lytle荧光电离室、上下温原位设备 (10K1000K)、5维样品平台。实验方法透射XAFS、荧光XAFS、掠入射XAFS、 时间分辨QXAFS、原位XAFS。X射线衍射光束线/实验站(B

4、L14B1)光源类型和参数弯铁，电子能量3.5GeV，束流300mA，磁场强 度1.27T,临界能量10.35keV,水平自然发射度3.9 nmrad。样品处同 步辐射光 特性能量范围4-22keV能量分辨2X10-410keV样品处光通量2X1011phs/s样品处光斑尺寸(H)0.4mmX(V)0.4mm实验站实验站设备Huber5021型6圆衍射仪及相关附件、Nal闪烁体探测器、电离室、固体荧光探测器。实验方法粉末衍射(XRD)掠入射衍射/掠入射反常衍射(GID/GIXAD) 反射率测量(XRR)倒易空间二维强度分布测量(RSMs) 衍射异常精细结构(DAFS)硬X射线微聚焦光束线/实验

5、站(BL15U1)光源类型和参数真空室内波荡器，周期数80,长度2m。样品处同 步辐射光 特性能量范围5-20 keV能量分辨AE/E2X10-4样品处光通量106X10 phs/s 10keV, 200mA样品处光斑尺寸< 3»m实验站实验站设备探测器：7元SiLi探测器，硅漂移探测器，成 像用X射线CCD,电离室。样品台：7轴高精度 电动扫描台，2维压电陶瓷扫描台。其他：样品 对光显微镜，调光X-CCD。实验方法微束X射线荧光分析4XRF:探测样品中微区 元素含量和分布,2维，3维。微束近边X射线吸收精细结构4XANES:特 定元素的在样品中的化学种态。微束X射线衍射、散射

6、需要借用X射线面探测 器外表分析实验方法、X射线成像。小角散射光束线/实验站BL16B1光源类型和参数弯铁光源，电子能量3.5GeV;自然水平发射度3.9nm.rad;流强 300mA; 磁场强度 1.27T。样品处同 步辐射光 特性能量范围5-20keV能量分辨< 6.0 为0-410keV样品处光通量> 3X10phs/s200mA样品处光斑尺寸0.4 为.5mm10keV实验站实验站设备一维广角气体探测器、一维小角气体探测器、成 像板探测器、单色光狭缝、电离室系统、掠入射 小角散射样品台、真空管道及支架系统等。实验方法小角散射同时广角和小角散射 掠入射小角散射 反常小角散射生物大分子晶体学光束线/实验站BL17U1光源类型和参数真空室内波荡器，周期长度为2.5cm,最小磁隙为6mm。样品处同 步辐射光 特性能量范围578 keV能量分辨< 2 X10-4样品处光通量2X1012phs/s (12keV200mA)样品处光斑尺寸150X50 #m2 (12keV)实验站实验站设备Mar225 CCD 探测器、Mar Dtb 系统、荧光探测器、样品低温冷却装置(CryoStream