热电瓦里安icp对比

1、Varian 710-ES 与 Thermo 6300 比较表Varian 715-ESThermo 6300ICP-OES 710-ESICAP 6300 （新型号）说明2006年3月份，热电公司关闭了在美国 的生产工厂，迁往英国，正式生产推出 ICAP 6300。而美国工厂的绝大部分技 术人员改投其他公司。ICAP6300与热电的原来的 ICP产品： IRIS Intrepid II比较，产品外观设计和光 路系统都经过了全新设计，产品性能也 完全不一样，其稳定性、可靠性需要时 间来检验Varian 710 ES 是在原来 Vista MPX 基础上升级产品，其光路、高频系统、检 测器等核心

2、部分不变。因此，是完全可 以信赖的Varian 710-ESThermo 6300说明总体描述由于等离子体的温度能达到 10000K，仪器过于小型化，其温度 会对光路产生影响，造成长期稳定 性和重复性下降。ICP-OES 710-ES是ICP发射光谱发展历史上 的重要里程碑，提高工作效率的同时，可节省大量 的样品和氩气消耗，为最先进的全谱直读型仪器， 是目前ICP发射光谱仪的首选机型，采用最新一代 的CCD固体检测器，同时快速测定177-785nm范 围内所有谱线。热电公司材料宣称 6300采用专用的新一代 CID-86检测器，仪器设计风格上为小型化，集成化， 它也是目前全球体积最小的台式全谱

3、直读式等离子光 谱仪尺寸：840X750X590mmICAP-SIzb尺寸：1375X750X990mm射频发生器频率：40.68MHz发生形式：自激式RF发生器， 直接耦合效率 80% 。无需水冷，降低噪音，节省能源。27.12MHz发生形式：固体发生器，直接耦合效率 75%。固体发生器由石英晶体控制频率，必须外加交换信号 才能产生父变输出，具有功率输出效率咼，振荡频率 稳定，易实现频率自动控制等优点；缺点是线路复杂，成本咼、不能随样品基体变化频率 自动补偿，容易造成熄火。氩气能够“燃烧”，就是因为火炬中 有快速变化的电磁场。频率越高，性能越好较高的工作频率可产生高强度的等 离子体，形成的尾

4、焰厚度小，这样 的等离子体自吸较少，因此有较宽 的线性动态范围，尾焰厚度小的等 离子体背景较低，提高了检测限因此，较咼的电源频率， 趋肤效应 强，有利于形成等离子体中心进样 通道，进样时不易吹火等离子体焰。功率：700-1700W，由计算机任意设定。 输出功率稳定性：优于0.1%输出功率：750-1350W，分250档由计算机设定。 英文规格书上标明，对于水平观测仪器，只能用到 1350W。欲获得良好的分析性能，高频发生 器的功率应高于800W。当分析水 溶液样品时，通常采用800-1200W 的功率，分析有机溶液或咼盐样品 时功率应增加到1350-1500W。光学系统中阶梯光栅-氟化钙棱镜交

5、叉色散系统光栅刻线：97.4L/mm 焦距：400mm中阶梯光栅+石英棱镜交叉色散系统光栅刻线：52.91L/mm 焦距：383mm刻线越多，分辨率越好，焦距越好光谱范围：177-785nm ，全范围覆盖，无波长断点； 紫外和可见区同时完成测定而不需狭缝切换，整个 测定过程中，光学系统无任何需移动部件。密封单色器恒温：35 C光谱范围：166-847nm ;紫外和可见不能同时读取，需要分两次曝光读数，紫 外部分波段采用145卩m的狭缝，可见部分波段采用 50卩m的狭缝。通过移动石英棱镜，实现狭缝切换。ICAP 6300光路图：Varian710ES为最先进的全谱直读 型仪器，没有移动的光学部件

6、，仪 器的精度好，稳定性高ICAP6300米用两个狭缝，将光谱 区分成两段，狭缝1用于紫外区， 狭缝2用于可见区，两者不能同时 工作。整个光路系统存在移动部件， 降低了仪器的精度，CIDMlM22 )农zr嵌段炬112背投式薄型电荷耦合百万像素CCD检测器.共1,129,000个象素所以全波段无断点覆盖 177-785nm全范围，一次 紫外可见全部读出，无任何移动部件。通过软件可 以任意选择谱库中37000条谱线中任何一条。开机稳定速度短，节省人力和电能, 且节省氩气消耗现在世界上所有数码信息产品几乎 全部采用CCD检测器，近五年来新 推出来的全谱直读等离子发射光谱 以及直读光谱，没有一家采用

7、 CID 检测器，由于CID量子效率低，噪 音大等固有缺点，逐渐被人们屏弃。 热电是唯一仅存的还在采用 CID作 为检测器的ICP生产厂家。CID86与CID38相比较而言性能 上并没有太大的改变。30分钟即可达到35C光室恒温温度。点火后10分30分钟可达到光室恒温温度 38 C 钟即可稳定的进行测定。电荷注入式检测器：CID86，共有291,600个象素. 有效面积：213 mm (14.6 mm X 14.6 mm) 像素：291,600 pixels in 540 x 540 array 像素大小：27 mm x 27 mm以前型号：IRIS In trepid II 检测器型号：CI

8、D38 有效面积：196 mm (14 mm x 14 mm) 像素：262,144个像素 像素大小：28 mm x 28 mm166-847nm 波长范围内有断点，紫外部分(175-275nm)和可见部分(275nm-800nm)分段读需要两次曝光热电公司英文样本：(CAP - Optics Design 43. Two Slits Moio tiniu yffkient2 exposures Ueing 2 &lits allows optimisation of sift height-in LJV(c23Onnrn I45pm,i and Vts (50m)rimlly, l活

9、门 indcpciKleni nieus lire mu ills arc nude, first using the on-uxis Uit, ；it)d then using the < tl jkH slit, rhe K>n-Lixjs ineasuremenL cavers w:iveleng|:lis heiween 175-G and 275*0 nm, md the off-axis measuienwnt contains those between 275*0 an<l H *) nnr I'he inicgmtk?»n times fo

10、r lhe du jxis and off-axis analysis are 2H and 1 1 -r.-L ' 'It、fl' i 'I1. . 1 1 L' -! ' Jill，'4I Jl i' 'll times c:it)Iv irkl jco idling Io the applied ion.每次测定都可得到整个 CCD的三维立体图象，依 次可对干扰情况进行直接的观察，并可通过图象上 谱线的位置与强度进行定性和半定量；三维图谱：具有智能摄谱功能，能智能获得样品中所有谱线的“指 纹照片”，并与分析数据同时保

11、存和调出。但是CID同样存在信号溢出的现象，显示的是二维图4並谱。象素分辨率：0.0035nm. (200nm) 光学分辨率：0.009nm (200nm ) 读出噪音(readout noise) : 10e- rms.量子化效率 QE : 175 800nm之间为50%-90% 检测器线性范围：5X107光学分辨率：0.007nm (200nm ) 读出噪音(readout noise) : 400e- rms.量子化效率：500nm 55% , 200nm 10%CID与CCD相比较而言，其属 于红敏型检测，在紫外区量子化效 率低，灵敏度差。为提高紫外区的 量子化效率，提高灵敏度，热电公

12、 司采用的一种技术是在检测器上加 涂有机磷光增敏剂，将紫外光转为 可见光再来测量，但在强光照射下， 这种磷光剂会有逐步失效，因此， 这是一种最大不足，将会严重影响 检测器的寿命。国内至少已有 7家 热电用户发生CID检测器损坏情况。半导体贴尔效应制冷，冷却温度：-45 C由于CID的暗电流比CCD的更高, 所以需要更低冷却温度以降低读数 噪音，消耗更多的电能。专利的表面阱消除过剩电荷技术，在每个感光元上 设计了专门的防溢出表面阱，从硬件上彻底消除了 过饱和溢出问题，使在高浓度基体共存时可以同时 进行低含量元素的测定。采用了最先进的背面入射 式检测器，以提高光电转换效率半导体贴尔效应制冷，冷却温

13、度：-30 C无主动溢出保护，借助非破坏性读数间接进行，极易溢出；实际上经常会毫无提示地得到一个错误的结果（偏低，即稀释后待测元素的发射强度反而增大了！增加了氩气的消耗，使用成本提高, 同时由于操作不当容易造成检测器 损坏。密封式CCD，无须消耗氩气吹扫，并节省氩气过滤 器消耗非密圭寸式设计，须消耗氩气吹扫，关机时必须先检测 器恢复到室温才能停气（吹扫至少一个小时），增加了 氩气的消耗。RINTplace tl 论眾师1 in Otf Micte Iwn SMftw h诫：a) Using the temperaturelinctian 何m 惟 TE¥A Toot menu, ri

14、suw Ihatth?CID cwmffimperalure 店 M ainbien：.b艸遞垂莎H血then luni丽迥夏甦c) Turn olf ihc power lo 怕 spscircxTieler usif'g the swiKt on the ef? srie.d Turn otf the power al tn man bitftef 师恤 front pa nd of lhe pcrtf J upp y nwWfii气路控制等离子气：0-22.5L/min，连续可调，1.5L/min增量 辅助气：0-2.25L/min，连续可调，0.75L/min增量等离子气：12

15、L/min，固疋流量，不能调节辅助气：4个固定模式：0、0.5、1.0、1.5L/min710-ES气体流量控制更为灵活，可 根据不同样品优化气体流量，获得雾化气：0-400kPa，无级连续可调雾化气：0-400kPa更好的灵敏度水平观测技术专利的冷锥技术，行业中最好的尾焰处理技术行业中最差的尾焰处理技术瓦里安专利的冷锥技术是克服ICP水平观测中尾焰的最佳方案，它保证了最低的背景及干扰和最大的线性范围无需采用双向观测达到垂直观测相近的线性范围和背景值。IRIS在水平观测时几乎没有对尾焰进行任何处理，导致较大 的背景和较差的线性范围炬管太长，导致炬管寿命太短为了弥补水平观测的问题，增加垂直观测来

16、消除背景干扰问 题但同时导致了：1、每个样品测量时，水平、垂直来回切换，导致仪器精度下 降2、4次曝光（水平、垂直各两次），分析速度更慢 炬管因垂直方向开孔，导致炬管寿命更短，垂直方向由于积 盐的变化，将导致数据漂移注意：双向观测时，炬管仍然是水平的注意：其炬管特别长，积盐特别严重波长校正Varian 710-ES系列米用15种元素标准溶液的近四 十条谱线对整个检测器进行实时校正，速度快，只用 几分钟，准确咼效。一般推荐3个月进行一次校正；每次只要 23分 钟，校正频率低，速度快。米用C、N、Zn和Ar谱线校正方式，可定位从 166 nm-847nm 范围内的谱线。但是每次等离子体点 燃后，仪

17、器会寻找氩气中的C、N和Ar线，由于每次 测定都需要自动进行波长校正，花费时间比较多，影 响分析速度。由于环境的变化，全谱直读仪的阵 列检测器通常需要进行波长校正。 一些公司的校正频率很咼而且非常 繁琐经常，在测定前需要花费大量 时间进行波长校正。进样系统采用同心雾化器和玻璃旋流雾化室，虽然雾化效率 高米用同心雾化器和玻璃旋流雾化室，虽然雾化效率高。可提供三种类型的炬管：一体式炬管、半可拆式炬 管、全可拆式炬管。一体式炬管国内有替代品，可大大降低日常的消耗提供半可拆式炬管，1.5mm石英中心管 无国内替代品，炬管的消耗较高软件全中文软件、获奖的工作表格风格界面，而且可以 随意切换中英文界面。在

18、线视频和音频多媒体帮助功能，包括操作维护录 像。无中文软件iTEVA软件：具有完整的任务工具栏、状态显示栏、 操作导向面板；同步、卷动和拆屏的显示数据。分析样品的同时，可智能摄谱，进行定量、半定量分 析。无多媒体帮助功能瓦里安公司倡导以客户为中心的价 值理念，在软件设计上也充分体现 人性化的设计思想；中文软件对初 学者和高校、研究所一线操作人员 的重要性是不言而喻的Video观看逮難对有一些按忸.剳能如下，播放/哲停和停止任何时侯都可用擂GV誓停槌権枚或暂停尹硬*该喪便丁予 泉下边框呆左面.桶据斗新播技扰态的不同"谀復由播啟 亜哲等相破优"如果，用如何停止蝕停1疇收.录茨將

19、停 在起始处*更想将予最跳別棊个地方.可按俚下边框上的撞冋滑动粗拖 功到所襦肌看占虽.右边的腰象漕示.即在滇示黴功能. 另外.选中骨动控制栩厉.也可用计鼻机上的蝕蟲匸卜一列工左箭y和右箭斗键可将录跟片向前或向启移动一幅画aPage Up利Pace Uom 可向前实向后掙动蒯B画面，在线可查询式全中文帮助数据可直接粘贴于Word、Excel软件中，可进行数据后处理。报表编辑自疋义。B-J f"J或其它数理统i计多重检量线系统(MULTICAL ),使得MPX能够成 功地通过一次测疋，在分析浓度为 1ppb以下的痕 量兀素的同时，分析例如浓度高至lOOOppm的Ca、 Mg、K、Na等元

20、素，线性范围达到109。无此功能由于715-ES具有全谱覆盖的特点， 加上多重检量线功能可以将各元素 的线性范围大大扩展，而无需费时、 导致精密度下降的双向观测分子量自动计算，杂质总量自动计算功能无此功能光谱干扰校正技术-FACT快速自动曲线拟合技术无此功能光谱干扰校正是等离子体发射光谱 分析中的一个重要组成部分，瓦里 安独有的FACT快速谱线自动拟合 技术，在不同的干扰元素之间建立 FACT干扰模型，并存为模型库， 用于快速自动谱线拟合技术，实现 在线解谱，准确、实时地扣除谱线 干扰，进行快速、简便的干扰校正。瓦里安公司在北京、上海、沈阳、成都、广州设有售后服务是购买仪器时一个极为重专门的代

21、表处，有经过严格培训优秀的专业维修队 伍，瓦立安公司在上海建立了亚太研发中心，用于 用户的培训和应用方法的开发，除了为客户提供性 能优良的产品以外，还为其提供全方位的技术支持 和服务。要考虑因素SpectraCAM Cooled Scientific Imaging System向峙VRACIDS6FIACIO84*M0 i ">40 th*4sKJ?4 X 102*1 pl<dsPixH Full WeilRACIO86：RAOD84：j 1, DOO, (900 eiectrgns>400,000 eLGMZtJTpngPixel Size27 niicrans

22、 by 27 nukrarrsILin&arty+ J?： from 关 to 80% of sattration<Jiiantim Lftitienc,心!h 肚 jJUnm and -10:： -ZOOfthi UV, LtiidX idy ldiiv-mi tf codi Iny 肌Rpwkjui:印屮1Vdiildhl fi om 50kHz. to 300kHz.Hors?400» s1nal« road C MkHz r»ad Ht«, -40* fir 2Brtr«MfcBi'rwingIndwidwt ho

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