地弹噪声整改案例-去耦电容和地线的重要性

1、NRC-819开入异常测试一、 测试说明针对WDR-821B/G3开入异常现象，本次试验针对以下7项内容进行了测试：1） 测量正常与疑似异常HCT245在开入变位时输入端低电平幅值。2） 通过可调电位器，测量HCT245芯片开入变位门槛值。3） 通过可调电位器，测量HC245芯片开入变位门槛值。4） 针对疑似异常HCT245芯片，调节跳位开入前端回路参数，测试对异常现象的影响。5） 使用HC245芯片，调节跳位开入前端回路参数，测试对开入变位的影响。6） 疑似异常HCT245芯片电源加电容测试。7） 开入动作电压值测量二、相关电路原理图和PCB三、测试项目1. 测量正常与疑似异常HCT245在

2、开入变位时输入端低电平幅值1.1 正常HCT245芯片在光耦变位时，用电压表测量YXKR1 YXKR11的电压为0.67V左右。1.2 正常HCT245芯片KR1(TWKR)的电压为0.654V（返回时高电平4.24V左右）。1.3 疑似异常HCT245芯片KR1(TWKR)的电压为0.656V（返回时高电平4.24V左右），去掉跳位面板指示灯后，KR1(TWKR)的电压为0.543V。2. HCT245芯片开入变位门槛值2.1 正常HCT245芯片，测量遥信开入在1.2V左右，HCT245输出变位。通道1：光耦后YXKR3 通道3：数据线D2 通道3：片选CS22.2 疑似异常芯片遥信开入变

3、位门槛值将YXKR9的上拉电阻两端并联一个电位器，调节电位器，测量YXKR9在1.2V左右，HCT245输出变位。变位过程中波形如下三个波形：通道1：D0(YXKR9经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR9通道1：D0(YXKR9经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR9通道1：D0(YXKR9经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR92.3 疑似异常芯片KR1(TWKR)开入变位门槛值断开KR1(TWKR)前端回路，将YXKR9回路接入到KR1(TWKR)上，将YXKR9的上拉电阻两端并联一个电位器，调节电位器，测量YXKR9在1.09V左右，HC

4、T245输出变位。变位过程中波形如下三个波形：通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR1通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR1通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR13. HC245芯片开入变位门槛值将YXKR9的上拉电阻两端并联一个电位器，调节电位器，测量YXKR9在2.5V左右，HC245输出表现为不定态，但无抖动现象，测得如下两个波形：通道1：D0(YXKR9经HC245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR9通道1：D0(YXKR9经HC245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR94.

5、 针对疑似异常HCT245芯片，调节跳位开入前端回路参数，测试对异常现象的影响4.1 不去指示灯情况下，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR14.2 去掉指示灯情况下，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR14.3 断开YXKR9前端回路，再与KR1(TWKR)并联，测得如下波形。通道1：D0(YXKR9经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR94.4 在电子车间测试时，断开YXKR9前端回路将KR1(TWKR)前端负载接到YXKR9开入位，波形如下：通道1：D0(YXKR9经HCT24

6、5输出端)，通道2：片选4.5 将信号插件NXH-850上的TVS1去掉，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR14.6 将NRJ-883上跳位指示灯的限流电阻改为1k、680、470，分别测得如下三个波形。a）限流电阻为1k时通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR1b)限流电阻为680时通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR1c)限流电阻为470时波形通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR15. 使用HC245芯片，调节跳位开入前端回路参数，测试对开入

7、变位的影响。5.1 使用HC245，将YXKR9的上拉电阻两端并联一个电位器，调节电位器，测量YXKR9在2.5V左右，HC245输出表现为不定态，但无抖动现象，测得如下两个波形：通道1：D0(YXKR9经HC245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR9通道1：D0(YXKR9经HC245输出端)，通道2：片选，通道3：YXKR95.2 使用HC245，将NRJ-883上跳位指示灯的限流电阻R10两端并联电位器，逐渐调小电位器电阻直至0，跳位开入KR1（TWKR）未出现抖动现象。电位器电阻为0时的波形如下。通道1：D3(KR1经HC245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16. 疑似异常

8、HCT245芯片电源加电容测试6.1 在NRC-819背板端子J3的VCC和GND之间并联1个0.1uF独石电容，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16.2 在HCT245芯片U14电源管脚旁边加1个0.1uF独石电容后，波形如下：通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16.3 在NRC-819背板端子J3的VCC和GND之间并联1个10uF瓷片电容，测得如下两个波形：通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR1通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16

9、.4 在HCT245芯片U14电源管脚旁边加1个10uF瓷片电容后，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16.5 在NRC-819背板端子J3的VCC和GND之间并联1个220uF钽电容，测得如下两个波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR1通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16.6 在HCT245芯片U14电源管脚旁边加1个220uF钽电容，测得如下：通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16.7 用导线将HCT245芯片U14的电源和地管脚

10、分别连接到端子J3，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16.8 用导线只将HCT245芯片U14的电源管脚连接到端子J3，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR16.9 用导线只将HCT245芯片U14的电源地脚连接到端子J3，测得如下波形。通道1：D3(KR1经HCT245输出端)，通道2：片选，通道3：KR17. 开入动作电压值测量开入回路动作电压测试开入回路动作电压值（V）并联电阻1k，HCT245并联电阻1.1k，HCT245并联电阻1.1k，HC245YXKR1148.5135.5134.

11、5YXKR2150137136YXKR3153.5141140YXKR4154141.5140.5YXKR5155.5143141.5YXKR6156144142.5YXKR7158146144.5YXKR8156.5144143YXKR9155.5143141.5YXKR10156.5143141.5YXKR11154142.5141.5四、测试结果通过上述测试，得出以下结果：1） 测量HCT245开入在电路中变位时的低电平幅值在0.65V左右，HCT245芯片开入变位门槛值在1.2V左右，疑似异常芯片未损坏。2） 通过调节监视灯电阻参数可以改善波形，监视灯回路是造成异常现象的一个诱导原因。

12、3） HCT245芯片电源管脚旁边加0.1uF去耦电容或减小地线回流阻抗和感抗，监视异常消失。4） 可换用HC245芯片替代HCT245，无抖动异常。测试人：张锋、王志鹏 2016/02/01245芯片未加旁路电容统计插件名称PCB版本设计日期设计人员NRC-8128XJ 035 784(V03.30).PCB2011/04/14宋一丁NRC-8198XJ 036 385(V01.10).PCB2013/01/22王志鹏NRC-8218XJ 036 422 (V01.30).PCB2012/08/22宋一丁NRC-81028XJ 036 498(V01.20) .PCB2012/01/17宋一丁NRC-81098XJ 037 128.(V01.10).PCB2014/03/27宋一丁NKR-8188XJ 036 745(V01.00).PCB2012/02/29宋一丁NKR-81018XJ 036 049(V01.00).PCB2010/05/10郭震NKR-81028XJ036048(V01.00).PCB2010/04/23宋一丁NKR-81038XJ 036 510（V01.00）.PCB2011/05/18宋一丁NKR-81048XJ 037 039(V01.00).PCB2012/12/04宋一丁NKR-81078XJ 03