最新的硬件测试实用标准最全可靠性测试

1、硬件测试标准文件编号版次V1页次第 1共 171 .目的此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计，制造中的潜在性问题，在正式生产之前寻找改善 方法并解决上述问题点，为正式生产的产品在质量上做必要的保证；并检测产品是否具备设计上的 成熟性、使用上的可靠性.具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。2 .范围此指引适用于所有诺亚信高科技集团有限公司生产的移动产品。3 .定义3.1 技术员：设定仪器，完成相关测试项目，并记录测试结果.解决检测过程中的问题；并向工程师反 馈检测方法的缺陷和不足。3.2 工程师：判断测试结果是否可接受；跟进问题的解决情况；改善检测方法。4 .抽样方案4.1 以

2、具体的实验项目要求为准。5 .检验内容5.1 环境可靠性试验5.1.1 高温运行试验试验目的：验证手机在高温环境的适应性试验样品：2sets试验内容：55C,手机配齐SIM卡”卡，装电池开机，进行12小时测试，运行时间从到达 55c温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安 装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，1台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同 供应商，则样机各选2pcs,共4pcs）。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如

3、有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。硬件测试标准文件编号版次V1页次第 2共 17 H4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。6 .1.2低温运行试验试验目的：验证手机在低温环境下的适应性。试验样品：2 sets试验内容：-20 C,手机配齐SIM卡”卡，装电池开机并运行老化软件，进行 12小时测试， 运行时间从到达-20 C温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常 .受测前 样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若 屏/主板不同供应商，则样机各选 2pcs,共4pcs）。特别注意：俄

4、罗斯项目需要测试低温下的充电功能（电池电压是否会升高）。判定标准:1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。5.1.3高温贮存试验试验目的：应力释放和加速材料的老化。试验样品：2 sets试验内容：80C,手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达80c开始算起. 在进行存储到24小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时 回温

5、后，开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供 应商，则样机各选2pcs,共4pcs）。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。硬件测试标准文件编号版次V1页次第 3共 17 H5.1.4低温贮存试验试验目的：加速材料的脆化。试验样品：2 sets试验内容：-40 C,手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从

6、温度到达-40 C开始算 起.在进行存储到16小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2 小时回温后，开机进行功能、外观检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主 板不同供应商，则样机各选 2pcs,共4pcs）。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。5.1.5高温高湿试验试验目的：验证手机在高温高湿环境下的适应性，

7、诱发临界状态的问题暴露出来。试验样品：2 sets试验内容：60 C, 95H%配齐SIM卡/T卡.手机电池开机并运行老化软件，进行 12小时测 试，运行时间从到达45C , 95H%温度开始算起.受测前样机胶塞必须安装归位.试验后在箱 内检查，要求产品的功能、外观正常，射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖, 1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs,共4pcs）。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复

8、）。4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。5.1.6灰尘试验试验目的：验证手机结构密闭性 。硬件测试标准文件编号版次V1页次第 4共 17 H试验样品：2 sets试验内容：将试验样机不包装，装上所配电池，正常位置安装在适合的灰尘砂粒（灰尘量2千克每立方米）试验箱中.其体积综合不得超过试验箱的有效空间的 1/3 ,底部面积不超过 有效水平面积的1/2,试验样机之间及与试验箱内壁距离应不小于100mm试验时，试验箱内温度为（15-35 C）,相对湿度45%-75%试验箱内的气流速度应保持试验用灰尘均匀缓 慢沉降在试验样机上，使最大风速不得超过 2m/s,试验

9、样机在该试验条件下保持 8小时. 停止吹风后，待粉尘完全沉降，才能取出试验样品.备注：测试时视整机出货状况决定是否 需要封堵接口。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。6 .检查LCD® 口和CAMS 口是否进灰。7 . 检查按键手感，按键是否由于进灰产生不灵敏或者失效。8 .检查所有I/O 口的功能，尤其是没有保护的孔灵敏或者失效。5.

10、1.7盐雾试验试验目的：验证手机结构密闭性和抗腐蚀性能。试验样品：2 sets试验内容：将试验样机装上所配电池，不包装状态下放入盐雾箱内，在35c下，用PH值为6.57.2 （酸性），浓度为（5± 1） %的氯化钠（NaCl）盐溶液连续对试验样机喷雾 2小 时，喷雾结束后将试验样品转移到湿热箱中储存 22小时，储存条件为温度（40± 2） C, 相对湿度为90 %95%.按上述规定喷雾并储存，构成一个循环，进行三个循环试验。备 注：测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显

11、示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。硬件测试标准文件编号版次V1页次第 5共 17 H4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。5.1.8随机振动试验试验目的：试验样机抗振动性能试验样品：2 sets试验内容：将试验样机装上所配电池，不包装.牢固地水平固定在振动台上；在对试验样机 进行振动测试时，采用以下频率/幅度：频率520Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度） 为0.96m2/S3;频率20500Hz时，随机振动 ASD（加速度谱密度）为0.96m2/S3 （20Hz）, 其它-3d

12、B/倍频程.将试验样机分别在X、Y、Z轴上振动，每个轴振动10分钟.在振动过程 中，试验样机连接综测设备，对试验样机进行射频性能测试。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。5.1.9温度冲击测试试验目的：验证手机结构、装饰件、焊接等在快速温变下的寿命。试验样品:2sets试验内容：将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，低温-40 C

13、7;2C/1H,高温80C ± 2C/1H,转换时间0 5min,循环12次，共计24小时。判定标准：1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。2 、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。3 、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。4 、MP3 FM耳机，充电，滚轮5 、实网通话一次，看送话和受话是否正常。硬件测试标准文件编号版次V1页次第 6共 17 H5.2 机械可靠性试验5.2.1 自由跌落试验试验目的：验证手机的结构以及主板器件的可靠性，整机抗多次跌落的能力。试验样品：4sets试验内容：注意点：A.普通

14、屏，研发阶段1.2米，大理石地面。B.2.42.8 （含2.8）研发阶段1米，大理石地面。C.2.8及以上屏，研发阶段0.8米，大理石地面。D.3.5-4.5 屏，跌落高度为0.6米标准，大理石地面。E.4.5屏以及以上，跌落高度为0.5米标准，大理石地面。1、进行测试前，先检查手机功能正常；确认结构方面的初始状态（便于跌落后进行比对）。2、将试验样品装上配套的电池/SIM卡/T卡，6面/4角，每个部位连续跌2次，总计20次, 跌落顺序：上顶面一下底面一左侧面一右侧面一左上角一右上角一左下角一右下角一 B面一 A面（屏面）。3、对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，先跌开盖状态，每个面跌落1次，

15、再在合盖状态下每个面跌1次，四个角每个角各2次。判定标准：1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。2. 手机是否在轻微扭曲/弯折后，正常开机。3. 功能是否正常。4. 跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流0 1mA待机的电流0 3mA。5. 拍照后，照片的保存以及删除。6. FM 收台/使用；MP3?机/外放效果。7. 充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙，是否可以收到蓝牙耳机。8. 触摸屏校准2次；手写输入写短信后发出，发出 2条。9.测试完成后，无机械损伤和功能失效。试验样机内部屏蔽罩及其它元器件不 能存在松脱或损坏现象，摇动试验样机应不出现任何异响。跌落

16、过程中，允许有 3次以下掉电及重启硬件测试标准文件编号版次V1页次第 7共 17 H5.2.2微跌落试验试验目的：验证手机在正常使用中轻微撞击的适应性。试验样品：2 sets试验内容：将试验样机不包装，装上所配套电池，插入 T卡及SIM卡。开机播放T卡MP3 状态下，跌落高度为10cm跌落面为PV印面，试验样机跌落方位顺序为：A面一B面一左 面一右面一上顶面一下底面，进行连续跌落每个面跌1000次总次数为6000次，且完成6000 次测试时记录测试结果。跌落后检查试验样机的外观结构及各项功能，并进行电性能测试。判定标准：1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。2. 手

17、机是否在轻微扭曲/弯折后，正常开机。3. 功能是否正常。4. 跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流0 1mA待机底电流0 3mA。5. 拍照后，照片的保存以及删除。6. FM收台/使用；MP3?机/外放效果。7. 充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙，是否可以收到蓝牙耳机。8. 触摸屏校准2次；手写输入写短信后发出，发出 2条。9 .测试完成后，无机械损伤和功能失效.试验样机内部屏蔽罩及其它元器件不能 存在松脱或损坏现象，摇动试验样机应不出现任何异响。10 .测试过程中不允许出现手机可装配部件脱落，掉SIM卡现象。11 、允许出现掉电0 3次、掉T卡0 2次（表现为音乐停止）。12 、

18、允许出现重起现象0 2次。1.1.3 挤压试验试验目的：检查手机抗挤压能力。试验样品：2 sets试验内容：将试验样机不包装，装上所配套电池，开机锁住键盘正面朝上，机身与固定支架的轴向垂直地放在帆布上并用布带将试验样机紧固 .长度为12cm的硅橡胶挤压头以（250 ±10） N的力，每分钟30次垂直作用于试验样机中部的翻盖正面或键盘面。1次为2秒，包括1秒施力和1秒松开，一共1000次，每200次做一次检查。试验环境为常温.试验过硬件测试标准文件编号版次V1页次第 8共 17 H程中试验样机保持开机状态.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，应在合盖状态下进行 试验。判定标准：测试过程

19、中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常，镜片/LCD无损坏，黑屏，花屏等显示异常。1.1.4 ESDU 验试验目的：检验手机在使用中抵抗自然静电的能力。试验样品：2sets试验内容：温度15c35C,相对湿度30%-60%RH气压86106kPa.试验样机处于充电 状态下，通话状态或进入照相模式进行测试，对每个选取点放电10次，每秒1次.（接触放电）放电电压设置为土 6KM选取点：试验样机在操作过程中正常被人体接触的导体部分， 测试部位至少包括：充电接口、金属天线等、及金属装饰件等 .（空气放电）放电电压设置 为：±10KV选取点，试验样机在操作过程中正常被人体接触的非导体部

20、分，例如：前后 壳接缝、LCD显示屏、按键面板、I/O 口及其它所有的露孔接缝处。判定标准：ESD测试时应能继续保持工作状态，出现的异常现象，如屏幕显示不正常、通话 音杂等，应该在试验完毕后能恢复；试验完毕后试验样机通话、充电等功能应正常，试验 样机中存储数据应不会产生丢失。试验后各项功能正常。1.1.5 扭曲试验试验目的：检查手机抗扭曲能力试验样品：2sets试验内容：将试验样机不包装，装上所配套电池，开机状态下固定扭曲试验机上，两端各挟持15mm以2N-m扭矩，顺时针扭曲和逆时针扭曲各一次交错进行，频率为1530/次,共扭曲1000次.试验环境为常温.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，应

21、在合盖状态下 进行试验。判定标准：测试过程中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常。1.1.6 内容：弹簧锤撞击试验目的：检查手机触摸屏抗撞击能力。试验要求：撞击能量为0.2J ,用弹簧锤撞击锤对触摸屏中心位置和四角各进行一次测试。判定标准：触摸屏表面不能有破裂，各项电性能符合要求。数量:2 sets硬件测试标准文件编号版次V1页次第 9共 17 H5.3 部件机械可靠性试验5.3.1 触摸屏点击试验试验目的：屏的手写寿命试验样品：2 sets试验内容：将试验样机不包装，装上所配套的电池，关机状态下，用0.8R尼龙笔，力量250g, 频率3次/秒，点击次数10万，每1W欣做一次检查。打点

22、位置：动作区范围内的中央部位.判定标准：触摸屏表面不能有破裂，各项功能正常。5.3.2 触摸屏划线试验试验目的：屏的手写寿命。试验样品：2sets试验内容：将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，用0.8R尼龙笔，力量250g, 划一三角形，触控屏右侧和底部预留 5mm速度150mm/sec,重复测试10万次.直线划动 位置：动作区范围内的中央部位。判定标准：触摸屏表面不能有划痕可接受，不能有破裂，各项功能正常。5.3.3 翻/滑盖寿命试验试验目的：验证手机壳体材质，滑轨，FPC的寿命.以及滑盖组件结构的配合寿命 。试验样品：2 set试验内容：翻盖寿命试验 将试验样机不包装，装上所配电

23、池，开机装态下，把试验样机滑 （旋）盖打开再合上为一次开合，操作频率要求 35次开合/分，共需要开合10万次.试验 结束后，拆机检查FP5能有明显划痕和刮伤。滑盖寿命试验 A类要求：将试验样机不包装，装上所配套电池，开机状态下，把试验样机 滑盖打开再合上为一次开合，操作频率要求 45次开合/分，共需要开合10万次。B类要求：将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，把试验样机滑（旋）盖打开 再合上为一次开合，操作频率要求 35次开合/分，共需要开合10万次。判定标准：5000, 1万，2万，3万，4万，5万，8万，10万次各检查手感良好，滑盖/翻 盖可以平稳开合，滑轨无明显松动，变紧，滑动

24、/转动时无明显异音等，以及与测试前状态 不一致的结构问题，电气功能正常，打开手机后观察FPC没有明显磨损，转轴的外观结构及灵敏度、LCD显示的情况、按键音是否正常、能否正常呼叫、其它地方的外观是否完好。硬件测试标准文件编号版次V1页次第 10 J（，共 17 H5.3.4 按键寿命（含侧键）试验试验目的：验证手机按键的使用寿命及长期按键对周围器件的影响试验样品：2 sets试验内容：开机状态下测试，导航键和确认取消键：10万次.侧键：5万次，10N的力度，速 度60-100次/分，打在DOM中央。判定标准：dome能失效.按键手感不能明显变差。5.3.5 数据线接口插拔寿命试验试验目的：验证手

25、机长期插拔充电器，耳机，数据线对相关器件的影响。试验样品：2 sets试验内容：开机状态下，将试验样机的数据线和数据线的插头进行反复插拔，插拔频率为20 次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。判定标准：试验后数据线I/O 口无任何的变形、损伤，数据线功能正常。5.3.6 耳机口插拔寿命试验试验目的：验证手机长期插拔耳机对相关器件的影响。试验样品：2 sets试验内容：开机状态下，将试验样机的耳机座和耳机的插头进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。判定标准：试验后耳机座无任何的变形、损伤，数据线功

26、能正常。5.3.7 充电器插拔寿命试验试验目的：验证手机长期插拔充电器对相关器件的影响。试验样品：2 sets试验内容：充电器不接电源，开机状态下，将试验样机的I/O 口和充电器的插头进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境 为常温。判定标准：试验后I/O 口无任何的变形、损伤，试验机充电功能正常。5.3.8 储存卡插拔试验硬件测试标准文件编号版次V1页次第11n共17试验目的：验证手机长期插拔储存卡对相关器件的影响。试验样品：2 sets试验内容：开机状态下，将 T卡插入拔出进行反复插拔，插拔频率为 20次/分，连续进行 1000次循环，

27、1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。判定标准：T卡镀金部位是否有被明显磨损和功能正常，结构稳固。5.3.9 SIM卡插拔试验试验目的：验证手机长期插拔 SIM卡对相关器件的影响试验样品：2 sets试验内容：将SIM卡和试验样机SIM卡座进行反复装拆，插拔频率为 20次/分，连续进行 1000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。判定标准：检查SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，SIM卡镀金部分是否会被明显磨损和功能正常，结构稳固，手机读卡功能使用正常，开机必须能够辨识SIM卡。5.3.10 触摸笔拉拔试验试验目的：验证触摸笔的使用寿命试验样品：2 sets试验内容：将触摸笔

28、和试验样机进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行5000次循环，1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。判定标准：触摸笔不能明显松动，甩动手机，触摸笔不能脱落。5.3.11 电池/电池后盖拆装耐久性试验试验目的：验证手机在正常使用中，电池及后盖频繁拆装后，对相关器件的影响。试验样品：2 sets试验内容：将电池、电池盖和试验样机进行反复装拆，插拔频率为 20次/分，电池连续进 行1000次循环，电池盖连续进行1000次循环，1次循环为1次装入和取出.试验环境为常 温。判定标准：电池盖无变形，卡勾无破裂，电池盖无松动。以20cm微跌掉电池盖的次数小于等于2次做为是否通过插拔测试通过的依据

29、。5.3.12 吊绳孔拉力试验硬件测试标准文件编号版次V1页次第 12 J（，共 17 H试验目的：验证吊绳孔的可靠性.试验样品：2 sets试验内容：将试验样机以坚直方向固定住（固定住机身的下半部），用拉力计施加 50N的力（逐渐增大），从水平方向拉吊绳孔，当拉力达到 50N时立即释放。判定标准：当拉力小于25N时，不允许前后壳张嘴，当拉力在 25N-50N范围内时，允许前 后壳张嘴，但当拉力释放后前后壳之间要能自动合拢。5.3.13 扬声器寿命试验试验目的：验证样机扬声器寿命性能。试验样品：2 sets试验内容：连续播放96小时，要求SPK无异常，同时记录下此时SPK的THD真，要求不 大

30、于5%.否则认为此SPKMtjC Fail。判定标准：扬声器能正常发音且应无破音， 手机各项功能正常。导入新物料时，必测此项.如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。5.3.14 振动器寿命试验试验目的：验证样机马达寿命性能。试验样品：2 sets试验内容：进入菜单选择马达启动，保持连续震动72小时。判定标准：马达能正常工作且应无明显振动强弱变化，手机各项功能正常。5.3.15 听筒寿命试验试验目的：验证听筒寿命。试验样品：2 sets试验内容：调节硬件和软件放大倍数，要求有效功率略大于额定功率10犯上（在拨打彩铃或 用力吹气时，峰峰值不超过2.8v）.进入菜单选择听筒开启，保持

31、连续受话 96小时。判定标准：听筒能正常工作且应无明显受话强弱变化，手机各项功能正常；导入新物料时， 必测此项.如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。5.3.16 麦克风寿命试验硬件测试标准文件编号版次V1页次第 13 J（，共 17 H试验目的：验证样机麦克风寿命性能。试验样品：2 sets试验内容：调节硬件和软件放大倍数，要求有效功率略大于额定功率10犯上（在拨打彩铃或用力吹气时，峰峰值不超过 2.8v）.进入菜单选择麦克风开启，保持连续送话 48小时。判定标准：麦克风能正常工作且应无明显振动强弱变化，手机各项功能正常；导入新物料 时，必测此项.如果只是修改线长，泡棉尺寸，

32、其余无变化，可以不用测试。5.3.17 触摸屏（假纯屏）可靠性试验试验目的：验证屏的强度。试验样品：2 sets试验内容：屏的压力测试.测试最靠近边缘的9个点及中间一个点，要求承受压力要大于 4.5Kg,使用直径为10mm勺圆柱形压头，在测头与屏接触面垫泡棉，压边缘屏的位置，但 不要压边框。判定标准：屏不能破裂，失效。5.3.18 LCD Lens 硬度试验试验目的：验证LCDB片的耐磨性。试验样品：2 sets试验内容：用三菱试验铅笔芯，以1kgf压力。笔尖要磨平的，要放在砂纸上以 90度角磨 平的。需按照屏镜片具体材质，具体制定.PET:1H、普通喷漆：2H、胶类使用Level3。判定标准

33、：测试部位不应出现的明显划痕。5.3.19 插孔保护塞拉拔力测试试验目的：验证胶塞的牢固程度试验样品：2 sets试验内容：0.8kgf的拉力，保持10秒，共进行2次。判定标准：塞子不能拉脱/拉断，测试结束后能收缩回原始状态。5.3.20 插孔保护塞反复拆装试验试验目的：验证胶塞多次拆装后，是否配合良好。试验样品:2 sets硬件测试标准文件编号版次V1页次第 14 J（，共 17试验内容：1000次判定标准：测试结束后，与原始状态一致5.3.21 Lens （透镜/镜片）静态按压试验试验目的：检查Lens （透镜/镜片）在机壳上的牢固性。试验样品：2 sets试验内容：A壳显示窗lens为背

34、胶粘贴形式.拆机后，将A壳lens （透镜/镜片）用电子拉 力计往外顶，要求将lens （透镜/镜片）顶脱胶的力不能小于0.3kgf。判定标准：LENS占性牢固,不能脱落。5.3.22 按键帽拉拔力试验试验目的：验证按键的可靠性，是否容易脱落。试验样品：2 sets试验内容：使用普通透明胶带，将其粘在按键上，从垂直90度方向迅速拉起，重复操作3次。判定标准：键帽不脱落，不损伤。5.3.23 镶件拉力试验试验目的：验证试验样机镶件的抗拉性。试验样品：2 sets试验内容：将螺钉拧入镶件，用拉力计钩住螺钉头，将试验样机固定，用拉力计测出将镶 件拔出的拉力.试验样机的每处镶件均需测试，要求镶件的破坏

35、拉力大于7Kgf。判定标准：要求镶件的破坏拉力大于 7Kgf。5.3.24 镶件扭矩试验试验目的：验证试验样机镶件的抗扭力性能试验样品：2 sets试验内容：把螺丝枪扭矩设为1.5Kgf? cm,将试验样机前后盖合上，用螺丝枪将螺钉拧入 到底，然后再松开螺钉，开启试验样机盖，检查镶件是否旋出塑料柱.试验样机的每处镶件均需测试。判定标准：要求镶件不能脱出塑料柱硬件测试标准文件编号版次V1页次第 15 J（，共 175.4 结构壳可靠性试验5.4.1 RCA寸磨试验试验样品：2 sets试验内容：用专用的NORMAN R即测试仪（型号：7-IBB-647）及专用白纸带（11/16 inch wid

36、e X6或8 inch diameter ）,施加175g的载荷，带动纸带在样本表面磨擦.普 通喷漆部位要求300次，橡胶漆部位要求40次，橡胶漆LOGC20次，真空溅镀部位要求200 次，印刷、图案（在表面）部位要求 200次.试验时尽量选取容易发生脱漆的边角位进行磨 擦.试验环境为常温.该试验只针对试验样机外表面喷漆或印刷部位。判定标准：试验后喷油部位不露出基材颜色，印刷部位文案仍然清晰。5.4.2 硬度试验试验目的：验证手机机壳表面涂附层的硬度。试验样品:2 sets试验内容：使用中华牌铅笔，铅笔与涂膜呈 45度角，用1kg的力推出35cm （视可测试 距离定）距离，检视涂膜有无划破或刮

37、痕；在不同位置划 5条；测试条件为温度23±2C, 湿度50±5%笔心露56mm成圆柱状，尖端出处与砂纸（NO.400）呈90度画圈打磨到 平整。分以下机种情况：1.普通喷漆（底材为塑胶）及镜片：2H 2.普通喷漆（底材为金属）： 3H 3.IMF , IMR HB 4. RHCM F;试验环境为常温，该试验只针对喷漆或电镀部位外 表面。判定标准：用橡皮擦拭后表面无划痕。5.4.3 百格试验试验目的：验证手机机壳表面涂附层及 EMI油漆的附着力试验样品：2 sets试验内容：用锋利刀片或百格刀（刀锋角度为15°30° ）在测试中¥本表面划100

38、个小网 格（1mmx 1mm ,每画一条线应深及表面涂层的底层.用粘附力350400g/ cm2的胶纸（3M 600号胶纸或等同）牢牢粘着测试小网格，注意胶粘处不留气泡，待静置约2分钟后，用手抓住胶带一端，在垂直方向（90° ）迅速扯下胶纸，同一位置进行 2次相同试验.在放大镜 下观察网格.试验环境为常温。该试验只针对喷漆或者电镀部位外表面，脱落面积小于5%判定标准：在划线的交叉点处可以有小片的油漆脱落，脱落总面积须小于5%。硬件测试标准文件编号版次V1页次第 16 J（，共 17 H5.4.4 耐醇试验试验目的：验证手机外观部分对酒精的耐腐蚀性及耐磨性。试验样品：2 sets试验内容：用无尘布蘸无水酒精（浓度99.5%）,以0.5Kgf的力在油漆、电镀表面擦80 次，印刷、图案（在表面）30次，按键区