半导体集成电路霍尔电路测试方法

1、国家标准半导体集成电路 霍尔电路测试方法 （征求意见稿 ）编制说明1 工作简况1.1 任务来源本项目是国家质量基础（ NQI ）项目中的一项。本国家标准的制定任务已列入2018年国家标准制修订项目，项目名称为半导体集成电路 霍尔电路测试方法，项目编号为： 20192059-T-339 。本标准由中国电子技术标准化研究院负责组织制定，标准归口单位为全国 半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会（TC78/SC2 ）。1.2 起草单位简介中国电子技术标准化研究院是工业和信息化部直属事业单位， 专业从事工业和电子信息 技术领域标准化科研工作 。中国电子技术标准化研究院紧紧围绕部中心工作 ，立足

2、标准化工 作核心，研究工业和电子信息技术领域标准化发展战略，提出相关规划和政策建议；组织建 立和完善电子信息、软件服务等领域技术标准体系，开展共性、基础性标准的研究制定和应 用推广；承担电子产品的试验检测、质量控制和技术评价、质量监督检查和质量争议鉴定等 工作；负责电子工业最高计量标准的建立、维护和量值传递工作；开展管理体系认证、产品 认证、评估服务等相关活动；建立和维护标准信息资源，开展标准信息服务、技术咨询评估 和培训活动。1.3 主要工作过程接到编制任务， 项目牵头单位中国电子技术标准化研究院成立了标准编制组 ，中国电子 技术标准化研究院、 南京中旭电子科技有限公司中国电子科技集团公司第

3、四十三研究所、 中 国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所、 北京燕东微电子有限公司等相关单位参与 标准编制工作。编制组落实了各单位职责，并制定编制计划。编制组查找了国际、 国内集成电路相关标准， 认真研究了现行集成电路标准体系和相关 标准技术内容，在此基础上形成了标准草案。2 标准编制原则和确定主要内容的论据及解决的主要问题2.1 本标准制定原则本标准遵循 “科学性、实用性、统一性、规范性 ”的原则进行编制，依据 GB/T 1.1-2009 规则起草，确立了标准范围、规范性引用文件、术语和定义、一般要求、静态参数测试、动 态参数测试等内容。2.2 标准的主要内容与依据2.2.1 本标准的

4、定位目前尚无国际标准或国外先进标准参考或采用，因此编制组查阅了相关产品的标准和资料，并结合自身的研究经验，按照 GB/T 1.1-2009 标准化工作导则 第 1部分: 标准结构和 编写编制了本标准。2.2.2 关于引用文件本测试方法主要引用了 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第 2部分：数字集成电 路。2.2.3术语和定义术语和定义执行 GB/T 20870.1-2007 的规定。2.2.4 一般要求给出了测试环境条件、测试仪器及计量要求、测试注意事项三个部分。2.2.5 功能测试根据规定的要求设置程序。 按器件的功能原理生成测试向量或真值表， 通过测试系统或 信号发生器输

5、入到被测电路， 同时通过测试系统或相关仪表对输出信号测试， 检测被测器件 是否达到相关文件规定的真值表要求。2.2.6 静态参数测试本标准在相关资料的基础上结合自身的实际经验和客户需求， 对霍尔电路的静态电特性 指标进行了详细规定，包括导通磁场、截止磁场、回差、输入漏电流、输出低电平电压、电 源电流、电流偏移量，每个参数从目的、原理图、测试条件和测试程序出发，用于指导编制 详细规范。2.2.7 开关参数测试本标准在相关资料的基础上结合自身的实际经验和客户需求， 对驱动器的开关电特性指 标进行了详细规定， 包括输出电平上升时间、 输出电平下降时间， 每个参数从目的、 原理图、 测试条件和测试程序

6、出发，用于指导编制详细规范。3 主要试验（或验证）情况分析无。4 知识产权说明无。5 采用国际标准和国外先进标准情况 编制组查找了相关国际标准，我国集成电路、半导体器件的标准体系是按照 IEC TC47（半导体器件）、SC47A（集成电路）建立的，分为总规范、分规范、空白详细规范三个层 次：IEC 60748-11:1990半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括 混合电路）（ idt GB/T 12750-2006 ），但该标准技术内容制定时间较久，需要更新技术内 容。本标准在制定过程中参考了上述标准的部分技术内容，并进行了部分技术内容的更新。6 与现行相关法律、法规、规章及相关标准的协调性本标准不违反现行的法律、法规和规章。与GB/T 12750-2006半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）协调一致，本标准可以作为目前国家 标准体系的补充，健全现有的标准体系。7 重大分歧意见的处理经过