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文档简介

1、电子产品可靠性与维修性国家标准(共 39 项 )序号国家标准号1GB/T 1772-1979标准名称电子元器件失效率试验方法2GB/T2689.1- 1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则(用于威布尔分布) 3GB/T2689.2- 1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)4GB/T2689.3- 1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计(用于威布尔分布) 5GB/T2689.4- 1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计(用于威布尔分布) 6GB/T 3187-19948GB/T 4885-19859GB/T 4888-1985可靠性、维修性

2、术语正态分布完全样本可靠度单侧置信下限故障树名词术语和符号7GB/T4087.3- 1985数据的统计处理和解释二项分布可靠度单侧置信下限10GB/T5080.1- 1986设备可靠性试验总要求11GB/T5080.2- 1986设备可靠性试验周期设计导则13GB/T5080.4- 1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布 )14GB/T5080.5- 1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案15GB/T5080.6- 1996设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验16GB/T5080.7- 1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试

3、验方案 17GB/T 5081-198518GB/T 6990-198619GB/T 6991-19865080.8- 电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南电子元器件可靠性数据表示方法GB/T6992.1- 1995可信性管理第 1 部分 :可信性大纲管理指南GB/T19000.4- 1995质量管理和质量保证第4 部分 :可信性大纲管理指南系统和设备研制生产中的可靠性程序21GB/T6992.2- 1997可信性管理第 2 部分 :可信性大纲要素和工作项目22GB/T 6993-198623GB/T7288.1- 1987设备

4、可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟24GB/T7288.2- 1987设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 25GB/T 7289-198726GB/T 7826-198727GB/T 7827-198728GB/T 7828-198729GB/T 7829-1987可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南系统可靠性分析技术-失效模式和效应分析(FMEA程序可靠性预计程序可靠性设计评审故障树分析程序30GB/T9414.1- 1988设备维修性导则第一部分:xx 导言31GB/T9414.2- 1988设备维修性导则第二部分:规范与合同中的 xx 要求32GB/T9414.3- 1988设备维修性导则第三部分:xx 大纲33GB/T9414.4- 1988设备维修性导则第五部分:设计阶段的 xx 研究34GB/T9414.5- 1988设备维修性导则第六部分:xx 检验35GB/T9414.6- 1988设备维修性导则第七部分:xx 数据的收集、分析与表示36GB/T9414.7- 2000设备维修性导则第四部分:诊断测试37GB/T9414.8- 2001 设备维修

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