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文档简介
1、檢檢 治治 具具 之之 設設 計計工標處治具課工標處治具課 一一. 檢檢 驗驗 治治 具具 之之 定定 義義 是專門為零是專門為零;組件的受控尺寸而組件的受控尺寸而設計設計;制造的檢驗工具制造的檢驗工具二二.檢驗治具應用目的檢驗治具應用目的A;提高生產效率;降低本钱. B;控制產品品質均質. ;消除人為要素對產品之影三三.檢驗治具設計原則檢驗治具設計原則.治具公差選取原則治具公差選取原則治具所給公差原則上應占被檢尺寸公差的1/51/10但有時確應按實際情況及加工才干而定, 總的來講設計當中應盡能够給工件留出最大的制造空間, 目前治具公差的選取有2種方法:一、是直接給出公差的同時參考機械加工才干
2、, 二、是按標準選定, 並留有一定備磨量公公 差差 帶帶 選選 擇擇 圖圖 示示說明 S: 工件公稱尺寸 T: 工件公差帶 T3: 給工件所留制造公差帶 T1, T2 : 治具GO 和NG端公差帶 TS: 治具備磨量 (需查表)第一種第二種優 點缺 點第 一 種治 具 公 差 及 尺 寸 可 以直 接 給 出 節 省 時 間 ,易 于 校 對 , 並 可 以 根據 實 際 情 況 , 盡 可 能給 工 件 留 很 大 的 制 造空 間無 備 磨 量第 二 種治 具 尺 寸 及 公 差 按 標準 給 出 ,需 查 表 並 留 有一 定 備 磨 量 ,增 加 了 治具 使 用 壽 命吃 工 件 制
3、 造 公 差 帶 較多 兩兩 种种 方方 案案 對對 比比 實實 例例 說說 明明知知:一個被測孔直徑為一個被測孔直徑為=.+/-.則按第一种公差帶選取方法其治具設計尺寸為則按第一种公差帶選取方法其治具設計尺寸為:端為端為:.+./-端為端為:.+/-.則按第二种公差帶選取方法其治具設計尺寸為則按第二种公差帶選取方法其治具設計尺寸為:端為端為:.+./+.端為端為:.+/-.治具普通設計原則治具普通設計原則;檢治具設計應遵守:阿貝原則 尺寸鏈傳遞最短原則 變形最小原則 經濟原則;治具設計應可靠且操作簡單;迅速;准确.;治具設計應考慮治具維護性.;治具設計應考慮變更的靈活性.四四.檢驗治具最低要
4、求檢驗治具最低要求;外觀: 治具的外表應無明顯影響治具运用的外部缺陷, 如:划傷;嚴重鏽蝕;易呵斥傷害之尖角等.;治具各相配合部分之滑動應平穩;靈活;無卡滯現象. ;治具零件外表粗糙度之要求.1. 治具工件與被測工件接觸的定位面, 定位銷, 定位塊等其外表粗糙度應不低于Ra0.8.2. 測量面, 滑塊等外表粗糙度應不低于Ra0.8.3. 滑軌,導軌外表粗糙度應不低于Ra0.4.4. 有一定精度的線割孔, 槽, 電火花加工面, 其外表粗糙度應不低于Ra1.6.五五.檢驗治具測量誤差的主要來源檢驗治具測量誤差的主要來源.配合間隙產生的誤差配合間隙產生的誤差.標准件標准件;附件誤差附件誤差.工件變形
5、產生的誤差工件變形產生的誤差. 系系 統統 誤誤 差差.系統誤差:在同一測量條件下,多次測量同一量值時.假设誤差的大小和符號固定不變或在條件改變時按一定規律變化的誤差. 系統誤差之發現系統誤差之發現.實驗對比法實驗對比法.計算數据比較法計算數据比較法.不同公式計算標准誤差比較法不同公式計算標准誤差比較法.剩余誤差觀察法剩余誤差觀察法函數系統誤差計算函數系統誤差計算間接測量中間接測量中:y=x1+/-x2+/-.+/-xny=x1+/-x2+/-+/-xn函數系統誤差計算實例函數系統誤差計算實例某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成 =1+2知知:1=50.00
6、0mm L1=-0.0008mm 2=7.500mm L2=-0.0005mm求求:和和L解解:L0=50.000+7.500=57.500mm L=-0.0008-0.0005=-0.0013mm L=57.5000-0.0013=57.4987mm 偶尔誤差偶尔誤差.偶尔誤差(隨機誤差):是指在同一定測量條件下,多次測量同一尺寸時,其絕對值和符號以不可預定的方式變化的誤差.函數偶尔誤差的計算函數偶尔誤差的計算間接測量中間接測量中:y=x1+/-x2+/-.+/-xny=+/-QRT(1+2+n)偶尔誤差計算實例偶尔誤差計算實例某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成某四等量塊組由兩個不同尺寸之
7、量塊組成 =1+2 知尺寸檢測的极限偏向為知尺寸檢測的极限偏向為 1=50.000mm 1=+/-0.00045mm 2=7.500mm 2=+/-0.00020mm求求:和和L解解:L0=50.000+7.500=57.500mm L= =+/-(1+2 )=+/-0.00049mm L=(57.5000+/-0.00049)mm最有利測量條件确实定最有利測量條件确实定如某一測量過程中其測量結果受假如某一測量過程中其測量結果受假设干個要素的影響设干個要素的影響,如何建立測量結如何建立測量結果与各要素之間的關系果与各要素之間的關系,使得測量誤使得測量誤差最小差最小,這是在測量過程中要考慮的這是在測量過程中要考慮的.六六.治具常見的設計方式治具常見的設計方式.常見型式注:普通mm.常見型式注:普通mm.常見型式七七.治具設計中易犯錯誤治具設計中易犯錯誤1. 定位銷, 塊過高. 如上圖所示定位高度L過高, 忽略了工件折邊角度之影響, 通常定位高度應小于5mm.2. 長度檢測說明: 由于被測尺寸L過大(大于200以上
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