超声波探伤仪器试块分析学习教案

1、会计学1超声波探伤仪器超声波探伤仪器(yq)试块分析试块分析第一页，共49页。2021-12-142 主动型超声波检测(jin c)仪器第1页/共49页第二页，共49页。2021-12-143被动型超声波检测(jin c)仪器 第2页/共49页第三页，共49页。2021-12-144超声波传播的距离或时间，根据缺陷波的波高和水平刻度来进行缺陷的定量和定位。第3页/共49页第四页，共49页。2021-12-145第4页/共49页第五页，共49页。2021-12-146第5页/共49页第六页，共49页。2021-12-147第6页/共49页第七页，共49页。2021-12-148第7页/共49页第

2、八页，共49页。2021-12-149A型脉冲式单通道超声波探伤仪。第8页/共49页第九页，共49页。2021-12-1410同步电路发射电路接受放大(fngd)电路时基电路（扫描电路）显示电路电源电路第9页/共49页第十页，共49页。2021-12-1411楔块、阻尼块、接头等组成。第10页/共49页第十一页，共49页。2021-12-1412探头的工作频率，晶片在共振条件下工作： t/2 t为晶片厚度。第11页/共49页第十二页，共49页。2021-12-1413第12页/共49页第十三页，共49页。2021-12-1414般用有机玻璃做成。斜楔的纵波速度必须小于工件中的纵波速度。第13页

3、/共49页第十四页，共49页。2021-12-1415第14页/共49页第十五页，共49页。2021-12-1416板材、锻件等。第15页/共49页第十六页，共49页。2021-12-1417第16页/共49页第十七页，共49页。2021-12-1418第17页/共49页第十八页，共49页。2021-12-1419双晶探头有两块压电晶片。根据入射角不同(b tn)，又可分为双晶纵波探头和双晶横波探头。双晶探头的优点：1.灵敏度高；2.杂波少盲区小；3.近场区长度小；4.探测范围可调。主要用于探伤近表面缺陷。第18页/共49页第十九页，共49页。2021-12-1420聚焦探头有直探头和声透镜组

4、成，分为点聚焦和线聚焦。点聚焦声透镜为球面，线聚焦则为柱面。焦距(jioj)F与声透镜曲率半径r之间存在以下关系：Fc1r/(c1c2)第19页/共49页第二十页，共49页。2021-12-1421如如2.5B20Z,5P62.5B20Z,5P6* *6K3,5T20FG10Z6K3,5T20FG10Z第20页/共49页第二十一页，共49页。2021-12-1422第21页/共49页第二十二页，共49页。2021-12-1423尺寸如图所示。第22页/共49页第二十三页，共49页。2021-12-14247.8.测斜探头和仪器的灵敏度余量；9.调整横波探测范围(fnwi)和扫描速度。第23页/

5、共49页第二十四页，共49页。2021-12-1425半圆试块是目前(mqin)广泛应用的一种试块，其结构如图所示。第24页/共49页第二十五页，共49页。2021-12-1426第25页/共49页第二十六页，共49页。2021-12-1427CSK-A试块是我国锅炉和钢制压力容器对接焊缝超声波探伤(tn shng)JB115281标准规定的标准和试块，是在IIW试块基础上改进后得到的。第26页/共49页第二十七页，共49页。2021-12-1428响缺陷定位。利用(lyng)CSK-IA试块进行仪器和探头性能的测试第27页/共49页第二十八页，共49页。2021-12-1429a4；3）计算

6、水平线性误差； |amax|/0.8b |amax|=max(a2、a3、a4)； b示波屏水平满刻度值。测试步骤第28页/共49页第二十九页，共49页。2021-12-14302.垂直线性(linearity of amplifier) 垂直线性指仪器放大器的线性度。它表示探头所接受的信号电压大小与荧光屏上所显示(xinsh)的回波高度成正比的程度。 仪器中衰减器的精度直接反映着垂直线性误差。垂直线性的好坏影响缺陷定量精度。第29页/共49页第三十页，共49页。2021-12-1431调衰减器，每次衰减2dB，并记下相应的波高Hi填入表中，直到底(do d)波消失。第30页/共49页第三十一

7、页，共49页。2021-12-1432 衰减量dB024681012141618202224回波高度实测绝对波高Hi相对波高理想相对波高10079.468.150.139.831.625.119.915.812.6107.96.3 偏差表中：实测(sh c)相对波高Hi/H0100 理想相对波高10dB/20100第31页/共49页第三十二页，共49页。2021-12-1433第32页/共49页第三十三页，共49页。2021-12-1434第33页/共49页第三十四页，共49页。2021-12-1435地方就是该探头的入射点。此时，探头的前沿长度为 l0RM第34页/共49页第三十五页，共49

8、页。2021-12-1436斜探头K值是指被探工件中横波折射角s的正切(zhngqi)值。探头置于B位置时，s在3560度时；探头置于C位置时，s在6075度时；探头置于D位置时，s在7580度时；若探头(tn tu)在C位置，则 K=tgs=(Ll035)/30第35页/共49页第三十六页，共49页。2021-12-1437的衰减总量。第36页/共49页第三十七页，共49页。2021-12-143850，记下此时衰减器读数N2dB，则仪器与探头的灵敏度余量N为 NN2 N1dB第37页/共49页第三十八页，共49页。2021-12-1439N2，则仪器与斜探头的灵敏度余量N为 NN2N1dB

9、第38页/共49页第三十九页，共49页。2021-12-1440第39页/共49页第四十页，共49页。2021-12-1441第40页/共49页第四十一页，共49页。2021-12-1442力RP为： RP=(9185)a/(a-b)(mm)c 当A、B、C能分开(fn ki)时，分辨力RP为： RP=(9185)c/a(mm)第41页/共49页第四十二页，共49页。2021-12-1443a 探头置于CSKIA试块上对准50、44、40三个阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。b 平行移动探头并调节仪器(yq)，使50、44回波等高，其波峰为，波谷为h2，则其分辨力为 X=20lg(h1/h2)(dB) 实际(shj)测试时，用衰减器将h1衰减到h2，其衰减量N就为分辨力，即XN第42页/共49页第四十三页，共49页。2021-12-1444探测范围内发现缺陷(quxin)并对缺陷(quxin)进行定位。第43页/共49页第四十四页，共49页。2021-12-1445此时横波扫描(somio)速度就为1：1第44页/共49页第四十五页，共49页。2021-12-1446第45页/共49页第四十六页，共49页。2021-12-14