基于单片机的安保系统

1、传感器工程化考试设计说明书1目目 录录1 概述.21.1 选题的目的和意义.22 总体设计方案.22.1 总体硬件设计.23 系统硬件电路设计.33.1 单片机及相关电路.33.1.1.单片机介绍.33.1.2.复位电路.43.2 传感器的选用.63.2.1.光敏电阻的的 A/D 转换.63.2.2.DS18B20.83.2.3. ADC0832 转换器.93.2.4. ADC0832 功能特性.94 系统软件设计.104.1 程序总体思路.105 硬件与软件的测试.115. 1 硬件测试 .115.1.1.电路板初步测试.115.1.2LCD1602 液晶屏模块测试.115.1.3电路图及原

2、理图.115.2 软件测试.125.2.1.软件初步测试.125.2.2.程序如下：.1261 实物的调试.226.1.1.实物展示.22参考文献.22致 谢 词.22独 撰 声 明.23传感器工程化考试设计说明书21 1 概述1.1 选题的目的和意义21 世纪是信息化的世纪，各种电信和互联网新技术,物联网工程推动了人类文明的巨大进步。在科学技术得到显著增强的时候，人们对自己的生活提出了更高的要求。电子化控制系统就在这种条件下孕育而生。；也可以在下班途中，预先将家中的空调打开、让热水器提前烧好热水、电饭煲煮好香喷喷的米饭。2 总体设计方案2.1 总体硬件设计本设计通过数据采集模块，实时的采集环

3、境当中三种参数：温度值、湿度值、光照值。将数据进行简单的编码后再通过无线模块将六种参数数据发送至接收模块。接收模块通过无线模块接收六个参数的数据，为了达到上述功能，主要设计的硬件模块有：单片机控制最小系统、温度、热释电模块、光照传感器模块、LCD1602 显示模块、控制电路模块STC89C52RCDS18B20 温度传感器光照烟雾Lm324系统显示模块控制电路模块。图 1 数据采集与控制模块总体框图传感器工程化考试设计说明书33 系统硬件电路设计3.1 单片机及相关电路3.1.1.单片机介绍STC89C52 是一种低功耗、高性能 CMOS8 位微控制器，具有 8K 在系统可编程Flash 存储

4、器。在单芯片上，拥有灵巧的 8 位 CPU 和在系统可编程 Flash，使得STC89C52 为众多嵌入式控制应用系统提供高灵活、超有效的解决方案。 具有以下标准功能： 8k 字节 Flash，512 字节 RAM， 32 位 I/O 口线，看门狗定时器，内置 4KB EEPROM，MAX810 复位电路，三个 16 位 定时器/计数器，一个 6 向量 2 级中断结构，全双工串行口。另外 STC89X52 可降至 0Hz 静态逻辑操作，支持 2 种软件可选择节电模式。空闲模式下，CPU 停止工作，允许 RAM、定时器/计数器、串口、中断继续工作。掉电保护方式下，RAM 内容被保存，振荡器被冻结

5、，单片机一切工作停止，直到下一个中断或硬件复位为止。最高运作频率 35Mhz，6T/12T 可选。本其原理图如图 3 所示：图 2 STC89C52 引脚图 图 3 STC89C52 实物图 STC89C52 的主要性能特点如下：与 MCS-51 单片机产品兼容256 字节内部 RAM8KB Flash ROM，可以檫除 1000 次以上，数据保存 10 年电源控制模式全静态操作：0Hz33Hz传感器工程化考试设计说明书4三级加密程序存储器 32 个可编程 I/O 口三个 16 位定时器/计数器看门狗定时器双数据指针全双工 UART 串行通道八个中断源3.1.2.复位电路复位是单片机的初始化操

6、作。其主要功能是把 PC 初始化为 0000H，使单片机从0000H 单元开始执行程序。 。89 系列单片机的复位信号是从 RST 引脚输入到芯片内的施密特触发器中的。当系统处于正常工作状态时，且振荡器稳定后，如果 RST 引脚上有一个高电平并维持 2 个机器周期(24 个振荡周期)以上，则 CPU 就可以响应并将系统复位。单片机系统的复位方式有：手动按钮复位和上电复位。产生复位信号的电路逻辑如图 4 所示。图 4 复位信号的电路逻辑图整个复位电路包括芯片内、外两部分。外部电路产生的复位信号(RST)送至施密特触发器，再由片内复位电路在每个机器周期的 S5P2 时刻对施密特触发器的输出进行采样

7、，然后才得到内部复位操作所需要的信号。复位操作有上电自动复位和按键手动复位两种方式。STC89C52 的上电复位电路如图 5 所示，只要在 RST 复位输入引脚上接一电容至Vcc 端，下接一个电阻到地即可。对于 CMOS 型 单片机，由于在 RST 端内部有一个下拉传感器工程化考试设计说明书5电阻，故可将外部电阻去掉，而将外接电容减至 1?F。上电复位的工作过程是在加电时，复位电路通过电 容加给 RST 端一个短暂的高电平信号，此高电平信号随着 Vcc 对电容的充电过程而逐渐回落，即 RST 端的高电平持续时间取决于电容的充电时间。为了保证系 统能够可靠地复位，RST 端的高电平信号必须维持足

8、够长的时间。上电时，Vcc的上升时间约为 10ms，而振荡器的起振时间取决于振荡频率，如晶振频 率为 10MHz，起振时间为 1ms；晶振频率为 1MHz，起振时间则为 10ms。在图 2 的复位电路中，当Vcc 掉电时，必然会使 RST 端电压迅速下降到 0V 以下，但是，由于内部电路的限制作用，这个负电压将不会对器件产生损害。另外，在复位期间，端口引脚处于随机状态，复位后，系统将端口置为全“l” 态。如果系统在上电时得不到有效的复位，则程序计数器 PC 将得不到一个合适的初值，因此，CPU 可能会从一个未被定义的位置开始执行程序。 图 5 上电复位电路按键手动复位有电平方式和脉冲方式两种。

9、其中，按键电平复位是通过使复位端经电阻与 Vcc 电源接通而实现的，其电路如图 6 所示。而按键脉冲复位则是利用 RC 微分电路产生的正脉冲来实现的，其电路如图 6 所示。传感器工程化考试设计说明书6图 6 按键电平复位 图 7 按键脉冲复位电路图3.2 传感器的选用 3.2.1.光敏电阻的的 A/D 转换光敏传感器分以下几类：1，光敏电阻型。代表器件有 LXD5506 型硫化镉光敏电阻。2，光敏二极管型（包括光敏三极管）。品种很多应用最广泛，例如硅光敏二极管2CU2B 。3，光伏电池型。2DU3。4，热效应红外光型。本次选用光敏电阻，光敏电阻器是利用半导体的光电效应制成的一种电阻值随入射光的

10、强弱而改变的电阻器；入射光强，电阻减小，入射光弱，电阻增大。光敏电阻如图 10 所示。图 8 光敏电阻光敏电阻器一般用于光的测量、光的控制和光电转换（将光的变化转换为电的变化）。光敏电阻器的阻值随入射光线（可见光）的强弱变化而变化，在黑暗条件下，它的阻值（暗阻）可达 110M 欧,在强光条件（100LX）下，它阻值（亮阻）仅有几百至数千欧姆。我们在实际测量中，先将光敏电阻用黑色胶布粘贴遮光，然后测量其两传感器工程化考试设计说明书7端电压，在 15k 欧姆左右，然后去除黑色胶布，用强光照射测量其两端电压，在 400欧姆左右。其变化值很大，所以我采用连接 4.7k 的比较电阻接入然后将中间比较点输

11、入 ADC0809 的 IN0 输入口，来测量电压的变化。光敏电阻比较图如 14 所示。guang4.7KVCCGNDIN0图 9 光敏电阻电压比较图光敏电阻通过 AD 转换的原理是，当光照很强的情况下。光敏电阻的阻值比较小，在 400 欧姆左右，那么通过计算 IN0 口的输入电压大约是 4.6v 左右。而当遮光的情况下。光敏电阻的阻值很大。大约 15k 左右。通过计算计算 IN0 口的输入电压大约是左右 1.2v 左右，我经过实际测量和得到参数是强光情况下电压 4.2v，而在遮光情况下，电压时 1.3v。所以我们的电压变化范围是 1.3v 到 4.2v，电压差是 2.9v。由于ADC0832

12、 输出，所以我们将 2.9v 的电压差分成 255 份，这样便可以算出光线强度的数据。3.2.2.DS18B20DS18B20 数字温度传感器接线方便，封装成后可应用于多种场合，如管道式，螺纹式，磁铁吸附式，不锈钢封装式，型号多种多样，有LTM8877，LTM8874 等等。主要根据应用场合的不同而改变其外观。封装后的DS18B20 可用于电缆沟测温，高炉水循环测温，锅炉测温，机房测温，农业大棚测温，洁净室测温，弹药库测温等各种非极限温度场合。耐磨耐碰，体积小，使用方便，封装形式多样，适用于各种狭小空间设备数字测温和控制领域。图 12 DS18B20 温度传感器1 1: : 技技术术性性能能描

13、描述述 、 独特的单线接口方式， DS18B20 在与微处理器连接时仅需要一条口线即可实现微处理器与 DS18B20 的双向通讯。 、测温范围 55+125，固有测温分辨率 0.5。 传感器工程化考试设计说明书8 、支持多点组网功能，多个 DS18B20 可以并联在唯一的三线上，最多只能并联 8 个，实现多点测温，如果数量过多，会使供电电源电压过低，从而造成信号传输的不稳定。 、工作电源: 35V/DC 、在使用中不需要任何外围元件 、 测量结果以 912 位数字量方式串行传送 、不锈钢保护管直径 6 、适用于 DN1525, DN40DN250 各种介质工业管道和狭小空间设备测温 、 标准安

14、装螺纹 M10X1, M12X1.5, G1/2”任选 、PVC 电缆直接出线或德式球型接线盒出线 ,便于与其它电器设备连接。 3.2.3. ADC0832ADC0832 转换器 ADC0832 是一个单片集成、单独供电、低功耗、8-bit CMOS 数据获取器件。PCF8591 具有 4 个模拟输入、1 个模拟输出和 1 个串行 IC 总线接口。ADC0832 的地址引脚 A0, A1 可用于硬件地址编程，允许在同个 IC 总线上接入 ADC0832 器件，而无需额外的硬件。在 ADC0832 器件上输入输出的地址、控制和数据信号都是通过双线双向IC 总线以串行的方式进行传输。ADC0832

15、 的功能包括多路模拟输入、内置跟踪保持、8-bit 模数转换和 8-bit 数模转换。ADC0832 的最大转化速率由 IC 总线的最大速率决定。ADC0832 电路图 7 所示。图 13 ADC0832 电路图3.2.4. ADC0832ADC0832 功能特性8 位分辨率； 双通道 A/D 转换； 输入输出电平与 TTL/CMOS 相兼容； 工作频率为 250KHZ，转换时间为 32S； 一般功耗仅为 15mW； 传感器工程化考试设计说明书9 8P、14PDIP（双列直插）、 PICC 多种封装； 商用级芯片温宽为 0C to +70C： CS_ 片选使能，低电平芯片使能。 CH0 模拟输

16、入通道 0，或作为 IN+/-使用。 CH1 模拟输入通道 1，或作为 IN+/-使用。 GND 芯片参考 0 电位（地）。 DI 数据信号输入，选择通道控制。 DO 数据信号输出，转换数据输出。 CLK 芯片时钟输入。图 14 ADC0832 引脚4 系统软件设计4.1 程序总体思路我这个设计的思路是：分别编写数据采集模块和数据接收模块的程序。数据采集模块主要是采集温度、湿度、光照、的数值，将采集到的数据通过 LCD1602 显示出来。同时在单片机中进行数据的处理，然后达到控制继电器的目的。4.24.2 总体程序流程图总体程序流程图设计设计 初始化LCD 显示数据错误LCD 显示采集数据数据

17、处理程序开始转换数据读取传感器采集的数据判读是否采集到数据判断继电器是否启动传感器工程化考试设计说明书10 图 15 总体流程图5 硬件与软件的测试5. 1 硬件测试5.1.1.电路板初步测试电路板通过热转印制作好以后，首先将电路板打磨干净，利用我们的万用表检测所有的连线，看看是否有跨接在一起的，以便及时出路。然后当焊接好电路板过孔后，再次利用万用表检测电路板上下过孔是否连接正常。最后进行元件的焊接。等到整个板子都做好以后。利用万用表检测电路板正负连线是否跨接。如果一切正常。然后需要进行硬件电路连线的测试。线路检测根据电路图用万用表检测 PCB 板线路是否有短路和断路现象。根据电路图检查有极性

18、元件是否反接，元件参数是否合适，再检测元件引脚与对应的线路是否接通，防止虚焊。5.1.2LCD1602 液晶屏模块测试利用万用表测量 LCD1602 液晶屏幕的第 1 脚是否和电路负极相连，2 脚是否和电源正极相连。一切正常后，再测试 LCD1602 其它 8 个数据脚和其对应的单片机脚是否连接正常。如果一切正常，当其他模块测试完毕后便可上电测试模块软件了。启动继电器不启动继电器传感器工程化考试设计说明书115.1.3电路图及原理图 T2/P1.01T2EX/P1.12ECI/P1.23P1.34P1.45P1.56P1.67P1.78RST9RXD/P3.010TXD/P3.111INT0/

19、P3.212INT1/P3.313T0/P3.414T1/P3.515WE/P3.616RD/P3.717XTAL218XTAL119VSS20P2.0/A821P2.1/A922P2.2/A1023P2.3/A1124P2.4/A1225P2.5/A1326P2.6/A1427P2.7/A1528PSEN29ALE/PROG30EA31P0.7/AD732P0.6/AD633P0.5/AD534P0.4/AD435P0.3/AD336P0.2/AD237P0.1/AD138P0.0/AD039VDD40MCUSTC89C52VCCGND100pFC2Cap100pFC3Cap10FC1Cap

20、210KR1Res1GND12S1可可VCCP0_0P0_1P0_2P0_3P0_4P0_5P0_6P0_7P1_0P1_1P1_2P1_3P1_4P1_5P1_6P1_7P2_0P2_1P2_2P2_3P2_4P2_5P2_6P2_7P3_0P3_1P3_2P3_3P3_4P3_5P3_6P3_712*1可可VCC123456789RV2可可VCCP0_0P0_1P0_2P0_3P0_4P0_5P0_6P0_7VCCGND500R2Res1D1LED1123J1PowerGND12X1可可可Q1PNP12P11234P2500R12D3LED1vccdataGNDP5123DS18B20GN

21、D1VCC2V03RS4WR5E6DB07DB18DB29DB310DB411DB512DB613DB714BG/VCC15BG/GND16LCD1LCD 1602ARV1报警电路温度单片机最下系统12345678910111213141516P6Header 8X2H12345678910111213141516P7Header 8X2H12345678910111213141516P8Header 8X2H12345678910111213141516P9Header 8X2HP1_0P1_1P1_2P1_3P1_4P1_5P1_6P1_7P0_0P0_1P0_2P0_3P0_4P0_5P

22、0_6P0_7P3_0P3_1P3_2P3_3P3_4P3_5P3_6P3_7P2_0P2_1P2_2P2_3P2_4P2_5P2_6P2_7765411*U1BLM3248910411*U1CLM324123411*U1ALM324123456789101112P13Header 6X2123456789101112P14Header 6X2VCCGND*RG1P2_0P2_1P2_2P2_3P2_4P2_5P2_6P2_7P3_0P3_1P3_2P3_3P3_4P3_5P3_6P3_7P0_0P0_1P0_2P0_3P0_4P0_5P0_6P0_7P1_0P1_1P1_2P1_3P1_4P

23、1_5P1_6P1_7VCCGND10KR4Res210KR5Res210KR6Res2LM324+LM324+LM324+LM324-LM324-LM324-LM324-LM324+10KR8Res2100KR7Res2R9Res Varistor光敏模块烟雾模块123456P10Header 6LM324+LM324-LM324+12X2可可可Q2PNP12P31234P4报警电路12345J2可可可 5可Q?2N39061234P12Header 2X212345P11Header 5P0_0P0_1P0_2P0_3P0_4P0_5P0_6P0_7Q4855012345P16Header

24、 512345P15Header 5rsrwersrwe*RV3可可可可可可*RV4可可可可可可 图 16 原理图传感器工程化考试设计说明书12图 17 Pcb 封装图5.2 软件测试5.2.1.软件初步测试软件的测试要对每个硬件模块进行软件调试。调试模块时，一定要符合现场环境，即入口条件和出口条件。调试的手段可采用单步运行的方式和断点运行的方式，通过检查系统单片机的现场、I/O 口的状态，检测程序执行结果是否符合设计要求。5.2.2.程序如下： 主函数部分#include#include #includelcd.h#includetemp.hsbit bee=P36;sbit dat = P

25、30;sbit out = P10;sbit RX=P21;sbit TX=P20;sbit bee1=P35; uint temp; uint max;uint dist;bit flag =0;uchar disdat4= 0,0,0,0,;/* 函数名 : LcdDisplay()* 函数功能 : LCD 显示读取到的温度*/void LcdDisplay(int temp) /lcd 显示 int a=0,b=0,c=0; unsigned char datas = 0, 0, 0, 0, 0; /定义数组float tp; if(temp=700)|flag=1) /超出测量范围显示

26、“-” flag=0; else disdat0=S%1000/100; disdat1=S%1000%100/10; disdat2=S%1000%10 %10;dist=disdat1*10+disdat2;LcdWriteCom(0 x80+0 x40); /写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(0+disdat0); /百位 LcdWriteCom(0 x80+0 x41); /写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(0+disdat1); /十位LcdWriteCom(0 x80+0 x42);/写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(0+dis

27、dat2); /个位 LcdWriteCom(0 x80+0 x43);/写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(.); /显示 小数点.LcdWriteCom(0 x80+0 x44);/写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(0+disdat3); /个位 LcdWriteCom(0 x80+0 x45); /写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(c); /显示单位 LcdWriteData(m); /* 函数名 : 中断* 函数功能 : 超过测量距离中断*/ void zd0 () interrupt 1 /T0 中断用来计数器溢出,超过测距范围 f

28、lag=1;/中断溢出标志/* 函数名 : StartModule* 函数功能 : 启动模块*/void StartModule() /启动模块 TX=1; /启动一次模块 _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); _nop_(); TX=0; /* 函数名 : control* 函数功能 : 控制* 输入 : 无* 输出 : 无*/传感器工程化考试设计说明书15void MainDelayms(uint xms) /延时uchar i;f

29、or(;xms0;xms-)for(i=0;i=30) beef();else bee=1;void Control2() if(dist=3) beef();else bee1=1;/* 函数名 : main* 函数功能 : 主函数*/void main()bee=1; LcdInit(); /初始化 LCD1602LcdWriteCom(0 x87);/写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(C); while(1)LcdDisplay(Ds18b20ReadTemp(); Control();Control2();/MainDelayms(2000);/1s 钟刷一次传感器工

30、程化考试设计说明书16 if(dat) out=0;LcdWriteCom(0 x89);/写地址 80 表示初始地址LcdWriteData(w);LcdWriteData(a);LcdWriteData(r);LcdWriteData(n);LcdWriteData(i);LcdWriteData(n);LcdWriteData(g); else out=1; LcdWriteCom(0 x89);/写地址 80 表示初始地址 LcdWriteData( );LcdWriteData( );LcdWriteData( );LcdWriteData( );LcdWriteData( );Lc

31、dWriteData( );LcdWriteData( ); TMOD=0 x01;/设 T0 为方式 1，GATE=1； TH0=0; TL0=0; ET0=1; /允许 T0 中断 EA=1;/开启总中断 StartModule(); while(!RX); /当 RX 为零时等待 TR0=1; /开启计数 while(RX); /当 RX 为 1 计数并等待 TR0=0; /关闭计数Conut(); /计算LCD 显示模块部分#includelcd.h/* 函 数 名 : Lcd1602_Delay1ms* 函数功能 : 延时函数，延时 1ms* 输 入 : c* 输 出 : 无* 说

32、名 : 该函数是在 12MHZ 晶振下，12 分频单片机的延时。*/void Lcd1602_Delay1ms(uint c) /误差 0us uchar a,b;for (; c0; c-) for (b=199;b0;b-) for(a=1;a0;a-);传感器工程化考试设计说明书17 /* 函 数 名 : LcdWriteCom* 函数功能 : 向 LCD 写入一个字节的命令* 输 入 : com* 输 出 : 无*/#ifndef LCD1602_4PINS /当没有定义这个 LCD1602_4PINS 时void LcdWriteCom(uchar com) /写入命令LCD1602

33、_E = 0; /使能LCD1602_RS = 0; /选择发送命令LCD1602_RW = 0; /选择写入LCD1602_DATAPINS = com; /放入命令Lcd1602_Delay1ms(1);/等待数据稳定LCD1602_E = 1; /写入时序Lcd1602_Delay1ms(5); /保持时间LCD1602_E = 0;#else void LcdWriteCom(uchar com) /写入命令LCD1602_E = 0; /使能清零LCD1602_RS = 0; /选择写入命令LCD1602_RW = 0; /选择写入LCD1602_DATAPINS = com;/由于

34、 4 位的接线是接到 P0 口的高四位，所以传送高四位不用改Lcd1602_Delay1ms(1);LCD1602_E = 1; /写入时序Lcd1602_Delay1ms(5);LCD1602_E = 0;/Lcd1602_Delay1ms(1);LCD1602_DATAPINS = com 4; /发送低四位Lcd1602_Delay1ms(1);LCD1602_E = 1; /写入时序Lcd1602_Delay1ms(5);LCD1602_E = 0;#endif/* 函 数 名 : LcdWriteData* 函数功能 : 向 LCD 写入一个字节的数据* 输 入 : dat* 输 出

35、 : 无*/ #ifndef LCD1602_4PINS void LcdWriteData(uchar dat)/写入数据LCD1602_E = 0;/使能清零LCD1602_RS = 1;/选择输入数据LCD1602_RW = 0; /选择写入LCD1602_DATAPINS = dat; /写入数据Lcd1602_Delay1ms(1);LCD1602_E = 1; /写入时序Lcd1602_Delay1ms(5); /保持时间LCD1602_E = 0;#elsevoid LcdWriteData(uchar dat)/写入数据传感器工程化考试设计说明书18LCD1602_E = 0;

36、 /使能清零LCD1602_RS = 1; /选择写入数据LCD1602_RW = 0; /选择写入LCD1602_DATAPINS = dat;/由于 4 位的接线是接到 P0 口的高四位，所以传送高四位不用改Lcd1602_Delay1ms(1);LCD1602_E = 1; /写入时序Lcd1602_Delay1ms(5);LCD1602_E = 0;LCD1602_DATAPINS = dat 0; y-)for(x=110; x0; x-);/* 函 数 名 : Ds18b20Init* 函数功能 : 初始化* 输 入 : 无* 输 出 : 初始化成功返回 1，失败返回 0*/uch

37、ar Ds18b20Init()uchar i;传感器工程化考试设计说明书19DSPORT = 0; /将总线拉低 480us960usi = 70;while(i-);/延时 642usDSPORT = 1;/然后拉高总线，如果 DS18B20 做出反应会将在 15us60us 后总线拉低i = 0;while(DSPORT)/等待 DS18B20 拉低总线i+;if(i5)/等待5MSreturn 0;/初始化失败Delay1ms(1);return 1;/初始化成功/* 函 数 名 : Ds18b20WriteByte* 函数功能 : 向 18B20 写入一个字节* 输 入 : com*

38、 输 出 : 无*/void Ds18b20WriteByte(uchar dat)uint i, j;for(j=0; j= 1;/* 函 数 名 : Ds18b20ReadByte* 函数功能 : 读取一个字节* 输 入 : com* 输 出 : 无*/uchar Ds18b20ReadByte()uchar byte, bi;uint i, j;for(j=8; j0; j-)DSPORT = 0;/先将总线拉低 1usi+;DSPORT = 1;/然后释放总线i+;i+;/延时 6us 等待数据稳定bi = DSPORT; /读取数据，从最低位开始读取/*将 byte 左移一位，然后与上右移 7 位后的 bi，注意移动之后移掉那位补 0。*/byte = (byte 1) | (bi 7); i = 4;/读取完之后等待 48us 再接着读取下一个数while(i-);return byte;/* 函 数 名 : Ds18b20ChangTemp* 函数功能 : 让 18b20 开始转换温度* 输 入 : com* 输 出 : 无*/传感器工程化考试设计说明