X光管的使用寿命分析

1、1/ 3X光管的使用寿命分析X X 光管有多种分类形式，按照封装形式可分为玻璃封装和金属陶瓷封装。玻 璃封装 X X 光管，具有结构简单价格低廉的优势，功率一般较小，多用于荧光分 析仪器。近些年随着荧光分析仪器在中国的普及，越来越多的客户开始关注玻 璃封装 X X 光管的寿命问题。那么一个 X X 光管到底能使用多长时间呢？最佳的回 答是：“这得看情况而定 ”。尽管这个回答并不十分令人满意，但可以通过核查主 要的故障类型来确定这一答案。以下是常见的 X X 光管的故障原因，提供给读者这些必要的信息是用来评测x x光管的预期使用寿命。 ”错误的使用方式（一）热使用 X X 光管最频繁发生故障的原

2、因是没有对工作中的 X X 光管进行充分散 热。我们知道被给予动能的电子束在撞击阳极靶时 99%99%的能量会以热的形式散 发。一个 50W50W 的X X 光管通过转化过程会产生约 49.8W49.8W 的热能，再加上螺旋状的 钨灯丝产生的热能，由此我们可以看到散热是一个很关键的因素。关于 X X 光管本身，如果由于冷却不充分，会带来以下两种类型的故障模式：第一就是阳极靶材料升华。 在转换中， 阳极靶材料直接地从固体转到气体 （升华）, ,这种蒸发迅速降低管子内部超高真空的纯度。超高真空失纯的结果导 致是 X X 光管不能经受住阴极电子流（螺旋状的钨灯丝）和阳极靶之间高电压 差。X X 光管

3、开始短路，或发生电弧，进而蒸发更多的气体，依次降低更多的真空 纯度，并最终导致 X X 光管不能再运行。第二个故障类型是由于不正确的散热会释放破坏性的离子。如果X X 光管阳极所受到的负荷超过靶材蒸汽压力点，然后释放离子。依次，这些释放的离子 会被吸引向螺旋状的钨灯丝，并开始通过离子涤气过程开腐蚀灯丝。灯丝出现 损坏或断路，结果导致灯丝过早的失效。要防止这两种类型的故障，就要求冷却系统正常运行以防止 X X 光管过热。 如果2/ 3冷却系统出现故障，应及时停止 X X 光管继续工作。牛津仪器现在生产的封 装 X X 光管的自动热保护功能就起到这样的作用。（二）灯丝蒸发在产生 X X 射线的过程

4、中， 需要加热钨丝产生电子流。 当钨丝被加热到大约 20002000 度，钨丝就成了一个大量电子的发射器。从这一点上，设计上需要考虑X X光管的高性能和灯丝寿命最大化之间的平衡。对那些寻求使用小焦点 X X 光管的使用者来说，在 X X 光管设计的时候要考虑 灯丝长度和小焦点之间的对应关系。考虑到这点，一个标准的灯丝 “驱动器 ”电 路必须能够非常精细的控制灯丝电流。这是由于灯丝电流和灯丝线自身的实际 温度之间有很重要的关系。举例来说，牛津仪器 50005000 系列的 X X 光管需要在大于 1.51.5 安培的电流和 2 2伏特电压下才能达到产生电子流的灯丝温度。但是，电流高 于 1.71

5、.7 安培，灯丝就达到了一个非常高的蒸发区，到达 1.751.75 安培，灯丝就达到 了它的熔点，导致灯丝断开。因此，精细的灯丝控制电路是延长X X 光管使用寿命的基本点，绝大多数 X X 光管电源都有这种严密的电路设计以防止灯丝承受超 大电流。基本上说，X X 光管的使用者都了解灯丝允许通过的最大电流，挑选的 X X 光管 电源都有设置灯丝电流极限的功能。再强调一次，一个经常出现的故障就是灯 丝电流过大。要保证最佳的运行过程，就要从牛津仪器购买电源。这样做才能 保证所使用的电源和X X 光管相匹配，才会有完全保证灯丝电流不达到极限功 能。使用者已经考虑到充分的冷却和防止 X X 光管过热的综

6、合设计，并已选择了 正确保护灯丝的电源，那么剩下的问题就是考核螺旋状钨灯丝本身的寿命极限 了。正如上文中提到的，螺旋状的钨灯丝遇热会产生电子。这样，出现蒸发是 个很自然的过程，正如在正常操作许多个小时后，灯丝会变细导致故障。在图 表 1 1 中可以看到，灯丝电流与所 X X 射线管的高压有关。因此，测定预期的螺旋 状钨灯丝使用寿命，必须评估其全部使用时间内的平均灯丝电流。蒸发比率可 以被用来估算普通灯丝寿命（图表 2 2）。举例来说，如果使用者在 4040 千伏电 压、1.0mA1.0mA 电流下正常操作 X X 光管，在这就要求灯丝电流近似 1.601.60 安培。从图 表2 2 中，我们可以看出灯丝大约有 400400 小时的预期使用寿命。图表 1 1牛津仪器 50005000 系列 X X 光管要求的灯丝电流图表 2 2牛津仪器 50005000 系列 X X 光管灯丝寿命3/ 3结论正