布鲁克X射线衍射仪

1、布鲁克X射线衍身寸仪X射线衍射仪-D8 ADVANCE型X射线衍射（XRD）是所有物质，包括从流体、粉末到完整晶体，重要的无损分析 工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质结构表征，以性能为导向研制与开发新材料，宏观表象转移至微观认识，建立新理论和质量控制不可缺少的方法。通过对置于分光器（测 角仪）中心的样品上照射X射线，X射线在样品上产生衍射，改变 X射线对样品 的入射角度和衍射角度的同时，检测并记录 X射线的强度，可以得到X射线衍 射谱图。用计算机解析谱图中峰的位置和强度关系，可以进行物质的定性分析、 晶格常数的确定和应力分析等。而且通过峰高

2、和峰面积也可进行定量分析。除 此以外，通过峰角度的扩大或峰形进行粒径、结晶度、精密X射线结构解析等各种分析，还可以进行高低温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。1. 主要性能D8型X射线衍射仪系列是当今世界上最先进的 X射线衍射仪系统。它的设 计精密、硬件、软件功能齐全，能够精确对金属和非金属多晶粉末样品进行物 相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分 析等。仪器包括陶瓷X光管、X射线高压发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测 器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环水装置。2. 技术指标最大输出功率：2.2 kW;电流电压输出稳定性优于0.005%

3、（外电压波 动10%时；X射线防护：国际安全认证，射线剂量w 0.2卩Sv/h。光管类型：陶瓷X光管，Cu靶，其他靶材可选，更换无需校准；光管功率：2.2 kW;长细焦斑：0.4 x 12mm最大管压：60kV;最大管流：80mA测角仪：采用步进马达驱动和光学编码器技术，扫描方式9 / B或B /2 B测角仪；最小步进角度0.0001 o ;角度重现性0.0001 o ;扫描角度范围29= -110 o168 o ;最高定位速度 1500o/min。索拉（Soil er）狭缝：0.02, 0.04, 0.08 rad 。探测器：闪烁晶体计数器；动态范围2X106 cps ;背底噪声v 0.5

4、cps。固 体探测器：锂漂移硅能量色散型；测量范围 2keV30keV;能量分辨率：E 279 eV。系统软件：系统控制和数据采集软件；物相检索软件及数据库；粉末衍 射全分析软件包（相分析软件、物相定量分析软件；精密测定晶胞参数；样品 中无定型含量；微晶尺寸和（或）微观应力分析软件；结构精修和面间距与角 度计算；模拟复杂混合相或单相的无标定量分析）；残余应力分析软件；晶粒 度分析软件。3. 应用范围D8 ADVANCE X射线衍射仪集成最先进的技术提供了完善的衍射解决方 案，可进行如下工作，物相检索；物相定量分析；嵌镶尺寸（晶粒大小）及微 观应力（晶格畸变）测定；线形分析：除函数拟合法外，含独

5、家开发的基本参 数法分析软件，用作物相分析、点阵参数测定等数据处理前进行线形优化处理； Ka剥离、数据平滑、傅立叶变换、3维图形功能等。广泛应用于物理、化学、 药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合 金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超 导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、 多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体，为科学研究提供准确可靠的 数据。4. 样品要求来样标明名称、来源、主要成分、待测样品包含元素； 固体粉末：大于1g，建议事先处理300目左右。5. 相对于其它厂家的同类配置而言，该配置具

6、有如下独特的特点：19/ 9衍射仪：我们提供的是9 / 9衍射仪，这样样品不动，入射光路及衍射光路运动，因此可以测量液体、大的样品及所有不适合动的样品，从而有利 于高低温、气氛反应等的研究。刃二测角仪对测角仪的稳定性要求非常高。D8系列测角仪采用大轴设计方案，稳定性好，与 W2二具有相同的精度。2 测角仪：测角仪是衍射仪的心脏。我们的测角仪具有如下特点:精度高（角度重现性达0.0001度）；同一测角仪能立能卧；模块化性能好、组合灵活（可配置不同附件，组合成多种光路，以实现 不同的应用）；各种部件安装在高精度导轨上（从而可实现模块化快速互换）测角仪圆能根据需要改变（以得到高强度或高分辨率配置）步

7、进马达驱动+光学译码器保证了衍射仪快速而精确的定位。3 X 光管：我们提供的标准尺寸（因此可以与其它厂家的标准尺寸X光管互换）的陶瓷管，因此，相对某些使用特殊尺寸光管的厂家而言，用户今后受厂 家的限制少。4 软件：我们的软件是真正32位、WindowsNT/95环境下的多任务操作软件。 所有软件的操作接口、操作方式都与 Windows 一样，非常容易上手。而且具有 三维图形功能。你可以从不同角度审视测量结果，可以对结果进行各种操作。这一功能对高低温研究非常有价值。 XRD-XRF互动根据XRF或其它化学分析确定元素是否存在及含量、利用元素限制进行物相 检索和改进物相半定量分析原始数据直接检索软

8、件：除常规的检索方式外，我们还提供了利用原始数据 直接检索的Search/Match软件：对于常规的检索方式来说，如果样品类型 较复杂，如多种相混合等，或有择优取向样品、存在重迭峰等问题时，常规 检索方式就无能为力了。而本公司的直接检索方式与其它厂家的常规的d/I检索方式相比，不用寻峰，仅去除背底即可直接进行快速、准确的检索。可 有效地解决微含量样品、多相混合物中的重迭峰、有择优取向样品、低吸收 系数样品的检索等问题。此技术为布鲁克AXS公司独家所有。固溶体类样品研究：可对点阵参数规则变化或不规则变化引起的峰位漂移进 行调整，可对某一 hkl系列的衍射峰单独调整，因此可研究固溶体及其它的 点阵

9、参数发生变化的样品的研究。此技术为布鲁克AXS公司独家所有。数据开放。D8衍射仪的测量数据可以转换成标准的数据格式，因此，你可 以编写您自己的应用程序，或使用一些共享软件如 Rietveld分析等，因此， 今后的扩展余地大。除软件本身提供的输出功能外，可方便地利用您所熟悉的输出工具，如WordWPS97 EXCEL等； 全谱衍射花样解决方案 TOtal Pattern An alysis Solution (TOPAS)TOAPS包括以下三个部分：TOPAS Indexing指针化软件，采用Monte-Carlo法进行粉末衍射数据的指针化；TOPAS P基本参数法线形分析软件：无需标样即可进行

10、线形的准确分析。同时， 分析参数均含物理意义，可有效解决常规线形分析软件中存在的某些数学上符 合而物理上不对的问题。对于有严重重迭峰、无合适标样等常规软件所不能解 决的问题，该软件也能有效解决。这对于以下一些进一步相关的分析能提供更 准确的分析结果，如衍射图谱指标化、点阵参数精化、定量分析、晶粒大小/微观应力分析、解结构等。此技术为布鲁克AXS公司独家所有。TOPAG基于基本参数法的Rietveld分析软件：对于未知的新的物相，TOPA駅 可以通过对其粉末衍射数据的分析求解其晶体结构参数，如原子排列方式等。同时还可进行无标样定量相分析。Rietveld分析是衍射分析的前沿领域；TOPAS R集

11、成了目前所有成熟的线形分析方法，采用了独家所有的基本参数法、LeBail 方法等，并且采用了图形化的操作方式，使得该研究相对来说更简便；最新的TOPAS V4版，除上述功能外，新增加以下功能：支持可变计数时间；使整个从低角度至非常高角度的资料保持相当的统计质量， 遵守B-B聚焦几何，资料可用于物相定量分析、结构精修、粉末解结构等； 无标样相定量分析，包括部分或未知晶体结构的相定量分析、含非晶相的定量 分析（PONKCS）可以分析传统Rietveld法所不能的：非晶相、无序相、未知晶 体结构的相定量，其定量准确度与已知晶体物相一样！特别是在以下工业领域，有着特别重要的意义：矿物和米矿工业：黏土分

12、析医药工业：无定形材料和同质异像体水泥工业：炉渣添加剂和石膏脱水质量控制此技术为布鲁克AXS公司独家所有。我们的软硬件完全集成化。在计算机上直接设置测量程序，然后由计算机进行 自动控制。5 LynxEye 维阵列探测器：是目前最快速的探测器，（1）该探测器共由192个 子探测器数组组成，在相同条件下，与常规的闪烁计数器（或正比计数器）相 比，强度增益（或速度增益）高达 150倍，同时具有优秀的分辨率及信噪比。（2）超快的测量速度：测量国际标准样品一 NIST1976刚玉标样的10-80度范 围仅用1-2分钟。（3）良好的低角度测量：LynxEye探测器在充分吸收布鲁克 20多年的数组探测器应用

13、的基础上，基本克服了常规数组探测器低角度性能欠 佳的弱点。（3）该探测器具有很低的背景，同时动态范围很高，其192个子探测器的计数范围高达 70万cps，完全适合高强度及低强度信号的测量（4）良 好的分辨率：具有基本上等同于点探测器 +0.1mm接受狭缝的分辨率。更高的探 测器效率：98%该探测器免维护（半导体探测器，不需充气，可断电），使用 方便。5）活性面积大：14 mm X 16 mm, 6）具有动态扫描、静态扫描功能。6系统重量：由于 D8系统采用铅防护层，因此，整个系统重量较轻，同时， 整个系统可拆装成3个部分，非常方便搬运，甚至人工就可搬运上楼；7系统全面监测系统 D8 tools :可以全面监测系统的上百种状态，包括输入 / 输出电路板、探测器接口电路板、马达驱动控制电路板、发生器、2二驱动、