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文档简介

1、项目成员:陈煜 邹永恒 杨士栋 黄立豪 指导老师:王江涌教授 报告人:陈煜 1 2 Pd-Si薄膜 Pd-Si薄膜:金属硅薄膜: 在半导体器件领域的广泛应用(欧 姆接触、肖特基接触、互连线等) 在加工工艺中具有兼容性和制造简 易性等优势 目前Pd-Si薄膜研究的主要方向: Pd-Si界面的化学键和反应、Pd-Si 系统的相变等 Pd-Si薄膜表面偏析研究的意义: 更好的应用Pd-Si薄膜材料 薄膜材料的性能主要由材料成分、 显微组织、相结构和界面状态所决 定,而这些均与表面处理技术和工 艺有关。因此,分析薄膜材料的上 述因素与其性能、处理工艺之间的 关系,是提高工艺水平、保证薄膜 质量的重要途

2、径。 Pd-Si薄膜 3 修正的 Darken 模型 考虑薄膜 尺寸效应 约束条件 主要对Pd-Si薄膜系 统的平衡态和动态 表面偏析进行了模 拟计算 4 Miedema 模型:建立在基本热力学参量和大量 热力学实验参数基础上的半经验理论模型 相图CALPHAD:相图和热力学计算的结合 偏析参数的获取 Pd-Si薄膜系统的偏析参数与体块的偏析参 数相同 假设 5 假设: 1.系统为封闭体系 2.表面区域有限而体相无限 3.原子可以在表相和体相之 间互相交换,以达到体系 能量最小 6 耦合的速率方程组: 1 1 1 12 21 1 1 , 2 )1,( 2 )( ),1( 2 )1()( , 2

3、 , 2 , 2 NN N BB BN jj j jj jj SB B BB BB SB BS RTd DX t X RTd DX RTd DX t X RTd DX RTd DX t X RTd DX t X 7 Bragg-Williams表达式: RT XXG X X X X Bs B B s s 2 exp 11 8 修正的Darken模型在薄膜中的应用: 体块薄膜 N有限,当体层的原子偏析到表层后, 体层原子浓度会发生显著变化,考虑 薄膜尺寸效应的约束条件 N BB B BB N j 21 K K S 1 0 K=2/l 9 10 11 12 陈煜,黄立豪,杨士栋,邹永恒, 姜国利,

4、王江涌,钯-硅(Pd-Si)薄膜 表面偏析研究,材料科学(MS), 第6卷第6期( 2016年11月) 13 1)得到lPd-Si合金系统的偏析参数计算值; 2)对于Pd-Si合金系统,都是Si发生表面偏析; 3)Pd-Si合金系统的负强相互作用系数抑制了Si原子的偏析,Si的偏析程度很小,表 面偏析现象不明显; 4)不管在体块还是薄膜材料中, Pd-Si合金系统对于同一相互作用系数,Si平衡的表 面浓度随温度变化很小;在薄膜材料中,当薄膜厚度小于一定值时,Si的表面浓度不 随温度的变化而变化; 5)尺寸效应对Pd-Si薄膜合金系统表面偏析影响较小,基本忽略不计; 6)在动态偏析过程中Pd-S

5、i合金薄膜达到平衡态所需时间极其短,为10-3s;动态计算 的Si表面偏析浓度最终结果与平衡态结果相符。 14 结论:分别由Miedema模型半经验公 式和相图计算得到的Pd-Si系统各成分 的相互作用系数值相差较大,但其符 号一致,且其各成分间值得变化趋势 相同,所以可以用其进行定性判断。 15 合金薄膜系统分别在无相互作用和有强相互作用情况 下Si平衡的表面浓度与薄膜厚度的关系 结论:较大的负相互作用 系数抑制了Si原子的偏析 16 = -445KJ/mol时,Pd2Si合金薄膜系统,在不同 温度下,Si平衡的表面浓度与薄膜厚度的关系 平衡态的模拟结果: 垂直线标记为极限厚度 结论:当薄膜

6、厚度大于极限 厚度时,尺寸效应对薄膜的 偏析影响小;当薄膜厚度小 于极限厚度时,尺寸效应对 薄膜的偏析影响大 17 在温度T=1200K,Pd-Si合金在不同初始体浓度下Si 平衡的表面浓度与薄膜厚度的关系 标志垂直线为极限厚度 平衡态的模拟结果: 结论:对于Pd-Si薄 膜系统,各成分的极 限厚度都小于2nm, 这意味着尺寸效应对 其表面偏析的影响甚 小 18 在700K 下,Pd2Si 合金在膜厚为3nm 时Si的表面浓度和时间的函数 动态的模拟结果: 结论:动态偏析过程中,Pd-Si 合金薄膜达到平衡态所需时间 极其短,为10-3s;动态计算的 Si表面偏析浓度最终结果与平 衡态结果相符

7、 19 薄膜材料的应用种类: 超导薄膜、导电薄膜、半导体薄膜、介质薄膜、绝缘薄膜、钝化与保护薄膜、压 电薄膜、铁电薄膜、光电薄膜、磁电薄膜、磁光薄膜 潜在应用: 化学分离、化学传感器、人工细胞、人工脏器、水处理 20 在电子工业领域,电子元器件日益微型化和薄膜化,这就使得各种材料形成 大量的表面和界面、由此产生的各种现象如腐蚀、互扩散、偏析等,都会对 材料的组成结构产生重大影响,从而改变元器件特性。 在材料科学领域,金属材料的表面和界面经常发生吸附、化学反应、偏析和 扩散等物理化学过程,使表面或界面的元素组成和物相分布等都明显不同于 体相,容易发生表面腐蚀、钝化、磨损、以及脆化断裂、界面脆裂等问题。 薄膜表面偏析的研究是要了解外不可控因素(如组成、结构、温度等)和表 面性能之间的关系,从而指导人们

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