介损的一些概念

1、关于介质损耗的一些基本概念1、介质损耗什么是介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极 化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。2、介质损耗角8在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹 角（功率因数角）的余角（8 ）。简称介损角。3、介质损耗正切值tg 8又称介质损耗因数，是指介质损耗角正切值，简称介损角正切。介 质损耗因数的定义如下：如果取得试品的电流相量和电压相量 ，则可以得到如下相量图：总电流可以分解为电容电流 Ic和电阻电流IR合成，因此： 这正是损失角8 =（90 -）的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上 讲，是通过测量8或者得到介

2、损因数。测量介损对判断电气设备的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方 法。绝缘能力的下降直接反映为介损增大。进一步就可以分析绝缘下降的 原因，如：绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。测量介损的同时，也能得到试品的电容量。 如果多个电容屏中的一个或 几个发生短路、断路，电容量就有明显的变化，因此电容量也是一个重要 参数。4、功率因数cos功率因数是功率因数角 的余弦值，意义为被测试品的总视在功率S中精心整理有功功率P所占的比重。功率因数的定义如下：有的介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cos)，而不是介质损耗因数(DF:tg 8 )。一般costg 8，在损耗很小时这两个数值非常接近。5、高压电

3、容电桥高压电容电桥的标准通道输入标准电容器的电流、试品通道输入试品电 流。通过比对电流相位差测量tg 8,通过对比电流幅值测量试品电容量。因此用电桥测量介损还需要携带标准电容器、升压PT和调压器。接线也十分烦琐。国内常见高压电容电桥有:型号生产厂家1-性能2801Haefely西林电桥，手动调节，介损相对误差0.5%，试验室使用。其改进型为 2809A。QS30上海沪光厂电流比较仪电桥，手动调节，介损相对误差0.5% 0.00005，试验室使用。1 .QS1上海电表厂西林电桥，手动调节，介损相对误差10% 0.003 ,现场测量用。支持正反接线，移相 或到相抗干扰。AI-6000分体型泛华电子

4、自动调节，红外线遥控，介损相对误差0.2% 0.00005，现场或试验室用。支持正反接 线，移相或倒相抗干扰。配合变频电源可变频抗 干扰。6、高压介质损耗测量仪精心整理简称介损仪，是指采用电桥原理，应用数字测量技术，对介质损耗 角正切值和电容量进行自动测量的一种新型仪器。一般包含高压电桥、高 压试验电源和高压标准电容器三部分。AI-6000利用变频抗干扰原理，采用傅立叶变化数字波形分析技术， 对标准电流和试品电流进行计算，抑制干扰能力强，测量结果准确稳定。国内常见高压介质损耗测量仪有:型号生产厂家性能2816Haefely高压输出12kV/200mA,介损误差1% 土 0.0001（抗干扰方式

5、、指标不祥，估计是移相）,正反接线方式，、y f j ；.| |7 */C/L/R测量，总重量 104kg。1M4000DOBLE高压输出10kV/300mA,介损误差1% 0.0004（变频抗干扰，20倍），正反接线方式，C/L/R测量，笔记本+ WINDOWS , 4570Hz，重量 66kg。AI-60001i 1I”泛华电子10kV/200mA，介损误差1% 0.0004，变频法4565Hz，抗干扰2: 1，正、反（含高、低压侧屏蔽） 接线方式，CVT自激法，C/L/R测量，模拟西林电 桥和电流比较仪电桥，试验室介损精度达到精密电 桥标准，29kg。7、外施使用外部高压试验电源和标准电

6、容器进行试验，对介损仪的示值按 定的比例关系进行计算得到测量结果的方法。&内施精心整理使用介损仪内附高压电源和标准器进行试验，直接得到测量结果的方 法。9、正接线用于测量不接地试品的方法，测量时介损仪测量回路处于地电位。10、反接线用于测量接地试品的方法，测量时介损仪测量回路处于高电位，他与 外壳之间承受全部试验电压。11、常用介损仪的分类现常用介损仪有西林型和 M型两种，QS1和AI-6000为西林型。12、常用抗干扰方法在介质损耗测量中常见抗干扰方法有三种：倒相法、移相法和变频法。AI-6000采用变频法抗干扰，同时支持倒相法测量。13、准确度的表示方法tg 8:( 1%D+0.0004)Cx:( 1%C+1pF+前表示为相对误差，+后表示为绝对误差。相对误差小表示仪器的量 程线性度好，绝对误差小表示仪器的误差起点低。校验时读数与标准值的 差应小于以上准确度，否