液晶面板不良现象DefectCode的命名及现象简介参考文档

1、AUO Proprietary & Confidential,AUO Proprietary & Confidential,F/D Defect Code,教材,作者,Alice zhu,生效日期,2006.10.20,AUO Proprietary & Confidential,目,录,一,点类,DA,二,BL,类,DB,三,Cell,类,DC,四,组装类,DM,五,POL,类,DP,六,Function,类,TM&FS,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.Cell,段,导电,性,Particle,造成,电,荷的,Leakag

2、e,检测画面,1. L0,阶,2. L116,阶,3. RGB 4. 1/5gomi,现象叙述,1.50,公分,明显,可,见,的,红色,绿色,蓝色小光点,2,如下,图,所示,3,完整一,颗,Sub pixel,发亮则称为亮点,DA11,亮点,Bright Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,金属残留,Cell,段导电性突起物,2.Cell,段导电性突起物,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現象敘述,1.50,公分可見的紅色、綠色或藍色忽亮忽暗的小光點,2,其閃爍的速度不定有的快有的慢,3

3、,通常為完整一顆的,Sub pixel,DA111,闪烁亮点,Flash Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1. Array,金屬殘留,2.Cell,段導電性突起物,3.Cell,段導電性突起物,Repair Fail,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現象敘述,1,因為觸碰產品表面而出現的,50,公分可見的紅色、綠,色或藍色小光點,2,出現後有可能變成亮點也可能變成閃爍亮點,3,通常為完整的一顆,Sub pixel,DA112,压力点,Press Point,AUO Proprietary & Co

4、nfidential,成因,1.PI,刮傷,2. ITO,破洞,3.Cell,製程中的污染,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現象敘述,1. 50,公分輕微可見的紅色、綠色或藍色微小光點,2,沒有固定形狀且常數顆或成群出現,3,通常為,1/3,顆的,Sub pixel,DA113,碎亮點,Small BP,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.ITO,殘留,2.AS,殘留,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現象敘述,1. 50,公分可見的混色小光點,2,任何兩相鄰亮

5、點的四角或四邊有連接情形者皆稱之,DA12,二连亮点,BP-Pair,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.O/L Shift,3. Cell,製程中導電性,Particle,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現象敘述,1. 50,公分可見的混色或偏白色的光點,2,任何三顆相鄰亮點者皆稱之,DA13,聚集亮點,Point-Cluster,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.Cell,段導電性,Particle,造成電荷

6、的,Leakage,檢測畫面,L0,階,黑畫面,現象敘述裸视可见,50,公分正视不可见,放大镜看占满整个,subpixel,DA114,微亮点,small bright dot,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2.Cell,段導電性,Particle,造成電荷的,Leakage,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現象敘述,1. 50,公分可見的綠色的光點,DA16,綠點,Green Bright Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.I

7、TO,殘留,2.AS,殘留,檢測畫面,1. L0,階,2. L116,階,3. RGB 4. 1/5gomi,現象敘述,1.50,公分可見的垂直長條型綠色的光點,DA161,垂直二連綠亮點,V-Pair Green Bright Dot,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性不良,2,刮傷,3.Cell,段導電性,Particle,檢測畫面,L0,階畫面,L116,階畫面,現象敘述,50,公分可見的兩顆靠近的亮點,DA17,靠近亮點,BP-Near,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件特性

8、不良,2. AS,殘留,3.ITO,殘留,4.Cell,製程中導電性,Particle,5,刮傷,檢測畫面,1. L0,L48,L92,L116,L255,RGB,現象敘述,1 .50,公分明顯可見的紅色、綠色或藍色小光,點和暗點,總數合計超過規格,DA181,亮暗點總數,Point-Count,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,2.ITO,殘留,3.AS,殘留,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,L255,RGB,現象敘述,1,同一畫面中同時存在亮點與暗點並有兩點間距離不,合規格時,D

9、A182,亮暗點間距,DP-BP near,AUO Proprietary & Confidential,成因,Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,RGB,L255,階畫面,現象敘述,1. 50,公分明顯可見的黑色小點,2.Sub pixel,未正常發亮,DA21,暗點,Dark Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,W/R/G/B ,L255,階畫面,現象敘述,1.50,公分明顯可見的黑色小點,2.Sub pixel,未正常發亮,DA22,

10、二連暗點,DP-Pair,AUO Proprietary & Confidential,成因,Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,W/R/G/B,L255,階畫面,現象敘述,1. 50,公分明顯可見三顆或以上相連接的黑色小點,2.Sub pixel,未正常發亮,DA23,聚集暗點,Cluster Point,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,刮傷,2.Array,元件與,Gate Line,之間有,Leakage,檢測畫面,R/G/B ,L255,階畫面,現象敘述,50,公分明顯可見兩顆靠近的小暗點,DA231,靠近暗

11、點,DP-Near,AUO Proprietary & Confidential,成因：光罩曝光部分重疊,檢測畫面,G92,階,畫面,現象敘述,1.50,公分明顯可見塊狀、條狀或十字形顏色較深的區,塊,2,常發生位置如下,DA31,面繼,Mura (Shot Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板內的導光板或其他膜片尺吋過大,2,背光板,Frame,設計不良尺吋過小或製程出問題造成,Frame,尺吋過小,3,背光板內的導光板或其他膜片經,Agine,後熱漲冷縮造成,檢測畫面,L255,畫面,現象敘述,40,度側視明顯可見波浪狀痕跡,DB33 P

12、 Mura(P Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板膜片設計不良,2,背光板內的膜片在燈管兩側週邊補償印刷太過,檢測畫面,L0,畫面,現象敘述畫面四角出現偏亮白色的色塊但輪廓不明顯,DB34,角,Mura(Horn Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板膜片設計不良,2,背光板內的膜片在燈管側週邊補償印刷太過,檢測畫面,L255,畫面,現象敘述,在產品燈管側可見一條或一段顏色較暗的色帶,DB4,暗線,Dark Line,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背

13、光板原材不良本身即有背光板髒污,2,背光板經組裝或重工時組裝不慎造成,檢測畫面,L255,畫面,現象敘述,1.50,公分側視,或由上往下看,即可見明顯的一條亮度比,全白的背景更亮更白的白色線或點，直徑約為,1-3mm,不等,2,以正視會變淡或看不見,DB51,背光板刮傷,Prism,損傷,B/L scratch/ Prism sheet damage,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板原材不良本身即有背光板髒污,2,背光板經組裝或重工時組裝不慎造成,檢測畫面,L255,畫面,現象敘述,1.50,公分可見大小大於背光板異物且形狀與色差均較背,光板異物模

14、糊小霧狀物體,2,以,15,倍放大鏡,15X Lupe,無法看出明顯異物者,DB52,背光板髒污,B/L dirty,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人員操作失誤,2,原材不良,檢測畫面,L255(63,畫面,現象敘述,產品因燈管損壞而造成該區域顏色偏暗,DB6 Lamp,暗,BLU,暗,lamp dark,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,泛指一般末定義的背光板原材不良,DB7,背光源材料不良,BackLight Material Damage,AUO Proprietary & Confidential,成因,1

15、,背光板原材不良本身燈源線材有斷裂情況,2,測試人員操作不良燈源線材有斷裂情況,DB8,燈管,shutdown (Lamp shutdown,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人员在组装时造成的,particle,2. B/L,来料时就有的,particle,3.cell,表面的,particle,檢測畫面,1. L255 L1/5gomi,現象敘述,1,用放大镜看,particle,在,RGB,的下面,并且会随视,线,的动而动,DB11,下,gomi(B/L Particle,AUO Proprietary & Confidential,成因,背光板內的

16、導光板或其他膜片上有殘膠或透明異物,檢測畫面,L255(63,畫面,現象敘述,1.50,公分正視即可見明顯的一顆亮度比全白的背景更亮,更白的白色點，直徑約為,1-10mm,不等,2,以上視或其他角度會變淡或看不見,DB12,背光板白點,B/L white spot,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Bezel,變形或間隙過大,2,遮光膠帶貼付對位不準,3,玻璃漏光,檢測畫面,L0,畫面,或漢字框畫面,現象敘述漏光係指鐵框與玻璃間所出現的條狀白色、黃色、褐,色或藍色亮線，長度不一定，有時呈數段出現,DB21,漏光,Light leakage,B/L,漏光,铁

17、框漏光,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Bezel,變形或間隙過大,2,遮光膠帶貼付對位不準,3,玻璃漏光,檢測畫面漢字字框畫面,現象敘述畫面週圍的有色細線斷掉或寬度改變,DB22,漢字字框缺陷,waku,AUO Proprietary & Confidential,成因：背光板內的導光板或其他膜片組裝不良或尺寸不合,檢測畫面,L255,畫面,現象敘述畫面任一邊出現顯示區與,BM,區間的亮白色細線，仔細,看通常呈一邊較細一邊較粗的現象,DB23,背光板內層偏移,Black-Light Sheet Shift,AUO Proprietary & Confi

18、dential,成因：背光板內的導光板或其他膜片定位片尺吋不對或組裝偏移,檢測畫面,GB128,畫面,現象敘述通常出現在畫面兩側,或單側,的,2/3,高度左右,依產品別,位置可能有所差異,有的呈亮白色有的呈暗黑色,形,狀為小長方形但輪廓呈暈開現象,DB31,耳朵,Mura (Ear Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,背光板內的導光板或其他膜片燈管側補償印刷過度,2,背光板設計不良，燈管過亮,檢測畫面,L0,畫面,L255,阶,現象敘述在產品燈管側可見一條或一段顏色較亮的色帶,DB32,亮度,Mura (Kido Mura,AUO Propriet

19、ary & Confidential,成因：液晶氣泡可分為真空泡和空氣泡，一般來說真空泡形成,原因為,laser repair,所造成，可經由,autoclave,後消除,而空氣泡比較無法經由,autoclave,消除，其成因為,1,液晶脫泡不完全,2,進,VPA,預抽,Q Time,過長,3. Panel,液晶封口不良,檢測畫面任何畫面,現象敘述,50,公分可見黑色或彩色水草狀或線狀痕跡，輕觸其週邊,有陷入的現像,DC10,液晶氣泡,LC Bubble,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L0,畫面,現象敘述側視可見類似星雲狀的亮帶，顏色與形狀皆不一

20、定,DC11,小星星,sandy,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L48,L92,L116,畫面,現象敘述本畫面出現直徑約,2mm,的白色小圓點，正視即可見,其亮度、形狀與背光板白點有明顯的差異,DC12,白點,white spot,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L48,L92,L116,現象敘述本畫面出現直徑約,2mm,的白色小圓點，正視即可見,DC13,點黑,black spot,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L0,畫面,現象敘述通常成團出現,50,

21、公分看起來像很多碎亮點集中在一,起，以,15,倍放大鏡檢驗可看別,Sub pixel,的某些部份顏,色變淡，刮傷，無顏色，破洞,皆稱之,DC14 CF,缺陷,CF defect,AUO Proprietary & Confidential,成因,BM,不夠黑，原材問題,檢測畫面漢字字框,現象敘述,BM,區原本黑色變成咖啡色或褐色,DC141,BM,區,CF,缺陷,BM CF Defect,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人員操作失誤,2,原材不良,檢測畫面,L0,畫面,現象敘述現象類似,Sandy,但其顏色為亮白色圓型，以,15X,放大,鏡檢,視可看出極

22、細微的亮點聚集在一起,DC16 Spacer,破裂,Spacer broken,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,人員操作失誤,2,原材不良,檢測畫面,L48,L92,L116,現象敘述,50,公分正視可見約呈,45,度向左或向右斜的條紋狀,Mura,通常為白色條紋間有規律的間隔,DC21,配向,Rubbing mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,CF,膜厚不均,檢測畫面,L0,畫面,現象敘述,40,度由上往下看可見位在產品中間以下部份一大片看似,雲狀的,Mura,其成因類似,Gap Mura,但觸碰其週周圍,沒有

23、波動,DC215,雲狀,Mura(Cloudy Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.PI,塗佈膜厚不均,2. PI,膜內有水痕、異物或汙染,檢測畫面,L48,L92,L116,現象敘述無特定形狀、位置、大小，通常為灰白或灰黑色，整,個,Mura,色差很平均不會在輪廓處擴散霧開，故其形狀,較明顯,DC216,PI Mura(PI Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,製作過程中所點的銀膠過大或過高，造成,Cell Gap,間隙,改變,2.Cell,製作過程中所塗佈的框膠過大或過高，造成,Cell,

24、Gap,間隙,改變,上述兩個原因皆會造成週邊,Mura,檢測畫面,L0,階畫面,現象敘述,1,會在,Panel,四周邊形成，按升降階可見其亮度,2,特徵,在全白畫面會泛黃,DC23,週邊,Mura (Around Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.CF,彩色濾光片,製作過程中某一個顏色曝光或成型時,有間題，造成該顏色畫面出現黑點或深色色塊,2 .CF,彩色濾光片,製作過程中成型時膜厚不均,上述兩個原因皆會造成色,Mura,檢測畫面,R,G,B,L92,階畫面,現象敘述,1,在,R,G,B,其中一色出現的小白圓點,2,該,Mura,只出現在,R,G

25、,B,L,92,階畫面其中一個或兩個,畫面者稱之,DC24,色,Mura (Color Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,製作過程中,PI,膜塗佈不均，造成,GB128,畫面出現,垂直,狀色塊,2 .Rubbing,製程中成型時膜厚不均,上述兩個原因皆會造成垂直狀,Mura,檢測畫面,L48,L92,L116,階,現象敘述升降階確認成立一,直線白色的,Mura,DC26,垂直狀,Mura (V-Line Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1Polarizort,材料製作過程中因補償膜本身有條紋

26、狀細,紋,有時出現白色有時出現黑色的斜紋狀色塊,檢測畫面,1. L0,階,2. L92,階,3.L48,階,現象敘述一般都為斜形狀，比一般其他,Mura,更立體,DC261,筋狀,mura (TFT PF linear mura,AUO Proprietary & Confidential,成因：尚未有明確成因,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,L255,RGB,階畫面,現象敘述像有顏色細細麵線形狀，在水藍,GB128,畫面確認，會,逐漸消失淡掉,DC27,縱筋,mura (Multiple V-Line Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1

27、.Cell,製作過程中,PI,膜塗佈不均，造成,GB128,畫面出現,水平狀色塊,2 .Rubbing,製程中成型時膜厚不均,上述兩個原因皆會造成水平狀,Mura,檢測畫面,L48,L92,L116,階畫面,現象敘述像暈開的,Mura,橫條狀,DC28,水平狀,mura (H-Line Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上,CF,玻璃與下,TFT,玻璃因外力施壓，造成上下兩片,玻璃間的對位有偏移的現象,2.CF,在,Sub-pixel,間的,BM,寬度預留寬度不足，外力施壓後,無法遮住玻璃偏移造成的,TFT,金屬線路外露，以,50,公分,40,度

28、側視時會有一整片或藍或綠亮亮的現象,檢測畫面,L0,階畫面,現象敘述在,L0,階畫面用滾輪拉出的色差,DC29,可動式,mura (Move able mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,畫面檢驗完畢關掉電源後畫面出現水平線狀或其他,形狀的殘留影像，通常為,IC,與,Cell,搭配有問題,DC32,關機殘像,After Image,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變小,檢測畫面,1. L0 /L48 /L92 /L116 /L255 /RGB,阶调中以最明显的,pattern,判

29、定,現象敘述,1,在,defect,的附近用手轻压,此,defect,会动,DC33,黑,GAP Mura(Cell,Black Gap Mura(Cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良所造成，玻璃間隙變大,檢測畫面,GB128,畫面,現象敘述白色的,Gap Mura,DC331,白,Gap Mura(Cell) White Gap Mura(Cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變大，此外力通常,是,JI,段自動化機台的治具不平或不清潔造成,2,偏光板重工時

30、因為撕偏光板機台調校不良或製程參數,失準，導致偏光板撕離時用力過度造成,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,階畫面,現象敘述手压,Panel,形成漩渦狀，現象特別明顯,DC34,GAP Mura(Module,AUO Proprietary & Confidential,成因：原因不明,檢測畫面,L48,L92,L116,階畫面,現象敘述,PI,變厚或變薄所形成不規則形狀，無特定之名稱,DC35 Mura,Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,Cell,漏光可能形成之原因為,1. Pixel,線路刮傷,2. ITO,破洞,3,微小之,particl

31、e,掉落在線路上，造成,short,檢測畫面,L0,L48,L92,L116,階,現象敘述在升降階時於面板四周有亮亮之情形,DC356,Cell,漏光,Cell light leakage,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良,2,玻璃清洗機台的刮刀卡到玻璃屑,3,裂片機台上有玻璃屑,檢測畫面,1,點亮檯燈,現象敘述,1.Cell,刮傷處目視可見,DC359 Cell,刮傷,Cell Scratch,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,注入口封膠污染,2,注入口封膠厚度不均造成玻璃間隙改變,檢測畫面,GB

32、128,階畫面,現象敘述在面板右側注入口位置，升降階可見其色差，或由上,往下看，用,Lupe,確認,Subpixel,一點一點的像,CF,Defect,DC36,注入口不良,Inj white mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L92,階,現象敘述針對,B152EW01,和,B141XN04-2/25,這兩種,Model ,Panel,每秒搖三下,會看見不規則形狀的水波紋,DC37 Cell,波紋狀,Cell Ripple,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,L48,L92,L116,畫面,現象敘述

33、不規則狀大小、不定區域，類似,MURA,看似霧狀物,DC5,黑霧,Black Fog,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.CF,玻璃與,TFT,玻璃組裝時對位不良造成,檢測畫面,L0,畫面,升降階畫面,現象敘述,50,公分正視,Cell,組裝不良處可見一亮帶，以,15X,放大鏡,檢驗可看到,Sub Pixel,側邊有漏光現象,DC91 Cell,組裝偏移,Cell assy shift,AUO Proprietary & Confidential,成因：遮光黑色膠布貼付不良,檢測畫面,漢字框畫面,現象敘述黑色膠布已露出偏光板,BM,面上,DM1,黑色膠布露出

34、,Excess Black tape,AUO Proprietary & Confidential,成因,1Polarizort,材料製作過程中因補償膜本身有條紋狀細,紋,有時出現白色有時出現黑色的斜紋狀色塊,檢測畫面,L0,畫面,升降階畫面,現象敘述,不規則狀，不固定區域，俗稱,IP Mura,DM2,燒付,Imprint,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,玻璃經,COG,製程高溫高壓處理造成應力集中與變形,檢測畫面,GB128,畫面,L92,畫面、升降階畫面,現象敘述,COG,製程的產品容易在,COG,相關位置出現,DM11 COG Mura COG

35、Mura,AUO Proprietary & Confidential,成因,Cell,原材不良上偏光板有異物,通常指未經過,模組,段偏光板重,工者,檢測畫面,L0,階,黑畫面,現象敘述,Panel,內上偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L63,階檢查黑色異物,DP111,上偏光板异物,cell)Top PF Particle(cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,Cell,原材不良下偏光板有異物,通常指未經過模組,段偏,光板重工者,檢測畫面,L0L63,階,黑畫面,現象敘述,Panel,內下偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物

36、,L0,檢查,亮的異物,L63,階檢查黑色異物,DP112,下偏光板異物,cell) Top PF Particle(cell,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,上偏光板有異物,通常指經過模組段偏光板重工者,檢測畫面,L0L63,階,黑畫面,現象敘述,Panel,內上偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L63,階檢查黑色異物,DP121,上偏光板異物,module) Top PF,Particle(module,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,下偏光板有異物,通常指經過模組段偏光板重工者,檢測

37、畫面,L0L48,階,黑畫面,現象敘述,Panel,內下偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L48,階檢查黑色異物,DP122,下偏光板異物,module) Bottom PF,Particle(module,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,下偏光板有異物,通常指經過模組段偏光板重工者,檢測畫面,L0L48,階,黑畫面,現象敘述,Panel,內下偏光板與,Cell,玻璃之間，有異物,L0,檢查,亮的異物,L48,階檢查黑色異物,DP122,下偏光板異物,module) Bottom PF,Particle(module,AUO P

38、roprietary & Confidential,成因,1,上偏光板原材刮傷,2,人員取放動作不當,3,硬式保護膜硬度太高,檢測畫面,L0,階,現象敘述,偏光板上有熔解的痕跡，而顏色為黑色，而燒傷區域,大部份在,Panel,的四周,BM,區域,DP21,上偏光板刮傷,Top PF Scratch,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,偏光板原材不良,負翹太嚴重,2.Pol,貼付機台,roller gap,未調整好,DP31,偏光板氣泡,PF Bubble,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,偏光板原材不良,沾附,parti

39、cle,2,機台內部,particle,污染,檢測畫面,L255,階,L92,階,現象敘述,偏光板內有污點或髒污，類似,Mura,或,Gomi,DP4,偏光板髒污,Top PF Dirt,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良,2,軟式保護膜上有投影筆筆跡轉印到偏光板,檢測畫面,L255,階,現象敘述,在白畫面容易看出有投影筆痕跡，位置在偏光板內部,DP41,偏光板投影筆筆跡,Polarizer Handwriting,Dirty,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,偏光板原材不良,2.Robot,上有,p

40、article,3.set table,上有,particle,4.clean roller,上有,particle,檢測畫面,1,點亮檯燈,現象敘述,1,傷痕目視可見,DP6,上偏光板壓傷,Top PF Dent,AUO Proprietary & Confidential,成因,1.Cell,原材不良,2.JI,機台治具不清潔有硬異物殘留導軟壓傷偏光板,檢測畫面,L0,階,L92,階,現象敘述大的類似,Black Gap Mura,有黑色和白色,小的有時,很像異物,DP61,下偏光板壓傷,Bottom PF Dent,AUO Proprietary & Confidential,成因,1,

41、偏光板原材不良,2,化學藥品污染,檢測畫面,L92,畫面,升降階畫面,現象敘述,偏光板層內類似,Mura,在,L0,階會比較明顯看出偏光,板腐蝕,DP7,偏光板腐蝕,Chemical pollution,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,1. B/L,點亮,2,所有檢測畫面,現象敘述,1,垂直區塊性缺陷,亮區塊、暗區塊、區塊顏色與周圍,不同,皆屬之,2,多重垂直性區塊皆屬之,TM3,垂直區塊缺陷,V-Block Defect,AUO Proprietary & Confidential,成因,檢測畫面,1. B/L,點亮,2,所有檢測畫面,現象敘述,1,水平區塊性缺陷,亮區塊、暗區塊、區塊顏