实验一基本门电路的逻辑功能测试_第1页
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文档简介

1、实验一 基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。2、了解测试的方法与测试的原理。二、实验原理实验中用到的基本门电路的符号为: 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。三、实验设备与器件1、数字逻辑电路用PROTEUS 2、显示可用发光二极管。3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。 四、实验内容1. 测试TTL门电路的逻辑功能:a) 测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111b) 测试74LS32的逻辑功能。(或门)000 011 101 1

2、11c) 测试74LS04的逻辑功能。(非门)01 10d) 测试74LS00的逻辑功能。(两个都弄得时候不亮,其他都亮)(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)001 011 101 110e) 测试74LS02(或非门)的逻辑功能。(两个都不弄得时候亮,其他不亮)001 010 100 110f) 测试74LS86(异或门)的逻辑功能。2. 测试CMOS门电路的逻辑功能:在CMOS 4000分类中查询a) 测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。(与门)b) 测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。(或门)c) 测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。(非门)d) 测试CC40

3、11(74HC00)的逻辑功能。(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)e) 测试CC4001(74HC02)(或非门)的逻辑功能。f) 测试CC4030(74HC86)(异或门)的逻辑功能。五、实验报告要求1. 画好各门电路的真值表表格,将实验结果填写到表中。2. 根据实验结果,写出各逻辑门的逻辑表达式,并分析如何判断逻辑门的好坏。3. 比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。4查询各种集成门的管脚分配,并注明各个管脚的作用与功能。例:74LS00与门Y=AB输入输出ABY00001010011174LS32或门Y=A B输入输出ABY00011111111174LS04输出AY0000101174LS0274LS86任意一个连都亮,两个

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