电容屏产品IC测试方案使用介绍PPT课件

1、page 1,各种IC测试方案使用介绍,page 2,各种IC测试方案使用介绍,目的： 提升PE及DQE等人员对Synaptics&Focaltech&Cypress&Goodix方案产品异常处理能力及异常处理效率。,内容介绍： Synaptics&Focaltech&Cypress&Goodix方案使用过程中测试出现的异常问题点，注意事项及常见测试异常解析。,page 3,Synaptics 方案产品使用介绍,page 4,Synaptics 方案产品使用介绍,Synaptics 方案测试软件安装环境说明 Synaptics 方案测试pin脚定义 Synaptics 方案测试软件的使用，界面

2、及测试项目介绍 四. Synaptics 方案测试异常分析处理,目录：,page 5,一. Synaptics 方案测试软件安装环境说明,测试软件安装时对电脑有一定的要求： 1.软件安装时尽量安装在非C盘中，避免部分电脑识别文件路径出问题或者 容易感染病毒，导致不能使用； 2.针对新思方案，测试用的电脑最好具有NET版本为“NET Framework 3.5”或者3.5以上版本，例如：“dotNetFx40_Full_x86_x64”。,Synaptics 方案产品使用介绍,page 6,二. Synaptics 方案测试pin角定义,新思产品pin角定义与转接板连接时按照上图进行,Synap

3、tics 方案产品使用介绍,14Pin 15Pin 16Pin,page 7,三. Synaptics 方案测试软件的界面，使用及测试项目介绍,3-1.测试软件界面介绍；,Synaptics 方案产品使用介绍,1） 打开测试文件； 2） 连接或者断开测试板； 3） 断开连接时查看IC等信息； 4） 刷新作用； 5） 测试按钮； 6） 其他功能。,page 8,3-2.测试软件使用；,Synaptics 方案产品使用介绍,1）点击 打开测试文件； 2）点击 测试按钮开始测试；,page 9,26：FW信息确认； 27：客户端内部区分机型及区分TP生产厂家测试项目； 30：测试工具版本及IC 型号

4、信息； 23：中断脚测试； 3：屏体容值测试； 7：Rx与Rx短路测试； 10：Tx与GND短路测试； 5：Tx与Tx短路测试； 12：整屏电容均匀性测试（一致性测试）； 29：复位脚测试； 35:1.8V电源脚测试（IOVDD）,Synaptics 方案产品使用介绍,3-3.测试项目介绍；,page 10,四. Synaptics 方案测试异常分析处理,Synaptics 方案产品使用介绍,4-1.测试时当出现某个测试项目出现数据异常时，点击测试项目对应的后面记录详细结果的按钮进行定位异常通道，如下红色框中所示；,page 11,4-2.其他异常处理,4-2-1.测试板连接后，如下信息栏显示

5、 “Not found”-说 明测试工具没有连接在电脑上,4-2-2.测试界面下方显示如下图所示的信息时说明： 1)产品没有连接上或者连接错误； 2)产品与测试板之间连接线异常。,Synaptics 方案产品使用介绍,4-2-3.如果出现attention测试项目失败的话，可能原因INT脚开路； 如果出现Reset测试项目失败的话，可能原因复位脚开路。,page 12,Focaltech 方案产品使用介绍,page 13,Focaltech 方案产品使用介绍,Focaltech方案连接方式 Focaltech方案测试界面介绍 Focaltech方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义 四.

6、 Focaltech方案测试软件产品异常分析,目录：,page 14,Focaltech 方案产品使用介绍,敦泰方案接线方法与新思接线相同按照图纸管脚和测试Connect管脚一一对应即可， 示意图如下：,一.Focaltech方案连接方式,page 15,Focaltech 方案产品使用介绍,二. Focaltech方案测试界面介绍,1,5,3,4,2,6,1.设置于加载配置文件，并选择测试模式； 2.显示配置文件名和FW文件名； 3.执行测试； 4.显示测试进度及测试结果； 5.显示每一测试项的测试状态； 6.查看测试详细信息。,page 16,Focaltech 方案产品使用介绍,三. F

7、ocaltech方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义,1. Rawdata：代表电容原始值，一般设定值在12500到16500之间，我们默认的调试范围维持在15000左右。 2.differ：代表电容的变化量，此值的范围视屏体而定。 3.Ci：代表电容补偿，即为了让整屏的Rawdata维持在均匀的数据，而需要电容补偿来实现，一般理论设定的范围为5到250之间。 4. Delta Ci：代表Ci的差值， Delta 代表偏差。 5.CB值与上面的Ci值意思相同，都代表电容补偿， Delta CB上面的Delta Ci意思相同，代表CB的差值。,FT6X36系利,page 17,Focal

8、tech 方案产品使用介绍,四. Focaltech方案测试软件产品异常分析,1.测试时当出现某个测试项目出现数据异常时，点击测试显示结果的按钮进行定位异常通道，如第15页中“6” 所示,1,步骤：点击上面步骤1中的“message”-选择TestResult #1查看详细数据-图3所示。,2,3,page 18,Focaltech 方案产品使用介绍,四. Focaltech方案测试软件产品异常分析,4-1.测试时当出现某个测试项目出现数据异常时，点击测试显示结果的按钮进行定位异常通道，如第15页中“6” 所示:,1,步骤：点击上面步骤1中的“message”-选择TestResult #1查

9、看详细数据-图3所示。,2,3,page 19,Focaltech 方案产品使用介绍,4-2.其他异常处理,4-2-1.没有连接主板或者主板电源未打开,4-2-2.没有连接FPC或者FPC没有被正确读取,page 20,Cypress方案产品使用介绍,page 21,Cypress 方案产品使用介绍,Cypress 方案测试软件安装环境说明 二. Cypress方案测试pin脚定义 三. Cypress 方案测试软件的使用，界面及测试项目介绍 四. Cypress方案常见测试异常解析,目录：,page 22,一. Cypress 方案测试软件安装环境说明,测试软件安装要求： 1.软件安装时安装

10、文件保存路径(C盘)方式一般采用默认即可； 2.针对赛普拉斯方案，测试用的电脑系统版本为“NET Framework 3.5”或者3.5以上版本，例如：“dotNetFx40_Full_x86_x64”。,Cypress 方案产品使用介绍,page 23,二. Cypress方案测试pin脚定义及接线如下,Cypress 方案产品使用介绍,测试主板与PIN脚定义要一一对应,page 24,三.Cypress方案测试软件的界面，使用及测试项目介绍,3-1.进入工程模式后软件测试平台介绍,Cypress 方案产品使用介绍,1） 打开文件/保存文件； 2） 从TTHE导入； 3） 执行 跳过编程；

11、4） 执行测试操作； 5） 停止测试操作； 6） 连续测试。,page 25,3-2.进入工程模式后软件测试项目介绍,Cypress 方案产品使用介绍,1.TP测试时IC芯片电压范围控制； 2.TP测试时IC芯片电流范围控制； 3.VDDA线状态测试； 4.复位引脚测试； 5.触摸屏ID，固件版本以及CFG_VER控制； 6.TP短路测试； 7.互电容以及自电容原始数据测试。,page 26,3-3.测试软件使用,Cypress 方案产品使用介绍,1）点击 打开测试文件； 2） 点击 测试按钮开始测试；,page 27,Cypress方案产品使用介绍,四. Cypress方案常见测试异常解析,

12、4-1.测试时当显示“设备通讯故障”，不良原因为测试主板与TP未连接上或者TP connect异常，测试如下所示：,page 28,Cypress方案产品使用介绍,4-2.测试时当显示CONFIG_VER TEST失效，不良原因为Firmware版本为旧固件，测试使用的是新的Firmware固件，解决的办法为将产品升级至新Firmware即可，失效测试如下所示：,page 29,Cypress方案产品使用介绍,4-3.测试时当显示CM（互电容原始值）或者CP(自电容原始值)失效，可以通过打开产品测试时保存的数据（文件格式为.csv）来分析异常的通道位置，操作步骤如下：,page 30,Good

13、ix方案产品使用介绍,page 31,Goodix 方案产品使用介绍,Goodix方案连接方式 Goodix方案测试界面介绍 Goodix 方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义 Goodix方案常见测试异常解析,目录：,page 32,Goodix方案产品使用介绍,汇顶方案接线方法与敦泰接线相同按照图纸管脚和测试Connect管脚一一对应即可， 示意图如下：,一.Goodix方案连接方式,page 33,Goodix 方案产品使用介绍,二. Goodix方案测试界面介绍,1.文件选项用于导入测试配置文件，工具里面的系统选项用于选择测试的IC芯片型号； 2.连接TP后，点击刷新显示测试产

14、品IC的芯片型号及FW版本号； 3.手动测试控制及数据保存； 4.显示测试进度及测试结果； 5.手动画线描点以及按键测试。,page 34,Goodix 方案产品使用介绍,三.Goodix 方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义,1.TP整屏原始值最大和最小值测试控制； 2.TP单个节点和周围相邻节点之间的数据偏差测试控制； 3.复位引脚测试； 4.按键原始值最大和最小值测试控制； 5.Sensor ID和TP短路测试； 6.TP固件版本号检测； 7.通道间以及通道与地之间的短路阻抗测试。,page 35,Goodix方案产品使用介绍,四. Goodix方案常见测试异常解析,4-1.测试时显示CFG检查出错或IIC检查出错，不良原因可能为测试主板与TP连接异常或者TP connect异常，测试如下所示：,page 36,Goodix方案产品使用介绍,4-2.测试时显示测试失败（对应下面最大或者最小值以及相邻偏差异常），按照下面