超声初试(闭卷)试题#仅供借鉴

1、考试号码：姓氏：稠密的印章线条2008年特种设备无损检测德州大学专业三级人事理论试卷(关闭)(参考答案)成就：标题号主题类型得分点审查员的签名一个真或假40二多重选择30三问答题20四计算问题10总数1002008年6月25日北京国家特种设备无损检测人员资格评定委员会参考类别#一、对或错(括号中正确的勾号和错误的勾号)。每个问题2分，总共40分)1.超声波束的方向性与探头直径和频率有关，但与声波模式无关。()2.聚焦探头具有声束薄、灵敏度高、探测范围宽的优点。广泛应用于铸钢件、奥氏体钢检测和裂纹高度测量。()3.超声波探伤仪发射电路中的阻尼电阻不仅影响发射强度，还影响探头的分辨率。()4.当焊

2、缝中存在垂直于检测面的表面缺陷时，增加频率和增大K值可以改善缺陷。的检出率。()5.测量组合灵敏度时，在测试前，调整仪器的“抑制”旋钮，使电气噪声水平10%。()6.横波斜探头的晶片尺寸是恒定的。随着K值的增加，第二介质中近场区的长度将减小。()7.在相同的固体材料中，由于横波的衰减系数大于纵波的衰减系数，横波传播时的声阻抗大于纵波。()8.数字超声波仪的检测范围与采样频率和存储深度有关。()9.当通过使用端点衍射波测量缺陷本身的高度时，缺陷的上端点处的衍射波在端点反射波之前，并且缺陷的下端点处的衍射波信号在端点反射波之后较弱。()10.当超声波斜入射到非均质界面上时，其传播方向的变化主要取决

3、于界面两侧介质的声速和声阻抗。()11.对于表面粗糙的缺陷，当声波垂直入射时，缺陷回波的高度随着粗糙度的增加而减小。()12.使用双晶直探头测量钢板内部缺陷的边界点时，探头的隔声层必须垂直于探头的移动方向。()13.奥氏体钢焊缝一般用一次波而不是二次波检测，主要是因为晶粒粗大和衰减严重。()3长横孔在14和100毫米处的回声声压高于6长横孔在200毫米处的回声声压()15.CSK-A试块用于制作距离-振幅曲线，不考虑实际检测中一次反射法检测工件底面反射损失的影响。()16.当采用纵波垂直法检测时，由于侧壁的干扰，在侧壁附近检测时回波幅度较高，而在远离侧壁的地方检测侧壁附近的缺陷时回波幅度较低。

4、()17.对于厚度为300 mm但材料衰减不同的两个锻件，应分别使用由各自底面校正的300/ 2灵敏度进行检测。如果发现两个锻件在200毫米处有缺陷，且回波高度相同，则相当于材料衰减大的锻件中的缺陷将很大。()18.爬行波探头的探测深度与频率F和晶片直径d的乘积有关。fd值增加，探测深度增加。()19.在驻波线上，两个相邻波腹之间的间距等于/2。()20.与锆钛酸铅压电材料相比，应时压电材料制作的探头具有分辨率高、转换效率低的优点。()二、单选题(正确答案代码在括号内。每题2分，共30分)1.以下对超声波传播速度的描述是正确的：(d)传声介质的弹性模量和密度越高，声速越高；一般固体介质的声速随

5、着温度的升高而增大；当水温升高时，超声波在水中的传播速度也增加；d、材料的应力会影响超声波的传播速度，当拉伸应力增大时，声速减小，当压缩应力增大时，声速增大。2.以下关于钢管浸水检测的描述是错误的A.入射角随着偏心率X的增大而增大；b、水层距离应大于钢中剪切波总声程的1/2；c、探头的焦点应落在垂直于声束轴线的管中心线上；当没有缺陷时，屏幕上只显示初始波和底部波。3.以下关于TOFD探测的描述是错误的一、缺陷的衍射信号与缺陷的方向无关；缺陷的量化不依赖于缺陷的回波幅度；超声波束覆盖面积大，没有盲区；衍射信号微弱，易受噪声影响。4.用2.5毫米纵波直探头水浸法检测钢板时，水层厚度为20毫米，此时

6、钢中的近场长度如下：(a)15.7毫米B、20.7毫米C、62.7毫米D、0.765.当探头沿圆筒外壁进行圆周检测时，如果仪器的扁平测试块将扫描线调整到1: 1的深度，哪种说法是正确的？(四)显示的水平距离总是大于实际弧长；缺陷的实际径向深度总是大于显示；c、显示值与实际值之差随着显示值的增加而减小；D.以上都不正确。6.以下关于超声波衰减的描述是错误的：(这个话题是错误的)(c)衰减系数一般随材料的温度升高而增加；(错)扩散衰减仅取决于波前的形状，与介质的性质无关。(是)增加增益可以完全克服衰减对检测的影响；(错)当超声波传播时，材料的声阻抗增加，衰减减小。(错)7.在相同的探测条件下，面积

7、比为2的两个平底孔的反射波高度不同：(b)3分贝、6分贝、9分贝、12分贝8.当超声波斜入射到非均匀界面上时，声压的互易透射率取决于：(b)A.界面两侧的介质密度；界面两侧介质的声阻抗和入射角；C.界面两侧介质的声速；d、界面两侧的波形图；9.压电材料性能参数的以下描述不正确：(a)A.频率常数Nt越大，用于制造给定频率探针的晶片就越薄；b、不同压电晶体材料的声速不同，因此不同压电材料的频率常数也不同；频率常数是压电晶片厚度与固有频率的乘积；同样的压电材料，在制作高频探头时，晶片厚度很小。下面对61个反射波的描述是错误的当发生61次反射时，声音路径是恒定的；当发生61反射时，横波入射角为29，

8、纵波反射角为61；当发生61反射时，纵波入射角为61，横波反射角为29；当发生61反射时，纵波入射角和横波反射角之和为90。11.以下直探头在钢中具有最好的方向性：(c)a、2.5P20Z B、3P14Z C、4P20Z D、5P14Z12.用底波法调整锻件的检测灵敏度时，以下缺陷量化描述中哪一点是错误的？(三)一、定量缺陷不能用试块；b、表面耦合差异补偿D.缺陷量化可以用交流电压曲线法计算。13.“叠加效应”出现在钢板检测波形中。下列哪个陈述是正确的？(c应为d)“叠加效应”是大于声束横截面的缺陷的多个反射波相互干涉的结果；出现“叠加效应”，表明钢板中的缺陷尺寸一定很大；c .出现“叠加效应

9、”，缺陷一般应按最大缺陷波进行评估；出现“叠加效应”。当板厚度小于20 mm时，F2用于评估缺陷，以减少近场区域的影响。14.当平面波入射到弯曲界面时，折射波的描述是正确的，如下所示：(b)一、对于凸透镜，C1 C2时；聚焦时C1 C2为凹透镜；用于实际检测的浸没聚焦探头是根据凹透镜C1 C2设计的。15.以下哪种材料最适合制作高分辨率探针应时乙，钛酸铅丙，偏铌酸铅丁，钛酸钡3.问答(每题5分，共20分)1.相控阵与传统的超声波检测方法相比有什么优势？答：(1)由于可以用电子控制方法来控制扫描的声束，所以可以在不移动或少移动探头的情况下进行快速行扫描或扇形扫描，从而大大提高了检测效率。(2)由

10、于光束角度可以控制，光束可达性好。通过设置多个检测角度，可以检测复杂形状和在用零件。(3)通过动态控制声束的偏转和聚焦，可以实现聚焦位置的动态控制，避免了普通聚焦探头为了实现全深度聚焦而频繁更换不同深度范围探头的麻烦。2.什么是标准测试块、参考块和模拟测试块，它们各自的用途是什么？答：(1)标准试块通常由权威机构制作，其特性和制造要求有特殊标准。标准测试块用于仪器探头系统性能测试校准和检测校准。(2)参考块是用于通过特定方法检测特定工件的测试块，并且包含具有明确含义的人工反射器。基准块主要用于检测和校准，评估缺陷的等效尺寸，并将检测到的不连续信号与测试块中已知反射器产生的信号进行比较。(3)模

11、拟试块是包含模拟缺陷的试块，它可以是通过模拟工件中的实际缺陷制成的样品，也可以是包含先前试验中发现的自然缺陷的样品。模拟试块主要用于测试方法的研究、无损检测人员的资格审查和评价、仪器探头系统测试能力和测试过程的评估和验证等。3.试解释堆焊层的常见缺陷、晶粒结构特征和常见检测方法。答：(1)堆焊层常见缺陷有：(1)堆焊金属中的缺陷，如气孔、夹杂物等。(2)堆焊层与母材的剥离；(3)堆焊层下母材热影响区再热裂纹。(2)奥氏体晶粒粗大，超声衰减严重；另外，堆焊层金属冷却时，向母材方向散热良好，奥氏体晶粒生长取向基本垂直于母材，声学各向异性明显。(3)常见的检测方法包括：(1)对于堆焊层中的缺陷，一般

12、采用纵波双晶直探头从堆焊层一侧或母材一侧进行探测测试；(2)对于堆焊层与母材之间的未结合缺陷，一般采用纵波直探头从母材一侧进行检测，或用纵波双晶直探头从堆焊层一侧进行检测；(3)堆焊层下母材热影响区再热裂纹的检测，一般采用纵波双晶直探头或斜探头从堆焊层一侧进行检测。4.超声波检测分析缺陷性质的基本依据是什么？答：在实际工作中，缺陷表征往往是基于经验结合工件加工技术，缺陷表征(2)基于缺陷特征的分析：缺陷特征是指缺陷的形状、大小和密度。在不同方向检测平面、体积、点和密集缺陷时，缺陷回波的高度和缺陷波的强度会有不同的变化。(3)根据缺陷波形分析：缺陷波形分为静态波形和动态波形。静态波形是指探头不运动时缺陷波的高度、形状和密度。动态波型是指探头在检测面上移动时缺陷波的变化。(4)根据底波分析：当工件中存在不同的缺陷时，超声波被缺陷反射，降低到达底面的声能，降低甚至消失底波高度。对于不同性质的缺陷，反射面不同，底波高度也不同。因此，在某些情况下，底波条件可以用来分析缺陷的性质。四、计算题(每题5分，共10分)1.从钢板的一侧检测钢/钛复合板。已知Z钢=46106千克/平方米秒，Z钛=27.4106千克/平方米秒，不包括扩散和介质衰减。请：(1)复合界