• 现行
  • 正在执行有效
  • 2025-03-19 颁布
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【正版授权-英语版】 IEC 63185:2025 RLV EN Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 63185:2025 RLV EN
  • 标准名称：低损耗介电基底复介电性的测量——平衡式圆盘谐振器法
  • 英文名称：Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2025-03-19

文档简介

IEC63185:2025是关于测量低损耗介质基片的复介电常数的标准，其方法是通过平衡式圆盘谐振器进行测量。这个标准主要涉及到一些关键概念和技术步骤，包括：

1.低损耗介质基片：指的是介电常数和损耗因子都比较低的介质材料，通常用于电子、通信、光学等领域。

2.平衡式圆盘谐振器：这是一种用于测量介质基片复介电常数的仪器，它由一个固定在支架上的圆盘和一个可以移动的圆盘组成，两个圆盘之间的距离可以通过微调螺丝进行调节。当圆盘谐振器处于谐振状态时，它的振动频率会受到介质基片的复介电常数的影响。

3.技术步骤：在进行测量时，需要先将介质基片放置在圆盘谐振器中，然后调整圆盘之间的距离，使其处于谐振状态。接着，通过测量谐振器的振动频率，可以计算出介质基片的复介电常数。具体的技术步骤包括：样品准备、放置样品、调整谐振器、测量振动频率、数据处理等。

这个标准涉及到一些专业的技术和仪器，需要具备一定的电子、通信、光学等领域的知识才能正确理解和应用。此外，在进行测量时，还需要注意一些干扰因素，如温度、湿度、电源波动等，需要进行相应的校正和补偿。

以上就是IEC63185:2025RLVEN测量低损耗介

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