- 现行
- 正在执行有效
- 2025-03-20 颁布

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基本信息:
- 标准号:IEC 62037-8:2025 RLV EN
- 标准名称:被动射频和微波器件,交调水平测量 第8部分:测量暴露于射频辐射的物体产生的被动交调
- 英文名称:Passive RF and microwave devices, intermodulation level measurement - Part 8: Measurement of passive intermodulation generated by objects exposed to RF radiation
- 标准状态:现行
- 发布日期:2025-03-20
文档简介
IEC62037-8:2025标准详细内容如下:
IEC62037系列标准是一组针对射频和微波设备无源元件性能评估的标准。其中,IEC62037-8:2025规定了被动射频和微波设备间调制水平的测量——第8部分:暴露于射频辐射的物体产生的被动互调水平的测量。
以下是对该标准的详细解释:
1.**被动互调(PIM)**:被动互调是指当两个或更多的信号在非线性设备(如电阻,电容,电感)中相互作用时产生的新的混合信号。这通常发生在射频和微波设备中,例如天线,滤波器,放大器等。
2.**IEC62037-8的主要内容**:这部分标准主要关注了在射频辐射暴露下物体产生的被动互调水平如何进行测量。它包括了一系列的测试方法和步骤,以确保射频和微波设备在各种环境和条件下都能保持稳定和可靠的性能。
3.**测试方法**:主要包括了模拟和测量设备产生的被动互调,以及评估这些互调产物的大小和影响。这通常涉及到使用专门的仪器和设备,如矢网,功率计,噪声测试设备等。
4.**环境和条件**:这部分标准考虑了各种环境和条件,如温度、湿度、压力、振动等,这些都可能影响射频和微波设备的性能,特别是它们的非线性特性。
5.**安全考虑**:IEC62037-8还考虑了安全因素,包括对测试人员的保护,以及对测试环境的保护,以确保测试过程的安全和有效。
IEC62037-8:2025标准是关于射频和微波设备无源元件性能评估的重要标准,它涉及到被动互调的测量,以及如何评估这些互调产物的大小和影响,以确保设备的稳定性和
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